显示面板及其检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及面板打磨设备技术领域，尤其涉及一种显示面板及其检测装置。


背景技术：

2.近年来，随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，人们对电子产品的依赖性与日俱增，更带来各种显示技术及显示装置的蓬勃发展。目前，为了降低平板显示装置的制造成本并藉以实现窄边框的目的，在制造过程中通常采用gip(gate in panel，门面板)技术，直接将栅极驱动电路(即gip电路)集成于平板显示面板上。显示面板(pln)通常包括用于显示图像的显示区域和围绕显示区域的非显示区域，所述栅极驱动电路一般设置于非显示区域中。
3.在显示面板及其栅极驱动电路制作完成后，需要通过点灯测试对gip进行检测，如图1所示，图1为现有的显示面板的检测装置的结构示意图，检测装置包括中心处理器11’以及由中心处理器11’控制的点灯测试单元12’，点灯测试单元12’通过接口单元13’输出点灯测试信号至数据电路板(data pcb)或栅极电路板(gate pcb),以使数据电路板(data pcb)或栅极电路板(gate pcb)驱动gip电路，为显示面板内的像素逐行提供扫描信号，以点亮整个显示面板，若gip电路存在断路或接触不良故障，则显示面板存在一行或几行暗线或亮线的问题，现有技术通过人眼观察显示面板的显示，以获取gip电路故障的位置。
4.现有技术存在的缺陷是:对显示面板的gip电路的检测通常是人工进行，可能存在gip电路具有裂痕但是未完全断路的情况，此时会有很大的漏电流，但是不会完全形成暗线或亮线，因此，人眼观察会造成检测出的结果不准确，甚至有些不良的gip电路的问题不能被筛选出来，导致最后形成的显示装置废弃率较高。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于：提供一种显示面板及其检测装置，提高不良gip电路的检出率，降低后续显示模组的废弃率。
6.为达上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
7.第一方面，提供一种显示面板的检测装置，包括：
8.电流输出接口、电流计量器和电流处理器；
9.所述电流计量器通过所述电流输出接口与显示面板的每级gip电路的输出端连接，用于获取测试过程中每级gip电路输出的测试信号；
10.所述电流处理器与所述电流计量器电连接，用于获取所述每级gip电路输出的测试信号，并在所述测试信号的幅值超出稳定阈值范围时，判断所述gip电路存在故障；
11.所述电流处理器还用于获取测试过程中输入至各个gip电路的时钟信号，并根据所述时钟信号的时序和所述测试信号的时序确定存在故障的gip电路的级数。
12.作为显示面板的检测装置的一种优选方案，显示面板的检测装置还包括：显示器；所述显示器与所述电流处理器电连接，用于对所述时钟信号和所述测试信号在同一时间轴
进行显示。
13.作为显示面板的检测装置的一种优选方案，所述显示器中的时间轴分为多个时间段；在显示面板的一个帧扫描周期内，第i个时间段为第i级gip电路输出电流开始至第i+1级gip电路输出电流开始之间的时间；1≤i＜n；n为显示面板的总行数；i，n均为整数。
14.作为显示面板的检测装置的一种优选方案，显示面板的检测装置还包括：中心处理器和点灯测试单元；所述中心处理器与所述点灯测试单元电连接，用于控制所述点灯测试单元发送点灯信号至各级所述gip电路；所述点灯信号至少包括时钟信号、第一电平信号和第二电平信号；所述中心处理器与所述电流处理器电连接，用于发送所述时钟信号至所述电流处理器。
15.作为显示面板的检测装置的一种优选方案，所述中心处理器还用于发送测试开始信号至所述电流处理器，以使所述电流处理器控制所述电流计量器获取所述测试信号；所述电流处理器还用于在确定存在故障的gip电路的级数后，发送测试结束信号至所述中心处理器。
