显示基板的检测方法和检测装置与流程

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示基板的检测方法和一种显示基板的检测装置。

背景技术：

有机发光二极管(oled)显示装置现已逐步实现商用。对于较大尺寸的有机发光二极管显示装置，由于栅线较长，通常在驱动过程中需要对栅线的两端同时施加驱动电压，这样才能保证整条栅线上各个位置处的电压不会有较大差异。

oled显示基板在制造的第一阶段会在基底(例如是玻璃或者聚酰亚胺)上形像素阵列(一般包含各类晶体管、栅线、数据线、像素电极等)。该制造阶段业内称为阵列基板阶段或array阶段。在随后的第二阶段会在像素电极之上形成有机发光层、共用的阴极层、薄膜封装层等，从而完成有机发光二极管显示基板的制造。

在相关技术中，对于栅线需要双端驱动的情况，如栅线上出现断点，由于栅线本身的电压降(irdrop)，当驱动该栅线以对该栅线所连接的像素电路进行驱动时，断点附近的连续几个像素电路接收到栅电压是不足的，这会导致在实际显示时，连续几个子像素颜色发暗(或发黑)，即形成线不良。如何在array阶段有效检测出栅线断点不良，成为亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

本发明提供一种显示基板的检测方法和一种显示基板的检测装置，以在array阶段检测出栅线断点不良。

根据本发明的第一方面，提供一种显示基板的检测方法，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极连接电源端，所述驱动晶体管的第二极连接所述存储电容的第二极；

所述检测方法包括：

在第一写入阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向所述数据线提供的有效电压的绝对值；

在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果判定待检测第一栅线上是否存在断点不良；

其中，当待检测第一栅线所对应的各存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第一设定阈值时，则判定待检测第一栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第一栅线上存在断点不良。

可选地，所述显示基板还包括沿所述第一方向延伸的多条第二栅线、沿所述第二方向延伸的多条感测线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条感测线，所述像素电路还具有感测晶体管，所述感测晶体管的栅极连接对应的第二栅线，所述感测晶体管的第一极连接对应的感测线，所述感测晶体管的第二极连接对应的存储电容的第二极；

在所述第一写入阶段和所述第一检测阶段，均向待检测第一栅线所对应的第二栅线的两端提供无效电压。

可选地，在所述第一写入阶段之前还包括：

在第一重置阶段，向各所述数据线提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向电源端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，向待检测第一栅线对应的第二栅线的两端提供有效电压。

可选地，在所述第一写入阶段之前和所述第一重置阶段之后还包括

在第一准备阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向各所述感测线提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供无效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值。

可选地，还包括：

在第二重置阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供有效电压，向各所述数据线提供地电压，向各所述感测线提供地电压；

在第二写入阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供有效电压，其中向所述感测线提供的有效电压的绝对值大于向待检测第二栅线的两端提供的有效电压的绝对值；

在第二检测阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，检测待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果确定待检测第二栅线是否存在断点不良；

其中，当待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第二设定阈值时，则判定待检测第二栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第二栅线上存在断点不良。

可选地，在所述第二写入阶段之前以及在所述第二重置阶段之后还包括：

在第二准备阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各感测线首先提供无效电压然后向各感测线提供有效电压并维持。

根据本发明的第二方面，提供一种显示基板的检测装置，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极连接电源端，所述驱动晶体管的第二极连接所述存储电容的第二极；所述检测装置包括驱动模块、检测模块和判定模块，

所述驱动模块被配置为：在第一写入阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向所述数据线提供的有效电压的绝对值；以及，在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压；

所述检测模块被配置为：在所述第一检测阶段检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压；

所述判定模块被配置为：根据检测模块的检测结果判定待检测第一栅线上是否存在断点不良；

其中，当待检测第一栅线所对应的各存储电容第二极上的电压的绝对值大于第一设定阈值时，则判定待检测第一栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第一栅线上存在断点不良。

可选地，所述显示基板还包括沿所述第一方向延伸的多条第二栅线、沿所述第二方向延伸的多条感测线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条感测线，所述像素电路还具有感测晶体管，所述感测晶体管的栅极连接对应的第二栅线，所述感测晶体管的第一极连接对应的感测线，所述感测晶体管的第二极连接对应的存储电容的第二极；

