像素驱动电路的制作方法

本发明关于一种像素驱动电路，特别是一种以直流讯源驱动像素的像素驱动电路。

背景技术：

随着显示面板解析度提升，驱动集成电路的个数或者是输出也会对应地增加。因此在一种做法中，在面板的电路上会藉由设置多工器电路以减少驱动集成电路的个数，从而方便机构设计或者是电路规划(layout)的设计，同时也可以降低面板的设计成本。

当多工器电路架构与像素个数匹配时，cell测试上可以搭配直流测试讯源进行测试。但是，当由于多工器电路架构与像素结构不匹配，cell测试上就必须搭配交流测试讯源来进行测试。举例来说，在红绿蓝的像素结构下，当多工器电路是一对三的架构时，多工器电路架构与像素结构相匹配，cell测试上可以搭配直流测试讯源进行测试。同样在红绿蓝的像素结构下，当多工器电路是一对二的架构时，多工器电路架构与像素结构不匹配，cell测试上往往必须搭配交流测试讯源来进行测试，以克服这样的结构不匹配。也就是说当单一像素的子像素个数为多工器输出个数的非整数倍时，必须以交流测试讯源进行cell测试。而就目前的测试方法来看，测试人员必须依据不同的电路架构使用不同的测试电路或测试方法，并无法依照实际测试所需，自由地选择以交流讯源或直流讯源进行测试。

另一方面，随着现今显示面板尺寸变大的情况下，显示面板相对于测试端的等效阻抗也对应地增加，若以交流测试讯源对大尺寸面板进行测试可能会需要耗费更多的功率，或者是需要更多的时间来让测试信号准确地变换电压准位，因而提升了测试成本。但是，如前述地，目前并没有一种在像素结构与多工器电路架构不匹配的时候可以用直流讯源进行测试的电路或方法，而使得测试实务上受到相当大的困扰。

技术实现要素：

本发明在于提供一种像素结构与多工器电路架构不匹配时的像素驱动电路，以克服面板测试受限于像素结构与多工器电路架构的匹配关系而无法自由选择使用直流讯源或交流讯源进行测试的问题。

本发明公开了一种像素驱动电路，所述的像素驱动电路适用于显示面板。且显示面板包括多个像素，每一像素包括第一子像素、第二子像素与第三子像素。像素驱动电路具有多个多工器与多个测试开关。每一多工器具有输入端、二输出端与控制端。所述的二输出端分别耦接子像素的其中之二，控制端用以接收多工控制信号，每一多工器用以依据多工控制信号选择性地将输入端导通到二输出端的其中之一。每一测试开关的一端耦接多条测试信号线的其中之一，每一测试开关的另一端耦接其中一多工器的输入端，每一测试开关的控制端用以接收测试控制信号。每一测试开关用以依据接收的测试控制信号选择性地将耦接的测试信号线导通至耦接的多工器的输入端。其中，每一测试信号线上的测试信号的电压准位为定值，且每一多工器耦接的子像素被定义为同极性的子像素。

本发明公开了一种像素驱动电路，所述的像素驱动电路适用于显示面板。显示面板具有多个像素，每一像素具有M个子像素。像素驱动电路具有多个多工器与多个测试开关。每一多工器具有一输入端、N个输出端与一控制端。每一输出端耦接所述的多个子像素的其中之一，控制端用以接收多工控制信号，每一多工器用以依据多工控制信号选择性地将输入端导通至耦接的子像素的其中之一。每一测试开关的一端耦接多条测试信号线的其中之一，每一测试开关的另一端耦接其中一多工器的输入端，每一测试开关的控制端用以接收测试控制信号，每一测试开关用以依据接收的测试控制信号选择性地将耦接的测试信号线导通至耦接的多工器的输入端。其中，每一测试信号线上的测试信号的电压准位为定值，每一该多工器耦接的该些子像素被定义为同极性的子像素，且每一多工器耦接的子像素所发出的光为同色温，M与N为正整数，N小于M，且N不整除M。

