一种利用荧光光谱诊断牙结石的系统的制作方法

文档序号:857227阅读:349来源:国知局
专利名称:一种利用荧光光谱诊断牙结石的系统的制作方法
技术领域
本发明涉及一种利用630nm的红光诱导荧光光谱诊断牙结石的系统,属于激光光谱技术领域。
背景技术
牙结石是是引起牙周病的重要致病因素,所以要彻底治疗牙周病就必须有效清除牙结石和菌斑。成功的洁治或刮治需要灵敏的诊断手段做指导,从而避免损伤正常的牙组织。目前,龈下结石主要靠医生的临床经验进行诊断,特别是牙周袋深处的结石有些已经渗透到牙骨质中,医生凭肉眼和感觉很难判断是否继续进行洁治。由于缺乏灵敏客观的诊断手段,牙周病的治疗受到了严重影响,因此急需开发出高效灵敏的新型诊断技术。光学诊断具有快速、灵敏、无损等许多优点。早在70年前人们就发现在蓝光的激发下,牙齿发出了很强的绿色荧光牙结石发出了桔红色的光,但是早期的研究主要集中于利用荧光分析牙结石的成分。直到最近人们才开始将荧光诊断用于牙结石的诊断。虽然荧光诊断与传统的诊断方法相比有了很大的提高,但是目前的诊断主要直接利用反射光或荧光强度的大小来诊断牙结石,容易受测量条件的影响,且大多数研究处于实验室研究阶段,缺乏适于牙结石诊断的专用荧光系统研究。

发明内容
本发明的目的在于提供一种利用荧光光谱诊断牙结石的系统。采用的技术方案是
一种利用荧光光谱诊断牙结石的系统,包括稳压电源、发光二极管、透镜、光纤耦合器、光纤、光纤固定器、样品、光纤、干涉滤光片、光纤、光谱仪和计算机。发光二极管由稳压电源供电;发光二极管发出的630 nm的激发光,经透镜耦合到光纤,经传输光纤传输到待测样品表面;样品发出的荧光通过光纤传输;经一长波通滤光片到达光纤光谱仪的光纤; 计算机和光谱仪相连接,对光谱仪的数据进行处理,并自动给出诊断结果;装置使激发光源的传输光纤居中,根荧光传输光纤均勻分布在四周。本发明的检测方法通过光谱仪获得待测样品的光谱;计算625nnT635 nm荧光曲线下的面积SjP 665 675 nm荧光曲线下的面积& ;计算R=S2A1 ;另R=O. 3作为测量阈值, R) 0. 3为牙结石,R (0. 3为正常牙组织,且在光照范围内R和牙结石覆盖面积成正比。本发明具有结构简单、诊断准确等优点。


图1是本发明的结构示意图。
具体实施例方式一种利用荧光光谱诊断牙结石的系统,包括稳压电源1、发光二极管2、透镜3、光纤耦合器4、光纤5、光纤固定器6、样品7、光纤8、干涉滤光片9、光纤10、光谱仪11和计算机12。发光二极管2由稳压电源1供电;发光二极管发出的630 nm的激发光,经透镜2耦合到光纤3,经传输光纤3传输到待测样品7表面;样品7发出的荧光通过光纤8传输;经一长波通滤光片9到达光纤光谱仪11的光纤10 ;计算机12和光谱仪相连接,能对光谱仪的数据进行处理,并自动给出诊断结果。 本发明的检测方法通过光谱仪获得待测样品的光谱;在630 nm的激发光下,与正常牙齿相比,牙结石在670 nm附近的荧光峰远高于正常牙齿;对于给定的物质,荧光的强弱不仅与待测物质荧光效率有关,还与测量距离、光源的强度等测量条件有关,因此,仅依靠荧光强度很难给出诊断牙结石的定量标准,本发明采用670 nm附件荧光强度和630 nm附近的荧光强度比值作为诊断牙结石的标准;为了减小噪声,630 nm附件荧光强度用 625nnT635 nm荧光曲线下的面积S1代表,665 675 nm荧光曲线下的面积& ;计算R=S2A1 ; R=O. 3作为测量阈值,R〉0.3为牙结石,R〈0.3为正常牙组织,且在光照范围内R和牙结石覆盖面积成正比。
权利要求
1. 一种激光诱导荧光牙结石诊断系统,包括稳压电源、发光二极管、透镜、光纤耦合器、光纤、光纤固定器、样品、光纤、干涉滤光片、光纤、光谱仪和计算机,其特征在于所述的发光二极管与稳压电源电连接;发光二极管发出的630 nm的激发光,经透镜耦合到光纤, 经传输光纤传输到待测样品表面;样品发出的荧光通过光纤传输;经一长波通滤光片到达光纤光谱仪的光纤;计算机和光谱仪相连接。
全文摘要
一种激发光源的牙结石荧光诊断系统,包括稳压电源1、发光二极管2、透镜3、光纤耦合器4、光纤5、光纤固定器6、样品7、光纤8、干涉滤光片9、光纤10、光谱仪11和计算机12;通过光谱仪获得待测样品的光谱;计算625nm~635nm荧光曲线下的面积S1和665~675nm荧光曲线下的面积S2;计算R=S2/S1;令R=0.3作为测量阈值,R>0.3为牙结石,R<0.3为正常牙组织,且在光照范围内R和牙结石覆盖面积成正比。本发明具有结构简单、诊断准确等优点。
文档编号A61B5/00GK102485163SQ201010572919
公开日2012年6月6日 申请日期2010年12月6日 优先权日2010年12月6日
发明者姚俊, 王玉富, 秦艳利, 胡杰 申请人:沈阳理工大学
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