一种缸体综合测量SPC工作站的制作方法

一种缸体综合测量spc工作站
技术领域
1.本实用新型涉及缸体检测设备技术领域，特别是涉及一种缸体综合测量spc工作站。


背景技术：

2.spc的全称为：统计过程控制（statistical process control），是一种借助数理统计方法的过程控制工具。它能够对生产过程进行分析评价，并且根据反馈信息，及时发现系统性因素出现的征兆，并采取措施消除其影响，使过程维持在仅受随机性因素影响的受控状态，以达到控制质量的目的。
3.很多厂家采用spc工作站在缸体出厂前对其进行检测，确保产品的质量合格，目前现有的spc工作站，结构单一，功能不完善，工作平台面积有限，无法同时测量多个缸体，测量效率较低。


技术实现要素：

4.本实用新型所要解决的技术问题是：现有的spc工作站，结构单一，功能不完善，工作平台面积有限，无法同时测量多个缸体，测量效率较低。
5.为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种缸体综合测量spc工作站，包括工作台，所述工作台内部开设有三个存储室，所述工作台外壁一侧设置有与三个存储室对应的活动门，所述工作台顶部开设有安装槽，所述安装槽内底部开设有放置槽，所述放置槽内壁两侧均开设有插槽，所述放置槽内底部固定连接有弹簧，所述弹簧顶部固定连接有支撑板，所述支撑板顶部贴合有加长板，所述安装槽内部设置有两个平板，两个所述平板相互靠近的一端底部均固定连接有插块，所述平板底部开设有凹槽，所述凹槽内侧壁转动连接有连接架，所述工作台外壁两侧均设置有支架，两个所述平板相互靠近的一端顶部均开设有与加长板对应的限位槽，所述限位槽内部设置有垫板；
6.所述工作台顶部固定连接有立架，所述立架靠近活动门的一侧固定连接有设备架，所述设备架内部开设有锥型槽，所述立架顶部中心处固定连接有显示屏。
7.优选的，所述支撑板外侧壁与放置槽内侧壁滑动连接，便于将加长板从放置槽中弹出。
8.优选的，两个所述平板呈对称设置，两个所述平板底部均与安装槽内侧壁滑动连接。
9.优选的，两个所述插槽分别与两个插块一一对应且相互契合，便于对平板进行限位固定，防止其从安装槽4中滑出。
10.优选的，所述支架和连接架内部均开设有尺寸相同的螺纹孔，便于通过横杆将支架和连接架固定，形成三角支撑，提高平板的承重能力，便于放置多个缸体。
11.优选的，所述垫板顶部与两个平板顶部位于同一水平面。正常状态下，两个平板和垫板能够共同组成一个完整的加工平面，使得工作台表面平整。
12.优选的，所述锥型槽设置有多个，且多个所述锥型槽内径大小依次递减，便于适应不同检测工具的尺寸，适用范围较广。
13.本实用新型的有益效果如下：
14.1.本实用新型通过平板、加长板、支架和连接架之间相互配合，通过在工作台内部设有备用加长板，在使用时能够快速取出与平板对接，并利用支架和连接架加固，使得平板和加长板能够共同组成一个面积更大的测量平台，便于用户放置多个缸体，可同时对多个缸体进行检测，提高了用户的测量效率。
15.2.本实用新型设置有设备架和锥型槽，通过在工作台顶部设置有内含不同尺寸锥型槽的设备架，在检测前将工具存放在锥型槽中，测量时方便取用，便于更好的对缸体进行测量，提高了测量效率。
附图说明
16.图1为本实用新型的立体图；
17.图2为本实用新型的工作台内部结构示意图；
18.图3为本实用新型的平板结构示意图。
19.图中：1、工作台；2、存储室；3、活动门；4、安装槽；5、插槽；6、弹簧；7、支撑板；8、加长板；9、放置槽；10、平板；11、插块；12、凹槽；13、连接架；14、支架；15、限位槽；16、垫板；17、立架；18、设备架；19、锥型槽；20、显示屏。
具体实施方式
20.下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
21.请参阅图1，一种缸体综合测量spc工作站，包括工作台1，工作台1内部开设有三个存储室2，工作台1外壁一侧设置有与三个存储室2对应的活动门3，便于储存各种设备，提高了工作站的空间利用率。
22.如图2和图3所示，工作台1顶部开设有安装槽4，安装槽4内底部开设有放置槽9，放置槽9内壁两侧均开设有插槽5，放置槽9内底部固定连接有弹簧6，弹簧6顶部固定连接有支撑板7，支撑板7顶部贴合有加长板8，支撑板7外侧壁与放置槽9内侧壁滑动连接，便于将加长板8从放置槽9中弹出。
23.安装槽4内部设置有两个平板10，两个平板10呈对称设置，且两个平板10底部均与安装槽4内侧壁滑动连接，两个平板10相互靠近的一端底部均固定连接有插块11，两个插槽5分别与两个插块11一一对应且相互契合，便于对平板10进行限位固定，防止其从安装槽4中滑出。
24.平板10底部开设有凹槽12，凹槽12内侧壁转动连接有连接架13，工作台1外壁两侧均设置有支架14，支架14和连接架13内部均开设有尺寸相同的螺纹孔，便于通过横杆将支架14和连接架13固定，形成三角支撑，提高平板10的承重能力，便于放置多个缸体。
25.两个平板10相互靠近的一端顶部均开设有与加长板8对应的限位槽15，限位槽15内部设置有垫板16，并且垫板16顶部与两个平板10顶部位于同一水平面。正常状态下，两个
平板10和垫板16能够共同组成一个完整的加工平面，使得工作台1表面平整。
26.工作台1顶部固定连接有立架17，立架17顶部中心处固定连接有显示屏20，便于用户连接检测仪器，实时的监测数据立架17靠近活动门3的一侧固定连接有设备架18，设备架18内部开设有锥型槽19，锥型槽19设置有多个，且多个锥型槽19内径大小依次递减，便于适应不同检测工具的尺寸，适用范围较广。
27.本实用新型在使用时，首先将检测工具插入设备架18中的锥型槽19中，根据检测工具尺寸大小的不同，有多种孔径的锥型槽19供选择。
28.通过在设备架18中放置多个工具，便于用户灵活取用，对缸体进性多方面的检测。此外，用户把垫板16取下，并将两个平板10分别向两侧滑动，直到插块11插入插槽5中，此时在弹簧6的弹力作用下，加长板8从放置槽9中弹出，用户再将两个平板10相互靠近，直到加长板8的两端凹陷处分别与两个平板10顶部限位槽15契合，然后转动平板10底部的连接架13，使其位于支架14内部，通过横杆贯穿螺纹孔固定，提高平板10的稳定性，此时两个平板10和加长板8共同组成一个面积更大的测量平台，便于用户放置多个缸体，可同时对多个缸体进行检测。
29.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。


