老化检测电路、老化补偿模块和显示面板的制作方法

文档序号:15590839发布日期:2018-10-02 18:56阅读:180来源:国知局

本发明涉及显示装置领域,具体地,涉及一种老化检测电路、一种包括该老化检测电路的老化补偿模块和包括该老化补偿模块的显示面板。



背景技术:

对于有机发光二极管显示面板而言,通过控制各个像素单元内的有机发光二极管发光来实现显示。但是,随着使用时间的增加,有机发光二极管会发生老化,导致有机发光二极管的阴极和阳极之间的电压增加。根据公知coledv=q,其中coled为有机发光二极管的阴极和阳极之间产生的寄生电容,v为有机发光二极管的阴极和阳极之间的电压,q为有机发光二极管的阴极和阳极之间产生的电容所存储的电量。

寄生电容coled的大小仅与有机发光二极管的阴极和阳极之间的距离、有机发光二极管的阴极和阳极之间的材料有关,由于有机发光二极管的阴极和阳极之间的距离不变、有机发光二极管的阴极和阳极之间的材料也不变,因此有机发光二极管老化时,寄生电容不变。但是,由于随着使用时间的增加,有机发光二极管的阴极和阳极两端的电压会增加,这就造成了有机发光二极管的阴极和阳极形成的寄生电容中存储的电荷量q增加,进而导致了驱动有机发光二极管显示时会首先对寄生电容进行充电,从而会降低有机发光二极管发光亮度降低。

现有技术中尚无法很好地解决有机发光二极管老化造成的亮度下降。



技术实现要素:

本发明的目的在于提供老化检测电路、一种包括该老化检测电路的老化补偿模块和包括该老化补偿模块的显示面板。所述老化检测电路可以精确地检测显示面板中发光二极管的老化程度,从而对发光二极管的老化进行补偿,防止随着使用时间的增加而导致的显示亮度减低的现象。

为了实现上述目的,作为本发明的一个方面,提供一种老化检测电路,其中,所述老化检测电路包括第一电流镜单元、第二电流镜单元、电压转换单元和模数转换单元,

所述第一电流镜单元的输入端用于与初始参考电压端以及待检测的发光二极管的阳极电连接,所述第一电流镜单元的输出端与所述第二电流镜单元的输入端电连接,所述第一电流镜单元的电源输入端与第一参考电压端电连接;

所述第二电流镜单元的输出端与所述电压转换单元的输入端电连接,所述第二电流镜单元的电源输入端与电流源输入端电连接,所述第一电流镜单元和所述第二电流镜单元中的一者为n型电流镜单元,所述第一电流镜单元和所述第二电流镜单元中的另一者为p型电流镜单元;

所述电压转换单元用于将所述第二电流镜单元输入至该电压转换单元的电流转换为电压并输出,所述模数转换单元用于将所述电压转换单元输入的电压信号转换为数字信号。

优选地,所述第一电流镜单元的输入端与所述初始参考电压端之间设置有初始开关单元。

优选地,所述第一参考电压端为接地端,所述第一电流镜单元为n型电流镜单元,所述第二电流镜单元为p型电流镜单元。

优选地,所述电压转换单元包括积分电路单元、第二开关单元、第二电容和第三开关单元,

所述积分电路单元包括放大器、第一电容和第一开关单元,所述放大器的负输入端形成为所述电压转换单元的输入端,所述放大器的正输入端与第二参考电压信号端相连,所述第一电容的一端与所述放大器的负输入端相连,所述第一电容的另一端与所述放大器的正输入端相连,所述第一开关单元的输入端与所述第一电容的一端电连接,所述第一开关单元的输入端与所述第一电容的另一端电连接,所述放大器的输出端与所述第二电容的一端之间设置有所述第二开关单元;

所述第二电容的另一端与所述第一参考电压端电连接,且所述第三开关单元连接在所述第二电容的一端与所述电压转换单元的输出端之间。

优选地,所述第一电流镜单元包括第一n型电流镜晶体管和第二n型电流镜晶体管,

所述第一n型电流镜晶体管的栅极与所述第二n型电流镜晶体管的栅极电连接,所述第一n型电流镜晶体管的第一极形成为所述老化检测电路的输入端,所述第一n型电流镜单元的第二极形成为所述第一电流镜单元的电源输入端;

