专利名称：一种用于丝状试样手动检查的装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于手动检查丝状试样，如纱线、绳、细线等的装置。
背景技术：
在纺纱或绕线机生产过程中借由所谓的清纱器自动地监视纱线的质量是常规做法。测量移动通过清纱器的纱线的至少一个参数并与预定的质量标准比较。如果检验的纱线段不符合所述质量标准，将自动地从纱线中被切除。清纱器例如在EP-O ‘439 ‘767A2中有描述。可能发生操作者希望优化清纱器的设置或使自己确信自动清纱器的操作正确。为达到此目的，操作者用裸眼检验切下的纱线段并试图发现触发清纱器切割的纱线缺陷。可以使用所谓的纱线卡发现并检验纱线缺陷并记录错误。它是用硬纸或纸板制成的卡，主要为A5版式，其互相相对的两边缘设有用于夹纱线的狭缝。当夹在纱线卡上后，纱线缺陷可用裸眼、放大镜或显微镜跟踪并检验。对纱线缺陷的查找及后续的手动检查可能是费力且费时的。只有典型长度约为14cm的较短纱线段可被夹到纱线卡上的事实，使查找变得更困难。如果纱线缺陷不在被夹的纱线段上，就需要移动并再次夹住纱线。从US-4，891，974A中可了解一种用于测量纱线的装置。它包括含有燕尾引导器的底座板。带有第一纱线夹的支撑底座可沿所述燕尾引导器位移。第二纱线夹固定地附接在底座板一端的上方。用于沿夹在纱线夹中的纱线引导光电纱线传感器的杆设在底座板的更上方。此装置复杂、易产生故障且造价昂贵。
发明内容因此，本发明的目的是提供一种用于手动检查丝状试样的造价低的简单装置。依照本发明的用于手动检查丝状试样的装置包括限定纵向方向的狭长底座体。它还包括用于以一定方式夹持待检验试样的夹持部件，在此方式下，被夹持的试样的纵向方向与所述底座体的纵向方向相一致。它还包括用于在所述纵向方向上沿所述被夹持的试样引导光学设备的线性引导部件。所述底座体以整体并且以轨道形状制成。所述夹持部件和线性引导部件都直接布置在所述底座体中或上。所述夹持部件可布置为附接至所述底座体两端的一对弹簧加载纱线夹。它们应该适合于可逆地夹持底座体。本说明中术语“夹持”也包括试样的拉紧或张紧。在优选实施例中，线性引导部件布置为沿着纵向方向前进的狭长底座体中的第一凹槽。所述线性引导部件布置为在纵向底座体中的第一凹槽，该凹槽沿着纵向方向(X)延伸。所述第一凹槽可以是平底槽，在其平底面中具有用于使被夹持的试样沉入的第二凹槽。所述装置优选地包含光学性能均匀的背景表面，且所述背景表面、夹持部件及线性引导部件以这样的方式布置，即被夹持的试样可用被引导的光学设备在背景表面前查看。特别有利地是为所述装置提供至少两个不同的光学性能均匀的背景表面，它们在至少一个可见电磁光谱的范围内的反射率彼此不同。所述至少两个不同背景表面的每个可与独立的线性引导部件关联。第一背景表面可基本上为黑色的，第二背景表面可基本上为白色的。所述背景表面优选地包括用于读出待检查试样中缺陷的长度的刻度。在优选实施例中，所述装置包含可在线性引导部件中引导的光学设备。所述光学设备例如是显微镜或放大镜。所述光学设备可包含照相机，优选地是数码照相机，用于产生及记录试样，特别是试样中的缺陷的图像。所述图像可被存储和/或在屏幕上显示。有利的是在所述装置中提供用于在夹持期间定位试样一端的定位部件。所述定位部件可优选地布置为至少在底座体一端上的长度可调定位轨道。本说明中的形容词“手动的”用作术语“自动的”的反义词。根据本发明，检查需要人的介入。这与自动纱线试验设备相反，如申请人的一种类型USTER TESTER5，该设备可以自动地检验丝状试样。
下文将参考附图解释本发明的优选实施例，附图如下:图1表示依照本发明的装置的实施例的透视图；图2表示依照本发明的通过图1的装置底座体的剖视图；图3表示依照本发明的通过图1的装置纱线夹的纵向截面视图；图4表示依照本发明的装置的另一个实施例的透视图。附图不是都以相同的规格来提供。
具体实施方式
