OLED阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法与流程

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种oled阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法、计算机可读存储介质以及计算机设备。

背景技术：

oled显示模组产品在应用过程中，为了达到降低功耗的目的，越来越多的开始采用动态阴极电压(elvss)方案。elvss作为oled产品工作时的阴极电压，数值通常为负值。当elvss电压越小时，oled产品工作时的跨压越大，此时显示效果越好，但是也带来了功耗过高的问题。当elvss越大时，oled产品工作时的跨压减小，功耗随之降低，但是此时oled产品中的tft器件有未工作在饱和区的风险，可能会带来画面显示偏黄，偏绿等显示异常问题。

现有技术所应用的动态elvss方案，选取的方式通常都是预先设定一组elvss参数，以此参数作为所有产品的统一值。但是在前期设计验证阶段，由于样品数量有限等问题，经常会导致预先设定值不合理，无法达到预期的功耗降低的效果，严重时还会导致显示效果变差，甚至异常。同时，这种预设值的方式，要求后续主机(例如手机或者平板电脑等终端的cpu)在应用oled产品时，要根据用户的不同设定，随时向oled产品传递不同的elvss参数，造成主机端软件工作量大，通用性低。

此外，由于oled产品制作过程中的工艺波动，产品个体间会存在一定的差异。工艺波动越明显，个体间的差异越大，统一的预设参数就会造成部分的产品良率损失。

技术实现要素：

为了解决上述问题至少之一，本申请第一方面提供一种oled阴极电压的校正方法，包括：s11：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，阴极测试电压为预设置的阴极电压阈值；s12：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，测量参数为光学测量单元测量待测显示模组输出的测量参数；s13：控制器根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数；s14：判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级并跳转到s11。

在一些可选的实施例中，s12进一步包括：s121：控制器按照预设调试时间向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数；s122：控制器根据测量参数进行判断，若测量参数满足预设显示阈值则控制器输出第一判断结果，否则控制器输出第二判断结果。

在一些可选的实施例中，若判断结果为第一判断结果，s13进一步包括：s131：控制器以预设步进调整电压反向调整阴极测试电压为第一阴极测试电压并发送至待测显示模组；s132：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值，若满足则将阴极测试电压修改为第一阴极测试电压并跳转至s131，否则将阴极测试电压作为当前亮度等级的阴极校正电压；s133：控制器将阴极校正电压发送至待测显示模组，使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。

在一些可选的实施例中，若判断结果为第二判断结果，s13进一步包括：s131′：控制器以预设步进调整电压正向调整阴极测试电压为第二阴极测试电压并发送至待测显示模组；s132′：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值，若不满足则将阴极测试电压修改为第二阴极测试电压并跳转至s131′，否则将第二阴极测试电压作为当前亮度等级的阴极校正电压；s133′：控制器将所述阴极校正电压发送至待测显示模组，使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。

本申请第二方面提供一种oled阴极电压的校正系统，包括控制器和光学测量单元，其中：

光学测量单元，被配置为响应于控制器的测试指令测量待测显示模组并输出测量参数；

控制器，被配置为校正各亮度等级的阴极校正电压，包括：按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。

本申请第三方面提供一种通过第一方面的校正方法校正的显示模组，显示模组包括驱动芯片、电源芯片和oled显示面板，驱动芯片存储有各亮度等级和对应的电压参数；驱动芯片被配置为响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。

在一些可选的实施例中，驱动芯片包括处理单元、指令接收单元、存储单元和电源控制单元，其中

指令接收单元，被配置为接收亮度调整指令；

存储单元，被配置为存储配置表，配置表包括亮度等级、亮度等级对应的电压参数和伽马曲线值；

电源控制单元，被配置为将电压参数发送至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板；

处理单元，被配置为根据亮度调整指令确定亮度等级，根据亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数，通过电源控制单元将电压参数传输至电源芯片。

本申请第四方面提供一种利用第三方面所述的显示模组的亮度调整方法，显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据所述电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。