所述第二n型电流镜晶体管的第一极与所述第一n型电流镜晶体管的第一极电连接,所述第二n型电流镜晶体管的第二极与所述第一n型电流镜晶体管的第二极电连接。

优选地,所述第二电流镜单元包括第一p型电流镜晶体管和第二p型电流镜晶体管,

所述第一p型电流镜晶体管的栅极与所述第二p型电流镜晶体管的栅极电连接,所述第一p型电流镜晶体管的第一极与所述第一电流镜单元的输出端电连接,所述第一p型电流镜晶体管的第二极形成为所述第二电流镜单元的电源输入端;

所述第二p型电流镜晶体管的第一极形成为所述第二电流镜单元的输出端,所述第二p型电流镜晶体管的第二极与所述第一p型电流镜晶体管的第二极电连接。

优选地,所述第二电流镜单元包括第一p型电流镜晶体管、第二p型电流镜晶体管、第三p型电流镜晶体管和第四p型电流镜晶体管,

所述第一p型电流镜晶体管的栅极与所述第二p型电流镜晶体管的栅极电连接,所述第一p型电流镜晶体管的第一极与所述第三p型电流镜晶体管的第一极电连接,所述第一p型电流镜晶体管的第二极形成为所述第二电流镜单元的电源输入端;

所述第二p型电流镜晶体管的第一极与所述第四p型电流镜晶体管的第二极电连接,所述第二p型电流镜晶体管的第二极与所述第一p型电流镜晶体管的第二极电连接;

所述第三p型电流镜晶体管的栅极与所述第四p型电流镜晶体管的栅极电连接,所述第三p型电流镜晶体管的第二极形成为所述第二电流镜单元的输入端;

所述第四p型电流镜单元的第二端形成为所述第二电流镜单元的输出端。

作为本发明的第二个方面,提供一种老化补偿模块,其中,所述老化补偿模块包括老化检测电路和补偿值计算单元,所述老化检测电路为本发明所提供的上述老化检测电路,所述模数转换单元的输出端与所述补偿值计算单元电连接,所述补偿值计算单元能够根据所述模数转换单元输出的数字信号确定数据电压补偿值,并将该数据电压补偿值输出。

优选地,所述补偿值计算单元包括补偿值计算子单元和计时器,所述计时器的输入端形成为所述补偿值计算单元的输入端,所述计时器的输出端与所述补偿值计算子单元的输入端电连接,所述计时器的输入端和该计时器的输出端能够周期性地导通。

作为本发明的第三个方面,提供一种显示面板,所述显示面板包括排列为多行多列的多个像素单元,其中,所述显示面板还包括多条检测栅线、多条检测输出线、多个检测控制单元和多个老化补偿模块,所述老化补偿模块为本发明所提供的上述老化补偿模块,多条所述检测栅线分别与多行所述像素单元一一对应,多条所述检测输出线分别多列所述像素单元一一对应,多个所述像素单元分别与多个所述检测控制单元一一对应,所述检测控制单元的控制端与相应的检测栅线电连接,所述检测控制单元的输入端与相应的像素单元中的发光二极管的阳极电连接,所述检测控制单元的输出端与相应的检测输出线电连接,所述检测控制单元的输入端与所述检测控制单元的输出端能够在所述检测控制单元的控制端接收到第一检测控制信号时导通,所述老化补偿模块的输出端与所述显示面板的源极驱动电路电连接,所述老化补偿模块的第一电流镜单元的输入端与相应的检测输出线电连接,所述老化补偿模块的输出端与显示面板的源极驱动电路电连接;

所述源极驱动电路用于分别将各个像素单元对应的数据电压补偿值与本次补偿前的数据电压结合,并为各个像素单元输出补偿后的数据电压。

优选地,所述检测控制单元包括检测控制晶体管该检测控制晶体管的栅极形成为所述检测控制单元的控制端,所述检测控制晶体管的第一极形成为所述检测控制单元的输入端,所述检测控制晶体管的第二极形成为所述检测控制单元的输出端;

所述检测控制晶体管的第一极和该检测控制晶体管的第二极能够在该检测控制晶体管的栅极接收到第一检测控制信号时导通,并且所述检测控制晶体管的第一极和该检测控制晶体管的第二极能够在该检测控制晶体管的栅极接收到第二检测控制信号时断开。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本发明,但并不构成对本发明的限制。在附图中:

图1是本发明所提供的老化补偿电路的一种实施方式与2t1c像素电路配合使用时的示意图;

图2是本发明所提供的老化补偿电路的另一种实施方式与2t1c像素电路配合使用时的示意图;

