一种磁共振成像系统和CT设备质量控制多参数模体的制作方法

文档序号:15511671发布日期:2018-09-25 16:00阅读:121来源:国知局

本发明涉及磁共振成像系统及ct设备质量控制邻域,特别是涉及一种磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体



背景技术:

随着经济的发展,人们对自身的健康越来越重视,对生活质量的要求也日益提高,因而对医学影像设备的需求不断增长。因此,保证医学影像设备的安全运行成为一项必不可少的工作。

磁共振成像(mri)系统和ct设备都属于大型医学影像设备,其结构复杂,器件精密且不具有通用性,这加大了维修工作的难度,一旦这些设备出现故障,可能会对医护人员造成人身伤害,而且设备停机维修一次将对医院造成巨大的经济损失,为了减少医院的损失和对医护人员的伤害,需要对mri和ct设备进行质量控制。

现有测试模体存在以下不足:mri设备与ct设备质控模体不能通用,产品功能单一。

因此,针对现有模体的不足,设计一种能同时满足mri和ct设备的质控模体是很有必要的。



技术实现要素:

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体,用于解决现有技术中mri设备与ct设备质控模体不能通用,产品功能单一的问题。

本发明提供一种磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体,包括盒体和多个测试块;所述测试块包括测试层和用于堆叠和定位所述测试块的支撑层,多个所述支撑层依次堆叠设置在所述盒体中,所述测试层设置在所述支撑层中;多个所述测试层包括图像几何畸变测试层、低对比分辨力测试层和均匀性及信噪比测试层;或者多个所述测试层包括所述图像几何畸变测试层、所述低对比分辨力测试层和所述均匀性及信噪比测试层中的任意两种。

于本发明的一实施例中,所述盒体包括上密封盖、下密封盖和侧壁,所述上密封盖和所述侧壁的一端可拆卸连接,所述下密封盖和所述侧壁的另一端固定相连,所述上密封盖上设有用于通液和排气的通孔,所述盒体内设有限位的凸起,多个所述测试块上设有与所述凸起相对应的限位凹槽。

于本发明的一实施例中,所述上密封盖上固定设置有两个灌液口。

于本发明的一实施例中:所述上密封盖还设置有装配尼龙螺丝的螺丝孔,所述上密封盖与所述侧壁通过密封圈密封装配,尼龙螺丝装配于所述螺丝孔并抵压于所述密封圈使得所述上密封盖、所述密封圈和所述侧壁密封装配。

于本发明的一实施例中,所述图像几何畸变测试层设置有网格盘体、第一网格孔和与所述第一网格孔形状相同第二网格孔,所述第一网格孔和所述第二网格孔设置在所述网格盘体中形成测试网格,所述测试网格按规则形状分布,所述第二网格孔设置在所述测试网格的预设位置中,所述第二网格孔的尺寸大于所述第一网格孔。

于本发明的一实施例中,所述第一网格孔和所述第二网格孔的形状均为正方形。

于本发明的一实施例中,所述低对比分辨力测试层包括盘体、三组圆孔组和三组圆柱组;三组所述圆孔组和三组所述圆柱组均呈圆形分布,每组所述圆孔组由多个个直径不同的圆孔组成,每组圆柱组由多个直径与深度都不同的圆柱组成,所述圆孔组和所述圆柱组分别设置在所述盘体的两侧,且所述圆孔组设置在所述圆柱组和所述支撑壁之间,所述圆孔组的开口开设在所述盘体上。

于本发明的一实施例中,所述圆孔按直径大小由小到大逆时针排列,所述圆柱按直径和高度的大小由小到大逆时针排列。

于本发明的一实施例中,所述圆柱和所述圆孔一一对应,所述圆柱与对应的所述圆孔的直径相等。

于本发明的一实施例中,所述均匀性及信噪比测试层包括一中空测试空间。

如上所述,本发明的一种磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体,具有以下有益效果:

能同时满足mri和ct设备的质控的需求,产品功能多样化,能够满足不同的测试需求,同时能够测量多种参数、精度高、模块化强,且测试层可以灵活组合。

附图说明

图1显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体的盒体的结构示意图。

图2显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体中图像几何畸变测试层的结构示意图。

图3显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体中低对比度空间分辨率测试层的结构示意图。

图4显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体中均匀性和信噪比测试层的结构示意图。

元件标号说明:

10盒体

20测试块

1测试层

2支撑壁

11图像几何畸变测试层

12低对比度空间分辨率测试层

15均匀性及信噪比测试层

101上密封盖

1011灌液口

102下密封盖

103侧壁

111网格盘体

112第一网格孔

113第二网格孔

114测试网格

121盘体

122圆孔组

123圆柱组

131中空测试空间

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想,遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。