16.作为显示面板的检测装置的一种优选方案，所述电流输出接口包括：显示电流输出端口和触控电流输出端口；所述电流计量器用于通过所述显示电流输出端口与显示面板的每级显示gip电路的输出端连接，用于获取显示测试过程中每级显示gip电路输出的显示测试信号；所述电流计量器还用于通过所述触控电流输出端口与显示面板的每级触控gip电路的输出端连接，用于获取触控测试过程中每级触控gip电路输出的触控测试信号。
17.第二方面，提供一种显示面板，通过上述任意显示面板的检测装置进行gip电路的故障检测，包括：显示区和非显示区；
18.所述非显示区设置有多级gip电路；所述gip电路与对应栅线连接，用于输出扫描信号至所述栅线；
19.所述非显示区还设置有多个测试焊盘；部分所述测试焊盘与所述gip电路对应电连接，用于将测试过程中对应gip电路输出的测试信号输出至显示面板的检测装置的电流输出接口。
20.作为显示面板的一种优选方案，所述显示面板包括：第一多级gip电路和第二多级gip电路；所述第一多级gip电路和第二多级gip电路分为位于所述显示区相对两侧；所述测试焊盘包括第一测试焊盘组和第二测试焊盘组；所述第一测试焊盘组与所述第一多级gip电路电连接，所述第二测试焊盘组与所述第二多级gip电路电连接；
21.所述第一测试焊盘组和第二测试焊盘组分别获取点灯信号；所述点灯信号至少包括时钟信号、第一电平信号和第二电平信号。
22.作为显示面板的一种优选方案，所述显示面板为有机发光显示面板、液晶显示面板、等离子体显示面板或真空荧光显示面板。
23.作为显示面板的一种优选方案，所述显示面板为触控显示面板；所述触控显示面板包括多级显示gip电路和多级触控gip电路；所述测试焊盘包括显示测试焊盘组和触控测试焊盘组；所述显示测试焊盘组与所述多级显示gip电路电连接，所述触控测试焊盘组与所述多级触控gip电路电连接。
24.本实用新型的有益效果为：通过电流计量器获取显示面板每级gip电路输出的测试信号(电流信号)，若gip电路存在异物或断路等故障，则该gip电路输出的测试信号会存
在较大波动，通过电流处理器判断测试信号的幅值是否超出稳定阈值范围，若超出则判定gip电路存在故障，该故障判断方法通过电流计量器获得精准数据，不需要人眼进行检测，提高gip电路的故障检出率，降低废片率，并有效节省人力。此外，电流处理器还用于将输入至各个gip电路时钟信号与测试信号进行时序对比，从而快速锁定多级gip电路中存在故障的一级或多级gip电路，进一步提高gip电路的故障检测效率。
附图说明
25.下面根据附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明。
26.图1为现有的显示面板的检测装置的结构示意图。
27.图2为本实用新型第一实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
28.图3为本实用新型第一实施例提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图。
29.图4为本实用新型第一实施例提供的一种测试信号和时钟信号的时序图。
30.图5为本实用新型第一实施例提供的另一种测试信号和时钟信号的时序图。
31.图6为本实用新型第二实施例提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图。
32.图7为本实用新型第二实施例提供的一种显示面板的gip电路的结构示意图。
33.图8为本实用新型第三实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
34.图9为本实用新型第四实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
35.图1中：
36.11’、中心处理器；12’、点灯测试单元；13’、接口单元。
37.图2至图9中：