图3是本发明所提供的显示面板的一部分的结构示意图。

附图标记说明

110:第一电流镜单元120:第二电流镜单元

130:电压转换单元131:放大器

140:模数转换单元150:补偿值计算单元

151:补偿值计算子单元152:计时器

160:检测控制单元300:检测输出线

400:源极驱动电路

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。

作为本发明的一个方面,提供一种老化检测电路,其中,所述老化检测电路包括第一电流镜单元110、第二电流镜单元120、电压转换单元130和模数转换单元140。

第一电流镜单元110的输入端用于与初始参考电压端vref0以及待检测的发光二极管oled的阳极电连接,第一电流镜单元110的输出端与第二电流镜单元120的输入端电连接,第一电流镜单元110的电源输入端与第一参考电压端电连接。

第二电流镜单元120的输出端与电压转换单元130的输入端电连接,第二电流镜单元120的电源输入端与电流源输入端vcc电连接,第一电流镜单元110和第二电流镜单元120中的一者为n型电流镜单元,第一电流镜单元110和第二电流镜单元120中的另一者为p型电流镜单元。

电压转换单元130用于将第二电流镜单元120输入至该电压转换单元130的电流转换为电压并输出,模数转换单元140用于将电压转换单元130输入的电压信号转换为数字信号。

容易理解的是,电流镜单元包括至少一对晶体管,通过设置电流镜单元的各个晶体管的宽长比,可以使得从电流镜单元的输出端输出的电流大于从电流镜单元的输入端输入的电流,即,使得电流镜单元用作电流放大元件。

本发明所提供的老化检测电路用于检测像素单元中发光二极管oled的老化程度。具体地,在检测时,将所述老化检测电路的第一电流镜单元110的输入端与相应的像素单元中发光二极管oled的阳极导通,并将第一电流镜单元110的输入端与初始参考信号端vref0电连接。需要解释的是,在检测时,还需要向像素单元中提供数据电压。在本发明中,第一电流镜单元110和第二电流镜单元120中的一者为n型电流镜单元、另一者为p型电流镜单元,从而可以确保在老化检测电路中形成压差,并形成电流。

下面具体介绍利用老化检测电路的工作原理:

在复位阶段,控制第一电流镜单元110的输入端与初始参考电压端vref0导通,以对有机发光二极管的阳极进行复位;

在检测阶段,将第一电流镜单元110的输入端与初始参考电压端vref0断开,并向待检测的发光二极管oled所在的像素单元提供数据电压,并通过像素电路产生驱动发光二极管oled发光的电流。在检测阶段,控制第一电流镜单元的输入端与发光二极管oled的阳极电连接。驱动电流对发光二极管oled的寄生电容coled充电产生的充电电流为第一电流镜单元110的输入电流。

第一电流镜单元110将输入电流放大后输入至第二电流镜单元120。第二电流镜单元120与电流源输入端vcc,可以为第一电流镜单元110和第二电流镜单元120提供电流源,并且可以将第一电流镜单元110输出的电流传递至电压转换单元130。电压转换单元130将第二电流镜单元120输出的电流信号转换成电压信号。模数转换单元140可以将电压转换单元130输出的电压信号转换为数字信号。

如上文中所述,输入至第一电流镜单元110的电流为对发光二极管oled的阳极和阴极之间形成的寄生电容coled进行充电时产生的充电电流,该充电电流越大,则表明充满该寄生电容coled所需的电荷越多,由此可知,通过检测发光二极管的寄生电容的充电电流可以反映发光二极管的老化程度。在本发明中,利用第一电流镜单元110对充电电流进行放大,放大后的充电电流更加容易被检测到,因此,利用本发明所提供的老化检测电路可以精确地检测寄生电容coled的充电电流,并且,可以将充电电流转换为数字信号,并根据获得的数字信号对发光二极管oled的老化程度进行量化评估,有利于更好地监控发光二极管oled的老化程度。

本发明所提供的老化检测电路选择性地与初始参考电压端vref0电连接,相应地,第一电流镜单元110的输入端与初始参考电压端vref0之间设置有初始开关单元sw0。通过控制初始开关单元sw0的通断状态来控制第一电流镜单元110是否与初始参考电压端vref0导通。

作为一种具体实施方式,所述第一参考电压端为接地端gnd,在这种实施方式中,第一电流镜单元110为n型电流镜单元,第二电流镜单元120为p型电流镜单元,从而可以确保老化检测电路可以形成闭环回路。具体地,第一电流镜单元110中所有的晶体管均为n型晶体管,第二电流镜单元120中所有的晶体管均为p型晶体管。

