一种验电器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种验电用具，具体是一种验电器。
【背景技术】
[0002]当导体处于静电平衡时，导体上的电荷分布有以下两个特点:(1)导体内部没有电荷，电荷只分布在导体的表面；(2)在导体的外表面，越尖锐的部位电荷密度越大，凹陷的部位几乎没有电荷。在中学物理教学中，一般通过法拉第圆筒实验演示和验证电荷只分布在导体的表面这一物理现象，实验装置如图1所示。实验过程中，首先使验电器B和法拉第圆筒C带电，验电器B的锡箔张开；然后将金属小球d与法拉第圆筒C的外表面接触，再将金属小球d与验电器A的金属球接触，重复上述步骤若干次后，可以看到验电器A的锡箔张开，而验电器B的锡箔张开的角度减小，这说明金属小球d将法拉第圆筒C的部分电荷转移至验电器A，从而证明法拉第圆筒C的表面带有电荷。同样地，若先将金属小球d与法拉第圆筒C的内部接触，再与验电器A的金属球接触，不论重复多少次，验电器A的锡箔不会张开，验电器B的锡箔的张开角度也不减小，表明金属小球d并未将法拉第圆筒C的电荷转移给验电器A，从而证明法拉第圆筒C的内部不带电。
[0003]但是现有的验电器存在一定的不足:一、体积较大，运输和搬动不便；二、锡箔较薄，由于搬动、振动、使用不当等原因导致锡箔纸弯曲变形，不能很好地显示验电器的偏转及偏转角度大小，影响使用，为此，需将变形的锡箔从验电器中取出并整形，使其变平直，操作不便；三、使用时，受视觉角度和观察距离的限制，观察者难以直观地看到锡箔的张开情况，使用效果不佳。
【发明内容】
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是:针对现有技术的不足，提供一种结构简单、使用方便、灵活的验电器。
[0005]本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种验电器，包括第一导电片和第二导电片，所述的第二导电片通过第一导线挂设在所述的第一导电片的底部，所述的第二导电片可绕所述的第一导电片的底部自由转动，所述的第一导电片上固定有磁铁，所述的第二导电片的一侧通过第二导线挂设有金属箔，所述的金属箔可绕所述的第二导电片自由转动。
[0006]本实用新型验电器用于导体带电情况的检测时，若待验电的导体能被磁体吸引，可直接通过第一导电片上的磁铁将验电器固定在导体上；若待验电的导体不能被磁体吸弓丨，可另备一块磁铁，通过内外两块磁铁相互吸引定位验电器，使用方便、灵活。此外，由于第二导电片可绕第一导电片的底部自由转动，这样无论待验电的导体的内、外表面为平面还是弧面，验电片吸附固定后，第二导电片能够始终处于自然下垂状态，可确保金属箔的顺利张开。
[0007]应用于法拉第圆筒实验时，应准备两件本实用新型验电器，直接在带电的圆筒内、外表面各吸附一件验电器，可以看到圆筒内验电器上的金属箔不张开，圆筒外验电器上的金属箔张开，从而证明圆筒内部没有电荷，电荷只分布在圆筒的表面。使用本实用新型验电器用于法拉第圆筒实验，可省去用金属小球转移电荷的步骤，使实验直接、高效。
[0008]所述的金属箔为筒状，所述的金属箔的靠近所述的第二导电片的一面为平面。筒状的金属箔抗弯曲、抗变形性能较好，可保持金属箔表面的平整性，同时，筒状的金属箔的可见度较好，能够提高验电器使用的可靠性。筒状的金属箔重量轻，对验电器功能的影响可忽略不计。
[0009]所述的第二导线的两端固定在所述的第二导电片上，所述的第二导线穿过所述的金属箔的顶部，将所述的金属箔挂设在所述的第二导电片上。
[0010]所述的第一导电片和所述的第二导电片均为铜片或铝片，所述的金属箔为锡箔或铝箔。除铜片、铝片外，第一导电片和第二导电片也可以由其他导电性较好的导电片制成；除锡箔、铝箔外，金属箔也可以由其他导电性较好的金属薄片制成。
[0011 ] 与现有技术相比，本实用新型的优点在于:本实用新型公开的验电器，包括第一导电片和第二导电片，第二导电片通过第一导线挂设在第一导电片的底部，第二导电片可绕第一导电片的底部自由转动，第一导电片上固定有磁铁，第二导电片的一侧通过第二导线挂设有金属箔，金属箔可绕第二导电片自由转动。本实用新型公开的验电器结构简单、小巧，成本低，使用方便、灵活，可用于导体带电情况的检测或法拉第圆筒实验以及其他需验电的场合。
【附图说明】
[0012]图1为现有的法拉第圆筒实验装置的示意图；
[0013]图2为实施例验电器的外观图；
[0014]图3为实施例验电器的锡箔打开时的状态图；
[0015]图4为实施例验电器直接应用于法拉第圆筒时的示意图。
【具体实施方式】
[0016]以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。
[0017]如图所示，实施例的验电器，包括第一铜片I和第二铜片2，第二铜片2通过第一导线31挂设在第一铜片I的底部，第二铜片2可绕第一铜片I的底部自由转动，第一铜片I上固定有磁铁4，第二铜片2的一侧通过第二导线32挂设有方筒状的锡箔5，第二导线32的两端固定在第二铜片2上，第二导线32的穿过锡箔5的顶部，将锡箔5挂设在第二铜片2上，锡箔5的靠近第二铜片2的一面为平面，锡箔5可绕第二铜片2自由转动。
[0018]上述验电器可用于导体带电情况的检测或法拉第圆筒实验以及其他需验电的场入口 ο
[0019]以法拉第圆筒实验为例，应用于法拉第圆筒实验时，准备两件上述验电器，直接在带电的圆筒6内、外表面各吸附一件验电器，如图4所示，可以看到圆筒6内的验电器7上的锡箔不张开，圆筒6外的验电器8上的锡箔张开，从而证明圆筒6内部没有电荷，电荷只分布在圆筒6的表面。
【主权项】
1.一种验电器，其特征在于包括第一导电片和第二导电片，所述的第二导电片通过第一导线挂设在所述的第一导电片的底部，所述的第二导电片可绕所述的第一导电片的底部自由转动，所述的第一导电片上固定有磁铁，所述的第二导电片的一侧通过第二导线挂设有金属箔，所述的金属箔可绕所述的第二导电片自由转动。
2.根据权利要求1所述的一种验电器，其特征在于所述的金属箔为筒状，所述的金属箔的靠近所述的第二导电片的一面为平面。
3.根据权利要求2所述的一种验电器，其特征在于所述的第二导线的两端固定在所述的第二导电片上，所述的第二导线穿过所述的金属箔的顶部，将所述的金属箔挂设在所述的第二导电片上。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的一种验电器，其特征在于所述的第一导电片和所述的第二导电片均为铜片或铝片，所述的金属箔为锡箔或铝箔。
【专利摘要】本实用新型公开了一种验电器，包括第一导电片和第二导电片，第二导电片通过第一导线挂设在第一导电片的底部，第二导电片可绕第一导电片的底部自由转动，第一导电片上固定有磁铁，第二导电片的一侧通过第二导线挂设有金属箔，金属箔可绕第二导电片自由转动。本实用新型公开的验电器结构简单、小巧，成本低，使用方便、灵活，可用于导体带电情况的检测或法拉第圆筒实验以及其他需验电的场合。
【IPC分类】G09B23-18
【公开号】CN204463623
【申请号】CN201520125776
【发明人】丁用才
【申请人】丁用才
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年3月4日