显示面板的制作方法

1.本技术涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板。


背景技术：

2.在对现有技术的研究和实践过程中，本技术的发明人发现，现有loi
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1点灯采用短接棒的设计方式，即将不同数据线短接在一起，显示r/g/b/w多个画面，但无法显示上白下黑或上黑下白画面，也即薄膜晶体管的源极和漏极短路造成的亮点无法检出。
3.而现有的全接触检测方式虽然可以显示上白下黑或上黑下白画面，但探针直接在绑定区上进行探测，由于绑定区的绑定垫精度较高，而探针和设备的精度相对较低，故在进行探测的过程容易出现偏差，导致检测良率下降。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种显示面板，可采用全接触的探针检测方式进行点灯测试。
5.本技术实施例提供一种显示面板，包括显示区、位于所述显示区一侧的外围区和位于所述外围区远离所述显示区一侧的检测区，其中，所述显示面板包括：
6.基板，所述基板设置于所述显示区、所述外围区和所述检测区；
7.多条数据线，所述数据线设置在所述基板上，所述数据线设置于所述显示区；
8.多条外延线，所述外延线设置在所述基板上，所述外延线自所述显示区延伸至所述检测区，一所述外延线对应电连接一所述数据线；
9.多个测试垫，所述测试垫设置在所述基板上，所述测试垫设置在所述检测区，一所述测试垫对应电连接一所述外延线。
10.可选的，在本技术的一些实施例中，所述显示面板还包括：
11.第一金属层，所述第一金属层设置在所述基板上，所述第一金属层包括所述外延线；
12.第一绝缘层，所述第一绝缘层设置在所述第一金属层上；
13.第二金属层，所述第二金属层设置在所述第一绝缘层上，所述第二金属层包括所述数据线和信号接入部，所述信号接入部设置在所述检测区；
14.第二绝缘层，所述第二绝缘层设置在所述第二金属层上；
15.导电层，所述导电层设置在所述第二绝缘层上，所述导电层包括所述测试垫，所述测试垫连接于所述外延线和所述信号接入部。
16.可选的，在本技术的一些实施例中，所述第二绝缘层设置有第一过孔和第二过孔，所述第一过孔裸露所述信号接入部，所述第二过孔延伸入所述第一绝缘层并裸露所述外延线，所述测试垫延伸入所述第一过孔连接于所述信号接入部，所述测试垫延伸入所述第二过孔连接于所述外延线；
17.所述测试垫延伸入所述第一过孔和所述第二过孔的部分形成凹陷部，所述凹陷部用于插入探针。
18.可选的，在本技术的一些实施例中，所述第一过孔和所述第二过孔间隔设置。
19.可选的，在本技术的一些实施例中，所述第一过孔和所述第二过孔连通设置。
20.可选的，在本技术的一些实施例中，所述外延线包括主线部分和连接于所述主线部分一端的绑定部分，所述绑定部分的宽度大于所述主线部分的宽度；
21.所述第二过孔裸露所述绑定部分，所述测试垫连接于所述绑定部分。
22.可选的，在本技术的一些实施例中，所述第一过孔和/或所述第二过孔的开口面积大于所述探针的端面面积。
23.可选的，在本技术的一些实施例中，所述第一过孔和/或所述第二过孔的宽度大于3微米且小于等于9微米。
24.可选的，在本技术的一些实施例中，多条所述外延线包括多条第一外延线、多条第二外延线和多条第三外延线；多个所述测试垫包括多个第一测试垫、多个第二测试垫和多个第三测试垫；一所述第一测试垫对应连接于一所述第一外延线，一所述第二测试垫对应连接于一所述第二外延线，一所述第三测试垫对应连接于一所述第三外延线；
25.在第一方向上，多个所述第一测试垫排列成第一行，多个所述第三测试垫排列成第二行，多个所述第二测试垫排列成第三行；
26.在第二方向上，所述第二行设置在所述第一行和所述第三行之间；所述第二方向与所述第一方向相交；所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫之间彼此错位设置。
27.可选的，在本技术的一些实施例中，所述第一外延线的长度小于所述第三外延线的长度，所述第三外延线的长度小于所述第二外延线的长度；
28.在所述第一方向上，所述第一外延线、所述第二外延线和所述第三外延线依次交替排布设置。
29.本技术实施例的显示面板包括显示区、位于所述显示区一侧的外围区和位于所述外围区一侧的检测区，数据线设置于显示区；外延线设置在基板上，外延线自显示区延伸至检测区，一外延线对应电连接一数据线；测试垫设置在检测区，一测试垫对应电连接一外延线。本技术通过将测试垫设置在检测区，并采用测试垫和外延线一一对应连接，从而实现采用全接触的探针检测方式进行点灯测试，也即采用探针接触检测区的测试垫。
附图说明
30.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
31.图1是本技术实施例提供的显示面板的第一种结构示意图；
32.图2是本技术实施例提供的显示面板的第一种结构中检测区部分的示意图；