在一些可选的实施例中，驱动芯片包括处理单元、指令接收单元、存储单元和电源控制单元，显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得所述电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板进一步包括：

处理单元根据指令接收单元接收的亮度调整指令确定亮度等级；

处理单元根据亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数；

处理单元通过电源控制单元将电压参数传输至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。

本申请第五方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面所述的校正方法；或者该程序被处理器执行时实现第四方面所述的亮度调整方法。

本申请第六方面一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时实现第一方面所述的校正方法；或者处理器执行程序时实现第四方面所述的亮度调整方法。

本发明的有益效果如下：

本发明针对目前现有的问题，制定一种oled阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法、计算机可读存储介质以及计算机设备，通过设置阴极电压校正过程，针对芯片的每个亮度等级以预设置的阴极电压阈值对显示模组进行测量并根据测量参数确定判断结果，并根据判断结果渐进式调整阴极测试电压，能够针对每一片产品的特性将oled阴极电压单独校正到最佳值，避免使用统一预设值方案带来的弊端，达到降低功耗的同时提升显示效果的作用。同时，基于使用上述校正方法校正的显示模组，在调整亮度时通过存储在显示模组驱动芯片中的亮度调整参数，能够省略现有技术中使用主机下发参数步骤，从而简化产品动态调用流程，使得elvss动态调用过程更加简便，提高产品的通用性和便捷性，提高产品竞争力，具有广阔的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为oled负载曲线受elvss变化影响示意图。

图2为根据本申请的实施例的oled阴极电压的校正方法的示意性框图。

图3为根据本申请实施例的oled阴极电压的校正方法的示意性流程图。

图4为根据本申请的实施例的oled阴极电压的校正系统的示意性框图。

图5为根据本申请的实施例的显示模组中的存储单元内elvss和伽马(gamma)曲线部分的寄存器结构示意图。

图6为根据本申请的实施例的显示模组的示意性框图。

图7为根据本申请的实施例的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本申请，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本申请的保护范围。

需要说明的是，在本申请的描述中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

首先参照图1简述oled负载曲线受阴极电压影响变化的原理。如图1所示，在该图中示出了oled的tft管的输出特性曲线，tft管的输出特性曲线包含线性区和饱和区，oled正常显示时要求驱动发光的tft管的工作状态应处于线性区，以使输出vdata-n(n为正整数，n＝1、2、3)具有稳定的信号，而不是受驱动电压大小影响的不稳定信号。具体地，如图所示，当阳极电压elvdd一定时，不同的elvss(其中，elvss为负值)，elvss-1和elvss-2，elvss大，如elvss-2，阳极电压与阴极电压之间的跨度大，oled的tft管受此驱动负载曲线均落于饱和区，但跨度越大功耗越大，elvss小，如elvss-1，阳极电压与阴极电压之间的跨度小，oled的tft管受此驱动负载曲线落于饱和区，从而出现画面显示偏色，例如画面偏黄、偏绿等。因此，elvss最佳的状态为能够使oled的tft管负载曲线落于饱和区的最大值。基于上述原理发明人提出了本申请。

如图2所示，本发明的一个实施例提供了一种oled阴极电压的校正方法，包括：

s11：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，阴极测试电压为预设置的阴极电压阈值；

s12：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，测量参数为光学测量单元测量待测显示模组输出的测量参数；

s13：控制器根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数；以及

s14：判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级并跳转到s11。

在本实施例中，通过设置阴极电压校正过程，针对芯片的每个亮度等级以预设置的阴极电压阈值对显示模组进行测量并根据测量参数确定判断结果并根据判断结果渐进式调整阴极测试电压，能够针对每一片产品的特性将oled阴极电压单独校正到最佳值，避免使用统一预设值方案带来的弊端，达到降低功耗的同时提升显示效果的作用，并且将该oled的各显示亮度的校正电压存储在显示模组的驱动芯片中以便于后续亮度调整应用，具有广阔的应用前景。