所述驱动模块还被配置为在所述第一写入阶段和所述第一检测阶段，均向待检测第一栅线所对应的第二栅线的两端提供无效电压。

可选地，所述驱动模块还被配置为：在所述第一写入阶段之前的第一重置阶段，向各所述数据线提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向电源端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，向待检测第一栅线对应的第二栅线的两端提供有效电压。

可选地，所述驱动模块还被配置为在所述第一写入阶段之前和所述第一重置阶段之后的第一准备阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向各所述感测线提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供无效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值。

可选地，所述驱动模块还被配置为在第二重置阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供有效电压，向各所述数据线提供地电压，向各所述感测线提供地电压；在第二写入阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供有效电压，其中向所述感测线提供的有效电压的绝对值大于向待检测第二栅线的两端提供的有效电压的绝对值；在第二检测阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压；

所述检测模块还被配置为：在所述第二检测阶段检测待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压；

所述判定模块还被配置为根据检测模块的检测结果判定待检测第二栅线上是否存在断点不良；

其中，当待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第二设定阈值时，则判定待检测第二栅线不存在断点不良；否则，判定待检测第二栅线存在断点不良。

可选地，所述驱动模块还被配置为在所述第二写入阶段之前以及在所述第二重置阶段之后的第二准备阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各感测线首先提供无效电压然后向各感测线提供有效电压并维持。

可选地，还包括显示模块，所述显示模块被配置为将待检测第一栅线所对应的存储电容第二极中其上电压的绝对值大于所述第一设定阈值的存储电容第二极以第一颜色展示，将待检测第一栅线所对应的存储电容第二极中其上电压绝对值小于所述第一设定阈值的存储电容第二极以第二颜色展示，所述第一颜色与所第二颜色为不同颜色。

可选地，还包括显示模块，所述显示模块被配置为将将待检测第二栅线所对应的存储电容第二极中其上电压的绝对值大于所述第二设定阈值的存储电容第二极以第三颜色展示，将待检测第二栅线所对应的存储电容第二极中其上电压绝对值小于所述第二设定阈值的存储电容第二极以第四颜色展示，所述第三颜色与所第四颜色为不同颜色。

附图说明

图1是本发明的实施例的显示基板的电路结构示意图；

图2是本发明的实施例的显示基板的检测方法的流程图；

图3是本发明的实施例的显示基板的检测方法的时序图；

图4是本发明的实施例的另一显示基板的检测方法的时序图；

图5是本发明的实施例的显示基板的检测装置的结构示意图；

附图标记为：g1、第一栅线；g2、第二栅线；d、数据线；s、感测线；t1、开关晶体管；t0、驱动晶体管；t2、感测晶体管；c1、存储电容；p、像素电极；v1、电源端；1、驱动模块；2、检测模块；3、判定模块；4、显示模块。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种显示基板的检测方法。

参见图1，显示基板具有沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿第一方向延伸的多条第一栅线g1，沿第二方向延伸的多条数据线d，沿第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线g1，沿第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线d。第一方向例如是图1当前视角下的行方向，第二方向例如是图1当前视角下的列方向。图1仅示出了其中一行像素电路。

像素电路具有开关晶体t1、驱动晶体管t0、存储电容c1，开关晶体t1的栅极连接对应的第一栅线g1，开关晶体t1的第一极连接对应的数据线d，开关晶体t1的第二极连接存储电容c1的第一极以及驱动晶体管t0的栅极，驱动晶体管t0的第一极连接电源端v1，驱动晶体管t0的第二极连接存储电容c1的第二极。通常驱动电容的第二极还会连接像素电极p。在一些实施方式中二者连为一体，在另一些实施方式中二者为不同层结构，但保持电连接。该显示基板尚处于array阶段，像素电极p之上尚未形成有机发光层。以下检测方法均是以对像素电极p上的电压进行检测为例进行说明，这与对存储电容c1第二极上的电压进行检测或者对驱动晶体管t0的第二极上的电压进行检测是等效的。