38.11、电流处理器；12、电流计量器；13、电流输出接口；131、显示电流输出端口；132、触控电流输出端口；14、显示器；141、显示界面；15、中心处理器；16、点灯测试单元；21、栅线；22、数据线；23、像素；24、gip电路；25、测试焊盘；24a、第一多级gip电路；24b、第二多级gip电路；24c、多级显示gip电路；24d、多级触控gip电路；25a、第一测试焊盘组；25b、第二测试焊盘；25c、第三测试焊盘组；25d、第四测试焊盘组；25e、显示测试焊盘组；25f、触控测试焊盘组。
具体实施方式
39.参考下面结合附图详细描述的实施例，本实用新型的优点和特征以及实现它们的方法将变得显而易见。然而，本实用新型不限于以下公开的实施例，而是可以以各种不同的形式来实现，提供本实施例仅仅是为了完成本实用新型的公开并且使本领域技术人员充分地了解本实用新型的范围，并且本实用新型仅由权利要求的范围限定。相同的附图标记在整个说明书中表示相同的构成要素。
40.以下，参照附图来详细描述本实用新型。
41.图2为本实用新型第一实施例提供的一种显示面板的结构示意图，显示面板包括沿行方向设置的栅线21和沿列方向设置的数据线22，上述栅线21和数据线22交叉限定出阵列排布的像素23，通过输入扫描信号至栅线21，输入数据信号至数据线22，从而实现对每个像素23的单独点亮和控制。显示面板还包括多级gip电路24，每级gip电路24对应一条栅线21，用于输出扫描信号至对应的栅线21。在完成面板工艺后，需要对显示面板进行点灯测
试，点灯测试为输入点灯信号至显示面板，检测gip电路24是否发生故障，当gip电路24发生故障，例如，存在线路断路或因工艺存在异物时，gip电路24输出至栅线21的电流较大、较小或消失，影响显示面板的显示。在对gip电路24进行测试时，若通过人眼观察测试图像，并在一行或几行像素形成暗线或亮线时，判断对应行像素连接的栅线21对应的gip电路24故障或失效，这种方式是容易存在误差的，因为gip电路24在制作过程中，可能会因为异物导致gip电路24存在虚连接的情况，但是又没有到达断路的情况，则此时gip电路24同样会驱动对应行的像素，会显示微弱的暗线或亮线，人眼不易辨出。本实施例直接对gip电路24输出至栅线21上的电流值进行检测，若gip电路24存在虚连接的情况，则会因为虚连接的位置形成较大电阻而大大降低输出至栅线21上的电流值，本实施例有效通过电流值的大小对gip电路24是否故障进行判断，有效提高gip电路24的故障检测率，避免故障未检出时产生的后续制程的次品率，并有效节约后续制程所需的原料，节省成本。
42.具体的，图3为本实用新型第一实施例提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图，参考图2和图3，显示面板的检测装置可以包括：电流输出接口13、电流计量器12和电流处理器11；
43.电流计量器12通过电流输出接口13与显示面板的每级gip电路24的输出端连接，用于获取测试过程中每级gip电路24输出的测试信号；
44.电流处理器11与电流计量器12电连接，用于获取每级gip电路24输出的测试信号，并在测试信号的幅值超出稳定阈值范围时，判断gip电路24存在故障；
45.电流处理器11还用于获取测试过程中输入至各个gip电路24的时钟信号，并根据时钟信号的时序和测试信号的时序确定存在故障的gip电路24的级数。
46.本实施例中的电流输出接口13通过栅极/数据电路板(gate/data pcb)与显示面板的每级gip电路24的输出端连接，使得电流计量器12通过电流输出接口13可以获取级联的各个gip电路24的输出的测试信号，该测试信号为输出电流，电流值的大小可直观辨别gip电路24的输出是否发生异常，从而对gip电路24的故障进行判断。需要注意的是，本实施例中，电流输出接口13可包括与每级gip电路24对应的接口端子，从而分别对每级gip电路24输出的测试信号进行获取，当然，为了进一步节省检测装置的接口的设置，本实施例还可以仅通过一个接口端子连接所有gip电路24的输出端，因为各级gip电路24逐个输出测试信号至检测装置，gip电路24之间输出的测试信号并无交叠区域，可根据不同的时间段区分不同的gip电路24输出的测试信号，不会影响测试的精准性。
