测器阵列（522)，其被定位为跨越所述检查区域与辐射源相对，所述探测器阵列探测 贯穿所述视场的辐射并产生指示探测到的辐射的信号；以及 射束整形器（524)，其被定位在所述辐射源与所述准直器之间，所述射束整形器与所述 焦斑协同地旋转并定义所述辐射射束的强度分布， 其中，所述射束整形器包括多个细长的X射线吸收元件（606)，所述多个细长的X射 线吸收元件被布置为沿着相对于射束的方向的贯穿方向平行于彼此，通过多个无材料区域 (604)被彼此分开。
2. 根据权利要求1所述的成像系统，其中，所述多个X射线吸收元件的宽度从所述射 束整形器的中心区域朝向所述射束整形器的端部区域增大。
3. 根据权利要求2所述的成像系统，其中，所述多个X射线吸收元件的所述宽度随着 所述辐射射束的扇形角度以指数方式增大。
4. 根据权利要求1至3中的任一项所述的成像系统，其中，所述多个X射线吸收元件的 对的中心到中心的距离是相同的。
5. 根据权利要求1至4中的任一项所述的成像系统，其中，在所述射束整形器的端部区 域处离开所述射束整形器的辐射的强度低于碰撞在所述射束整形器的所述端部区域的辐 射的百分之一。
6. 根据权利要求1至5中的任一项所述的成像系统，其中，在所述射束整形器的所述中 心区域处离开所述射束整形器的辐射的强度大约等于碰撞在所述射束整形器的所述中心 区域的辐射。
7. 根据权利要求1至6中的任一项所述的成像系统，所述射束整形器包括： 至少第一子射束整形器（524J和第二子射束整形器（5242)，所述第一子射束整形器 和所述第二子射束整形器被布置为在所述辐射射束的所述路径中一个在另一个的顶部，其 中，所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器中的至少一个相对于至少所述第一子 射束整形器和所述第二子射束整形器中的另一个进行平移。
8. 根据权利要求7所述的成像系统，其中，将所述第一子射束整形器和所述第二子射 束整形器中的至少一个相对于至少所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器中的 另一个进行平移来改变所述射束整形器的输出强度。
9. 根据权利要求8所述的成像系统，其中，在扫描期间所述第一子射束整形器和所述 第二子射束整形器中的至少一个相对于至少所述第一子射束整形器和所述第二子射束整 形器中的另一个进行平移，从而根据采集角度来改变所述射束整形器的所述输出强度。
10. 根据权利要求7所述的成像系统，其中，进行平移的所述第一子射束整形器或所述 第二子射束整形器包括两个部分射束整形器（524 la，524lb)，其中，所述部分射束整形器中 的每个相对于所述两个部分射束整形器中的另一个独立地平移。
11. 根据权利要求10所述的成像系统，其中，所述两个部分射束整形器中只有一个为 扫描进行平移。
12. 根据权利要求1至11中的任一项所述的成像系统，其中，所述X射线吸收元件被聚 焦在所述焦斑处。
13. -种方法，包括： 在围绕检查区域的路径上协同地旋转焦斑和射束整形器， 其中，所述射束整形器包括多个细长的X射线吸收元件，所述多个细长的X射线吸收元 件被布置为沿着相对于射束的方向的贯穿方向平行于彼此，通过多个无材料区域被彼此分 开，并且所述射束整形器定义贯穿所述检查区域的辐射射束的强度分布；并且 探测由所述焦斑发出的、贯穿所述射束整形器和所述检查区域视场且照射被定位为与 所述焦斑相对的探测器阵列的辐射，并且生成指示所述辐射的输出信号。
14. 根据权利要求13所述的方法，其中，所述多个X射线吸收元件的宽度从所述射束整 形器的中心区域朝向所述射束整形器的端部区域增大，所述多个X射线吸收元件的宽度从 所述射束整形器的中心区域朝向所述射束整形器的端部区域增大，并且所述多个X射线吸 收元件的对的中心到中心的距离是相同的。
15. 根据权利要求13至14中的任一项所述的方法，其中，所述射束整形器包括至少第 一子射束整形器和第二子射束整形器，所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器被 布置为在所述辐射射束的所述路径中一个在另一个的顶部，并且所述第一子射束整形器或 所述第二子射束整形器中的至少一个被配置为相对于至少所述第一子射束整形器和所述 第二子射束整形器中的另一个进行平移，并且所述方法还包括： 在对对象进行扫描之前将所述第一子射束整形器或所述第二子射束整形器中的所述 至少一个相对于至少所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器中的另一个进行平 移。
