一种光电耦合器测试用收料装置的制作方法

文档序号:26463168发布日期:2021-08-31 13:53阅读:35来源:国知局
一种光电耦合器测试用收料装置的制作方法

本申请涉及光电耦合器的领域,尤其是涉及一种光电耦合器测试用收料装置。



背景技术:

光电耦合器是以光为媒介传输电信号的一种光电转换器件,它由发光源和受光器两部分组成,把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内,彼此间用透明绝缘体隔离,发光源的引脚为输入端,受光器的引脚为输出端。

光电耦合器生产完成之后需对其进行击穿电压测试,在公告号为cn208224391u的中国专利公开了一种光电耦合器测试用收料装置,包括源表、控制模块、电压源和光耦安装模块,所述的光耦安装模块具有输入阳极端、输入阴极端、输出集电极端和输出发射极端。

参照图7,目前常用的光电耦合器测试装置包括机架1,机架1上设置有检测装置3,检测装置3的底部设置有出料口27,出料口27处放置有收料条10,收料条10用于对经检测之后的光电耦合器进行收料,当收料条10接满物料,需要人工更换收料条10以便对后续的光电耦合器进行接收。

针对上述中的相关技术,发明人认为存在有以下缺陷:每次收料条对光电耦合器进行收料后,均需要人工更换收料条以进行后续光电耦合器的接收,比较不方便。



技术实现要素:

为了改善每次收料条对光电耦合器进行收料后,均需要人工更换收料条以进行后续光电耦合器的接收,而人工更换收料条比较不方便的缺陷,本申请提供一种光电耦合器测试用收料装置。

本申请提供的一种光电耦合器测试用收料装置,采用如下的技术方案:

一种光电耦合器测试用收料装置,包括机架,所述机架上设置有摆放槽,所述摆放槽内堆叠有若干收料条,所述摆放槽靠近检测装置的一侧设置有进料口,所述进料口用于将经检测装置检测后的光电耦合器输送至摆放槽底部的收料条内,所述摆放槽底部的一侧设置有让位槽,所述机架还设置有顶出机构,所述顶出机构位于摆放槽远离让位槽的一侧,所述顶出机构用于将摆放槽底部的收料条推出让位槽并使上层的收料条下降到摆放槽底部。

通过采用上述技术方案,在机架上设置有摆放槽,所述摆放槽内堆叠有若干收料条,摆放槽底部的一侧设置有让位槽,由于机架还设置有顶出机构,当摆放槽底部的收料条进行收料之后,通过顶出机构将其推出让位槽并使上层的收料条下降到摆放槽底部以进行后续产品的接收,之后不断重复以上步骤即可实现对批量的收料条进行自动更换并收料,从而节省了人工更换收料条的成本。

优选的,所述机架上还设置有收料槽,所述收料槽位于让位槽远离摆放槽的一侧,所述收料槽用于收集经顶出机构推出让位槽之后的收料条。

通过采用上述技术方案,在机架上还设置有收料槽,通过收料槽收集经顶出机构推出让位槽之后的收料条,避免收料条从机架落下导致产品从收料条内落出。

优选的,所述机架上设置有第一限位杆和第二限位杆,所述第一限位杆的侧壁开设有第一插接槽,所述第一插接槽沿第一限位杆的长度方向开设在第一限位杆内,所述第二限位杆的侧壁开设有第二插接槽,所述第二插接槽沿第二限位杆的长度方向开设在第二限位杆内,所述第一插接槽与第二插接槽正对,所述第一插接槽与第二插接槽之间形成摆放槽。

通过采用上述技术方案,在机架上设置有第一限位杆和第二限位杆,第一限位杆的侧壁开设有第一插接槽,第二限位杆的侧壁开设有第二插接槽,通过在第一插接槽与第二插接槽之间形成摆放槽,可在摆放槽内堆叠若干收料条,并随时观察收料条内部的情况。

优选的,所述顶出机构包括第一驱动源、伸缩杆和推块,所述伸缩杆与第一驱动源驱动连接,所述推块与伸缩杆固定连接,所述顶出机构位于收料槽远离让位槽的一侧,所述推块朝向让位槽设置。

通过采用上述技术方案,由于顶出机构包括第一驱动源、伸缩杆和推块,伸缩杆与第一驱动源驱动连接,推块与伸缩杆固定连接,通过第一驱动源驱动伸缩杆带动推块对收料条进行抵触,从而实现将收料条顶出收料槽外侧。

优选的,所述顶出机构设置为两个,两个所述顶出机构均位于摆放槽远离让位槽的一侧,其一所述顶出机构靠近第一插接槽设置,另一所述顶出机构靠近第二插接槽设置。

通过采用上述技术方案,由于顶出机构设置为两个,其一顶出机构靠近第一插接槽设置,另一顶出机构靠近第二插接槽设置,从而使得两个顶出机构分别抵触收料条的两侧,有利于更加平稳的推出收料条。

