一种短路点分析方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种短路点分析方法。
【背景技术】
[0002]随着显示技术的不断发展，薄膜晶体管液晶显示屏(英文全称:ThinFilmTransistor Liquid Crystal Display，英文缩写:TFT-1XD)的应用已变的十分普遍，为了满足TFT-1XD的市场需求，在TFT-1XD的制造过程中，提高TFT-1XD的制造效率非常重要。
[0003]目前在TFT-LCD制造过程中，不可避免的显示区内会产生短路的情况，现有技术中，主要采用两种方法进行短路点分析。一种方法是通过拆片后利用显微镜进行巡线检查，目视寻找短路点。但是此方法对于轻微短路的短路点检查时准确度差，效率低。另一种方法是通过拆片后使用仪器逐段测量栅线或数据线的电阻，逐段利用激光切断/修复相应的数据线，根据电阻值的变化确定短路点，但是此方法过程复杂，效率低。因此，现有技术中的两种短路点分析方法在查找短路点时效率低，尤其目前TFT-LCD向大尺寸和高分辨率方向发展，所以现有的电路点分析方法在查找短路点时显得更加的低效。
【发明内容】
[0004]本发明的实施例提供一种短路点分析方法，用于解决现有技术中的短路点分析方法效率低的问题。
[0005]为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案:
[0006]提供一种短路点分析方法，用于查找显示面板的信号线上的短路点，其中，信号线包括:栅线和数据线，显示面板包括多个矩阵排列的像素单元，方法包括:
[0007]使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示;预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；
[0008]根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线；
[0009]将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号；其中，当短路点所在的信号线为栅线时，向第二信号线段输入栅极驱动信号；当短路点所在的信号线为数据线时，向第二信号线段输入源极驱动信号；
[0010]根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。
[0011]本发明实施例提供一种短路点分析方法，首先显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值;并根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线;然后将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号；进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。即本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的信号线，然后将短路点所在的信号线切割为两段，并为第二信号线段输入驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
【附图说明】
[0012]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本发明实施例提供的短路点分析方法的步骤流程图一；
[0014]图2为本发明实施例提供的短路点分析方法的步骤流程图二；
[0015]图3为本发明实施例提供的短路点分析的示意图一；
[0016]图4为本发明实施例提供的短路点分析的示意图二；
[0017]图5为本发明实施例提供的短路点分析方法的步骤流程图三；
[0018]图6为本发明实施例提供的短路点分析的示意图三；
[0019]图7为本发明实施例提供的短路点分析的示意图四。
【具体实施方式】
[0020]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0021]为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不是在对数量和执行次序进行限定。
[0022]本发明的发明原理为:本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的信号线，然后将短路点所在的信号线切割为两段，并为第二信号线段输入驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
[0023]实施例一
[0024]本发明实施例提供一种短路点分析方法，用于查找显示面板的信号线上的短路点，信号线包括:栅线和数据线，显示面板包括多个矩阵排列的像素单元，参照图1所示，该方法包括如下步骤:
[0025]S11、使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示。其中，预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值。
[0026]需要说明的是，当显示面板中存在短路点时，短路点所在信号线对应的像素单元无显示信号输入，所以短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值进行显示。为了查找显示面板的信号线上的短路点，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示，其中，预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值，此时，由于短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值进行显示，而其他像素单元按照预设灰阶值进行显示，所以通过观察显示面板，可以直观的由显示面板中像素单元的亮暗对比判断出显示异常的像素单元，从而根据显示异常的像素单元确定出与显示异常的像素单元对应的短路点所在的信号线。
[0027]进一步的，当显示面板为高级超维场转换技术(英文全称:Advanced SuperDimens1n Switch，英文缩写:ADS)显示面板时，预设灰阶值为255;当显示面板为扭曲向列型(英文全称:Twisted Nematic，英文缩写:TN)显示面板时，预设灰阶值为O。
[0028]需要说明的是，当显示面板为ADS显示面板时，像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值为0，为了查找显示面板的信号线上的短路点，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值255进行显示，这样显示面板上按照预设灰阶值255显示的像素单元最亮，由于短路点所在的信号线对应的像素单元无显示信号输入，因此短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值255进行显示，而是按照灰阶值O进行显示，即