47.电流处理器11可从电流计量器12获取测试过程中每级gip电路24输出的测试信号，并将测量获取的测试信号与gip电路24输出电流的稳定阈值范围进行比较，若在某一时间段测试信号超出上述稳定阈值范围，则说明多级gip电路24存在故障，对上述时间段进行追溯，可锁定多级gip电路24存在故障的一级或多级gip电路24。可选的，测试信号超出稳定阈值范围可包括测试信号超出稳定阈值范围上限的情况，还可以包括测试信号低于稳定阈值范围下限的情况。
48.本实施例中，为了快速锁定存在故障的gip电路24，电流处理器11还用于获取测试过程中输入至各个gip电路的时钟信号，在检测到测试信号超出稳定阈值时，时钟信号与时序的匹配能够判断不良gip电路的纵坐标，便于后续修复或对故障的gip电路24的显示面板进行淘汰，提高后续显示装置的品质。
49.本实施例提供的显示面板的检测装置，通过电流计量器获取显示面板每级gip电路输出的测试信号(电流信号)，若gip电路存在异物或断路等故障，则该gip电路输出的测试信号会存在较大波动，通过电流处理器判断测试信号的幅值是否超出稳定阈值范围，若超出则判定gip电路存在故障，该故障判断方法通过电流计量器获得精准数据，不需要人眼进行检测，提高gip电路的故障检出率，降低废片率，并有效节省人力。此外，电流处理器还用于将输入至各个gip电路时钟信号与测试信号进行时序对比，从而快速锁定多级gip电路中存在故障的一级或多级gip电路，进一步提高gip电路的故障检测效率。
50.继续参考图3，可选的，显示面板的检测装置还可以包括：显示器14；显示器14与电流处理器11电连接，用于对时钟信号和测试信号在同一时间轴进行显示。为了便于检测人员对测试信号的故障进行直观获取和事后复盘，本实施例通过显示器14对电流处理器11输出的时钟信号和测试信号在同一时间轴进行显示，具体的，如图4所示，图4为本实用新型第一实施例提供的一种测试信号和时钟信号的时序图，可形成以横坐标为时间，纵坐标为测试信号的电流值的波形图，以及横坐标为时间，纵坐标为时钟信号的电压值的波形图，则可将时钟信号和测试信号在时间轴上进行统一，需要注意的是，图4中为了便于观看，将每个gip电路24输出的测试信号集中在一个波形图中进行展示，便于发现将测试信号与时钟信号进行时序对比。显示器14包括显示界面141，在显示界面141上可同时显示时钟信号的波形图、测试信号的波形图以及在gip电路没有故障时标准测试信号的波形图。本实施例将电流计量器实际获取的测试信号与标准测试信号放入同一时间轴进行对比，便于用户获取故障情况。上述显示界面141实现了gip电路故障的可视化，便于用户根据波形图对故障种类进行推测，例如，可推测其为gip电路线路断路情况，还是gip电路存在异物。
51.可选的，显示器14中的时间轴可以分为多个时间段；在显示面板的一个帧扫描周期内，第i个时间段为第i级gip电路输出电流开始至第i+1级gip电路输出电流开始之间的时间；1≤i＜n；n为显示面板的总行数；i，n均为整数。
52.本实施例将对显示面板的测试过程的时间轴分为多个时间段，例如图4所示的时间段01至时间段09，具体的，测试过程包括至少一帧扫描周期，在每一帧扫描周期内，第i个时间段为第i级gip电路输出电流开始至第i+1级gip电路输出电流开始之间的时间，也即，每帧扫描周期除以显示面板总行数n的时间，本实施例中n的取值可以为3000～4000，本实施例对其具体取值不进行特殊限定。若当前时间段测试信号出现故障，则当前时间段输出电流的gip电路即为存在故障的gip电路，从而快速识别故障的gip电路的纵坐标，如图4所示，在时间段02时，测试信号出现较大波动，波动超过稳定阈值范围的几倍甚至十几倍，则判断时间段02对应第2级gip电路存在故障。本实施例中测试信号的稳定阈值范围可根据实际电路和用户对稳定性的需求进行设定，本实施例对此不进行特殊限定。