技术特征：
1.一种缸体综合测量spc工作站，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）内部开设有三个存储室（2），所述工作台（1）外壁一侧设置有与三个存储室（2）对应的活动门（3），所述工作台（1）顶部开设有安装槽（4），所述安装槽（4）内底部开设有放置槽（9），所述放置槽（9）内壁两侧均开设有插槽（5），所述放置槽（9）内底部固定连接有弹簧（6），所述弹簧（6）顶部固定连接有支撑板（7），所述支撑板（7）顶部贴合有加长板（8），所述安装槽（4）内部设置有两个平板（10），两个所述平板（10）相互靠近的一端底部均固定连接有插块（11），所述平板（10）底部开设有凹槽（12），所述凹槽（12）内侧壁转动连接有连接架（13），所述工作台（1）外壁两侧均设置有支架（14），两个所述平板（10）相互靠近的一端顶部均开设有与加长板（8）对应的限位槽（15），所述限位槽（15）内部设置有垫板（16）；所述工作台（1）顶部固定连接有立架（17），所述立架（17）靠近活动门（3）的一侧固定连接有设备架（18），所述设备架（18）内部开设有锥型槽（19），所述立架（17）顶部中心处固定连接有显示屏（20）。2.根据权利要求1所述的一种缸体综合测量spc工作站，其特征在于：所述支撑板（7）外侧壁与放置槽（9）内侧壁滑动连接。3.根据权利要求1所述的一种缸体综合测量spc工作站，其特征在于：两个所述平板（10）呈对称设置，两个所述平板（10）底部均与安装槽（4）内侧壁滑动连接。4.根据权利要求1所述的一种缸体综合测量spc工作站，其特征在于：两个所述插槽（5）分别与两个插块（11）一一对应且相互契合。5.根据权利要求1所述的一种缸体综合测量spc工作站，其特征在于：所述支架（14）和连接架（13）内部均开设有尺寸相同的螺纹孔。6.根据权利要求1所述的一种缸体综合测量spc工作站，其特征在于：所述垫板（16）顶部与两个平板（10）顶部位于同一水平面。7.根据权利要求1所述的一种缸体综合测量spc工作站，其特征在于：所述锥型槽（19）设置有多个，且多个所述锥型槽（19）内径大小依次递减。

技术总结
本实用新型公开了一种缸体综合测量SPC工作站，包括工作台，所述工作台内部开设有三个存储室，所述工作台外壁一侧设置有与三个存储室对应的活动门，所述工作台顶部开设有安装槽，所述放置槽内底部固定连接有弹簧，所述弹簧顶部固定连接有支撑板，所述支撑板顶部贴合有加长板，所述安装槽内部设置有两个平板，两个所述平板相互靠近的一端底部均固定连接有插块。本实用新型通过平板、加长板、支架和连接架之间相互配合，通过在工作台内部设有备用加长板，在使用时能够快速取出与平板对接，并利用支架和连接架加固，使得平板和加长板能够共同组成一个面积更大的测量平台，便于用户放置多个缸体，可同时对多个缸体进行检测，提高了用户的测量效率。用户的测量效率。用户的测量效率。


技术研发人员：荣存民 宋莹莹
受保护的技术使用者：梁山国宇量仪精密机械有限公司
技术研发日：2021.08.18
技术公布日：2022/3/19