本实用新型涉及电子信息技术技术领域，具体为一种成模质量可测的脱模装置。
背景技术：
所谓电子信息技术，就是一门应用计算机等现代化技术进行电子信息控制和信息处理的学科，主要研究信息的获取与处理，电子设备与信息系统的设计、开发、应用和集成，现在的模具制造中常常需要进行成型处理，市面上也有很多种进行模具成型的装置，但是，很少见到对成型后的模具进行脱模的装置，在为数不多的几款脱模装置中，常常由于成型筒受力不均匀而导致模具外表损坏或是脱模不成功的现象，严重影响正常使用，且不能对脱模后的试件质量进行探测，不利于被推广。
所以，如何设计一种成模质量可测的脱模装置，成为我们当前要解决的问题。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种成模质量可测的脱模装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种成模质量可测的脱模装置，包括上压杆，所述上压杆上侧连接有套筒，所述套筒上侧设置有横梁，所述横梁上侧安装有第一电机，所述横梁左右两侧连接有立柱，所述立柱中部安装有第一传送带，所述第一传送带下侧设置有第二传送带，所述左右立柱内部架设有固定板，所述固定板上侧放置有下部试模孔，所述第二传送带上侧架设有托板，所述托板通过支架固定，所述固定板下侧通过固定座固定，所述第一传送带中部设置有中心线，且第一传送带中部等距布置有上部试模孔。
进一步的，所述托板上侧固定有传送筒，传送筒上侧与固定板接触,所述上压杆、套筒、传送筒和支架均关于装置中性轴左右对称布置。
进一步的，所述固定板上侧安装有弹簧组和推板，弹簧组外侧与固定板内部连接，且弹簧组内侧与推板连接。
进一步的，所述固定板内部开设有与下部试模孔和传送筒相同孔径的孔洞。
进一步的，所述传送筒下侧距离第二传送带的高度略大于试件的高度。
进一步的，所述第二传送带下侧满布置有电子元件，电子元件具有探测试件重量的作用。
进一步的，所述第一电机下侧连接有上支杆，上支杆下侧连接有下支杆，下支杆下侧焊接有上压杆。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该种成模质量可测的脱模装置，使用方便，操作简单，通过弹簧组和推板对模具的固定，减少了脱模过程中对试模的损坏，通过设置电子元件，可以更好的对试模质量进行探测，具有很好的可推广性。
附图说明
图1是本实用新型的整体结构示意图；
图2是本实用新型的侧面结构示意图；
图3是本实用新型的第一传送带结构示意图；
图4是本实用新型的第二传送带结构示意图；
图5是本实用新型的上压杆上部结构示意图；
图中：1-上压杆；2-套筒；3-横梁；4-第一电机；5-立柱；6-第一传送带；7-第二传送带；8-固定板；9-弹簧组；10-推板；11-下部试模孔；12-传送筒； 13-托板；14-支架；15-固定座；16-中心线；17-上部试模孔；18-电子元件； 19-上支杆；20-下支杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1.图2.图3.图4.图5，本实用新型提供一种技术方案：一种成模质量可测的脱模装置，包括上压杆1，所述上压杆1上侧连接有套筒2，所述套筒2上侧设置有横梁3，所述横梁3上侧安装有第一电机4，所述横梁3左右两侧连接有立柱5，所述立柱5中部安装有第一传送带6，所述第一传送带6下侧设置有第二传送带7，所述左右立柱5内部架设有固定板8，所述固定板8上侧放置有下部试模孔11，所述第二传送带7上侧架设有托板13，所述托板13通过支架14固定，所述固定板8下侧通过固定座15固定，所述第一传送带6中部设置有中心线16，且第一传送带6中部等距布置有上部试模孔17。
进一步的，所述托板13上侧固定有传送筒12，传送筒12上侧与固定板8 接触，所述上压杆1、套筒2、传送筒12和支架14均关于装置中性轴左右对称布置,可以更好的体现设计的美观性原则,和保证试件传送过程的完整性。
进一步的，所述固定板8上侧安装有弹簧组9和推板10，弹簧组9外侧与固定板8内部连接，且弹簧组9内侧与推板10连接，可以更好的将下部试模孔 11进行固定。
进一步的，所述固定板8内部开设有与下部试模孔11和传送筒12相同孔径的孔洞，可以保证试件的正常下落。
进一步的，所述传送筒12下侧距离第二传送带7的高度略大于试件的高度，可以保证试件更好的上到第二传送带7。
进一步的，所述第二传送带7下侧满布置有电子元件18，电子元件18具有探测试件重量的作用，可以更好的对试件质量进行探测。
进一步的，所述第一电机4下侧连接有上支杆19，上支杆19下侧连接有下支杆20，下支杆20下侧焊接有上压杆1，可以更好的进行脱模操作。
工作原理：首先，将需要脱模的试模放在第一传送带6的上部试模孔17上，将下部试模孔11通过弹簧组9和推板10固定，然后，启动第一电机4、第一传送带6和第二传送带7，试模向前传送，当传送到上压杆1下方时，试模下方正好与下部试模孔11接触，第一电机4带动下支杆20向下按压上压杆1，此时，套筒2套在试模上，在上压杆1的作用下，试件从模具中脱出，脱出后的试件经传送筒12传送到第二传送带7上，最后，第二传送带7内部的电子元件18 对落在其上的试件质量进行探测，并将信息反馈到外部控制面板上。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。