53.如图5所示，图5为本实用新型第一实施例提供的另一种测试信号和时钟信号的时序图，利用时钟信号电压值与时间的匹配关系来判断不良gip电路的纵坐标(行数)位置，本实施例在对时钟信号和测试信号进行对比时，可每三个时间段周期性进行判断，例如，时间段01、时间段02和时间段03作为一组，依次判断时间段01、时间段02和时间段03中的gip故障检测和匹配。图5中示出了时间段97、时间段98和时间段99作为一组的故障匹配过程，图中不良发生的位置位于时间段98内，则判断第98级gip电路存在不良，本实施例中能够精准获取存在故障的gip电路的级数，进一步提高点灯检测的检出效率。
54.图6为本实用新型第二实施例提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图，可选的，显示面板的检测装置还可以包括：中心处理器15和点灯测试单元16；中心处理器15与点灯测试单元16电连接，用于控制点灯测试单元16发送点灯信号至各级gip电路；点灯信号至少包括时钟信号、第一电平信号和第二电平信号；中心处理器15与电流处理器11电连接，用于发送时钟信号至电流处理器11。
55.本实施中的检测装置还可以集成有点灯测试功能，具体的，包括中心处理器15和点灯测试单元16，点灯测试单元16在中心处理器15的控制下发送点灯信号至显示面板的各级gip电路，使得gip电路能够输出测试信号至对应栅线。继续参考图2，可知点灯信号至少包括时钟信号、第一电平信号vgh、第二电平信号vgl，具体的时钟信号可以包括第一时钟信号ck和第二时钟信号xck，本实施例中，与测试信号进行时序匹配的时钟信号可以为第一时钟信号ck，也可以为第二时钟信号xck，本实施例对此不进行特殊限定。具体的，如图7所示，图7为本实用新型第二实施例提供的一种显示面板的gip电路的结构示意图，gip电路包括第一晶体管t1、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4和第五晶体管t5。第一时钟信号线xck连接第一晶体管t1的栅极和第三晶体管t3的栅极，第二时钟信号线ck连接第二晶体管t2的源极。第一电平信号vgh连接第四晶体管t4的源极和第五晶体管t5的源极，第二电平信号vgl连接第三晶体管t3的源极。一般的，显示面板中包括多级gip电路，第i级gip电路的第一晶体管t1的源极连接一输入信号线sin(i)，为第n级电路的输入信号。第n级gip电路的第二晶体管t2的漏极连接第n级电路的输出信号线，并且，第n级gip电路的输出信号作为第n+1级gip电路的输入信号sin(i+1)
56.中心处理器15还用于将时钟信号至电流处理器11，使得电流处理器11根据时钟信号的时序和测试信号的时序确定存在故障的gip电路的级数。
57.继续参考图6，可选的，中心处理器15还用于发送测试开始信号至电流处理器11，以使电流处理器11控制电流计量器12获取测试信号；电流处理器11还用于在确定存在故障的gip电路的级数后，发送测试结束信号至中心处理器15。显示面板的检测装置包括用于控制各个设备的中心处理器15，中心处理器15能够通过电流处理器11控制电流计量器12，从而控制点灯测试的开始，并能够从电流处理器11获得测试结束信号，获取点灯测试的变化状态。
58.继续参考图6，可选的，电流输出接口13可以包括：显示电流输出端口131和触控电流输出端口132；电流计量器12用于通过显示电流输出端口131与显示面板的每级显示gip电路的输出端连接，用于获取显示测试过程中每级显示gip电路输出的显示测试信号；电流计量器12还用于通过触控电流输出端口132与显示面板的每级触控gip电路的输出端连接，用于获取触控测试过程中每级触控gip电路输出的触控测试信号。
59.本实施例中的显示面板还可以为集成有触控功能的显示面板，则在每帧扫描周期中，需要分别对像素和触控电极进行扫描，显示面板中的gip电路包括用于进行画面显示的显示gip电路，还包括用于进行触控扫描的触控gip电路。相对应的，本实施例将与gip电路的输出端连接的电流输出接口13分为显示电流输出端口131和触控电流输出端口132，显示电流输出端口131用于获取每级显示gip电路输出的显示测试信号，触控电流输出端口132用于获取每级触控gip电路输出的触控测试信号，从而使得电流计量器12能够分别对显示测试信号和触控测试信号分别进行测试，避免上述两种测试信号互相干扰，从而精准地对