综合以上所述，本发明公开了一种像素驱动电路，所述的像素驱动电路具有多个多工器与多个驱动开关，多工器用以依据多工控制信号选择性地将输入端导通至两个输入端的其中之一，测试开关则用以依据测试控制信号选择性地将耦接的测试信号线导通至耦接的多工器的输入端。其中，所述的测试信号的电压准位为定值，且每一多工器耦接的子像素被定义为同极性的子像素。藉此，得以在多工器架构与像素结构不匹配的情况下以直流测试讯源对显示面板进行测试。

以上的关于本发明内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1为根据本发明一实施例所绘示的像素驱动电路的电路示意图。

图2为根据本发明另一实施例所绘示的像素驱动电路的电路示意图。

其中，附图标记：

1、1’ 像素驱动电路

L1～L6、L1’～L6’ 测试信号线

ND1～ND6、ND1’～ND6’ 驱动端

Ni1～Ni6、Ni1’～Ni6’ 输入端

NO11～NO61、NO12～NO62、NO11’～NO61’、NO12’～NO62’ 输出端

P1～P4 像素

PR1～PR4 第一子像素

PG1～PG4 第二子像素

PB1～PB4 第三子像素

TC1～TC6、TC1’～TC12’ 控制开关

TM11～TM61、TM12～TM62、TM11～TM61’、TM12～TM62’ 多工开关

SCT、SCT’ 测试控制信号

SR1、SR2、SG1、SG2、SB1、SB2、SR1’、SR2’、SG1’、SG2’、SB1’、SB2’ 测试信号

SMX1、SMX2、SMX1’、SMX2’ 多工控制信号

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域的技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求保护范围及附图，任何本领域的技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请参照图1，图1为根据本发明一实施例所绘示的像素驱动电路的电路示意图。像素驱动电路1适用于显示面板(未绘示)，显示面板包括多个像素，显示面板的结构应为所属技术领域的技术人员所能知悉，在此仅以像素P1、P2、P3、P4举例简要说明，实际上显示面板的像素个数并不以此为限。在此实施例中，以像素P1来说，像素P1具有第一子像素PR1、第二子像素PG1与第三子像素PB1。在一实施例中，第一子像素PR1、第二子像素PG1与第三子像素PB1例如分别为红绿蓝像素结构中的红色子像素、绿色子像素与蓝色子像素。像素P2～P4具有与像素P1相仿的结构与发光特性，于此不再赘述。

像素驱动电路1具有多个多工器与多个测试开关TC1～TC6。每一多工器具有多工开关TM11～TM61的其中之一，且每一多工器具有多工开关TM12～TM62的其中之一。于图1所示的实施例中，多工开关的标号中的左边第一码数字相同者属同一个多工器。更具体来说，多工开关TM11与多工开关TM12组成其中一个多工器，多工开关TM21与多工开关TM22组成其中另一个多工器，多工开关TM31与多工开关TM32组成其中又另一个多工器，其余多工器与其余多工开关的对应关系当可以此类推，不再赘述。由于附图上标注不易，因此便不于附图中对各多工器多做标示，然所属技术领域的技术人员由上列叙述应可理解各多工器的初步组成方式，后续以第一多工器称呼多工开关TM11与多工开关TM12组成的多工器，以第二多工器称呼多工开关TM21与多工开关TM22组成的多工器，以第三多工器称呼多工开关TM31与多工开关TM32组成的多工器，后续以此类推，不再赘述。