该检测方法可用于检测任一第一栅线g1是否存在断点不良。图1中的“×”符号即标识第一栅线g1中某处出现断点不良，第一栅线g1在该位置处断开。其中向待检测第一栅线g1的两端提供的信号标记为gate1，向数据线d提供的信号标记为data，向电源端v1提供的信号标记为vdd，向感测线s(后续提及)提供的信号标记为sence，向第二栅线g2(后续提及)提供的信号标记为gate2。结合图2，该检测方法包括以下阶段。

以下均以像素电路中的开关晶体t1、驱动晶体均为nmos管为例进行说明。向待检测第一栅线g1的两端提供的有效电压为高电平电压，用以开启对应的开关晶体t1。向待检测第一栅线g1的两端提供无效电压为低电平电压(例如是地电压)，用以关闭对应的开关晶体t1。向各数据线d提供的有效电压为高电平电压，数据线d上的电压后续会被写入到存储电容c1的第一极(与驱动晶体管t0的栅极相连)，用以控制驱动晶体管t0的开启程度。向各数据线d提供的无效电压为低电平电压(例如是地电压)。各电源端v1接收到的有效电压也是高电平电压。各电源端v1接收到的无效电压是低电平电压(例如是地电压)。

第一写入阶段p3，向各数据线d提供有效电压，向电源端v1提供有效电压，向待检测第一栅线g1的两端提供有效电压，其中，向数据线d提供的有效电压的绝对值小于向电源端v1提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线g1的两端提供的有效电压的绝对值小于向数据线d提供的有效电压的绝对值。

在待检测第一栅线g1无断点的情况下，对应的各开关晶体t1的栅电压(即向待检测第一栅线g1的两端提供的有效电压)小于各开关晶体t1的漏电压(即向各数据线d提供的有效电压)，这些开关晶体t1工作在饱和区，这些开关晶体t1充分导通。待检测第一栅线g1对应的各驱动晶体管t0的栅电压(约为向各数据线d提供的有效电压)小于其漏电压(即向对应电源端v1提供的有效电压)，这些驱动晶体管t0工作在饱和区，这些驱动晶体充分导通。此时各电压的关系满足：gate1＜data＜vdd。此时待检测第一栅线g1对应的第一电容两端的电压均为高电平电压，只是幅值略有不同。此时待检测第一栅线g1对应的像素电极p上呈高电平电压。

如待检测第一栅线g1中存在断点，例如图1中的“×”符号所标示的位置处第一栅线g1断开，则在断点附近连续几个像素电路从待检测第一栅线g1接收到的电压均相对较小。断点附近连续几个像素电路中的开关晶体t1始终处于关断状态或处于线性区，断点附近连续几个像素电路中的驱动晶体管t0始终处于关断状态或处于线性区，则断点附近连续几个像素电极p上的电压始终保持为无效电压。举例而言，若待检测第一栅线g1两端位置处的电压为6v(例如是正常情况)，则断点附件连续像素电路从待检测第一栅线g1接收到的电压(即开关晶体t1的栅电压)依次为3v、2v、1v、0v、1v、2v、3v。显然，这7个像素电路中的开关晶体t1是无法导通的，对应的数据线d上的电压无法写入驱动晶体管t0的栅极，驱动晶体管t0保持关断状态，对应这5个像素电路中的像素电极p上保持低电平电压。

第一检测阶段p4，维持向待检测第一栅线g1对应的各电源端v1提供的有效电压不变、向待检测第一栅线g1的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线g1所对应的像素电极p上的电压，当待检测第一栅线g1所对应的像素电极p上的电压的绝对值均大于第一设定阈值时判定待检测第一栅线g1无断点不良，否则判定待检测第一栅线g1上存在断点不良。

