技术编号:9995699
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。模拟集成电路芯片的性能是由一系列生产流程的工艺步骤决定的,每一个工艺步骤中都包含了多种会影响芯片性能的工艺参数。不仅在不同批次中工艺参数会存在一定的偏差变化,即使在同一晶圆的不同位置也可能会存在明显偏差。然而其中某些较为边缘的工艺参数偏差的组合,会对高精度模拟集成电路的性能产生较大影响。为了减少工艺偏差对高精度模拟集成电路性能的影响,在电路设计时多会引入在一定范围内可调整的冗余设计以应对生产工艺中的偏差。冗余设计的控制信号则是根据实际性能测试选取的最优控制...
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