如图1所示，每一多工器具有一输入端、二输出端与一控制端。以第一多工器来说，第一多工器具有输入端Ni1与输出端NO11、NO12。其中，第一多工器的多工开关TM11的两端分别耦接第一多工器的输入端Ni1与其中一个输出端NO11，多工开关TM12的两端分别耦接第一多工器的输入端Ni1与其中另一个输出端NO12。更详细地来说，第一多工器的输出端NO11耦接像素P1的第一子像素PR1，输出端NO12耦接像素P3的第一子像素PR3。其他多工器的输出端与各像素的子像素也有相仿的连接关系。从另一个角度来说，在此实施例中，每一多工器的二输出端耦接的二子像素发出同样颜色的光。然于另一实施例中，每一多工器的二输出端耦接的二子像素发出不同颜色的光。在此先就每一多工器的二输出端耦接的二子像素发出同样颜色的光的实施例进行说明。

另一方面，多工开关TM11、TM12的控制端则可被视为第一多工器的控制端，多工开关TM11、TM12的控制端则分别接收多工控制信号SMX1、SMX2。在此实施例中，当多工控制信号SMX1为高电压准位时，多工开关TM11被导通而将输出端NO11导通至输入端Ni1，而当多工控制信号SMX2为高电压准位时，多工开关TM12被导通而将输出端NO12导通至输入端Ni1。在另一类的实施例中，多工开关TM11、TM12的控制端相耦接，亦即多工开关TM11、TM12受控于同一个多工控制信号，惟多工开关TM11、TM12依据多工控制信号的不同状态而选择性地被导通，亦即多工开关TM11、TM12并不同时导通。例如，当此实施例的多工控制信号为高电压准位时，多工开关TM11被导通，而当此实施例的多工控制信号为低电压准位时，多工开关TM12被导通。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限

请再参照图1，在图1所示的实施例中，测试开关TC1～TC6其中之一的一端耦接多条测试信号线L1～L6的其中之一，测试开关TC1～TC6其中之一的另一端耦接其中一多工器的输入端，测试开关TC1～TC6其中之一的控制端用以接收一测试控制信号SCT，每一测试开关用以依据接收的测试控制信号选择性地将所耦接的测试信号线导通至耦接的多工器的输入端。以测试开关TC1来说，测试开关TC1的一端耦接测试信号线L1，测试开关TC1的另一端耦接第一多工器的输入端Ni1，而测试开关TC1的控制端则接收测试控制信号SCT。测试开关TC2～TC6与其他元件的连接关系相仿于测试开关TC1，于此不再赘述。在此实施例中，当测试控制信号SCT为高电压准位时，测试开关TC1被导通，第一多工器的输入端Ni1被导通至测试信号线L1。于另一实施例中，当测试控制信号SCT为低电压准位时，测试开关TC1被导通。上述仅为举例示范，然实际上并不以此为限。

于图1所示的实施例中，测试信号线L1～L6上的测试信号SR1、SG1、SB1、SR2、SG2、SB2的电压准位为定值。且每一多工器耦接的子像素被定义为同极性的子像素。更详细地来说，于实务上，各输入端Ni1～Ni6会分别经由驱动端ND1～ND6耦接至驱动集成电路，以接受驱动集成电路的控制。其中，在驱动端ND1～ND6标示有“+”或“-”，标示有“+”者代表接收有正极性的驱动信号，而标示有“-”者则代表接收有负极性的驱动信号。各子像素PR1～PB4对应于耦接的多工器而受控于不同极性的驱动信号。因此，如图1所示，第一多工器耦接的第一子像素PR1与第一子像素PR3都受控于正极性的驱动信号，第二多工器耦接的第二子像素PG1与第二子像素PG3都受控于负极性的驱动信号。其余多工器与所耦接的子像素的极性关系当可由附图及以上叙述类推，于此不再赘述。

此外，在此实施例中，其中每一子像素的极性与相邻的另一子像素的极性相反，且每一多工器耦接的该些子像素的极性与相邻的另一多工器耦接的该些子像素的极性相反。以图1举例来说，第二子像素PG1的极性相反于第一子像素PR1，且第二子像素PG1的极性相反于第三子像素PB1。另一方面，第一多工器耦接的第一子像素PR1与第一子像素PR3同极性，第二多工器耦接的第二子像素PG1与第二子像素PG3同极性，但是第一子像素PR1的极性与第二子像素PG1的极性相反，且第一子像素PR1的极性与第二子像素PG3的极性相反，第一子像素PR3的极性与第二子像素PG1的极性相反，且第一子像素PR3的极性与第二子像素PG3的极性相反。然上述仅为举例示范，在此并不限制各子像素的相对极性必定相同于上述举例示范。