在本发明中,对电压转换单元130的具体结构并没有特殊的限制,例如,在图1和图2中所示的具体实施方式中,电压转换单元130包括积分电路单元、第二开关单元sw2第二电容c2和第三开关单元sw3。

具体地,所述积分电路单元包括放大器131、第一电容c1和第一开关单元sw1。放大器131的负输入端形成为电压转换单元130的输入端,放大器131的正输入端与第二参考电压信号端vref1相连,第一电容c1的一端与放大器131的负输入端相连,第一电容c1的另一端与放大器131的正输入端相连,第一开关单元sw1的输入端与第一电容c1的一端电连接,第一开关单元sw1的输入端与第一电容c1的另一端电连接,放大器131的输出端与第二电容c1的一端之间设置有第二开关单元sw2。

第二电容c2的另一端与所述第一参考电压端(图1和图2中,第一参考电压端为接地端gnd)电连接,且第三开关单元sw3连接在第二电容c2的一端与电压转换单元130的输出端之间。

在检测阶段,第一开关单元sw1和第三开关单元sw3均导通,第二开关单元sw2断开。在非检测阶段,第一开关单元sw1和第三开关单元sw3均均断开,第二开关单元sw2导通。在本发明中,设置第一开关单元sw1、第二开关单元sw2和第三开关单元sw3可以防止在非检测阶段老化检测电路形成回路造成漏电等现象。

在上述电压转换模块130中,所述积分电路单元可以将第一电容c1两端电压的变化通过电容耦合的方式反映到第二电容c2的两端,并且通过耦合作用将输入的电流信号转换为电压信号,并输出。

在本发明中,对第一开关单元sw1、第二开关单元sw2和第三开关单元sw3的具体结构均不作特殊的限定。例如,第一开关单元sw1、第二开关单元sw2和第三开关单元sw3可以均为薄膜晶体管,通过向第一开关单元sw1、第二开关单元sw2和第三开关单元sw3的栅极提供栅极信号来控制第一开关单元sw1、第二开关单元sw2和第三开关单元sw3的导通状态。

如上文中所述,第一电流镜单元110为n型电流镜单元,在图1和图2中所示的具体实施方式中,第一电流镜单元110包括第一n型电流镜晶体管m1和第二n型电流镜晶体管m2。

具体地,第一n型电流镜晶体管m1的栅极与第二n型电流镜晶体管m1的栅极电连接,第一n型电流镜晶体管m1的第一极形成为所述老化检测电路的输入端。第一n型电流镜单元m1的第二极形成为第一电流镜单元110的电源输入端,与第一参考信号端(即,图1和图2中的接地信号端gnd)电连接。

第二n型电流镜晶体管m2的第一极与第一n型电流镜晶体管m2的第一极电连接,第二n型电流镜晶体管m2的第二极与第一n型电流镜晶体管m1的第二极电连接。

如图1中所示,对发光二极管oled的寄生电容coled进行充电时,充电电流流入由第一n型镜像晶体管m1和第二n型镜像晶体管m2组成的第一电流镜单元110。在本发明中,通过对第一n型电流镜晶体管m1的宽长比以及第二n型电流镜晶体管m2的宽长比进行设计可以使得从第一电流镜单元110输出的电流大于输入至该第一电流镜单元110的电流。

在本发明中,对第二电流镜单元120的具体结构也不做特殊的限定,例如,在图1中所示的具体实施方式中,第二电流镜单元120包括第一p型电流镜晶体管m3和第二p型电流镜晶体管m4。

第一p型电流镜晶体管m3的栅极与第二p型电流镜晶体管m4的栅极电连接,第一p型电流镜晶体管m3的第一极与第一电流镜单元110的输出端电连接。第一p型电流镜晶体管m3的第二极形成为第二电流镜单元120的电源输入端,并与电流源输入端vcc电连接。

第二p型电流镜晶体管m4的第一极形成为第二电流镜单元120的输出端,第二p型电流镜晶体管m4的第二极与第一p型电流镜晶体管m3的第二极电连接。

电流源输入端vcc可以同时为第一电流镜单元110和第二电流镜单元120提供电流源。

在图1中所示的具体实施方式中,输出到第一电容c1上的电流与对寄生电容coled进行充电的电流满足以下公式:

其中,ioled为对寄生电容coled进行充电的电流;

ic1为第一电容c1上的电流(可称之为检测电流);

(w/l)1为第一n型电流镜晶体管的宽长比;

(w/l)2为第二n型电流镜晶体管的宽长比;

(w/l)3为第一p型电流镜晶体管的宽长比;

