一种射频芯片测试系统的制作方法

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种射频芯片测试系统。

背景技术：

随着5g建设的进行，国内对于相关射频器件和芯片的需求日益增加，而因为5g通讯精度相比以前大大提升，对于lna射频芯片的要求也就更高了，因此需对射频芯片进行一系列的电流和射频功率测试。但目前常用的集成电路自动化测试系统只能同时对单个射频芯片进行测试，导致射频芯片的测试效率低下，并不能很好地满足射频芯片的测试需求。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是为软件工程师提供一种芯片测试系统的硬件结构，以使得软件工程师对该硬件结构中的控制设备进行编程后，芯片测试系统能高效率地对多个射频芯片进行测试。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。

优选地，所述芯片放置台为圆形，所述多个芯片取放头环绕所述圆形芯片放置台。

优选地，所述芯片放置位环绕圆形芯片放置台的圆心设置。

优选地，所述芯片取放头是尾端带有吸头的机械臂。

优选地，所述控制设备是ate自动化测试设备。

本实用新型提供的硬件结构具有以下有益效果：在软件工程师对硬件结构中的控制设备进行编程后，由于自动分选机设有多个芯片取放头，且芯片放置台上设有多个芯片放置位，控制设备可同时对多个射频芯片进行测试，因此射频芯片测试系统效率高。

附图说明

图1是射频芯片测试系统的电路连接框图；

图2是自动分选机的结构示意图；

图3是自动分选机的芯片放置台和芯片取放装置相互配合的结构示意图。

附图标记说明：1-ate自动化测试设备；2-射频功率测试仪；3-自动分选机；4-芯片放置台；5-芯片取放头。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述

本技术：
的示例性实施例。虽然附图中显示了本申请的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本申请，并且能够将本申请的范围完整的传达给本领域的技术人员。

如图1所示，芯片测试系统包括ate自动化测试设备1、射频功率测试仪2和自动分选机3，ate自动化测试设备1分别电连接射频功率测试仪2和自动分选机3。

自动分选机3的结构如图2所示，包括芯片放置台(图2中未示出)和多个芯片取放头5，这些芯片取放头5具体是尾端带有吸头的机械手，该机械手优选为型号fhjd-1的微型机械手，该机械手可实现三轴活动，具体地，机械手可带动吸头在竖直方向、水平方向分别旋转，且可带动吸头在竖直和水平方向相互陪护以倾斜活动。从图3可以看出，芯片放置台4设为圆形，其表面设有多个芯片放置位，这些芯片放置位环绕圆形芯片放置台4的圆心设置。射频芯片放置在芯片放置台4上的芯片放置位后，射频芯片与ate自动化测试设备1实现电连接，从而便于ate自动化测试设备1接收芯片数据。多个芯片取放头5围成圆形后环绕芯片放置台4设置，且各个芯片取放头5一一对准芯片放置台4的各个芯片放置位，这样就能通过多个芯片取放头5分别取放多个射频芯片。由于芯片放置位围成一个圆，且芯片取放头5也围成一个圆来对准芯片放置位，则各个芯片取放头5的尺寸相同，且多个芯片取放头5相对于围成其他形状来说所占空间较小。

在对多个射频芯片进行测试时，ate自动化测试设备1先控制自动分选机3的多个芯片取放头5分别吸取多个射频芯片，再控制芯片取放头5把各个射频芯片分别放置在芯片放置台4的芯片放置位上，这样射频芯片就与ate自动化测试设备1实现了电连接，ate自动化测试设备1对射频芯片进行常规的电流参数测试。与此同时，ate自动化测试设备1控制各个芯片放置位上的射频芯片发出带有标记序号的射频信号，并向射频功率测试仪2发送测试指令，射频功率测试仪2在接收到该测试指令后，接收各个射频芯片发出的带有标记序号的射频信号，再测试各个射频信号的功率是否符合标准指数，然后将射频测试结果反馈回ate自动化测试设备1，ate自动化测试设备1可根据射频信号所带的标记序号来判断每个射频测试结果具体对应哪一个射频芯片。最后，ate自动化测试设备1根据测得的电流参数和射频测试结果判断芯片是否为良品，具体地：

若某个射频芯片的电流参数和射频测试结果都符合标准指数，则ate自动化测试设备1判断该射频芯片为良品，并据此控制自动分选机3上对应该射频芯片的芯片吸取头5把该射频芯片吸取后，先竖直吸起射频芯片，再水平带动到射频芯片到良品区放下；若某个射频芯片的电流参数不符合标准指数而射频测试结果符合标准指数，则ate自动化测试设备1判断该射频芯片为电流不良品，并据此控制自动分选机3上对应该射频芯片的芯片吸取头5把该射频芯片吸取后，先竖直吸起射频芯片，再水平带动到射频芯片到电流不良区放下；若某个射频芯片的电流参数符合标准指数而射频测试结果不符合标准指数，则ate自动化测试设备1判断该射频芯片为射频不良品，并据此控制自动分选机3上对应该射频芯片的芯片吸取头5把该射频芯片吸取后，先竖直吸起射频芯片，再水平带动到射频芯片到射频不良区放下；若某个射频芯片的电流参数和射频测试结果都不符合标准指数，则ate自动化测试设备1判断该射频芯片为完全不良品，并据此控制自动分选机3上对应该射频芯片的芯片吸取头5把该射频芯片吸取后，先竖直吸起射频芯片，再水平带动到射频芯片到完全不良区放下。

在上述的测试过程中，由于自动分选机3设有多个芯片取放头5，且芯片放置台4上设有多个芯片放置位，ate自动化测试设备1可同时对多个射频芯片进行电流和射频测试，因此本实施例提供的射频芯片测试系统效率高。

最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对本申请保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本申请作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本申请的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本申请技术方案的实质和范围。

技术特征：

1.一种射频芯片测试系统，其特征是：包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。

2.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征是：所述芯片放置台为圆形，所述多个芯片取放头环绕所述圆形芯片放置台。

3.根据权利要求2所述的射频芯片测试系统，其特征是：所述芯片放置位环绕圆形芯片放置台的圆心设置。

4.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征是：所述芯片取放头是尾端带有吸头的万向机械臂。

5.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征是：所述控制设备是ate自动化测试设备。

技术总结
本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。由于自动分选机设有多个芯片取放头，且芯片放置台上设有多个芯片放置位，控制设备可同时对多个射频芯片进行测试，因此射频芯片测试系统效率高。

技术研发人员：李茂;谢凯;谢晓昆;张亦锋;辜诗涛
受保护的技术使用者：广东利扬芯片测试股份有限公司
技术研发日：2019.07.31
技术公布日：2020.06.02