从电路作动上来说，像素驱动电路1具有一显示模式与一测试模式。于显示模式时，测试开关TC1～TC6受控于测试控制信号SCT而不导通。各多工器受控于多工控制信号SMX1与多工控制信号SMX2而选择性地将输入端导通至其中一个输出端。在此实施例中，具体地举第一多工器来说，第一多工器依据多工控制信号SMX1与多工控制信号SMX2的控制时序选择性地将输出端NO11导通至输入端Ni1或者是将输出端NO12导通至输入端Ni2。此时，各测试信号线L1～L6例如被耦接至地，但不以此为限。

而于测试模式中，多工开关TM11～TM62与测试开关TC1～TC6都被导通。此时，各子像素PR1～PB4分别依据测试信号线L1～L6上的测试信号SR1～SB2而对应发光。举例来说，当测试信号SR1～SB2都被设为相对高准位以写入灰阶值255于各子像素，此时像素驱动电路1所属的显示面板提供一白画面。又例如，当测试信号SR1、SR2被设为相对高准位以写入灰阶值255于第一子像素PR1、PR3，而其余测试信号则被设为相对低准位以写入灰阶值0于其他的子像素。此时像素驱动电路1所属的显示面板提供一红色画面。换句话说，由于同一个多工器耦接至同颜色的子像素，因此在测试过程中得以藉由分别设定测试信号SR1～SB2的电压准位，而经由对应的多工器写入所欲的灰阶值于对应的子像素，从而让显示面板提供所欲的画面，以供测试人员具以判断显示面板是否有异常。而至于设定测试信号于何电压准位以写入何灰阶值于对应的子像素为所属技术领域的技术人员所能自由设计定义，并不仅以上述举例为限制。

在一实施例中，各测试信号线L1～L6为同一条线，也就是说各测试开关接收到的是同一个测试信号，各子像素被写入同一个灰阶值。或者，在另一种做法中，各测试信号线L1～L6会分别被定义为不同的群组，不同群组中的测试信号线L1～L6会接收到不同的测试信号。举例来说，测试信号线L1～L3可被定义成同一群组，测试信号线L4～L6可被定义成另一群组，此时测试信号线L1～L3被提供同一测试信号，测试信号线L4～L6被提另一测试信号。而于实务上，测试信号线L1～L6可耦接至相同或不同的短路棒(shorting bar)，以使耦接至相同短路棒的测试信号线接收得相同的信号。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限制。

请接着参照图2，图2为根据本发明另一实施例所绘示的像素驱动电路的电路示意图。与图1所示的实施例不同的是，在图2所示的实施例中，像素驱动电路1’具有较多的测试开关，也就是测试开关TC1’～TC12’。此外，测试开关TC1’～TC12’与多工开关TM11’～TM62’的连接关系相较于图1所示的实施例也有所不同。在图2所示的实施例中，测试开关TC1’～TC12’分别耦接各多工器的输出端NO1’～NO12’。

此外，在图2所示的实施例中，各多工器的组成方式也异于图1所示的实施例。在图2所示的实施例中，多工开关TM11’与TM12’组成第一多工器，多工开关TM21’与TM22’组成第一多工器，后续则以此类推，不再赘述。其中，多工开关TM11’耦接于输入端Ni1’与输出端NO11’之间，且多工开关TM12’耦接于输入端Ni1’与输出端NO12’之间。但更确切地来说，多工开关TM11’经由输出端NO11’耦接像素P1的第一子像素PR1，多工开关TM12’经由输出端NO12’耦接像素P1的第三子像素PB1。而以第二多工器来说，多工开关TM21’经由输出端NO21’耦接像素P1的第二子像素PG1，多工开关TM22’经由输出端NO22’耦接像素P2的第一子像素PR1。换句话说，在图2所对应的实施例中，各多工器的二输出端所耦接的子像素的颜色并不相同。