16. 根据权利要求15所述的方法，还包括： 在对所述对象进行扫描之前或在对所述对象进行扫描的同时将所述第一子射束整形 器或所述第二子射束整形器中的所述至少一个相对于至少所述第一子射束整形器和所述 第二子射束整形器中的另一个进行平移。
17. 根据权利要求16所述的方法，其中，在对所述对象进行扫描之前或在对所述对象 进行扫描的同时将所述第一子射束整形器或所述第二子射束整形器中的所述至少一个相 对于至少所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器中的另一个进行平移改变在对 所述对象进行扫描时所述辐射射束的所述强度分布。
18. -种成像系统（500)的射束整形器（524)，包括： 多个细长的X射线吸收元件（606)，所述多个细长的X射线吸收元件被布置为沿着相对 于射束的方向的贯穿方向平行于彼此，通过多个无材料区域（604)被彼此分开。
19. 根据权利要求15所述的射束整形器，其中，所述多个X射线吸收元件的宽度从所述 射束整形器的中心区域朝向所述射束整形器的端部区域增大，并且所述多个X射线吸收元 件的对的中心到中心的距离是相同的。
20. 根据权利要求19所述的射束整形器，其中，所述宽度根据z方向增大。
21. 根据权利要求18至20中的任一项所述的射束整形器，其中，所述射束整形器在 x-y平面中是平的。
22. 根据权利要求18至20中的任一项所述的射束整形器，其中，所述射束整形器在 x-y平面中是弯曲的。
23. -种方法，包括： 在围绕检查区域的路径上协同地旋转焦斑和射束整形器，其中，所述射束整形器包括 第一子射束整形器和第二子射束整形器；并且 基于患者尺寸、对所述患者的预扫描、在所述检查区域中的患者位置、或正被扫描的所 述患者的解剖结构中的至少一个来将所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器中 的至少一个相对于至少所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器中的另一个进行 平移， 其中，所述第一子射束整形器和所述第二子射束整形器相对于彼此的相对位置定义贯 穿所述检查区域的辐射射束的强度分布。
24. 根据权利要求23所述的方法，其中，所述第一子射束整形器和所述第二子射束整 形器被布置为在所述辐射射束的所述路径中一个在另一个的顶部，并且其中，所述第一子 射束整形器和所述第二子射束整形器中的每个包括多个细长的X射线吸收元件，所述多个 细长的X射线吸收元件被布置为沿着相对于射束的方向的贯穿方向平行于彼此，通过多个 无材料区域被彼此分开。
【专利摘要】一种成像系统(500)包括：焦斑(510)，其沿着围绕检查区域(506)的路径旋转并发出辐射；准直器(512)，其对所述辐射进行准直，产生贯穿所述检查区域的视场(520)和其中的对象或目标的辐射射束(516)；探测器阵列(522)，其被定位为跨越所述检查区域与辐射源相对，所述探测器阵列探测贯穿所述视场的辐射并产生指示探测到的辐射的信号；以及射束整形器(524)，其被定位在所述辐射源与所述准直器之间，所述射束整形器与所述焦斑协同地旋转并定义所述辐射射束的强度分布。所述射束整形器包括多个细长的X射线吸收元件(606)，所述多个细长的X射线吸收元件被布置为沿着相对于射束的方向的贯穿方向平行于彼此，通过多个无材料区域(604)被彼此分开。
【IPC分类】A61B6-03, G21K1-06, G21K1-02, A61B6-06, A61B6-00
【公开号】CN104853679
【申请号】CN201380063535
【发明人】T·卡塔尔斯基, E·勒斯尔, R·莱文森
【申请人】皇家飞利浦有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2013年11月28日
【公告号】WO2014087305A1