技术编号：9889921
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示面板测试领域，尤其涉及。背景技术在显不面板的广品制造阶段，为监控显不面板的有效显不区(AA区，Active Area)的特性值，会在显示面板的非显示区域设计一些TEG(测试元件组)，这些测试元件组用于测试显示面板中的薄膜晶体管的性能以及Gate、SD层金属线的电阻(线电阻能够表征金属膜层厚度的均一性状况)等。如图1所示，是现有的一阵列基板上的测试元件组的结构示意图，该测试元件组包括薄膜晶体管101、薄膜晶体管102、Gate层金属线103、S...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。