技术编号:9908833
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 氦质谱喷氦检漏法是将封装管壳通过密封垫及真空硅脂等密封件与氦质谱检漏 仪进行密封连接,之后对封装管壳抽真空处理,当检漏仪的质谱室达到稳定状态后,用装有 氦气的喷枪向封装管壳疑似漏气部位喷吹氦气,氦气被吸入封装管壳内部并进入氦质谱检 漏仪,由输出仪表显示漏孔的漏率值,及通过喷氦枪喷吹来判断漏孔的位置从而完成检漏 测试。 目前,国家标准及试验方法中没有对喷氦时间及移动速度两个重要的检漏参数作 相关规定,导致检验人员对管壳检漏只能靠经验操作,易造成试验结果漏判...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。