显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法与流程

本发明涉及显示设备技术领域，尤其涉及一种显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法。

背景技术：

有机发光二极管(organiclightemittingdisplay，oled)显示装置作为平面显示装置，因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

在oled显示装置的生产过程中，如果能够准确测试oled发光元件的特性，对掌握oled显示装置的使用寿命、判断oled显示装置是否存在缺陷等方面将会存在积极作用。

因此，亟需一种能够检测显示面板是否存在缺陷的显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法。

技术实现要素：

本发明的发明目的在于能够检测显示面板是否发生横向电子泄漏。

一方面，本发明实施例提供了一种显示母板，显示母板具有多个显示面板和位于显示面板之间连接区，显示面板具有显示区和非显示区，显示母板包括设置于连接区和/或非显示区的测试组件，测试组件包括：对应于不用基色的两个以上单基色测试单元，单基色测试单元包括至少一个第一子像素，第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极；高压输入端，连接于至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极；低压输入端，连接于除与高压输入端连接的单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极。

根据本发明一方面的实施方式，单基色测试单元中第一子像素的个数为多个，且单基色测试单元中至少两个第一子像素的第一像素电极相互连接，高压输入端和/或低压输入端连接于相互连接的第一像素电极。

根据本发明一方面前述任一实施方式，第一像素电极背离第一发光结构的一侧设置有导电引线，单基色测试单元中至少两个第一子像素的第一像素电极通过导电引线相互连接。

根据本发明一方面前述任一实施方式，高压输入端连接于第一子像素的第一像素电极，或者高压输入端连接于导电引线。

根据本发明一方面前述任一实施方式，低压输入端连接于第一子像素的第一像素电极，或者低压输入端连接于导电引线。

根据本发明一方面前述任一实施方式，测试组件包括三种不同的基色；

三种不同基色的单基色测试单元中的二者连接于高压输入端，另一者连接于低压输入端；

或者，三种不同基色的单基色测试单元中的二者连接于低压输入端，另一者连接于高压输入端。

根据本发明一方面前述任一实施方式，测试组中的多个第一子像素按照预设规律排布；

单基色测试单元由按照预设规律排布形成的多个第一子像素中相同颜色的第一子像素构成。

根据本发明一方面前述任一实施方式，显示区内设置有多个第二子像素，多个第一子像素的排布规律和多个第二子像素的排布规律相同。

另一方面，本发明实施例还提供了一种显示面板，显示面板具有显示区和非显示区，非显示区域设置有测试组件，测试组件包括：单基色测试单元，单基色测试单元包括至少一个第一子像素，第一子像素包括依次层叠设置的第一像素电极、第一发光结构和第一公共电极；高压输入端，连接于至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极；低压输入端，连接于除与高压输入端连接的单基色测试单元以外的、其他颜色中至少一种颜色的单基色测试单元中第一子像素的第一像素电极。

又一方面，本发明实施例还提供了一种电子泄漏的测试方法，用于测试上述的显示母板和/或显示面板，方法包括：

向高压输入端施加第一电压，向低压输入端施加第二电压，且第一电压大于第二电压；

获取高压输入端和低压输入端之间的电流值和/或电阻值；

根据电流值和/或电阻值确定连接于高压输入端的单基色测试单元和连接于低压输入端的单基色测试单元之间是否发生电子泄漏。

在本发明实施例的显示母板中，显示母板包括测试组件，测试组件包括单基色测试单元、高压输入端和低压输入端。高压输入端连接于至少一种颜色的单基色测试单元的第一像素电极，低压输入端连接于另外一种颜色的单基色测试单元的第一像素电极，高压输入端和低压输入端连接于不同颜色的单基色测试单元的第一像素电极。在对显示模板进行测试时，向高压输入端输入低电压，并向低压输入端输入低电压，通过检测高压输入端和低压输入端之间的电流值和/或电阻值能够判断该两种颜色不同的单基色测试单元之间是否发生电子泄漏。因此，本发明实施例的显示母板能够用于检测是否发生横向电子泄漏。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1是本发明实施例提供的一种显示母板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种测试组件的结构示意图；

