一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片的制作方法
【专利摘要】一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片，由片状薄片和凹槽构成；凹槽可以为进样薄片表面上方凸起一个凹槽形状；凹槽也可以为进样薄片表面下方深陷加工一个凹槽形状；还可以为进样薄片加工一个通孔，然后在通孔一端使用一种胶粘在通孔一侧，另一侧形成一个深陷的凹槽形状。凹槽底部加工成非光滑表面，可以满足液体样品平铺于取样薄片凹槽内，与热解析进样器联用。此组件用做离子迁移谱进样器进样组件，适用于固体或液体样品的进样分析。
【专利说明】一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型应用于离子迁移谱热解析进样器进样组件，适用于固体或液体样品的进样分析。
【背景技术】
[0002]离子迁移谱(1n Mobility Spectrometry, IMS)技术20世纪70年代出现的一种分离检测技术，与传统的质谱、色谱仪器相比，具有结构简单，灵敏度高，分析速度快，结果可靠的特点。
[0003]热解析进样器是用于多功能离子迁移谱快速检测仪中的必备部件，它的性能好坏，直接决定了进样效率和离子迁移谱的整体性能。其加热都是通过加热棒温控加热，加热温度属于恒温控制模式，加热时间依据加热棒功率不同有差异。
[0004]用于热解析进样器的进样薄片目前没有商品化仪器，各研究单位都是根据不同仪器的使用要求，不断设计改进新的进样薄片。例如专利申请号ZL201220716604.2所发明的一种用于热解析进样器的进样片；当使用热解析进样片分析粉末状颗粒或是液体样品时，原有的平面采样片会造成样品残留，污染进样器。
实用新型内容
[0005]本实用新型设计了一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片；目的是解决原有的平面进样片当样品涂于表面时，很容易污染进样器，造成检测系统样品残留的问题。
[0006]一种用于离子迁移谱热解析进样器的进样薄片包括一片状的薄片，于薄片表面设有用于盛放样品的凹槽。
[0007]所述薄片为可耐高温500°C的耐高温聚四氟乙烯材料进样薄片。
[0008]薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于薄片一侧表面设有环形凸起，由环形凸起与薄片表面围成的中心下凹的凹槽形状；
[0009]或薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于薄片一侧表面设有向下凹陷，于薄片底部形成一个凹槽形状；
[0010]或薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于一片进样薄片表面加工成一个通孔，然后在通孔处的进样薄片一侧表面粘附上另一个进样薄片，这样由通孔和另一个进样薄片形成一个进样凹槽结构。
[0011]所述薄片凹槽与热源进样器热解析位置相匹配，是以0.5-1.2cm为半径、深度为
0.5-3mm的凹槽圆孔。
[0012]所述两张进样薄片粘合在一起的复合进样薄片，其中加工带有通孔结构的进样薄片选择1-3_厚的四氟板；另一张选择聚四氟乙烯高温布，其厚度小于0.2mm ;这样有利于进样口的密封。复合式进样薄片靠胶水粘连在一起。胶水是耐高温的硅橡胶胶水，耐温3000C ;并且凹槽底部通孔区域，不必涂胶水。
[0013]进样薄片凹槽底部加工成非光滑表面有利于样品平铺。【专利附图】
【附图说明】
[0014]下面结合附图进一步详细描述。
[0015]图1 (I)为一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(上凸)结构示意图；
[0016]图1 (2)为一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(上凸)结构沿中间轴线切割刨面示意图；
[0017]图2 (I)为一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(下凹)结构示意图；
[0018]图2 (2)为一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(下凹)结构沿中间轴线切割刨面示意图；
[0019]图3为一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(复合式)结构示意图；
[0020]I为进样薄片表面加工为一个凹槽形状；2为进样薄片表面下端加工为一个凹槽形状；3为进样薄片加工一个通孔，一端粘进样薄片，在另一端形成一个凹槽。
【具体实施方式】
[0021]一种用于离子迁移谱热解析进样器的进样薄片，内含一个凹槽。凹槽内，可以盛放一定体积的液体或固体样品平铺于进样薄片的固定位置取样处。样品上表面不会接触正上方组件，同时增大了载气与样品表面的接触面积，进一步提高了采样效率。
[0022]实施例1
[0023]进样薄片为一片状的耐高温聚四氟乙烯材料薄片，于薄片表面加工有用于盛放样品的凹槽。薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于薄片一侧表面设有环形凸起，由环形凸起与薄片表面围成的中心下凹的凹槽形状；凹槽内可以平铺盛放一定体积的液体或固体样品。
[0024]实施例2
[0025]进样薄片为一片状的耐高温聚四氟乙烯材料薄片，薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于薄片一侧表面加工有向下凹陷结构，于薄片底部形成一个凹槽形状。
[0026]实施例3
[0027]复合式进样薄片结构是于一片进样薄片表面加工成一个通孔，然后在进样薄片一侧表面粘附上另一个进样薄片；这样由通孔和另一个进样薄片形成一个进样凹槽结构。进样薄片厚度小于3_，另一个进样薄片厚度建议小于0.08_。目的是可以最大容量的盛放样品。
【权利要求】
1.一种用于离子迁移谱热解析进样器的进样薄片，其特征在于:包括一片状的薄片，于薄片表面设有用于盛放样品的凹槽； 所述薄片为可耐高温500°c的耐高温聚四氟乙烯材料进样薄片； 薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于薄片一侧表面设有环形凸起，由环形凸起与薄片表面围成的中心下凹的凹槽形状； 或薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于薄片一侧表面设有向下凹陷，于薄片底部形成一个凹槽形状； 或薄片表面加工的盛放样品的凹槽结构是于一片进样薄片表面加工成一个通孔，然后在通孔处的进样薄片一侧表面粘附上另一个进样薄片，这样由通孔和另一个进样薄片形成一个进样凹槽结构。
2.根据权利要求1所述的进样薄片，其特征在于:凹槽与热源进样器热解析位置相匹配，是以0.5-1.2cm为半径、深度为0.5-3mm的凹槽圆孔。
3.根据权利要求1所述的进样薄片，其特征在于:两张进样薄片粘合在一起的复合进样薄片，其中加工带有通孔结构的进样薄片选择1-3_厚的四氟板；另一张选择聚四氟乙烯高温布，其厚度小于0.2mm ;这样有利于进样口的密封。
4.根据权利要求1所述的进样薄片，其特征在于:凹槽底部加工成非光滑表面有利于样品平铺。
【文档编号】H01J49/04GK203491212SQ201320577522
【公开日】2014年3月19日 申请日期:2013年9月17日 优先权日:2013年9月17日
【发明者】王新, 彭丽英, 渠团帅, 李京华, 李海洋 申请人:中国科学院大连化学物理研究所