(w/l)4为第二p型电流镜晶体管的宽长比。

通过设计各个晶体管的宽长比可以获得不同放大倍数的检测电流。

图2中示出的实施方式中,第二电流镜单元120包括第一p型电流镜晶体管m3、第二p型电流镜晶体管m4、第三p型电流镜晶体管m5和第四p型电流镜晶体管m6。

在这种实施方式中,第一p型电流镜晶体管m3和第二p型电流镜晶体管m4组成的电流镜与第三p型电流镜晶体管m5和第四p型电流镜晶体管m6组成的电流镜串联。

具体地,第一p型电流镜晶体管m3的栅极与第二p型电流镜晶体管m4的栅极电连接,第一p型电流镜晶体管m3的第一极与第三p型电流镜晶体管m5的第一极电连接。第一p型电流镜晶体管m3的第二极形成为第二电流镜单元120的电源输入端,并与电流源输入端vcc电连接。

第二p型电流镜晶体管m4的第一极与第四p型电流镜晶体管m6的第二极电连接,第二p型电流镜晶体管m4的第二极与第一p型电流镜晶体管m3的第二极电连接。

第三p型电流镜晶体管m5的栅极与第四p型电流镜晶体管m6的栅极电连接,第三p型电流镜晶体管m5的第二极形成为第二电流镜单元120的输入端,第四p型电流镜单元m6的第二端形成为第二电流镜单元120的输出端。

在本发明中,第三p型电流镜晶体管m5和第四p型电流镜晶体管m6组成的电流镜能够对第一p型电流镜晶体管m3和第二p型电流镜晶体管m4组成的电流镜输出的电流进行稳定,防止电流误差被放大,从而使得最终的检测结果更加准确。

作为本发明的第二个方面,提供一种老化补偿模块,其中,如图1和图2所示,所述老化补偿模块包括老化检测电路和补偿值计算单元150,所述老化检测电路为本发明所提供的上述老化检测电路。模数转换单元140的输出端与补偿值计算单元150电连接,补偿值计算单元150能够根据模数转换单元140输出的数字信号确定数据电压补偿值,并将该数据电压补偿值输出。

具体地,补偿值计算单元150可以将数据电压补偿值输出至源极驱动电路400,该源极驱动电路400可以将数据电压补偿值与本次补偿前的数据电压进行结合,并输出补偿后的数据电压,利用该补偿后的数据电压驱动像素单元中的发光二极管oled进行发光,从而可以解决发光二极管显示面板随着使用时间的延长而亮度降低的现象。

假设老化补偿模块第一次工作,那么本次补偿前的数据电压则为初始数据电压,假设老化补偿模块第二次工作,那么本次补偿前的数据电压则为经过一次老化补偿的数据电压,依次类推,第n次补偿前的数据电压应当为经过第n-1次补偿后的数据电压。

在本发明中,对补偿值计算单元150的具体结构并不做特殊的限定,例如,作为一种具体实施方式,补偿值计算单元150包括补偿值计算子单元151和计时器152,该计时器152的输入端形成为补偿值计算单元150的输入端,计时器152的输出端与补偿值计算子单元151的输入端电连接,计时器152的输入端和该计时器152的输出端能够周期性地导通。

由于发光二极管的老化随着使用时间的延长而逐渐加重,因此,需要每个一端时间重新检测一侧发光二极管oled的老化程度,并重新确定数据电压补偿值。在本发明中,通过设置计时器152可以实现周期性地检测像素单元中各个发光二极管oled的老化程度。

作为本发明的第三个方面,提供一种显示面板,所述显示面板包括排列为多行多列的多个像素单元,其中,如图3所述显示面板还包括多条检测栅线g2、多条检测输出线300、多个检测控制单元160和本发明所提供的上述老化补偿模块。多条检测栅线g2分别与多行所述像素单元一一对应,多条检测输出线300分别多列所述像素单元一一对应,多个所述像素单元分别与多个检测控制单元160一一对应,检测控制单元160的控制端与相应的检测栅线g2电连接,检测控制单元160的输入端与相应的像素单元中的发光二极管oled的阳极电连接,检测控制单元160的输出端与相应的检测输出线300电连接,检测控制单元160的输入端与检测控制单元160的输出端能够在检测控制单元160的控制端接收到第一检测控制信号时导通,老化补偿模块的第一电流镜单元的输入端与相应的检测输出线电连接,老化补偿模块的输出端与显示面板的源极驱动电路400电连接。