图3为图2的局部剖视图；

图4为图1的局部剖视图；

图5为本发明实施例提供的一种电子泄漏的检测方法的流程示意图。

附图标记说明：

100、显示面板；100a、显示区；100b、非显示区；

110、第二子像素；111、第二像素电极；112、第二发光结构；113、第二公共电极；114、驱动阵列层；

200、连接区；

300、测试组件；300a、单基色测试单元；

310、第一子像素；311、第一像素电极；312、第一发光结构；313、第一公共电极；314、辅助层；320、导电引线；330、高压输入端；340、低压输入端。

400、衬底；

500、盖板；

600、光取出层；

700、第一盲孔；

800、第二盲孔。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本发明的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明的更好的理解。在附图和下面的描述中，至少部分的公知结构和技术没有被示出，以便避免对本发明造成不必要的模糊；并且，为了清晰，可能夸大了部分结构的尺寸。此外，下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有说明，“多个”的含义是两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向，并不是对本发明的实施例的具体结构进行限定。在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

为了更好地理解本发明，下面结合图1至图5对本发明实施例的显示母板、显示面板及电子泄漏的测试方法进行详细描述。

oled显示面板中的发光层包括不同颜色子像素的发光层，这些不同颜色子像素的发光层所对应的电子注入层、电子传输层、空穴注入层和空穴传输层通常为共通层。这就导致在使用过程中，电子可能会横向传输至相邻子像素，共通层漏电发生串扰，导致相邻子像素微亮，颜色显示不精确的问题。为了检测显示面板中电子是否发生横向泄漏，提出了本发明。

图1为本发明实施例提供的一种显示母板的结构示意图，显示母板具有多个显示面板100和位于显示面板100之间连接区200，显示面板100具有显示区100a和非显示区100b，显示母板包括设置于连接区200和/或非显示区100b的测试组件300。

测试组件300的个数可以为一个或多个，如图1所述，测试组件300可以为3个，3个测试组件300设置于不同的位置。

请一并参阅图2和图3，图2示出了测试组件300的结构示意图。图3使出了测试组件300的局部剖视图。

如图2所示，测试组件300包括：对应于不同基色的单基色测试单元300a，单基色测试单元300a包括至少一个第一子像素310，第一子像素310包括依次层叠设置的第一像素电极311、第一发光结构312和第一公共电极313；高压输入端330，连接于至少一种颜色的单基色测试单元300a中第一子像素310的第一像素电极311；低压输入端340，连接于除与高压输入端330连接的单基色测试单元300a以外的、其他颜色中至少一种颜色的单基色测试单元300a中第一子像素310的第一像素电极311。

在本发明实施例的显示母板中，显示母板包括测试组件300，测试组件300包括单基色测试单元300a、高压输入端330和低压输入端340。高压输入端330连接于至少一种颜色的单基色测试单元300a的第一像素电极311，低压输入端340连接于另外一种颜色的单基色测试单元300a的第一像素电极311，高压输入端330和低压输入端340连接于不同颜色的单基色测试单元300a的第一像素电极311。因此本发明实施例的显示母板在进行测试时，向高压输入端330输入低电压，并向低压输入端340输入低电压，通过检测高压输入端330和低压输入端340之间的电流值和/或电阻值能够判断该两种颜色不同的单基色测试单元300a之间是否发生电子泄漏。因此，本发明实施例的显示母板能够用于检测出是否发生横向电子泄漏。

具体的，第一像素电极311例如为第一子像素310的阳极，第一公共电极313例如为第一子像素310的阴极。测试组件300中各第一子像素310的阳极相互分离设置，将高压输入端330和低压输入端340分别连接于不同颜色的单基色测试单元300a的第一像素电极311，通过高压输入端330和低压输入端340能够分别向该两种颜色的单基色测试单元300a施加高电压和低电压。当该两种颜色的单基色测试单元300a之间发生电子泄漏时，该高压输入端330和低压输入端340之间会产生电子串扰，进而引起高压输入端330和低压输入端340之间的电流值和/或电阻值发生变化。因此，本发明实施例的显示母板能够用于检测出是否发生横向电子泄漏。

