技术编号：9912714
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于储存数据的锁存电路是半导体器件中最广泛使用的电路之一。随着半导体器件的集成度增加，锁存电路的储存节点处的电容降低。因此，当储存在锁存电路的储存节点中的数据意外地改变时，存在更多的软错误。软错误是储存在锁存电路中的数据由于宇宙射线(诸如阿尔法粒子)而改变的现象。已经提出了抵抗软错误的锁存电路。最能代表这个的锁存电路是称作双互锁储存单元(DICE)的锁存电路，其公布于(Calin et al.，"Upset Hardened Memory Design f...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。