优选的,所述机架在让位槽内滑移设置有第一限位块,所述第一限位块驱动连接有第二驱动源,所述第二驱动源电性连接有主控制器,所述主控制器与第一驱动源电性连接。

通过采用上述技术方案,通过在让位槽内滑移设置有第一限位块,第一限位块驱动连接有第二驱动源,第二驱动源电性连接有主控制器,主控制器与第一驱动源电性连接,通过主控制器同时控制第一驱动源和第二驱动源,当主控制器控制第二驱动源驱动将第一限位块往让位槽外侧收缩时,主控制器控制第一驱动源控制推块将摆放槽内的收料条推出,使得第一驱动源未驱动时第一限位块能够收料条限制在摆放槽内部,防止收料条从让位槽处滑出。

优选的,所述第一限位杆或第二限位杆上转动设置有第二限位块,且所述第二限位块位于让位槽远离摆放槽的一侧,所述第二限位块连接有第三限位块,所述第三限位块活动插接于让位槽内,所述第二限位块连接有复位件,所述复位件用于使第二限位块具有向让位槽靠近并使第三限位块插入让位槽的趋势。

通过采用上述技术方案,由于第二限位块连接有复位件,复位件使得第二限位块具有向让位槽靠近并使第三限位块插入让位槽的趋势,从而使得第三限位块对摆放槽内的收料条具有限位的作用,抑制收料条从让位槽处滑出。

优选的,所述复位件包括扭簧,所述扭簧的一端固定在第一限位杆或第二限位杆上,所述扭簧的另一端固定在第二限位块上。

通过采用上述技术方案,由于复位件包括扭簧,且扭簧的一端固定在第一限位杆或第二限位杆上,扭簧的另一端固定在第二限位块上,当第二限位块转动后受到扭簧的扭力而具有复位的趋势,从而使得第三限位块具有插入让位槽的趋势。

综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:

通过在机架上设置有摆放槽,摆放槽内堆叠有若干收料条,摆放槽底部的一侧设置有让位槽,在机架还设置有顶出机构,当摆放槽底部的收料条进行收料之后,通过顶出机构将其推出让位槽并使上层的收料条下降到摆放槽底部以进行后续产品的接收,之后不断重复以上步骤即可实现对批量的收料条进行自动更换并收料,从而节省了人工更换收料条的成本;

在机架上还设置有收料槽,通过收料槽收集经顶出机构推出让位槽之后的收料条,避免收料条从机架落下导致产品从收料条内落出;

在机架上设置有第一限位杆和第二限位杆,通过在第一插接槽与第二插接槽之间形成摆放槽,可在摆放槽内堆叠若干收料条,并随时观察收料条内部的情况。

附图说明

图1是本申请实施例一的一种光电耦合器测试用收料装置的结构示意图。

图2是图1中a部分的局部放大示意图。

图3是本申请实施例二的一种光电耦合器测试用收料装置的结构示意图。

图4是图3中b部分的局部放大示意图。

图5是本申请实施例三的一种光电耦合器测试用收料装置的结构示意图。

图6是图5中c部分的局部放大示意图。

图7是相关技术的结构示意图。

附图标记说明:1、机架;2、测试台;3、检测装置;4、送料口;5、第一限位杆;6、第二限位杆;7、第一插接槽;8、第二插接槽;9、摆放槽;10、收料条;11、进料口;12、让位槽;13、气缸;14、推块;15、伸缩杆;16、料槽;17、镂空部;18、第二驱动源;19、第一限位块;20、固定座;21、固定杆;22、第二限位块;23、第三限位块;24、扭簧;25、第一驱动源;26、上料台;27、出料口。

具体实施方式

以下结合附图对本申请作进一步详细说明。

实施例一:

参照图1,本申请实施例公开的一种光电耦合器测试用收料装置,包括机架1,机架1包括上料台26和测试台2,上料台26上表面水平设置,测试台2上表面倾斜设置,测试台2的顶部与上料台26连接,测试台2靠近顶部的位置上固定设置有用于检测产品的检测装置3,上料台26上设置有用于将待检测的光电耦合器送进检测装置3内的送料口4。

测试台2上固定设置有第一限位杆5和第二限位杆6,第一限位杆5位于检测装置3远离上料台26的一侧,第二限位杆6位于第一限位杆5远离上料台26的一侧,第一限位杆5和第二限位杆6均垂直与测试台2的上表面,第一限位杆5的侧壁沿竖直方向开设有第一插接槽7,第二限位杆6的侧壁沿竖直方向开设有第二插接槽8,第一插接槽7与第二插接槽8正对,第一插接槽7与第二插接槽8之间形成摆放槽9,摆放槽9内堆叠摆放有若干收料条10。