在一个具体的示例中，参照图3和图4，本申请的实施例的oled阴极电压的校正系统包括控制器和光学测量单元，系统上电后对待校正的显示模组的芯片的oled阴极电压进行校正。

需要说明的是，参照图4，在阴极电压校正过程中，对于每个亮度等级中的校正过程，控制器向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，同时控制器向光学测量单元发送测试指令，光学测量单元基于控制器的测试指令对显示模组的显示亮度进行测量并将测量参数反馈给控制器，由控制器进行判断和进一步处理。其中，该图像测试信号为用于测试的图像信号，此处本申请不作限制。在本申请中为了描述的方便，将上述过程称为一次pre-gamma校正过程。

另外，通常一个oled显示面板包括多个亮度等级band(n)(n为正整数，最大值对应待校正的显示模组的芯片中oled显示面板的gamma曲线总数)。每个伽马(gamma)曲线包括多个节点，每个节点值为gamma曲线每个节点的对应值，oled显示面板按照相应的gamma曲线上的各节点值调节像素亮度。在本申请中，每个gamma曲线上的所有节点值称为gamma曲线值。在本申请中，每个亮度等级band(n)对应一条gamma曲线以及一个阴极电压elvss。

基于以上限定，进一步参照图3详细描述本申请实施例的oled阴极电压的校正方法。

当校正系统启动后，在步骤s11中，针对多个亮度等级中的一个亮度等级band(n)，系统首次尝试进行pre-gamma校正。例如，可以自多个亮度等级中的第一亮度等级band(1)开始进行校正，该第一亮度等级band(1)并不做特别限制，可以是按照在存储器中存储的顺序编号的第一个亮度等级。控制器按照亮度等级band(n)向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，此时，阴极测试电压为预设置的阴极电压阈值，也称为elvss默认值。

在本申请的实施例中，对于每个待测显示模组的每个亮度等级band(n)，均存储有对应于该亮度等级的elvss默认值，该elvss默认值可以是生产显示模组时对于一个批次产品的预设值，也可以是根据显示模组所用材料的预设值。校正系统在对一个亮度等级首次尝试进行pre-gamma校正时，利用该elvss默认值对待测显示模组进行测量，同时，利用光学测量单元测量显示模组并输出测量参数。

在首次尝试进行pre-gamma校正时，在步骤s12中，控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据获得的测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果。具体地，光学测量单元基于测试指令测量得到显示模组在当前亮度等级band(n)下基于图像测试信号和elvss默认值呈现的亮度信息作为测量参数，控制器根据该测量参数可以判断在该测量条件下待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果。例如，预设显示阈值可以是在gray-255画面光学指标下oled面板能够正常显示时光学空间色坐标的阈值。本领域技术人员可以理解，这并不是限制性地，预设显示阈值可以对应于光学测量单元能够测量的参数进行设置，只要是能够反应待测显示模组中的oled显示面板在正常显示时亮度信息的阈值即可。

在步骤s12，进一步具体地，在步骤s121中，控制器可以按照预设调试时间向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，该预设调试时间为显示模组基于当前阴极测试电压和图像测试信号呈现出显示图像的时间。

在步骤s122中，根据获取的测量参数，当控制器判断此时的测量参数满足预设显示阈值时，输出为表示满足预设显示阈值的第一判断结果，当控制器判断此时的测量参数不满足预设显示阈值时，输出为表示不满足预设显示阈值的第二判断结果。

在步骤s13中，控制器根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。

参照图3，根据在步骤s12中判断结果的不同，步骤s13的渐进式调整过程分为两种情况进行。

具体地，第一种情况，在s131中，在首次尝试进行pre-gamma校正时，根据获取的测量参数，当控制器在判断band(n)等级下elvss默认值时的测量参数满足预设显示阈值时，即输出为表示满足预设显示阈值的第一判断结果时，控制器进行控制以在elvss默认值增加预定值，即，以预设步进调整电压反向调整当前阴极测试电压(此处规定预设步进调整电压为正数)为第一阴极测试电压，并发送该调整后的新的阴极测试电压至待测显示模组。