图1表示依照本发明的装置I的优选实施例。装置I包括限定纵向方向X的狭长底座体2。底座体2优选地设计为由金属，例如铝制成的轨道或梁。其优选长度在20至60cm 之间，如 40cm。图2表示通过底座体2的剖视图。底座体2具有基本上矩形的外形。顶部凹槽22嵌入底座体2的顶部侧21，该凹槽通过底座体2的整个长度。顶部凹槽22包含第一平底凹槽23，在第一平底凹槽23的底面中设有第二较窄平底凹槽24。第二平底凹槽24用于容纳待检查并且被夹持并张紧在两个纱线夹3之间的纱线9。第一平底凹槽23用作沿被夹持的纱线9引导显微镜4的线性引导部件。因为所述纱线沉入第二平底凹槽24中，显微镜4不实现与纱线9接触，且同时第一平底凹槽23确保显微镜4和纱线9之间良好限定的距离，该距离沿纵向方向X是恒定的。同样连续的底部凹槽27也嵌入到底座体2的与顶部侧21相对的底部侧26中，所述底部凹槽的轮廓与顶部凹槽22的轮廓相同。因此底座体2的形状关于水平设置的对称平面镜像对称。具有两道凹槽22，27的实施例的优点是可以在凹槽22、27中得到两个具有不同光学背景的表面25，28用于纱线检查。因此，顶部凹槽22的底面25可以是黑色的以便提供给光亮的纱线或黑色纱线中的光亮异质纤维的检查提供良好的对比。相反地，底部凹槽27的底面28可以是白色的用于检查黑色纱线或光亮纱线中的黑色异质纤维。可在背景表面25，28的一个或两个上提供刻度(未示出)，此刻度帮助检查人员估计或测量沿着纵向方向X的纱线缺陷的长度。所述刻度可具有毫米及/或厘米的精度。纱线夹3分别附接至所述底座体的两端。图3表示通过纱线夹3的优选实施例的纵向截面视图。纱线夹3包含空心圆柱31，通过空心圆柱31可将纱线夹3保持在底座体2中。螺栓33延伸通过空心圆柱31。螺栓34的一端固定有夹盘36,另一端固定有圆柱形端片37。螺旋压力弹簧38预张紧在空心圆柱31内部，位于空心圆柱31的内法兰32和螺栓34的环形扩大部35之间，该压力弹簧将夹盘36压向空心圆柱31的相应底座区域33。纱线(图3中未示出)可夹持在夹盘35和底座区域33之间。纱线的引入以这样的方式发生，即纱线被拉向螺栓34，位于夹盘36和底座区域33之间。当待检查的纱线被夹持并张紧在两个纱线夹3(如图1)之间时，它以被拉伸且笔直的方式在顶部凹槽22的第二平底凹槽24中延伸，以便可用显微镜4沿其长度进行检查。在具有两道凹槽22、27的镜像对称实施例中，一个单夹对3可用于两道槽22、27。显微镜4 (在图1中示出)可以是简单的市场上可购得的单筒反光显微镜，具有20X至120X，优选地为80X的放大倍数。它包括具有透镜及目镜的第一筒41和具有反射光照的第二筒42。第一平底凹槽23以这样的方式调整至显微镜4的底座43，即底座43可在凹槽中沿纵向方向X线性引导。在此处讨论的实施例中，底座43在第一平底凹槽23中滑动。在依照本发明的装置I中，除了显微镜4外，放大镜或其他任何光学设备也可用于纱线的检查。所述光学设备可包含照相机。如果装置I使用在如介绍中所述的电子清纱器环境中，则有利的设计方式是使预期的纱线缺陷总是出现在同一个点，优选地出现在底座体2的大约中点处。具体类型的清纱器常以这样的方式设置，即每个被探测的纱线缺陷总是与清纱器切割所产生的纱线端具有相等的距离。如果遵循此发现，则依照本发明的装置可根据图4的说明设计。优选地长度可调定位轨道5附接至底座体2的至少一端，例如像从打孔机中所知的那样。定位轨道5用于定位纱线9的一端91。如果定位轨道5的长度I调整至各自清纱器类型的测量头，此长度足够在纱线9夹持期间将纱线端91保持在轨道5的自由端51上并使预期的纱线缺陷92大约位于底座体2的中间处。可替代地，所述定位轨道可具有恒定的长度且提供有用于不同类型清纱器测量头的标记，纱线端91可在夹持的过程中保持于其上。以下的数例用于图解说明之目的。在申请人的IUSTER ' QUANTUM3类型的清纱器测量头中，纱线端91和纱线缺陷92的距离约为30cm。为了确保纱线缺陷92出现在底座体2的大约中点处且长度为40cm，则纱线端91必须定位在距离底座体2约30cm - L/2=10cm处。在此例子中，长度I=IOcm的定位轨道5是有利的。应理解本发明不被限制为如上面讨论的实施例。本领域的技术人员利用本发明的知识将能够获得其他变形，这些变形也应该属于本发明的主题。参考号列表I 装置2 底座体21底座体顶部侧22底座体中的顶部凹槽23第一平底凹槽24第二平底凹槽25顶部背景区域26底座体底部侧[0036]27底座体中的底部凹槽28底部背景区域3纱线夹31空心圆柱32空心圆柱的内法兰33空心圆柱的底座区域34螺栓35螺栓的扩大部36夹盘37端片38压力弹簧4显微镜41第一显微镜筒42第二显微镜筒43显微 镜底座5定位轨道51定位轨道的端部9纱线91纱线的端部L底座体的长度I定位轨道的长度X底座体的纵向方向
