技术编号：9893463
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着晶体管的几何结构关于集成电路(微电子芯片或微芯片)中的技术而缩小，芯片上的缺陷的数量和类型会随着逻辑密度的增大而呈指数地增加。缺陷可以是在制造过程期间引入到器件中的错误。故障模型是缺陷如何改变设计行为的数学描述。在集成电路的设计期间，执行测试以确保集成电路如预期地那样工作。可通过本领域中被称为面向测试的设计(DFT)、也被称为可测试性设计的设计技术来促进集成电路的测试。自动测试模式生成和自动测试模式生成器(ATPG)是用于找出输入(或测试)序列的电子设...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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