在步骤s132中，控制器使用步进调整后的阴极测试电压作为新的阴极测试电压再次进行pre-gamma校正。本领域技术人员应理解，此处并不旨在限制该预定步进的具体数值，应以实施设计时测试仪器能够测量出亮度参数变化的最小影响电压值为准，例如，可以设置该预设步进调整电压为0.1v。与首次尝试进行pre-gamma校正过程类似地，控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据获得的测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果。如果控制器判断的结果仍然为第一判断结果，则跳转至步骤s131，控制器进行控制以在当前elvss基础上进一步增加预定值，即进一步以预设步进调整电压反向调整当前阴极测试电压为第一阴极测试电压，并使校正系统以调整后的值作为新的阴极测试电压再次进行pre-gamma校正。如果控制器判断的结果为第二判断结果，控制器可以判断，增加预定值后的elvss使得待测显示模组的oled显示面板不再满足正常显示的要求，因此控制器确定未增加预定值的elvss为当前亮度等级band(n)对应的elvss最佳值elvss(n)，即阴极校正电压，并进入步骤s133，控制器将阴极校正电压发送至待测显示模组，使得待测显示模组存储当前亮度等级band(n)并存储与阴极校正电压对应的电压参数，其中，存储的电压参数与阴极校正电压相对应，以使得电源控制芯片根据电压参数输出阴极校正电压。可选地，例如，可以在得到的elvss(n)下，适当调节当前等级band(n)并存储当前亮度等级band(n)和与阴极校正电压对应的电压参数。可选地，可以按照图5示出的方式将当前亮度等级band(n)和与当前亮度等级band(n)对应的电压参数elvss-(n)存储在显示模组芯片的寄存器中。

在本实施例中，当显示模组在预设的阴极电压阈值下能够满足pre-gamma校正的预设显示阈值，则在s13中通过预定步进值进一步反向调整阴极测试电压，直到pre-gamma校正不满足预设显示阈值为止，从而获取最佳阴极校正电压。

在另一种情况中，参照图3，在步骤s131′中，在首次尝试进行pre-gamma校正时，根据获取的测量参数，当控制器在判断band(n)等级下elvss默认值时的测量参数不满足预设显示阈值时，即输出为表示不满足预设显示阈值的第二判断结果时，控制器进行控制以在elvss默认值减小预定值，即，以预设步进调整电压正向调整当前阴极测试电压(此处规定预设步进调整电压为正数)为第二阴极测试电压，并发送至待测显示模组。

在步骤s132′中，控制器使用步进调整后的阴极测试电压作为新的阴极测试电压再次进行pre-gamma校正。同样，此处并不旨在限制该预定步进的具体数值，应以实施设计时测试仪器能够测量出亮度参数变化的最小影响电压值为准，例如，可以设置该预设步进调整电压为0.1v。与首次尝试进行pre-gamma校正过程类似地，控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据获得的测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果。如果控制器判断的结果仍然为第二判断结果，跳转至s131′，控制器进行控制以在当前elvss基础上进一步减小预定值，即进一步以预设步进调整电压正向调整当前阴极测试电压为第二阴极测试电压，并使校正系统以调整后的值作为新的阴极测试电压再次进行pre-gamma校正。如果控制器判断的结果为第一判断结果，控制器可以判断，减小预定值后的elvss使得待测显示模组的oled显示面板重新满足正常显示的要求，因此控制器确定未减小预定值的elvss为当前亮度等级band(n)对应的elvss最佳值，elvss(n)，即阴极校正电压，并进入步骤s133′，控制器基于获得的阴极校正电压，使待测显示模组存储当前亮度等级band(n)并存储与当前亮度等级band(n)对应的电压参数。可选地，例如，可以在得到的elvss(n)下，适当调节当前等级band(n)并存储当前亮度等级band(n)并存储与阴极校正电压对应的电压参数。这里，电压参数可以是用来使电源芯片输出elvss的参数。