33.图3是图2中沿着mn线的剖视结构示意图；
34.图4是本技术实施例提供的显示面板的第二种结构示意图；
35.图5是本技术实施例提供的显示面板的第二种结构中检测区部分的示意图；
36.图6是图5中沿着hl线的剖视结构示意图。
具体实施方式
37.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术，并不用于限制本技术。在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
38.本技术实施例提供一种显示面板，下文进行详细说明。需说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。
39.请参照图1和图2，本技术实施例提供一种显示面板100，其包括显示区aa、位于显示区aa一侧的外围区na和位于外围区na远离显示区aa一侧的检测区ts。显示面板100包括基板11、多条外延线121、多条数据线131和多个测试垫141。
40.基板11设置于显示区aa、外围区na和检测区ts。数据线131设置在基板11上。数据线131设置于显示区aa。
41.外延线121设置在基板11上。外延线121自显示区aa延伸至检测区ts。一外延线121对应电连接一数据线131。
42.测试垫141设置在基板11上。测试垫141设置在检测区ts。一测试垫141对应电连接一外延线121。
43.本技术实施例的显示面板100通过将测试垫141设置在检测区ts，并采用测试垫141和外延线121一一对应连接，从而实现采用全接触的探针检测方式进行点灯测试，也即采用探针接触检测区ts的测试垫141。
44.可选的，显示面板100可以包括多个单元，每个单元包括一个显示区aa、一个外围区na和一个检测区ts。本实施例以一个单元为例进行说明，但不限于此。
45.请参照图3，显示面板100还可以包括第一金属层12、第一绝缘层15、第二金属层13、第二绝缘层16和导电层14。
46.第一金属层12设置在基板11上。第一金属层12包括外延线121。
47.第一绝缘层15设置在第一金属层12上。
48.第二金属层13设置在第一绝缘层15上。第二金属层13包括数据线131和信号接入部132，信号接入部132设置在检测区ts。
49.第二绝缘层16设置在第二金属层13上。
50.导电层14设置在第二绝缘层16上。导电层14包括测试垫141，测试垫141连接于外延线121和信号接入部132。
51.可选的，第一金属层12还可以包括扫描线和公共电极线，扫描线设置在显示区aa。公共电极线设置在显示区aa和/或外围区na。
52.第二金属层13还可以包括扇出走线和绑定垫，所述扇出走线和所述绑定垫设置在外围区na。一扇出走线对应连接于一数据线131。一绑定垫对应连接于一所述扇出走线。所述绑定垫用于与覆晶薄膜或柔性电路基板绑定连接。
53.可选的，测试垫141的宽度大于所述绑定垫的宽度，以提高探针探测的成功率。
54.可选的，第一金属层12和第二金属层13的材料各自可以是铜、铝、钛、钼铜合金、钼/铜叠层或其他金属材料。
55.可选的，第一绝缘层15和第二绝缘层16的材料各自可以包括氮化硅、氧化硅以及有机光阻中的至少一种。
56.可选的，导电层14还可以包括像素电极或触控电极。也即在形成图案化的导电层14时，采用同一光罩形成测试垫141和像素电极，或形成测试垫141和触控电极。
57.可选的，导电层14的材料可以是氧化铟锡、氧化铟锌等氧化物；也可以为各种导电特性的金属、合金以及化合物及其混合物，例如可以使用金、银或铂等；还可以是常规的导电金属以及合金，比如铜、铝或钛等。
58.在本实施例的显示面板100中，第二绝缘层16设置有第一过孔161和第二过孔162。第一过孔161裸露信号接入部132。第二过孔162延伸入第一绝缘层15并裸露外延线121。测试垫141延伸入第一过孔161连接于信号接入部132。测试垫141延伸入第二过孔162连接于外延线121。
59.测试垫141延伸入第一过孔161和第二过孔162的部分形成凹陷部14a。凹陷部14a用于插入探针。
60.可选的，第一过孔161和第二过孔162间隔设置。
61.也即，凹陷部14a具有两个，一个贴附在第一过孔161的孔壁上，另一贴附在第二过孔162的孔壁上。两个凹陷部14a均可以为作为探针的探测点。
62.本实施例的显示面板100采用凹陷部14a作为探针的探测点，一方面凹陷部14a可以起到限位探针的作用，避免探针在测试的过程中突然移位；另一方面，由于凹陷部14a贴附在过孔的孔壁上，使得凹陷部14a形成上宽下窄的孔结构，该孔结构便于探针的插入，提高了探测的成功率。
63.可选的，第一过孔161的深度小于第二过孔162的深度。第一过孔161的开口面积小于第二过孔162的开口面积。其中可以采用贴附于第二过孔162孔壁的凹陷部14a作为探针的探测点。
64.可选的，测试垫141还包括贴附在第二绝缘层16上的平坦部14b，平坦部14b与凹陷部14a相连。凹陷部14a自平坦部14b向基板11的方向延伸。