由于待检测第一栅线g1上呈无效电压，则待检测第一栅线g1对应的各开关晶体t1均处于关断状态，待检测第一栅线g1对应的各驱动晶体管t0保持导通状态(如果它们之前是导通的)，当然断点附近(如果有断点)的连续几个驱动晶体管t0仍保持关断或微弱导通的状态。如果待检测第一栅线g1上无断点，则在这个阶段，对应的每个像素电极p上的电压均保持为有效电压，例如均在6v以上。如果待检测第一栅线g1上存在断点，则在这个阶段，断点附近连续几个像素电极p上的电压均为无效电压，例如依次为3v、2v、1v、0v、1v、2v、3v。本领域技术人员可以为像素电极p上的电压此时是否有效设置合适的第一设定阈值。本实施例在此不做限定。按照前述的驱动时序，如存在有像素电极p上的电压的绝对值偏低的情况，必然会是连续几个像素电极p上的电压的绝对值偏低，从而将点不良以线不良的方式呈现，这也便于观察。

以上检测方法对于像素电路中是否存在感测晶体管t2均适用，即不论2t1c的像素电路结构还是3t1c的像素电路结构均适用。以下以3t1c的像素电路结构介绍该检测方法的进一步优化和变化。

即，进一步，如图1所示，显示基板还具有沿第一方向延伸的多条第二栅线g2、沿第二方向延伸的多条感测线s，沿第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线g2，沿第二方向排布的同一排像素电路对应一条感测线s，像素电路还具有感测晶体管t2，感测晶体管t2的栅极连接对应的第二栅线g2，感测晶体管t2的第一极连接对应的感测线s，感测晶体管t2的第二极连接对应的像素电极p。

该检测方法中，在第一写入阶段p3和第一检测阶段p4，均向待检测第一栅线g1所对应的第二栅线g2的两端提供无效电压。如此，待检测第一栅线g1所对应的各感测晶体管t2始终处于关断状态，第二栅线g2以及感测线s上的信号的变化不会对第一栅线g1的断点检测造成干扰。

如图3所示，以感测晶体管t2为nmos管为，在第一写入阶段p3和第一检测阶段p4均向待检测第一栅线g1对应的第二栅线g2的两端提供低电平电压(例如是地电压)。

可选地，在第一写入阶段p3和第一检测阶段p4均向各感测线s提供有效电压。沿用前例，参见图3，在第一写入阶段p3和第一检测阶段p4均向各感测线s提供高电平电压。各感测线s与其所连的像素电路中的像素电极p之间存在微弱的耦合电容。由于各感测线s上的信号为高电平信号，能够抬高像素电极p上的电压，从而便于检测。当然，在这两个阶段，各感测线s上也可以被施加无效电压或者将各感测线s设置为浮接。

可选地，在第一写入阶段p3之前还包括第一重置阶段p1，向各数据线d提供无效电压，向各感测线s提供无效电压，向电源端v1提供无效电压，向各感测线s提供无效电压，向待检测第一栅线g1的两端提供有效电压，向待检测第一栅线g1对应的第二栅线g2的两端提供有效电压。

如此，可将存储电容c1的两端电压重置，例如均设置为地电压。

可选地，在第一写入阶段p3之前和第一重置阶段p1之后还包括第一准备阶段p2，向各数据线d提供有效电压，向电源端v1提供有效电压，向各感测线s提供有效电压，向待检测第一栅线g1的两端提供无效电压，其中，向数据线d提供的有效电压的绝对值小于向电源端v1提供的有效电压的绝对值。

如此，为待检测第一栅线g1对应的各开关晶体t1和驱动晶体的漏极预先充电。

以上均是对第一栅线g1是否存在断点不良进行检测。进一步，还可以对第二栅线g2是否存在断点进行检测。结合图4，检测步骤例如包括以下阶段。

第二重置阶段p5，向待检测第二栅线g2的两端提供有效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供有效电压，向各数据线d提供无效电压，向各感测线s提供无效电压。

如此，待检测第二栅线g2所对应的各存储电容c1两端电压均被重置为无效电压。以各晶体管为nmos管为例，此时这些存储电容c1两端的电压可以被重置为地电压。

第二写入阶段p7，向待检测第二栅线g2的两端提供有效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供无效电压，向各感测线s提供有效电压，其中向感测线s提供的有效电压的绝对值大于向待检测第二栅线g2的两端提供的有效电压的绝对值。

