一种通过逻辑设计提高芯片抗单粒子翻转能力的方法技术资料下载

技术编号:9887869

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本发明涉及,特别是应用于空间辐射环境使用的数字集成电路芯片提高抗单粒子翻转能力的逻辑设计方法。背景技术与地面设备使用的集成电路器件不同,在空间飞行器上使用的集成电路芯片可能会受到宇宙空间中单个高能粒子的入射,在芯片内部产生高密度的电子空穴对,被反偏PN结收集,从而可能造成器件内部的逻辑状态发生翻转,即发生单粒子翻转。单粒子翻转会造成器件的功能错误甚至功能中断,对系统功能造成影响,因此是宇航应用的集成电路器件必须重点关注的效应之一。随着航天电子技术的不断发展...
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