源极驱动电路400用于分别将各个像素单元对应的数据电压补偿值与相应的数据电压结合,并为各个像素单元输出补偿后的数据电压。

在本发明中,每列像素单元对应一个老化补偿模块,同一个老化补偿模块中的老化检测电路可以对同一列中的各个像素单元中的有机发光二极管oled进行检测,以使得同一个老化补偿模块可以计算同一列像素单元中所有发光二极管oled的数据电压补偿值。相应地,利用多个老化补偿模块可以计算出显示面板中所有像素单元中发光二极管oled的数据电压补偿值。

在本发明中,所述显示面板还包括多条扫描栅线g1,如图3中所示,多条扫描栅线g1与多行像素单元一一对应。

在本发明的优选实施方式中,周期性地检测各个像素单元中发光二极管的老化程度。

在检测所述像素单元中发光二极管的老化程度时,逐行扫描多条扫描栅线g1,并逐行扫描多条检测栅线g2。并通过源极驱动电路400向数据线data提供数据信号。检测输出线300将对发光二极管oled的寄生电容充电时产生的电流输出至老化补偿模块。

在本发明中,对像素单元的具体结构并不做特殊限定。例如,在图1至图3中所示的实施方式中,像素单元为2t1c电路,具体包括驱动晶体管t3、开关晶体管t1和像素存储电容cst。开关晶体管t1的栅极与相应的扫描线g1电连接,开关晶体管t1的第一极与相应的数据线data电连接,开关晶体管t1的第二极与像素存储电容cst的一端电连接。驱动晶体管t3的栅极与开关晶体管t1的第二极电连接,驱动晶体管t3的第一极与高电平信号端vdd电连接,驱动晶体管t3的第二极与发光二极管oled的阳极电连接。

当开关晶体管t1的栅极接收到第一扫描信号时,该开关晶体管t1的第一极和第二极导通。像素存储电容cst用于存储通过数据线data写入的电压。驱动晶体管t3能够在像素存储电容cst中存储的电压的驱动下产生驱动发光二极管oled发光的电流。

在本发明中,对检测控制单元160的具体结构也不做特殊限定。优选地,检测控制单元160可以包括检测控制晶体管t2,该检测控制晶体管t2的栅极形成为所述检测控制单元160的控制端,检测控制晶体管t2的第一极形成为所述检测控制单元160的输入端,检测控制晶体管t2的第二极形成为检测控制单元160的输出端。检测控制晶体管t2的第一极和该检测控制晶体管t2的第二极能够在该检测控制晶体管的栅极接收到第一检测控制信号时导通,并且检测控制晶体管t2的第一极和该检测控制晶体管t2的第二极能够在该检测控制晶体管的栅极接收到第二检测控制信号时断开。其中,第一检测控制信号与第二检测控制信号相位相反。

下面结合图1中所示的具体实施方式介绍所述老化补偿模块的工作原理。

在复位阶段,控制初始开关单元sw0导通,使得第一电流镜单元110的输入端与初始参考电压端vref0导通,以对有机发光二极管oled的阳极进行复位,此时,向扫描栅线g1提供与第一扫描信号相位相反的第二扫描信号,控制开关晶体管t1截止,向检测栅线g2提供第二检测控制信号,控制检测控制晶体管t2断开,并且,控制第一开关单元sw1导通,控制第二开关单元sw2断开、控制第三开关单元sw3断开;

在检测阶段,控制初始开关单元sw0断开,向扫描栅线g1提供第一扫描信号,向数据线data提供数据电压,控制第一开关单元断开、控制第二开关单元sw2导通、控制第三开关单元sw3导通,向检测栅线g2提供第一检测控制信号,此时,开关晶体管t1、检测控制晶体管t2以及驱动晶体管t3均导通,对发光二极管oled的寄生电容coled充电的充电电流通过检测输出线300输入至第一电流镜单元110,由第一电流镜单元110放大后流入第二电流镜单元120,并由第二电流镜单元120再次放大并输出至电压转换单元130的积分电路中的放大器131的负极。积分电路将第一电容c1上的变化的情况反映到第二电容c2,并以电压信号的形式输入至模数转换单元140,该模数转换单元140将输入的电压信号转换为数字信号,并发送至补偿值计算单元150,补偿值计算单元150根据模数转换单元140输出的数字信号确定数据电压补偿值,并将该数据电压补偿值输出至源极驱动电路400,该源极驱动电路400将数据电压补偿值与本次补偿前的数据电压结合,并为各个像素单元输出补偿后的数据电压。

可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

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