由此，若待检测第二栅线g2中无断点，则其对应的各感测晶体管t2上的漏极电压大于其栅极电压，在这个阶段，这些感测晶体管t2充分导通，存储电容c1的第二极被写入高电平电压。而存储电容c1的第一极浮接，仍保持低电平电压。

第二检测阶段p8，向待检测第二栅线g2的两端提供无效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供无效电压，向各感测线s提供无效电压，检测待检测第二栅线g2所对应的像素电极p上的电压，如果待检测第二栅线g2所对应的像素电极p上的电压的绝对值均大于第二设定阈值则判定待检测第二栅线g2无断点不良，否则判定存在断点不良。

此阶段待检测第二栅线g2对应的各存储电容c1两端的电压保持稳定。如果待检测第二栅线g2上无断点，则其对应的各像素电极p上均能被写入高电平电压。如果待检测第二栅线g2上存在断点，则断点附近的连续几个感测晶体管t2始终处于关断或微弱导通的状态，则对应的这些像素电极p上的电压相对预期被写入的电压较低。由此，可以判断出这些连续电压较低的像素电极p所在位置处存在第二栅线g2的断点不良。按照前述的驱动时序，不仅能够检测出第二栅线上的断点不良，还能将点不良以线不良的方式呈现。

可选地，在第二重置阶段p5之后以及第二写入阶段p7之前，还设置有第二准备阶段p6，在第二准备阶段p6，向待检测第二栅线g2的两端提供无效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供无效电压，向各感测线s首先提供无效电压然后向各感测线s提供有效电压并维持。

即预先给待检测第二栅线g2对应感测晶体管t2的漏极提供有效电压。

可选地，在第二准备阶段p6，向各数据线d提供有效电压，向待检测第二栅线g2对应的像素电路的电源端v1提供有效电压。

当然，此阶段待检测第二栅线g2对应的开关晶体t1和驱动晶体管t0都是处于关断状态的，故向各数据线d提供的电压也可以是无效电压，向待检测第二栅线g2对应的像素电路的电源端v1提供的电压也可以是无效电压。

实施例2：

参见图5，本实施例提供一种显示基板的检测装置，用以实现实施例1所提供的检测方法。参见图1，显示基板具有沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿第一方向延伸的多条第一栅线g1，沿第二方向延伸的多条数据线d，沿第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线g1，沿第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线d，像素电路具有开关晶体t1、驱动晶体管t0和存储电容c1，开关晶体t1的栅极连接对应的第一栅线g1，开关晶体t1的第一极连接对应的数据线d，开关晶体t1的第二极连接存储电容c1的第一极以及驱动晶体管t0的栅极，驱动晶体管t0的第一极连接电源端v1，驱动晶体管t0的第二极连接存储电容c1的第二极；检测装置包括驱动模块1、检测模块2、判定模块3，驱动模块1被配置为：第一写入阶段，向各数据线d提供有效电压，向电源端v1提供有效电压，向待检测第一栅线g1的两端提供有效电压，其中，向数据线d提供的有效电压的绝对值小于向电源端v1提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线g1的两端提供的有效电压的绝对值小于向数据线d提供的有效电压的绝对值；第一检测阶段，维持向电源端v1提供的有效电压不变、向待检测第一栅线g1的两端提供的无效电压；检测模块2被配置为在第一检测阶段检测待检测第一栅线g1所对应的像素电极p上的电压；判定模块3被配置为当待检测第一栅线g1所对应的各存储电容c1第二极上的电压的绝对值大于第一设定阈值时判断待检测第一栅线g1无断点不良，否则判断待检测第一栅线存在断点不良(当然，此时表现为待检测第一栅线g1所对应的存储电容c1第二极中连续多个存储电容c1第二极上的电压的绝对值小于第一设定阈值而其余存储电容c1第二极上的电压的绝对值大于所述第一设定阈值，还可以进一步判定出待检测第一栅线g1在所述连续多个存储电容c1第二极所对应的位置处存在断点不良)。