参照图1和图2,第一限位杆5靠近检测装置3的一侧开设有进料口11,进料口11与摆放槽9连通,经检测装置3检测之后的光电耦合器通过进料口11进入到摆放槽9内的收料条10内。

第一限位杆5和第二限位杆6底部均设置有让位槽12,让位槽12位于摆放槽9的一侧,测试台2上设置有顶出机构,顶出机构用于将摆放槽9底部的收料条10推出让位槽12并使得上层的收料条10落到收料槽16的底部。

顶出机构位于收料槽16远离让位槽12的一侧,顶出机构包括第一驱动源25、推块14和伸缩杆15,第一驱动源25固定设置在机架上,伸缩杆15与第一驱动源25驱动连接,伸缩杆15与推块14固定连接,第一驱动源25控制推板朝向让位槽12的一侧推动,所述推板朝向让位槽12的方向设置,伸缩杆15伸缩的方向与收料条10的长度方向垂直,本实施例中,第一驱动源25为气缸13。

测试台2上设置有两个顶出机构,两个顶出机构位于第一插接槽7与第二插接槽8之间,且其中一个顶出机构靠近第一插接槽7,另外一个顶出机构靠近第二插接槽8。

机架上还设置有收料槽16,收料槽16位于让位槽12远离收料槽16的一侧,收料槽16用于收集经顶出机构从摆放槽9推出的收料条10。

本申请实施例一种光电耦合器测试用收料装置的实施原理为:当光电耦合器经过检测装置3检测之后从进料口11依次落到摆放槽9内的收料条10内,经过一段时间之后,收料条10内收满光电耦合器,此时主控制器控制驱动源驱动推块14将摆放槽9底部的收料条10推出让位槽12并落到收料槽16内部,之后,主控制器控制驱动源驱动推块14收回,上层的收料条10因此落到摆放槽9的底部,之后继续重复上述步骤依次将摆放槽9内的收料条10推到收料槽16内,从而实现批量对光电耦合器的收料。

实施例二:

参照图3和图4,让位槽12的一侧开设有镂空部17,本实施中,第一插接槽7与第二插接槽8处的让位槽12均开设有镂空部17,机架上固定设置有第二驱动源18,第二驱动源18位于镂空部17远离让位槽12的一侧,第二驱动源18驱动连接有第一限位块19,第一限位块19穿过镂空部17并进入到让位槽12内,第一限位块19呈长条形设置,且第一限位块19的长度方向与收料条10的长度方向平行,第二驱动源18用于驱动第一限位块19往让位槽12外侧移动。

当第一限位块19位于让位槽12内时,第一限位块19与摆放槽9底部的收料条10抵触,用于限制收料条10的位置,当第一限位块19位于让位槽12外部时,用于顶出机构将收料条10顶出让位槽12。

第二驱动源18电性连接有主控制器,主控制器与第一驱动源25电性连接,当收料条10转装满光电耦合器时,主控制器控制第二驱动源18驱动将第一限位块19往让位槽12外侧收缩,与此同时,主控制器控制第一驱动源25控制推块14将摆放槽9内的收料条10推出,之后主控制器控制第一驱动源25驱动推块14收回,上层的收料条10因此到摆放槽9底部,且第一限位块19通过第二驱动源18移动到让位槽12内,从而限制收料条10滑出摆放槽9外侧,有利于若干收料条10进行正常收料。

本实施例中,机架上固定设置有两个第二驱动源18,两个第二驱动源18均驱动连接有第一限位块19,其一第一限位块19位于第一插接槽7处,另一第一限位块19位于第二插接槽8处,通过设置两个第一限位块19,进一步限制收料条10在摆放槽9内的位置。

实施例三:

参照图5和图6,第一限位杆5和第二限位杆6靠近收料槽16一侧的侧壁均固定设置有两个固定座20,两个固定座20之间固定设置有固定杆21,固定杆21上转动设置有第二限位块22,第二限位块22的底部的一侧固定设置有第三限位块23,第三限位块23用于封堵让位槽12,固定杆21上套设有扭簧24,扭簧24的一端固定连接在固定座20上,扭簧24的另一端固定设置在第二限位块22上,扭簧24使第三限位块23具有向让位槽12靠近并插入让位槽12的趋势,当第三限位块23位于让位槽12内时,第三限位块23靠近摆放槽9一侧的侧壁与收料条10抵触。

当第三限位块23受到到顶出装置推动收料条10的力之后向外转动,从而使收料条10从让位槽12落到收料槽16内,当顶出装置缩回之后,第三限位块23通过扭簧24的作用进行复位,使得之后的收料条10不易从让位槽12处滑出。

以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。

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