权利要求1.一种用于丝状试样手动检查的装置，包括限定纵向方向(X)的狭长底座体(2)，用于以被夹持的试样(9)的纵向方向与所述底座体(2)的纵向方向(X) —致的方式夹持所述待检查试样(9)的夹持部件(3)，及用于在纵向方向(X)上沿被夹持的试样(9)引导光学设备(4)的线性引导部件(23)，其特征在于所述底座体(2)以一体式以及以轨道形状制成，且所述夹持部件(3)和线性引导部件(23)都直接布置在所述底座体(2)中或上。
2.根据权利要求1所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述夹持部件(3)设计为附接至所述底座体(2 )两端的一对弹簧加载纱线夹(3 )。
3.根据权利要求1-2之一所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述线性引导部件布置为在纵向底座体(2)中的第一凹槽(23)，该凹槽沿着纵向方向(X)延伸。
4.根据权利要求3所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述第一凹槽(23)是平底凹槽，在其平底面中具有用于使被夹持的试样(9)沉入的第二凹槽(24)。
5.根据权利要求1所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述装置(I)包含光学性能均匀的背景区域(25)，并且所述背景区域(25)、夹持部件(3)及线性引导部件(23)以这样的方式布置，即使得被夹持的试样(9)可用被引导的光学设备(4)在所述背景区域(25)前检查。
6.根据权利要求5所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述装置(I)包含至少两个不同的、光学性能均匀的背景区域(25，28)，它们在至少一个可见电磁光谱的范围内的反射率彼此不同。
7.根据权利要求6所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述至少两个不同背景区域(25，28)的每个与独立的线性引导部件关联。
8.根据权利要求6所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述装置(I)包含第一基本黑色背景区域(25)和第二基本白色背景区域(28)。
9.根据权利要求5所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中在背景区域(25，28)上提供有用于读出待检验试样(9)中的缺陷(92)的长度的刻度。
10.根据权利要求1所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述装置(I)包含可在线性引导部件(23)中引导的光学设备(4)。
11.根据权利要求10所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述光学设备是显微镜(4)或放大镜。
12.根据权利要求10所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中光学设备(4)包含照相机。
13.根据权利要求1所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述装置(I)包含用于在夹持期间定位试样(9)的一端(91)的定位部件(5)。
14.根据权利要求13所述的用于丝状试样手动检查的装置，其中所述定位部件布置为在所述底座体(2)的至少一端上的长度可调定位轨道(5)。
专利摘要一种用于丝状试样手动检查的装置(1)，丝状试样如纱线，包括一体式轨道形底座体(2)。它还包括用于夹持待检查试样(9)的夹持部件(3)。它还包括用于沿被夹持的试样(9)引导光学设备(4)，如显微镜，的线性引导部件(22)。夹持部件(3)和线性引导部件(23)都直接布置在所述底座体(2)中或上。所述装置(1)简单且造价低。
文档编号D01H13/32GK203007532SQ20122018365
公开日2013年6月19日 申请日期2012年4月26日 优先权日2011年4月26日
发明者马丁·库斯特, 本诺·格罗布, P·施密特 申请人:乌斯特技术股份公司