一种用于IC缺陷检查的视觉检查仪的制作方法

本实用新型涉及ic缺陷检查领域，尤其涉及一种ic缺陷检查机。

背景技术：

随着机器视觉检测技术的发展，许多领域都开始涉及机器视觉。其中，在丝网印刷检测技术领域，aoi的应用也逐渐展开。aoi（automatedopticalinspection缩写）的中文全称是自动光学检测，是基于光学原理来对生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。

ic芯片缺陷检查机用于检测ic芯片表面的脏污、破损以及芯片管脚的缺陷、脏污；一般由人工上下料；检查机分三个工位：检查工位，ok料位，ng料位；芯片在检查工位检查完成后，取料吸嘴将芯片取放到ok料位或ng料位；初始检查时，ok料位和ng料位均放置空料盘；检测机中的ccd相机作用一是引导定位，二是检查；取料吸嘴作用是将检查完成的芯片由检查工位放置到ok料位或ng料位的料盘上。ok料盘或ng料盘料满后由人工取出。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种用于ic缺陷检查的视觉检查仪，本实用新型设计新颖、使用方便，操作简单；不仅能够通过设置的ccd相机检查ic芯片上的缺陷，而且能够通过设置的取放吸嘴对检查后的ic芯片进行分类。

为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案实现：

一种用于ic缺陷检查的视觉检查仪，包括机架以及设置在机架上的检查单元、安全光幕、报警灯、鼠标键盘、显示器和主机，所述主机与显示器、鼠标键盘、报警灯、安全光幕和检查单元连接，所述检查单元包括安装在机架工作台上的检查工位、ok料位、ng料位和x轴移动机构，所述ng料位和ok料位并排设置在检查工位的两侧，所述检查工位位于x轴移动机构的一侧，所述x轴移动机构上设置有与主机连接的ccd相机和取放吸嘴。采用此技术方案，安全光幕由投光器和受光器组成，投光器发射出调制的红外光，由受光器接收，形成了一个保护网，当有物体进入保护网，从中有光线被物体挡住，通过内部控制线路，受光器电路马上作出反应，即在输出部分输出一个信号用于控制检查单元的紧急刹车；检查工位用于放置待检查的ic芯片；ok料位用于放置检查ok的芯片；ng料位用于放置检查有缺陷ng的芯片；x轴移动机构用于驱动ccd相机和取放吸嘴在检查工位、ok料位和ng料位上移动；ccd相机用于拍摄检查工位上的ic芯片，并将拍摄到的ic芯片发送到主机，由主机通过显示器进行放大显示，以便于检查ic芯片上的缺陷；取放吸嘴根据产品检查的结果用于将检查工位上的ic芯片取放到对应的ok料位或ng料位。

作为优选，所述检查工位或ok料位或ng料位包括设置在工作台上的y轴底座以及设置在y轴底座上的y轴电机、y轴丝杆和y轴滑块，所述y轴电机设置于y轴底座的一侧，并通过联轴器与y轴丝杆连接，所述y轴丝杆与y轴滑块底部设置的丝杆螺母连接，所述y轴滑块的顶部设置有料盘，底部设置有滑槽，所述滑槽与y轴底座上设置的滑轨连接。采用此技术方案，由y轴电机通过y轴丝杆驱动y轴滑块在y轴底座移动，y轴滑块在移动时带动顶部的料盘一起移动；其中，y轴电机通过伺服器与主机连接。

作为优选，所述x轴移动机构包括x轴底座以及设置在x轴底座上的x轴电机、x轴丝杆和x轴滑块，所述x轴电机设置于x轴底座的一侧，并通过联轴器与x轴丝杆连接，所述x轴丝杆与x轴滑块底部设置的丝杆螺母连接，所述x轴滑块的顶部设置有安装ccd相机和取放吸嘴的支撑板，底部设置有滑槽，所述滑槽与x轴底座上设置的滑轨连接，所述x轴底座的两侧通过支撑架与工作台连接。采用此技术方案，由x轴电机通过x轴丝杆驱动x轴滑块在x轴底座移动，x轴滑块在移动时带动安装在上面的支撑板以及支撑板上安装的ccd相机和取放吸嘴一起移动。其中，x轴电机通过伺服器与主机连接。

作为优选，所述取放吸嘴包括与支撑板连接的z轴电动滑台以及设置在z轴电动滑台上的固定块，所述固定块的一侧设置有气嘴，底部设置有气杆，所述气杆的底部设置有吸盘。采用此技术方案，气嘴外接进气管；z轴电动滑台用于驱动吸盘上下移动；固定块用于气杆的安装固定。

本实用新型的有益效果是：设计新颖、使用方便，操作简单；不仅能够通过设置的ccd相机检查ic芯片上的缺陷，而且能够通过设置的取放吸嘴对检查后的ic芯片进行分类。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明。本实用新型的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型涉及的结构示意图；

