技术编号:9924045
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体,具体涉及。背景技术在图像成像过程中,最先出来的Raw图像数据会存在拥有坏点的现象,坏点将导致整个图像质量下降。因此,需要对图像成像过程中的坏点进行去除。通常对整个图像进行校正,面对坏点较集中的区域,校正效果不明显;或者虽然在一定程度上能达到明显的校正效果,但是采用的运算步骤较为复杂,例如,一般采用从多种梯度来对坏点进行判断和校正,其运算过程繁长;此外,该方法对于坏点聚集的区域,会出现校正后的坏点仍然是坏点的问题,校正效果实际上并不理想。发...
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