单基色测试单元300a是指包含一种颜色的子像素的测试单元。例如当测试组件300包括多个红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素时，单基色测试单元300a仅包含一个或多个红色子像素，或者单基色测试单元300a仅包含一个或多个绿色子像素，或者单基色测试单元300a仅包含一个或多个蓝色子像素。

第一子像素310指的是测试组件300中的子像素，当测试组件300包括多个红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素时，第一子像素310例如可以是红色子像素，第一子像素310也可以是蓝色子像素或者绿色子像素。只要是测试组件300中的子像素都可以称为第一子像素310。

测试组件300中单基色测试单元300a的个数设置有多种。在一些可选的实施例中，测试组件300中包括两种基色的单基色测试单元300a，例如测试组件300包括红色的单基色测试单元300a和蓝色的单基色测试单元300a。此时，高压输入端330连接于其中一个颜色的单基色测试单元300a中第一子像素310的像素电极，低压输入端340连接于另外一个颜色的单基色测试单元300a中的第一子像素310的像素电极。

在另一些可选的实施例中，测试组件300包括三种不同的基色。例如测试组件300包括红色的单基色测试单元300a、蓝色的单基色测试单元300a和绿色的单基色测试单元300a。

在上述实施例中，三种不同基色的单基色测试单元300a中的二者连接于高压输入端330，另一者连接于低压输入端340。或者，三种不同基色的单基色测试单元300a中的二者连接于低压输入端340，另一者连接于高压输入端330。例如，三种不同的基色为红色、绿色和蓝色，三种不同基色的单基色测试单元300a中蓝色的单基色测试单元300a和绿色的单基色测试单元300a连接于高压输入端330，红色的单基色测试单元300a连接于低压输入端340。或者，三基色的单基色测试单元300a中蓝色的单基色测试单元300a和绿色的单基色测试单元300a连接于低压输入端340，红色的单基色测试单元300a连接于高压输入端330。

单基色测试单元300a可以包含任何合适数量的第一子像素310。在一些可选的实施例中，单基色测试单元300a中第一子像素310的个数为多个，且单基色测试单元300a中至少两个第一子像素310的第一像素电极311相互连接，高压输入端330和/或低压输入端340连接于相互连接的第一像素电极311。

在这些可选的实施例中，单基色测试单元300a中至少两个第一像素电极311相互连接，当两种颜色的单基色测试单元300a之间发生电子泄漏时，相互连接的至少两个第一像素电极311之间发生的电子泄漏量大于一个第一像素电极311之间发生的电子泄漏量。因此连接于该相互连接的第一像素电极311的高压输入端330和低压输入端340之间电流值和/或电阻值的变化较大，电子泄漏更容易被测出，测试结果也更加精确。

优选的，高压输入端330连接于其中一种颜色的单基色测试单元300a中相互连接的第一像素电极311，低压输入端340连接于另外一种颜色的单基色测试单元300a中相互连接的第一像素电极311。能够进一步提高测试结果的准确性。

在一些可选的实施例中，单基色测试单元300a中所有的第一子像素310的第一像素电极311均相互连接。单基色测试单元300a中多个第一像素电极311的连接方式有多种，例如多个第一像素电极311相互串联，或者多个第一像素电极311相互并联，或者多个第一像素电极311中部分第一像素电极311串联，另一部分第一像素电极311并联等。只要多个第一像素电极311之间相互电连接即可。在这些实施例中，高压输入端330和/或低压输入端340连接于任一第一子像素310的第一像素电极311。

单基色测试单元300a中至少两个第一子像素310的第一像素电极311相互连接的方式有多种，在一些可选的实施例中，第一像素电极311背离第一发光结构312的一侧设置有导电引线320，单基色测试单元300a中至少两个第一子像素310的第一像素电极311通过导电引线320相互连接。

当测试组件300包括导电引线320时，高压输入端330可以连接于第一子像素310的第一像素电极311，或者高压输入端330可以连接于导电引线320。只要通过高压输入端330能够向第一像素电极311输入高电压即可。

高压输入端330的设置方式有多种，例如高压输入端330设置于多个第一子像素310中任一第一子像素310的第一像素电极311。或者，高压输入端330设置于导电引线320，高压输入端330通过导电引线320连接于第一像素电极311。

