本实用新型涉及一种测试设备，具体涉及一种非法掉电防呆液晶显示屏测试设备。
背景技术：
非法掉电：主要是热拔插，或者不符合产品要求掉电时序的掉电操作，如直接断开总电源开关。
液晶极化：液晶分子的驱动电压不能固定在某一个值不变，也就是不可以使用直流驱动液晶，否则时间久了液晶分子会发生极化现象，从而逐渐失去旋光特性，液晶分子必须使用交流电压驱动，交替交换电压极性。
IGZO：铟镓锌氧化物，现在LCD显示屏有用类氧化物来做TFT的开关实现显示，但IGZO显示屏技术做的LCD屏幕不支持非法掉电，否则会造成液晶盒内电压残留直流偏置，引起液晶极化，导致闪屏现象。
目前有IGZO显示屏对非法掉电不支持，夹具测试过程非法掉电会导致液晶极化闪屏问题。
LCD显示屏测试中无法避免的会出现热拔插操作，主要为员工在电测显示中途直接从测试夹具上拔掉LCD屏(热拔插)，还有一种情况有的夹具有两个开关一个是电源按钮总开关，一个是走LCD屏幕要求的正常掉电流程的休眠开关，员工测试时有可能会按到电源总开关，导致夹具非法掉电操作。此两种情况靠员工SOP来规范员工操作手法并不可靠，因为夹具本身不防呆，而靠人的操作本身是很难完全管控的。
技术实现要素：
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种非法掉电防呆液晶显示屏测试设备，测试盒隐藏掉电源总开关，避免员工关闭总开关导致非法掉电。
本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种非法掉电防呆液晶显示屏测试设备，包括LCD屏测试盒，LCD屏测试盒内置有主控电路板以及一个内置隐藏的电源总开关，LCD屏测试盒上端具有一个测试腔，测试腔内放置LCD屏，LCD屏上设置有LCD测试卡扣；
位于测试腔的一侧设置有一块可翻转的翻盖，翻盖下方的LCD屏测试盒上设置有一个通过主控电路板控制的弹片开关，弹片开关通过一磁铁触发打开或者关闭，LCD屏的电源测试端通过主控电路板控制通断电。
作为优选的技术方案，所述磁铁安装于翻盖的下端面，翻盖与LCD屏测试盒的表面接触时，磁铁与弹片开关接触。
作为优选的技术方案，所述LCD屏测试盒一侧设置有一个切换画面开关。
本实用新型的有益效果是：本实用新型测试盒隐藏掉电源总开关，避免员工关闭总开关导致非法掉电，翻盖、磁铁、弹片开关设计，员工测试无论是热拔插或正常拔插均需要先翻开翻盖，翻开翻盖就通过判定弹片开关状态执行走正常掉电流程。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的打开状态的结构示意图；
图2为本实用新型的关闭状态的俯视图。
具体实施方式
本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。
本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
如图1所示，包括LCD屏测试盒6，LCD屏测试盒6内置有主控电路板以及一个内置隐藏的电源总开关，LCD屏测试盒6上端具有一个测试腔，测试腔内放置LCD屏7，LCD屏7上设置有LCD测试卡扣5，LCD屏测试盒6一侧设置有一个切换画面开关3；
位于测试腔的一侧设置有一块可翻转的翻盖2，翻盖2下方的LCD屏测试盒上设置有一个通过主控电路板控制的弹片开关4，弹片开关4通过一磁铁1触发打开或者关闭，LCD屏7的电源测试端通过主控电路板控制通断电，图1为翻盖打开状态，此时为掉电状态，可以实现对LCD屏的插拔更换。
如图2所示，其中，磁铁1安装于翻盖的下端面，翻盖与LCD屏测试盒的表面接触时，磁铁1与弹片开关4接触，此时弹片开关4导通，实现正常测试。
当产线测试员在画面没有测完或者不小心热拔插操作，无论如何需要翻开挡板开关，磁铁远离弹片开关位置，弹片开关断开，测试盒主板系统检测到开关断开对LCD屏走正常掉电流程。
本实用新型的有益效果是：本实用新型测试盒隐藏掉电源总开关，避免员工关闭总开关导致非法掉电，翻盖、磁铁、弹片开关设计，员工测试无论是热拔插或正常拔插均需要先翻开翻盖，翻开翻盖就通过判定弹片开关状态执行走正常掉电流程。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。