在本实施例中，当显示模组在预设的阴极电压阈值下不能够满足pre-gamma校正的预设显示阈值，则在s13中通过预定步进调整电压进一步正向调整阴极测试电压，直到pre-gamma校正满足预设显示阈值为止，从而获取最佳阴极校正电压。

进一步地，在步骤s14中，判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级到未校正的亮度等级，并跳转至首次尝试pre-gamma校正过程。例如，当系统启动时首先校正第一亮度等级band(1)时，可以接下来对第二亮度等级band(2)自首次尝试pre-gamma校正过程起的完整校正过程，并依次类推直到band(n)，所有亮度等级对应的elvss均校正后为止结束校正系统的oled阴极电压校正过程。

以上方式，通过针对芯片的每个亮度等级根据测量参数的判断结果渐进式调整阴极测试电压，使oled阴极电压这一参数能够根据每片产品的工艺状况，计算出最佳值，从而可以针对每一片产品单独调节到最佳的elvss，避免统一预设值方案所带来的一系列弊端，达到降低功耗同时提升显示效果的作用。本实施例提供的校正方法可应用于产品的出厂校正过程中，即在出厂阶段完成对各oled产品的elvss的动态调整。

与上述校正方法相对应的，参照图4，本申请的实施例还提供一种oled阴极电压的校正系统，包括控制器和光学测量单元，其中

光学测量单元，被配置为响应于控制器的测试指令测量待测显示模组并输出测量参数；

控制器，被配置为校正各亮度等级的阴极校正电压，包括：按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。

在本实施例中，oled阴极电压的校正系统通过针对芯片的每个亮度等级根据测量参数确定判断结果，并根据判断结果渐进式调整阴极测试电压，能够针对每一片产品的特性将oled阴极电压单独校正到最佳值，避免使用统一预设值方案带来的弊端，达到降低功耗的同时提升显示效果的作用，并且将该oled的各显示亮度的校正电压存储在显示模组的驱动芯片中以便于后续亮度调整应用，具有广阔的应用前景。

参照图6，本申请的实施例还提供一种通过本申请实施例所述的校正方法校正的显示模组，显示模组包括驱动芯片、电源芯片和oled显示面板，驱动芯片存储有各亮度等级和对应的电压参数，电压参数为对应的亮度等级的阴极校正电压；驱动芯片被配置为响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。

具体地，驱动芯片中存储的各亮度等级和对应的电压参数可以以图5所示的形式存储在寄存器中，从而当驱动芯片响应于输入的亮度调整指令调取亮度等级时直接可以同时调取与该亮度等级对应的电压参数。

在本实施例中，显示模组存储有利用本申请实施例的校正方法校正后的阴极电压的电压参数和对应的亮度等级，使得驱动芯片只需要接收亮度调整指令即可确定亮度等级和对应的电压参数，可以省略主机下发参数步骤，简化产品动态调用流程，使得elvss动态调用过程更加简便，提高产品的通用性和便捷性，提高产品竞争力，具有广阔的应用前景。

在一个可选的实施例中，参照图6，根据本申请的显示模组中的驱动芯片包括处理单元、指令接收单元、存储单元和电源控制单元，其中

指令接收单元，被配置为接收亮度调整指令；

存储单元，被配置为存储配置表，配置表包括亮度等级、亮度等级对应的电压参数和gamma曲线值，可选地，存储单元可以为各种形式寄存器单元；

电源控制单元，被配置为将电压参数发送至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板；

处理单元，被配置为根据亮度调整指令确定亮度等级，根据亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数，通过电源控制单元将电压参数传输电源芯片。

在一个具体的实施例中，显示模组可以处于已经通过本申请实施例的oled阴极电压校正方法校正后的状态，例如经过了出厂校正。该显示模组可以应用于手机、膝上电脑、台式机、可穿戴设备等电子设备，当应用于这些电子设备之一时，主机包括电子设备的处理单元，主机根据应用场景的切换只需要向显示模组发送亮度调整指令，显示模组响应于该亮度调整指令确定亮度等级，并根据亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数，通过电源控制单元将电压参数传输电源芯片，电源芯片将相应的阴极校正电压加载至oled显示面板。