在图2所示的实施例中，像素驱动电路1’同样具有显示模式与测试模式。在显示模式与测试模式中，像素驱动电路1’的作动方式相仿于像素驱动电路1的作动方式。于显示模式中，测试开关TC1’～TC12’受控于测试控制信号SCT’而不导通。各多工器受控于多工控制信号SMX1’与多工控制信号SMX2’而选择性地将输入端导通至其中一个输出端。在此实施例中，具体地举第一多工器来说，第一多工器依据多工控制信号SMX1’与多工控制信号SMX2’的控制时序选择性地将输出端NO11’导通至输入端Ni1’或者是将输出端NO12’导通至输入端Ni2’。此时，各测试信号线L1’～L6’例如被耦接至地，但不以此为限。

而在像素驱动电路1’的测试模式当中，多工开关TM11’～TM62’与测试开关TC1’～TC12’都被导通。此时，各子像素PR1～PB4分别依据测试信号线L1～L6上的测试信号SR1～SB2而对应发光。相仿于图1所示的实施例，当测试信号SR1～SB2都被设为相对高准位以写入灰阶值255于各子像素时，此时像素驱动电路1’所属的显示面板提供一白画面。又例如，当测试信号SR1、SR2被设为相对高准位，而其余测试信号则被设为相对低准位，此时像素驱动电路1’所属的显示面板提供一红色画面。换句话说，由于同一测试信号线经由对应的测试开关而耦接至同颜色的子像素，因此在测试过程中得以藉由分别设定测试信号SR1～SB2的电压准位，而写入所欲的灰阶值于对应的子像素，从而让显示面板提供所欲的画面。在此同样不限制如何设定测试信号于何电压准位以写入何灰阶值于对应的子像素。

延续以上发想，于另一种实施方式，本发明还提供了一种像素驱动电路，此像素驱动电路适用于显示面板。显示面板具有多个像素，每一像素具有M个子像素。像素驱动电路具有多个多工器与多个测试开关。每一多工器具有一输入端、N个输出端与一控制端。每一输出端耦接所述的多个子像素的其中之一，控制端用以接收多工控制信号，每一多工器用以依据多工控制信号选择性地将输入端导通至耦接的子像素的其中之一。每一测试开关的一端耦接多条测试信号线的其中之一，每一测试开关的另一端耦接其中一多工器的输入端，每一测试开关的控制端用以接收测试控制信号，每一测试开关用以依据接收的测试控制信号选择性地将耦接的测试信号线导通至耦接的多工器的输入端。其中，每一测试信号线上的测试信号的电压准位为定值，每一该多工器耦接的该些子像素被定义为同极性的子像素，且每一多工器耦接的子像素所发出的光为同色温，M与N为正整数，N小于M，且N不整除M。

综合以上所述，本发明公开了一种像素驱动电路，所述的像素驱动电路具有多个多工器与多个驱动开关，多工器用以依据多工控制信号选择性地将输入端导通至两个输入端的其中之一，测试开关则用以依据测试控制信号选择性地将耦接的测试信号线导通至耦接的多工器的输入端。其中，所述的测试信号的电压准位为定值，且每一多工器耦接的子像素被定义为同极性的子像素。由于同一测试信号线经由对应的测试开关或多工开关而耦接至同颜色的子像素，因此在测试过程中得以藉由分别设定测试信号的电压准位，而写入所欲的灰阶值于对应的子像素，从而让显示面板提供所欲的画面。藉此，得以在多工器架构与像素结构不匹配的情况下以直流测试讯源对显示面板进行测试。

虽然本发明以前述的实施例公开如上，但其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为的更动与修改，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求书。