在一些可选的实施例中，显示母板还包括盖板500和光取出层600，显示母板上设置有第一盲孔700，第一盲孔700对应于高压输入端330设置，且第一盲孔700由盖板500延伸至高压输入端330，使得外部加压部件或者检测元件能够插入第一盲孔700内连接高压输入端330。

第一盲孔700的成型方式有多种，例如，在显示母板成型以后，通过对显示母板钻孔处理形成第一盲孔700。或者，在显示母板的成型过程中，在形成位于高压输入端330上方的层结构成型时，在这些层结构对应于高压输入端330的位置刻蚀形成第一盲孔700。

在另一些实施例中，当测试组件300包括导电引线320时，低压输入端340可以连接于第一子像素310的第一像素电极311，或者低压输入端340可以连接于导电引线320。只要通过低压输入端340能够向第一像素电极311输入高电压即可。

低压输入端340的设置方式有多种，例如低压输入端340设置于多个第一子像素310中任一第一子像素310的第一像素电极311。或者，低压输入端340设置于导电引线320，低压输入端340通过导电引线320连接于第一像素电极311。

低压输入端340和外部加压部件或检测元件连接的方式有多种，在一些可选的实施例中，显示母板还包括盖板500和光取出层600，显示母板上设置有第二盲孔800，第二盲孔800对应于低压输入端340设置，且第二盲孔800由盖板500延伸至低压输入端340，使得外部加压部件或者检测元件能够插入第二盲孔800内连接低压输入端340。

第二盲孔800的成型方式有多种，例如，在显示母板成型以后，通过对显示母板钻孔处理形成第二盲孔800。或者，在显示母板的成型过程中，在形成位于低压输入端340上方的层结构成型时，在这些层结构对应于低压输入端340的位置刻蚀形成第二盲孔800。

请一并参阅图4，显示面板100的显示区100a还设置有两个以上的第二子像素110。测试组件300包括两种颜色以上分别连接于高压输入端330和低压输入端340的单基色测试单元300a，因此测试组件300中包括两个以上的第一子像素310。

两个以上第一子像素310的排布方式有多种，在一些可选的实施例中，两个以上第一子像素310的排布规律和两个以上第二子像素110的排布规律相同。使得测试组件300中多个第一子像素310的特性更加接近显示面板100中多个第二子像素110的特性，因此根据测试组件300中是否发生电子泄漏能够推断出显示面板100中是否发生电子泄漏。

在一些可选的实施例中，测试组件300中多个第一子像素310按照预设规律排布；单基色测试单元300a由按照预设规律排布形成的多个第一子像素310中相同颜色的第一子像素310构成。单基色测试单元300a中的第一子像素310并不一定要相邻，单基色测试单元300a中的第一子像素310可以为相互分隔设置的第一子像素310，只要单基色测试单元300a中第一子像素310的颜色相同即可。

第二子像素110包括依次层叠设置的驱动阵列层114、第二像素电极111、第二发光结构112和第二公共电极113。

在一些可选的实施例中，第二像素电极111和第一像素电极311同时形成，和/或第二发光结构112和第一发光结构312同时形成，和/或第二公共电极113和第一公共电极313共同形成。使得测试组件300中多个第一子像素310的特性更加接近显示面板100中多个第二子像素110的特性。

在一些可选的实施例中，第一子像素310还包括位于第一像素背离第一发光结构312的辅助层314。当测试组件300包括导电引线320时，导电引线320位于辅助层314内。

辅助层314的设置方式不做限定，在一些可选的实施例中，辅助层314的层数及各层的厚度和驱动阵列层114相同。从而能够使得辅助层314的厚度和驱动阵列层114的厚度一致，进而使得测试组件300的厚度和显示面板100显示区100a的厚度一致，令测试组件300内各第一子像素310的特性和显示面板100显示区100a内各第二子像素110的特性更加接近。

显示母板还包括衬底400，辅助层314和驱动阵列层114均设置于衬底400上。驱动阵列层114例如包括依次层叠于衬底400上的缓冲层、有源层、源漏电极、栅绝缘层和栅电极层。导电引线320可以和任一驱动阵列层114中的金属层同层，例如导电引线320和源漏电极同层，或者导电引线320和栅电极层同层。