可选地，显示基板还具有沿第一方向延伸的多条第二栅线g2、沿第二方向延伸的多条感测线s，沿第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线g2，沿第二方向排布的同一排像素电路对应一条感测线s，像素电路还具有感测晶体管t2，感测晶体管t2的栅极连接对应的第二栅线g2，感测晶体管t2的第一极连接对应的感测线s，感测晶体管t2的第二极连接对应的像素电极p；驱动模块1还被配置为在第一写入阶段和第一检测阶段，均向待检测第一栅线g1所对应的第二栅线g2的两端提供无效电压。

可选地，驱动模块1还被配置为在第一写入阶段和第一检测阶段均向各感测线s提供有效电压。

可选地，驱动模块1还被配置为：在第一写入阶段之前设置第一重置阶段，在第一重置阶段，向各数据线d提供无效电压，向各感测线s提供无效电压，向电源端v1提供无效电压，向各感测线s提供无效电压，向待检测第一栅线g1的两端提供有效电压，向待检测第一栅线g1对应的第二栅线g2的两端提供有效电压。

可选地，驱动模块1还被配置为在第一写入阶段之前和第一重置阶段之后设置第一准备阶段，在第一准备阶段，向各数据线d提供有效电压，向电源端v1提供有效电压，向各感测线s提供有效电压，向待检测第一栅线g1的两端提供无效电压，其中，向数据线d提供的有效电压的绝对值小于向电源端v1提供的有效电压的绝对值。

可选地，驱动模块1还被配置为在第二重置阶段，向待检测第二栅线g2的两端提供有效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供有效电压，向各数据线d提供地电压，向各感测线s提供地电压；在第二写入阶段，向待检测第二栅线g2的两端提供有效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供无效电压，向各感测线s提供有效电压，其中向感测线s提供的有效电压的绝对值大于向待检测第二栅线g2的两端提供的有效电压的绝对值；在第二检测阶段，向待检测第二栅线g2的两端提供无效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供无效电压，向各感测线s提供无效电压；所检测模块2还被配置为在第二检测阶段检测待检测第二栅线g2所对应的像素电极p上的电压；判定模块3还被配置为当待检测第二栅线g2所对应的存储电容c1第二极上的电压的绝对值均大于第二设定阈值时，判定待检测第二栅线g2无断点不良，否则判定待检测第二栅线g2上存在断点不良(当然此时表现为待检测第二栅线g2所对应的存储电容c1第二极中连续多个存储电容c1第二极上的电压的绝对值小于第二设定阈值，进一步还能判定待检测第二栅线g2在连续多个电压绝对值较低的像素电极p所对应的位置处存在断点不良)。

可选地，驱动模块1还被配置为在第二写入阶段之前以及在第二重置阶段之后设置第二准备阶段，在第二准备阶段，向待检测第二栅线g2的两端提供无效电压，向待检测第二栅线g2对应的第一栅线g1的两端提供无效电压，向各感测线s首先提供无效电压然后向各感测线s提供有效电压并维持。

可选地，驱动模块1还被配置为在第二准备阶段，向各数据线d提供有效电压，向待检测第二栅线g2对应的像素电路的电源端v1提供有效电压。

可选地，还包括显示模块4，显示模块4被配置为将将待检测第一栅线g1所对应的存储电容c1第二极中其上电压的绝对值大于第一设定阈值的存储电容c1第二极以第一颜色展示，将待检测第一栅线g1所对应的存储电容c1第二极中其上电压绝对值小于第一设定阈值的存储电容c1第二极以第二颜色展示，第一颜色与所第二颜色为不同颜色。

可选地，还包括显示模块4，显示模块4被配置为将将待检测第二栅线g2所对应的存储电容c1第二极中其上电压的绝对值大于第二设定阈值的存储电容c1第二极以第三颜色展示，将待检测第二栅线g2所对应的存储电容c1第二极中其上电压绝对值小于第二设定阈值的存储电容c1第二极以第四颜色展示，第三颜色与所第四颜色为不同颜色。

如此，可便于用户视觉化地展示断点不良发生的位置。

可选地，各晶体管均为n型晶体管，各有效电压均为高电平电压，各无效电压均为低电平电压。

当然，为实现实施例1所提供的检测方法，该检测装置也可以直接生成是否存在断点的判断结果，而不进行图形化的展示。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。