显示gip电路和触控gip电路的故障进行检测。
60.优选的，电流处理器具体用于在显示测试信号的幅值超出第一稳定阈值范围时，判断显示gip电路存在故障；电流处理器还用于在触控测试信号的幅值超出第二稳定阈值范围时，判断触控gip电路存在故障；电流处理器还用于获取显示测试过程中输入至各个显示gip电路的扫描时钟，并根据扫描时钟的时序和显示测试信号的时序确定存在故障的显示gip电路的级数；电流处理器还用于获取触控测试过程中输入至各个触控gip电路的感测时钟，并根据感测时钟的时序和触控测试信号的时序确定存在故障的触控gip电路的级数。
61.在显示面板中的gip电路包括显示gip电路和触控gip电路时，电流处理器还用于在显示测试信号的幅值超出第一稳定阈值范围时确定显示gip电路存在故障，并通过扫描时钟的时序和显示测试信号的时序确定存在故障的显示gip电路的级数，同理，电流处理器还用于在在触控测试信号的幅值超出第二稳定阈值范围时确定触控gip电路存在故障，并通过感测时钟的时序和触控测试信号的时序确定存在故障的触控gip电路的级数，以快速锁定存在故障的显示gip电路和触控gip电路的纵坐标，提高检出精准性。
62.本实用新型还提供一种显示面板，可通过本实用新型任意实施例提供的显示面板的检测装置进行gip电路的故障检测，继续参考图2，显示面板包括：显示区aa和非显示区na；
63.非显示区na设置有多级gip电路24；gip电路24与对应栅线21连接，用于输出扫描信号至栅线21；
64.非显示区na还设置有多个测试焊盘25；测试焊盘25与gip电路24对应电连接，用于将测试过程中对应gip电路24输出的测试信号输出至显示面板的检测装置的电流输出接口。
65.本实施例中显示面板包括多个测试焊盘25，测试焊盘25与gip电路24对应电连接，如图2所示，gip电路24的输出端连接至对应的栅线21，本实施例可以通过栅线21连接对应的gip电路24的输出端，从而获取对应gip电路24输出的测试信号，当然，测试焊盘25还可以直接与gip电路24的输出端电连接，本实施例对此不进行限定。显示面板的检测装置通过栅极/数据电路板(gate/data pcb)与显示面板的测试焊盘25连接，从而使得电流计量器通过电流输出接口可以获取级联的各个gip电路24的输出的测试信号。
66.本实施例提供的显示面板，通过测试焊盘与每级gip电路的输出端电连接，用于将gip电路输出的测试信号输出至显示面板的检测装置的电流输出接口，便于显示面板的检测装置通过电流计量器获取显示面板每级gip电路输出的测试信号(电流信号)，若gip电路存在异物或断路等故障，则该gip电路输出的测试信号会存在较大波动，通过电流处理器判断测试信号的幅值是否超出稳定阈值范围，若超出则判定gip电路存在故障，该故障判断方法通过电流计量器获得精准数据，不需要人眼进行检测，提高gip电路的故障检出率，降低废片率，并有效节省人力。此外，电流处理器还用于将输入至各个gip电路时钟信号与测试信号进行时序对比，从而快速锁定多级gip电路中存在故障的一级或多级gip电路，进一步提高gip电路的故障检测效率。
67.图8为本实用新型第三实施例提供的一种显示面板的结构示意图，可选的，显示面板可以包括：第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b；第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b分为位于显示区aa相对两侧；测试焊盘25包括第一测试焊盘组25a和第二测
试焊盘组25b；第一测试焊盘组25a与第一多级gip电路24a电连接，第二测试焊盘组25b与第二多级gip电路24b电连接；第一测试焊盘组25a和第二测试焊盘组25b分别获取点灯信号；点灯信号至少包括时钟信号、第一电平信号和第二电平信号。可选的，第一测试焊盘组25a和第二测试焊盘组25b可同时获取点灯信号；或者，第一测试焊盘组25a和第二测试焊盘25b组依次获取点灯信号。