在显示母板的成型过程中，例如在形成驱动阵列层114的源漏电极，且导电引线320和源漏电极同层时，在有源层上沉积金属层，在对应于显示区100a对金属层进行图案化处理形成源漏电极，在对应于测试组件300的区域对金属层图案化处理形成导电引线320。

或者，在形成驱动阵列层114的源漏电极，且导电引线320不和源漏电极同层时，在有源层上沉积金属层，在对应于显示区100a对金属层进行图案化处理形成源漏电极。在对应于测试组件300的区域对金属层不做任何处理以使辅助层314和驱动阵列层114的厚度接近，能够简化生产工艺。或者在对应于测试组件300的区域对金属层进行刻蚀，刻蚀掉金属层上对应于测试组件300的部位，使的辅助层314相互驱动阵列层114较薄，能够节省材料。

本发明实施例还提供一种显示面板100，显示面板100的非显示区100b域设置有测试组件300，该测试组件300为上述任一实施例所述的测试组件300。因此该显示面板100能够被测试出是否发生电子泄漏。

请一并参阅图5，本发明又一实施例还提供一种测试方法，用于测试上述的显示母板或包含测试组件300的显示面板100，测试方法包括：

步骤s01：向高压输入端施加第一电压，向低压输入端施加第二电压，且第一电压大于第二电压。

其中，向低压输入端340施加第二电压的方式有多种，例如令低压输入端340接地，以使第二电压为零。或者向低压输入端340施加电压，但是向低压输入端340施加的第二电压小于向高压输入端330施加的第一电压。

步骤s02：获取高压输入端和低压输入端之间的电流值和/或电阻值。

获取电流值和/或电阻值的方式有多种，例如在高压输入端330和低压输入端340之间连接万用表，通过万用表直接读取电流值和/或电阻值。或者，在高压输入端330和低压输入端340之间连接电流表，以测得电流值，并根据电流值、第一电压和第二电压之间的差值获取电阻值。

步骤s03：根据电流值和/或电阻值确定连接于高压输入端的单基色测试单元和连接于低压输入端的单基色测试单元之间是否发生电子泄漏。

在本发明实施例的测试方法中，首先通过高压输入端330和低压输入端340分别施加第一电压和第二电压，且第一电压大于第二电压。当连接于高压输入端330的单基色测试单元300a和连接于低压输入端340的单基色测试单元300a之间发生电子泄漏时，由于高压输入端330和低压输入端340之间存在压差，令泄漏的电子发生移动，从而使得高压输入端330和低压输入端340之间的电流值和/或电阻值发生变化。因此通过步骤s03能够判断是否发生电子泄漏。

步骤s03的实施方式有多种，例如当电阻值无穷大，或者电流值接近零时，可以判定连接于高压输入端330的单基色测试单元300a和连接于低压输入端340的单基色测试单元300a之间没有发生电子泄漏。

或者，在另一些可选的实施例中，当电阻值大于或等于电阻阈值时，判定连接于高压输入端330的单基色测试单元300a和连接于低压输入端340的单基色测试单元300a之间没有发生电子泄漏。

电阻阈值的设置方式有多种，例如，可以结合显示光谱确定电阻阈值。当电阻小于电阻预设值时，与高压输入端330连接的单基色测试单元300a的第一子像素310的颜色发生色偏，当电阻大于或等于电阻预设值时，与高压输入端330连接的单基色测试单元300a的第一子像素310的颜色没有发生色偏，则该电阻预设值为电阻阈值。

或者，在又一些可选的实施例中，当电流值小于或等于电流阈值时，判定连接于高压输入端330的单基色测试单元300a和连接于低压输入端340的单基色测试单元300a之间没有发生电子泄漏。

电流阈值的设置方式有多种，例如，可以结合显示光谱确定电流阈值。当电流大于电流预设值时，与高压输入端330连接的单基色测试单元300a的第一子像素310的颜色发生色偏，当电流小于或等于电流预设值时，与高压输入端330连接的单基色测试单元300a的第一子像素310的颜色没有发生色偏，则该电流预设值为电流阈值。

虽然已经参考优选实施例对本申请进行了描述，但在不脱离本申请的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。