1.一种测量用x射线ct装置的校正方法，其特征在于，
所述测量用x射线ct装置一边使配置于旋转台上的被检体旋转一边照射x射线，重建被检体的投影图像来生成被检体的断层图像，在进行所述测量用x射线ct装置的校正时，
在使尺寸预先已知的球形校正治具与被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据，
获取所述体数据中的被检体表面形状的轮廓，并且根据球形校正治具的中心坐标来计算球形校正治具的边界面，
求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体的边界面与球形校正治具的边界面一致的校正值。
2.一种测量用x射线ct装置的校正装置，所述测量用x射线ct装置一边使配置于旋转台上的被检体旋转一边照射x射线，重建被检体的投影图像来生成被检体的断层图像，所述测量用x射线ct装置的校正装置的特征在于，具备以下单元：
在使尺寸预先已知的球形校正治具与被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据的单元；
获取该体数据中的被检体表面形状的轮廓并且根据球形校正治具的中心坐标来计算球形校正治具的边界面的单元；以及
求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体的边界面与球形校正治具的边界面一致的校正值的单元。
3.一种测量用x射线ct装置的测定方法，其特征在于，
所述测量用x射线ct装置一边使配置于旋转台上的被检体旋转一边照射x射线，重建被检体的投影图像来生成被检体的断层图像，在利用所述测量用x射线ct装置进行测定时，
在使尺寸预先已知的球形校正治具与被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据，
使用通过根据权利要求1所述的方法求出的校正值来求出被检体的边界面，
使用该边界面来求出被检体的形状。
4.根据权利要求3所述的测量用x射线ct装置的测定方法，其特征在于，
事先针对所述被检体的测定面的每个法线方向求出校正值，并针对校正值与材质的每个组合制作数据库，在进行被检体的测定时，从数据库中读出与测定面的法线方向对应的校正值用以进行测定。
5.一种测量用x射线ct装置的测定装置，所述测量用x射线ct装置一边使配置于旋转台上的被检体旋转一边照射x射线，重建被检体的投影图像来生成被检体的断层图像，所述测定装置的特征在于，具备：
在使尺寸预先已知的球形校正治具与被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据的单元；
使用通过根据权利要求2所述的装置求出的校正值来求出被检体的边界面的单元；以及
使用该边界面来求出被检体的形状的单元。
6.根据权利要求5所述的测量用x射线ct装置的测定装置，其特征在于，还具备：
数据库，其是针对所述被检体的测定面的每个法线方向求出校正值并针对校正值与材质的每个组合制作出的；以及
在进行所述被检体的测定时从数据库中读出与测定面的法线方向对应的校正值用以进行测定的单元。
7.一种测量用x射线ct装置的测定方法，其特征在于，
将被检体和尺寸预先已知的球形校正治具放入使x射线透过的箱体中，
在所述箱体内在使所述球形校正治具与所述被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据，
使用通过根据权利要求1所述的方法求出的校正值来求出被检体的边界面，
使用该边界面来求出被检体的形状。
8.一种测量用x射线ct装置的测定装置，其特征在于，具备：
球形校正治具，所述球形校正治具的尺寸预先已知；
箱体，其用于收容所述球形校正治具和被检体，x射线透过所述箱体；
在所述箱体内在使所述球形校正治具与所述被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据的单元；以及
使用通过根据权利要求2所述的装置求出的校正值来求出被检体的边界面的单元；以及
使用该边界面来求出被检体的形状的单元。
9.一种测量用x射线ct装置，其特征在于，具备：
球形校正治具，所述球形校正治具的尺寸预先已知；
在使所述球形校正治具与被检体接触的状态下进行ct扫描来生成体数据的单元；
获取该体数据中的所述被检体表面形状的轮廓的单元；
根据所述球形校正治具的中心坐标来计算所述体数据中的所述球形校正治具的边界面的单元；
使用根据权利要求1所述的方法来校正所述被检体的边界面的单元；以及
使用进行了所述校正的边界面来求出被检体的形状的单元。
10.根据权利要求9所述的测量用x射线ct装置，其特征在于，
还具备箱体，所述箱体用于收容所述被检体和所述球形校正治具，并且x射线透过所述箱体，在所述箱体内使所述球形校正治具与所述被检体接触。