68.本实施例中显示区aa相对两侧均可设置gip电路24，则同一栅线21两侧分别连接有gip电路24，用于从栅线21两端为栅线输入测试信号，本实施例可同时驱动显示区aa两侧的第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b，则栅线的两端同时获取测试信号，从而同时对栅线两端的gip电路24同时进行点灯测试，该测试方法所占用测试时间较短，有效提高点灯测试效率。此外，本实施例还可以逐次驱动显示区aa两侧的第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b，例如，可以先检测第一多级gip电路24a，后检测第二多级gip电路24b，也可以先检测第二多级gip电路24b，后检测第一多级gip电路24a，该检测方法所占用测试时间稍长，但是在检测gip电路24时，对栅线21两端的gip电路24分离检测，有效避免当栅线21两端连接的两个gip电路24中一个存在故障，另一个无故障时，对故障的gip电路24造成漏检的情况，有效提高gip电路24的检测精准性，并有效筛选故障gip电路。
69.具体的，测试焊盘25包括第一测试焊盘组25a和第二测试焊盘组25b，点灯信号通过第一测试焊盘组25a传输至第一多级gip电路24a，点灯信号通过第二测试焊盘组25b传输至第二多级gip电路24b，则显示面板的检测装置可设置时序相同，或者时序不同的点灯信号，以控制第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b同时驱动，或者依次被驱动。
70.可选的，在显示面板将上述测试信号发送至显示面板的检测装置时，为有效对第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b进行测试信号的检测，可通过不同的测试焊盘将信号传输至不同的电流输出接口，便于分别对第一多级gip电路24a和第二多级gip电路24b进行测试信号的分析和判断，以精准获取故障的gip电路。示例性的，测试焊盘25还可以包括第三测试焊盘组25c和第四测试焊盘组25d，第三测试焊盘组25c与第一多级gip电路24a中各个gip电路24的输出端连接，用于输出第一多级gip电路24a的测试信号，第四测试焊盘组25d与第二多级gip电路24b中各个gip电路24的输出端连接，用于输出第二多级gip电路24b的测试信号。
71.可选的，显示面板可以为有机发光显示面板、液晶显示面板、等离子体显示面板、真空荧光显示面板以及其他类型的显示装置，具体类型在此不做限制。
72.图9为本实用新型第四实施例提供的一种显示面板的结构示意图，可选的，显示面板可以为触控显示面板；触控显示面板包括多级显示gip电路24c和多级触控gip电路24d；测试焊盘包括显示测试焊盘组25e和触控测试焊盘组25f；显示测试焊盘组25e与多级显示gip电路24c电连接，所述触控测试焊盘组25f与多级触控gip电路24d电连接。
73.本实施例中的显示面板还可以为集成有触控功能的显示面板，则在每帧扫描周期中，需要分别对像素和触控电极进行扫描，显示面板中的gip电路包括用于进行画面显示的显示gip电路，还包括用于进行触控扫描的触控gip电路。相对应的，测试焊盘包括显示测试焊盘组25e和触控测试焊盘组25f，显示测试焊盘组25e将多级显示gip电路24c输出的显示测试信号发送至检测装置，触控测试焊盘组25f将多级触控gip电路24d输出的触控测试信号发送至检测装置，从而使得检测装置能够分别对显示测试信号和触控测试信号分别进行
测试，避免上述两种测试信号互相干扰，从而精准地对显示gip电路和触控gip电路的故障进行检测。
74.尽管上面已经参考附图描述了本实用新型的实施例，但是本实用新型不限于以上实施例，而是可以以各种形式制造，并且本领域技术人员将理解，在不改变本实用新型的技术精神或基本特征的情况下，可以以其他特定形式来实施本实用新型。因此，应该理解，上述实施例在所有方面都是示例性的而不是限制性的。