参见图1至图4,须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。

图1显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体的盒体的结构示意图。图2显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体中图像几何畸变测试层的结构示意图。图3显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体中低对比度空间分辨率测试层的结构示意图。图4显示为本发明磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体中均匀性和信噪比测试层的结构示意图。本发明提供一种磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体,包括盒体10和多个测试块20;测试块20包括测试层1和用于堆叠和定位测试块20的支撑层2,多个支撑层2依次堆叠设置在盒体10中,测试层1设置在支撑层2中;多个测试层1包括图像几何畸变测试层11、低对比分辨力测试层12和均匀性及信噪比测试层13;或者多个测试层1包括图像几何畸变测试层11、低对比分辨力测试层12和均匀性及信噪比测试层13中的任意两种。本发明的磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体的各个测试层1采用模块化设计,通过支撑壁2层层堆叠,可以灵活拆卸、更换和组合,也可以改变搭配和摆放顺序,使用者可以更具研究测试目的自由组合测试组件,具有曾是层种类多、功能全、测试范围广等特点,解决了国内模体功能单一,需要几个模体才能完成常规参数测试相比的缺点,可测试多个核磁共振成像系统和ct设备质量控制和质量保证参数,可以完全满足核磁共振成像系统和ct设备常规日测试、月测试和年测试的绝大部分需求。在使用时,如果需要使用磁共振成像系统质量控制多参数模体,则需要往模体内灌注硫酸铜溶液。如果需要使用ct设备质量控制多参数模体,则需要往模体内灌注水溶液即可。

进一步地,盒体10包括上密封盖101、下密封盖102和侧壁103,上密封盖101和侧壁103的一端可拆卸连接,下密封盖102和侧壁103的另一端固定相连,上密封盖101上设有用于通液和排气的通孔1222,盒体10内设有限位的凸起(图未示),多个测试块20上设有与凸起相对应的限位凹槽(图未示)。上密封盖101上固定设置有两个灌液口1011和装配尼龙螺丝(图未示)的螺丝孔(图未示),上密封盖101与侧壁103通过密封圈(图未示)密封装配,尼龙螺丝装配于螺丝孔并抵压于密封圈使得上密封盖101、密封圈和侧壁103密封装配。由于在进行模体测试时,要求保证壳体处于密封状态,防止测试液渗漏,故上密封盖101、下密封盖102与侧壁103之间的密封性能非常重要。通常下密封盖102与侧壁103焊接为一体,需要说明的是,下密封盖102也可以与侧壁103密封装配,也可以直接设置为一体结构。上密封盖101设置两个灌液口1011,灌液口1011固定设置于上密封盖101。灌液口用于搭水平仪,方便模体迅速摆位。上密封盖101设置有装配尼龙螺丝的螺丝孔,上密封盖101与侧壁103通过密封圈密封装配,尼龙螺丝装配于螺丝孔并抵压于密封圈使得密封圈分别与上密封盖101和侧壁103密封装配。旋紧尼龙螺丝,上密封盖101、密封圈和侧壁103之间装配得越紧,防漏效果更好。同时,通过盒体10上设置凸起和在测试块20上设置限位凹槽,可以在防止测试层时更加方便和准确,也能避免测试层放入盒体内之后产生晃动。

如图2所示,在本发明的一实施例中,图像几何畸变测试层11设置有网格盘体111、第一网格孔112和与第一网格孔112形状相同第二网格孔113,第一网格孔112和第二网格孔113设置在网格盘体111中形成测试网格114,测试网格114按规则形状分布,第二网格孔113设置在测试网格114的预设位置中,第二网格孔113的尺寸大于第一网格孔112。在本发明的一优选实施例中,测试网格114的形状为正方形,第一网格孔112和第二网格孔113的形状也同样为正方形。第二网格孔113的尺寸设计的大于第一网格孔112且设置于正方形的测试网格的四个角上,用于在进行图像几何畸变测试时对测试网格114进行定位。同时,第一网格孔112和第二网格孔113的形状均为正方形,也可以避免现有技术中的模体用均匀分布格栅设计粘结不牢固的缺陷。在本发明的其他实施例中,测试网格的形状可以根据需要进行调整,也可以是等边三角形或圆形等规则图形,同时测试网格114的大小和形状均可以根据需要进行调整,同时,第一网格孔112和第二网格孔113的形状也可以根据测试网格的形状进行同步改变,只要能满足图像几何畸变测试的需求均在本发明的保护范围之中。通过图像几何畸变测试层11可有效测量纵横比、线性度、均匀性、信噪比以及图像畸变程度,此外结合软件测试还可以测量共振频率,还可以用于ghost伪影测试等磁共振成像系统的伪影分析和研究。

如图3所示,在本发明的一实施例中,低对比度空间分辨率测试层12包括盘体121、三组圆孔组122和三组圆柱组123;三组圆孔组122和三组圆柱组123均呈圆形分布,每组圆孔组122由多个个直径不同的圆孔组成,每组圆柱组123由多个直径与深度都不同的圆柱组成,圆孔组122和圆柱组123分别设置在盘体121的两侧,且圆孔组122设置在圆柱组123和支撑壁2之间,圆孔组122的开口开设在盘体121上。进一步地,圆孔按直径大小由小到大逆时针排列,圆柱按直径和高度的大小由小到大逆时针排列;圆柱和圆孔一一对应,圆柱与对应的圆孔的直径相等。在本实施例中,圆孔组122和圆柱组123均有三组。当然,圆孔和圆柱的尺寸可以根据实际需要灵活调整设置。本发明的低对比度空间分辨率测试层用于测试图像几何畸变,同时满足aapm测试图像几何畸变时任何方向和任何位置的要求。

如图4所示,在本发明的一实施例中,均匀性及信噪比测试层15包括一中空测试空间151。中空测试空间与支撑壁2结合后形成一中空的圆柱体。

综上所述,本发明的磁共振成像系统和ct设备质量控制多参数模体,能同时满足mri和ct设备的质控的需求,产品功能多样化,能够满足不同的测试需求,同时能够测量多种参数、精度高、模块化强,且测试层可以灵活组合。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。

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