图2为本实用新型涉及的检查单元结构示意图；

图3为本实用新型涉及的检查工位结构示意图；

图4为本实用新型涉及的x轴移动机构结构示意图；

图5为本实用新型涉及的取放吸嘴结构示意图。

图中标号说明：机架1，检查单元2，安全光幕3，报警灯4，鼠标键盘5，显示器6，主机7，检查工位8，ok料位9，ng料位10，x轴移动机构11，ccd相机12，取放吸嘴13，料盘14，支撑板15，支撑架16，z轴电动滑台17，固定块18，气嘴19，气杆20，吸盘21，y轴底座801，y轴电机802，y轴丝杆803，y轴滑块804，轴底座111，x轴电机112，x轴丝杆113，x轴滑块114，工作台101。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的描述：

参照图1至图5所示，一种用于ic缺陷检查的视觉检查仪，包括机架1以及设置在机架1上的检查单元2、安全光幕3、报警灯4、鼠标键盘5、显示器6和主机7，所述主机7与显示器6、鼠标键盘5、报警灯4、安全光幕3和检查单元2连接，所述检查单元2包括安装在机架1工作台101上的检查工位8、ok料位9、ng料位10和x轴移动机构11，所述ng料位10和ok料位9并排设置在检查工位8的两侧，所述检查工位8位于x轴移动机构11的一侧，所述x轴移动机构11上设置有与主机7连接的ccd相机12和取放吸嘴13。采用此技术方案，安全光幕3由投光器和受光器组成，投光器发射出调制的红外光，由受光器接收，形成了一个保护网，当有物体进入保护网，从中有光线被物体挡住，通过内部控制线路，受光器电路马上作出反应，即在输出部分输出一个信号用于控制检查单元的紧急刹车；检查工位8用于放置待检查的ic芯片；ok料位9用于放置检查ok的芯片；ng料位10用于放置检查有缺陷ng的芯片；x轴移动机构11用于驱动ccd相机12和取放吸嘴13在检查工位8、ok料位9和ng料位10上移动；ccd相机12用于拍摄检查工位8上的ic芯片，并将拍摄到的ic芯片发送到主机7，由主机7通过显示器6进行放大显示，以便于检查ic芯片上的缺陷；取放吸嘴13根据产品检查的结果用于将检查工位8上的ic芯片取放到对应的ok料位9或ng料位10。

作为优选，所述检查工位8或ok料位9或ng料位10包括设置在工作台101上的y轴底座801以及设置在y轴底座801上的y轴电机802、y轴丝杆803和y轴滑块804，所述y轴电机802设置于y轴底座801的一侧，并通过联轴器与y轴丝杆803连接，所述y轴丝杆803与y轴滑块804底部设置的丝杆螺母连接，所述y轴滑块804的顶部设置有料盘14，底部设置有滑槽，所述滑槽与y轴底座801上设置的滑轨连接。采用此技术方案，由y轴电机802通过y轴丝杆803驱动y轴滑块804在y轴底座801移动，y轴滑块804在移动时带动顶部的料盘一起移动；其中，y轴电机802通过伺服器与主机7连接。

作为优选，所述x轴移动机构11包括x轴底座111以及设置在x轴底座111上的x轴电机112、x轴丝杆113和x轴滑块114，所述x轴电机112设置于x轴底座111的一侧，并通过联轴器与x轴丝杆113连接，所述x轴丝杆113与x轴滑块114底部设置的丝杆螺母连接，所述x轴滑块114的顶部设置有安装ccd相机12和取放吸嘴13的支撑板15，底部设置有滑槽，所述滑槽与x轴底座111上设置的滑轨连接，所述x轴底座111的两侧通过支撑架16与工作台101连接。采用此技术方案，由x轴电机112通过x轴丝杆113驱动x轴滑块114在x轴底座111移动，x轴滑块114在移动时带动安装在上面的支撑板15以及支撑板15上安装的ccd相机12和取放吸嘴13一起移动。其中，x轴电机112通过伺服器与主机7连接。

作为优选，所述取放吸嘴13包括与支撑板15连接的z轴电动滑台17以及设置在z轴电动滑台17上的固定块18，所述固定块18的一侧设置有气嘴19，底部设置有气杆20，所述气杆20的底部设置有吸盘21。采用此技术方案，气嘴19外接进气管；z轴电动滑台17用于驱动吸盘21上下移动；固定块18用于气杆20的安装固定。

具体实施例

在实际使用时，由人工将待检查的ic芯片放置到检查工位上的料盘中，然后，由ccd相机检查料盘中ic芯片表面上的脏污和破损以及芯片管脚的缺陷和脏污，并在检查完成后，根据ic产品的质量，由取料吸嘴将ic芯片取放到ok料位或ng料位上的料盘中；待ok料盘或ng料盘料满后由人工取出。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。