以上方式，通过将利用本申请实施例的校正方法得到的阴极校正电压预先存储在显示模组的存储单元中，当需要调整亮度等级时，使得驱动芯片只需要接收亮度调整指令即可确定亮度等级和对应的电压参数，可以省略主机下发参数步骤，简化产品动态调用流程，使得elvss动态调用过程更加简便，提高产品的通用性和便捷性，提高产品竞争力，具有广阔的应用前景。

相应于本申请实施例的显示模组，本申请还提供一种显示模组的亮度调整方法，其中，显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。本实施例的具体实施方式同前述实施例，在此不再赘述。

以上方式，通过将利用本申请实施例的校正方法得到的阴极校正电压预先存储在显示模组的存储单元中，当需要调整亮度等级时，令驱动芯片只需要接收亮度调整指令即可确定亮度等级和对应的电压参数，可以省略主机下发参数步骤，简化产品动态调用流程，使得elvss动态调用过程更加简便，提高产品的通用性和便捷性，提高产品竞争力，具有广阔的应用前景。

在一个可选的实施例中，驱动芯片包括处理单元、指令接收单元、存储单元和电源控制单元，显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出所述亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得所述电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板进一步包括：

处理单元根据指令接收单元接收的亮度调整指令确定亮度等级；

处理单元根据所述亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数；

处理单元通过电源控制单元将电压参数传输至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。

以上方式，通过将利用本申请实施例的校正方法得到的阴极校正电压预先存储在显示模组的存储单元中，当需要调整亮度等级时，令驱动芯片只需要接收亮度调整指令即可确定亮度等级和对应的电压参数，可以省略主机下发参数步骤，简化产品动态调用流程，使得elvss动态调用过程更加简便，提高产品的通用性和便捷性，提高产品竞争力，具有广阔的应用前景。

本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现：s11：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压；s12：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，测量参数为光学测量单元测量待测显示模组输出的测量参数；s13：控制器根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数；s14：判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级并跳转到s11。

本发明的另一实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现：显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至oled显示面板。

在实际应用中，所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、电线、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、smalltalk、c++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(lan)或广域网(wan)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

如图7所示，本发明的另一个实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。图7显示的计算机设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图7所示，计算机设备12以通用计算设备的形式表现。计算机设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，系统存储器28，连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。

总线18表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(isa)总线，微通道体系结构(mac)总线，增强型isa总线、视频电子标准协会(vesa)局域总线以及外围组件互连(pci)总线。

计算机设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被计算机设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

系统存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(ram)30和/或高速缓存存储器32。计算机设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图7未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图7中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如cd-rom，dvd-rom或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。

计算机设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该计算机设备12交互的设备通信，和/或与使得该计算机设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(i/o)接口22进行。并且，计算机设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(lan)，广域网(wan)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图7所示，网络适配器20通过总线18与计算机设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图7中未示出，可以结合计算机设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、raid系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

处理器单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现本发明实施例所提供的oled阴极电压的校正方法或亮度调整方法。

本发明针对目前现有的问题，制定一种oled阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法、计算机可读存储介质以及计算机设备，通过设置阴极电压校正过程，针对芯片的每个亮度等级以预设置的阴极电压阈值对显示模组进行测量并根据测量参数确定判断结果，并根据判断结果渐进式调整阴极测试电压，能够针对每一片产品的特性将oled阴极电压单独校正到最佳值，避免使用统一预设值方案带来的弊端，达到降低功耗的同时提升显示效果的作用。同时，基于使用上述校正方法校正的显示模组，在调整亮度时通过存储在显示模组驱动芯片中的亮度调整参数，能够省略现有技术中使用主机下发参数步骤，从而简化产品动态调用流程，使得elvss动态调用过程更加简便，提高产品的通用性和便捷性，提高产品竞争力，具有广阔的应用前景。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。