65.可选的，如果平坦部14b的面积足够大，平坦部14b也可以作为探针的探测点。
66.可选的，第一过孔161和/或第二过孔162的开口面积大于所述探针的端面面积。这样的设置以提高探针插入过孔的成功率。
67.可选的，第一过孔161和/或第二过孔162的宽度大于3微米且小于等于8微米，比如可以是4微米、5微米、6微米、7微米或8微米。这样的设置，即可保证探针插入过孔的成功率，又可避免相邻的金属线短路。金属线可以是外延线121，也可以是信号接入部132。
68.可选的，第一过孔161和/或第二过孔162的长度大于或等于3微米且小于或等于6微米，比如3微米、4微米、5微米或6微米。
69.可选的，外延线121包括主线部分12a和连接于主线部分12a一端的绑定部分12b，绑定部分12b的宽度大于主线部分12a的宽度。
70.第二过孔162裸露绑定部分12b，测试垫141连接于绑定部分12b。绑定部分12b的设置可以提高第二过孔162的开口面积，进而提高探针插入第二过孔162的成功率。
71.可选的，外延线121远离所述绑定部分12b的一端通过过孔连接于数据线131。
72.可选的，第二过孔162的开口形状与绑定部分12b的形状相似。可选的，第二过孔162的开口形状为矩形或圆形。
73.可选的，请参照图2，本实施例的显示面板100中，多条外延线121包括多条第一外延线1211、多条第二外延线1212和多条第三外延线1213。多个测试垫141包括多个第一测试垫1411、多个第二测试垫1412和多个第三测试垫1413。一第一测试垫1411对应连接于一第一外延线1211。一第二测试垫1412对应连接于一第二外延线1212。一第三测试垫1413对应连接于一第三外延线1213。
74.在第一方向x上，多个第一测试垫1411排列成第一行；多个第三测试垫1413排列成第二行；多个第二测试垫1412排列成第三行。
75.在第二方向y上，所述第二行设置在所述第一行和所述第三行之间。第二方向y与第一方向x相交，可选的，第一方向x垂直于第二方向y。第一测试垫1411、第二测试垫1412和第三测试垫1413之间彼此错位设置。
76.将第一测试垫1411、第二测试垫1412和第三测试垫1413之间彼此错位设置，可以节省出部分空间以设置开口面积更大的过孔，进而形成面积更大的测试垫141，进而提高探针的探测成功率。
77.可选的，第一外延线1211的长度小于第三外延线1213的长度。第三外延线1213的长度小于第二外延线1212的长度。
78.在第一方向x上，第一外延线1211、第二外延线1212和第三外延线1213依次交替排布设置。
79.可选的，外围区na和检测区ts的交界线作为切割线qg。当点灯检测完成后，需要采用激光或切割器具沿着切割线qg进行切割，以使显示面板100的检测区ts部分脱离显示面板100。
80.可选的，在对应于切割线qg的区域，外延线121的至少一侧设置有缺口，已避免在切割过程中，相邻的两个外延线121发生短接。
81.请参照图4和图5，本技术实施例提供一种显示面板200，其包括显示区aa、位于显示区aa一侧的外围区na和位于外围区na一侧的检测区ts。显示面板200包括基板11、多条外延线121、多条数据线131和多个测试垫141。
82.基板11设置于显示区aa、外围区na和检测区ts。数据线131设置在基板11上。数据线131设置于显示区aa。
83.外延线121设置在基板11上。外延线121自显示区aa延伸至检测区ts。一外延线121对应电连接一数据线131。
84.测试垫141设置在基板11上。测试垫141设置在检测区ts。一测试垫141对应电连接一外延线121。
85.本技术实施例的显示面板200通过将测试垫141设置在检测区ts，并采用测试垫ts和外延线121一一对应连接，从而实现采用全接触的探针检测方式进行点灯测试，也即采用探针接触检测区ts的测试垫141。
86.请参照图6，显示面板200还可以包括第一金属层12、第一绝缘层15、第二金属层13、第二绝缘层16和导电层14。
87.第一金属层12设置在基板11上。第一金属层12包括外延线121。
88.第一绝缘层15设置在第一金属层12上。
89.第二金属层13设置在第一绝缘层15上。第二金属层13包括数据线131和信号接入部132，信号接入部132设置在检测区ts。
90.第二绝缘层16设置在第二金属层13上。
91.导电层14设置在第二绝缘层16上。导电层14包括测试垫141，测试垫141连接于外延线121和信号接入部132。
92.其中，本实施例的显示面板200与上述实施例的显示面板100的不同之处在于：第一过孔161和第二过孔162连通设置。
93.由于第一过孔161和第二过孔162连通设置，使得贴附于第一过孔161的凹陷部14a和贴附于第二过孔162的凹陷部14a相连形成一个更大的凹陷部14a，进而提高了探针插入过孔的成功率。
94.以上对本技术实施例所提供的一种显示面板进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。