基于面阵CCD的自动罗维朋比色计的光学系统的制作方法

本发明属于物质检测设备技术领域，具体讲就是涉及基于面阵ccd的自动罗维朋比色计的光学系统。

背景技术：

罗维朋比色计法是常见的油脂色泽检测方法，该方法是用标准颜色玻璃片与油脂来进行对比，色泽用所匹配标准颜色玻璃片上标明的数字来表示。

随着社会经济的发展，现有的罗维朋比色计越来越满足不了市场需求，目前，市场上存在的罗维朋比色计大都是纯光学仪器，采用目视瞄准比较颜色，操作繁琐，操作强度大，测量一致性差。虽然也存在“自动罗维朋比色计”，但是目前市场上的“自动罗维朋比色计”并不能完全代替纯光学目视罗维朋比色计的所有功能，它只把纯光学目视罗维朋比色计的部分功能实现数字化测量即只能测量透射光，不能测量反射光。另外，罗维朋比色计只能测量物体颜色，不能分析样品的成分和含量，进一步限制了罗维朋比色计的应用范围。

技术实现要素：

本发明的目的就是针对上述现有的自动罗维朋比色计只能测量物体颜色，不能分析样品的成分和含量，应用范围有限的技术缺陷，提供一种基于面阵ccd的自动罗维朋比色计的光学系统，可实现物质的颜色和光度比色测量，具有视频拍照功能，可观察被测物质内的气泡或杂质等缺陷，扩大了仪器的应用范围。

技术方案

为了实现上述技术目的，本发明设计了基于面阵ccd的自动罗维朋比色计的光学系统，其特征在于：它包括led光源，所述led光源以光轴45°角方向的出射光路上设有磨砂高反射率白板，磨砂高反射率白板的出射光路上设有聚光透镜，聚光透镜的出射光经过比色皿或者直接分成两条光路，一条光路经过分光元件进行分光，然后通过成像透镜聚焦在面阵ccd的部分感光面上，另一条光路直接通过成像透镜聚焦在面阵ccd的另一部分感光面上；

进一步，所述分光元件为三角棱镜或光栅。

有益效果

本发明提供的一种基于面阵ccd的自动罗维朋比色计的光学系统，可实现目视罗维朋比色计的功能，并且还增加了光电比色计的功能，具有仪器结构简单，可靠性高，成本低廉的优点。这种仪器几乎不增加制造成本，就可实现物质的颜色和光度比色测量。具有视频拍照，可观察被测物质内的气泡或杂质等缺陷，从而保证测量结果的一致性、正确性。本发明广泛应用于透明产品的测量，如测量食用油(各种油品)、脂类、树脂、糖浆、化学品等有色液体样品，也可测量固体、粉状、糊状反射样品。除此之外,对许多能产生具有颜色反应的一些物质,也能用该仪器作定性与定量的分析,如试剂分析、水质分析等。

附图说明

附图1是本发明实施例1的结构示意图。

附图2是本发明实施例2的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明做详细说明。

实施例

如附图1所示，在测量透射物体时，仪器led光源1发出的白光以光轴45°角方向照射磨砂高反射率白板2后，变成均匀漫反射白光，通过聚光透镜3变成平行光，直接照射比色皿4上，透过比色皿4中的被透射测量的样品5；经过样品吸收的光线，被分成两部分：一部分经过分光元件6三角棱镜或光栅进行分光，再通过成像透镜7聚焦在面阵ccd8的部分感光面上，通过数据采集系统，得到单色光的吸收数据，用于实现光电比色计的测量；另一部分光通过成像透镜7聚焦在面阵ccd8的另一部分感光面上，通过数据采集系统，得到rgb(红绿蓝三原色)信号，用于物体颜色的测量。

实施例2

如附图2所示，在反射测量物体时，仪器led光源1发出的白光以光轴45°角方向照射紧贴在高反射率白板2前面被测量的反射物体9后，被不透明反射物体9吸收的漫反射光，通过聚光透镜3变成平行光，被分成两部分：一部分经过分光元件6三角棱镜或光栅进行分光，再通过成像透镜7聚焦在面阵ccd8的部分感光面上，通过数据采集系统，得到单色光的吸收数据，用于实现光电比色计的测量；另一部分光通过成像透镜7聚焦在面阵ccd8的另一部分感光面上，通过数据采集系统，得到rgb(红绿蓝三原色)信号，用于物体表面颜色的测量。

本发明完全实现了目视罗维朋比色计的所有功能，即可以实现透明物质的透射测量，也可以实现非透明物质的反射测量。能实现自动罗维朋比色计的小型化，具有结构简单，可靠性高，成本低廉，寿命长的优点。同时结合比色计法，使自动罗维朋比色计具有分光光度计的功能，可用于物质的定量或定性分析，进一步扩大了罗维朋比色计的应用领域。

技术特征：

技术总结
本发明公开了基于面阵CCD的自动罗维朋比色计的光学系统，其特征在于：它包括LED光源，所述LED光源以光轴45°角方向的出射光路上设有磨砂高反射率白板，磨砂高反射率白板的出射光路上设有聚光透镜，聚光透镜的出射光经过比色皿或者直接分成两条光路，一条光路经过分光元件进行分光，然后通过成像透镜聚焦在面阵CCD的部分感光面上，另一条光路直接通过成像透镜聚焦在面阵CCD的另一部分感光面上；该技术实现物质的颜色和光度比色测量，具有视频拍照功能，可观察被测物质内的气泡或杂质等缺陷，扩大了仪器的应用范围。

技术研发人员：孙流星
受保护的技术使用者：上海仪电物理光学仪器有限公司
技术研发日：2017.06.14
技术公布日：2017.09.01