技术编号：9932514
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利说明过程流中阴离子电荷的光学测定发明背景。发明领域本发明涉及用于测定流中阴离子基团和任选用于测定流浊度的光学方法。如果需要，可在测定前根据其中任何物质的颗粒尺寸或质量或尺寸和质量二者使流分级。相关技术描述源于纸浆悬浮体和其它浆料的带电基团可对化学反应中浆料的性质具有重要影响。这些带电基团可与加到浆料的各种添加剂和颗粒反应并结合，并导致絮凝。因此，在确定要使用的添加剂的量和确定是否这些带电基团需要分别去除时，测定这些带电基团的含量是重要的。传统用于检测样...
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