技术编号：9975101
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。光学实验中常需观察、测量各种等厚干涉现象产生的条纹、图像，这些条纹、图像大部分很微小，人眼无法直接看到或测量，只能使用读数显微镜。而它们使用有诸多不便，如只可单人观测，不便老师指导；长时观测较强光眼睛很累；需要人眼凑近光学目镜，调整仪器不便；不能记录，或转换成数字信号输电脑进行分析。发明内容本实用新型旨在针对现有技术的不足，提供一种很方便、直观，测量准确的一体化等厚干涉实验装置。本实用新型通过以下技术方案予以实现一种一体化等厚干涉实验装置，包括平台、微动测...
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