一种IC芯片不良品自动筛选机的制作方法

一种ic芯片不良品自动筛选机
技术领域
1.本实用新型涉及ic芯片生产用设备技术领域，更具体地说，涉及一种ic芯片不良品自动筛选机。


背景技术：

2.ic芯片是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上而做成的芯片。在ic芯片的生产过程中，无可避免的会存在一些质量存在问题的ic芯片不良品，为了防止这些不良品影响产品质量，相关工作人员经常会用到ic芯片不良品自动筛选机对ic芯片不良品进行筛选。现有技术公开号为cn213001301u的专利文献提供了一种ic芯片不良品自动筛选机，该装置采用振动盘上料，通过视觉传感器检查剔除不良品，从而完全解放了作业人员的双手，速度快、效率高、运行稳定，不会产生不良品逃逸，大大降低了人力时间成本，提高了工作效率。虽然该装置有益效果较多，但依然存在下列问题：该装置中的视觉传感器在对芯片进行检测时，待检测芯片依旧处于在流道上滑动的状态，而且每个待测芯片通过视觉传感器下方的时间也很难保持一致，这种方式很容易出现漏检、错检的情况，这会严重影响产品质量，给生产厂商带来极大的经济损失。鉴于此，我们提出一种ic芯片不良品自动筛选机。


技术实现要素：

3.1.要解决的技术问题
4.本实用新型的目的在于提供一种ic芯片不良品自动筛选机，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.2.技术方案
6.一种ic芯片不良品自动筛选机，包括固定底板，所述固定底板顶面中部右侧设有l形支撑板，所述l形支撑板内壁顶面左侧设有视觉传感器，所述l形支撑板内壁左端面中部设有电动推杆，所述电动推杆输出端端部连接有活动板，所述固定底板顶面中部上方设有固定套，所述固定套底面呈对称结构设有四个支撑腿，所述固定套底面中部左右两侧均开设有贯穿固定套底面的通孔，所述固定底板顶面左部后侧设有电动机，所述电动机输出端端部连接有主动轴，所述主动轴上端设有限位盘，所述主动轴圆周外壁中部前侧设有转动板，所述转动板顶面前侧设有拨动杆，所述固定套底面中部下方设有槽轮，所述槽轮圆周外壁呈环形等间距开设有四个与限位盘圆周外壁相适配的半圆形限位槽，所述槽轮四个凸起处中部均开设有拨动槽，所述限位盘圆周外壁前侧开设有与槽轮相适配的弧形通槽，所述槽轮顶面中部设有从动轴，所述从动轴上端穿过固定套底面延伸至固定套内腔并连接有转动盘，所述转动盘顶面呈环形等间距开设有四个承接槽，所述固定套上端面中部后侧设有承载块，所述承载块前端设有放置套。
7.优选地，右侧的所述通孔下方设有回收桶，所述回收桶底面与固定底板顶面连接固定。
8.优选地，左侧的所述通孔下方设有u形滑套，所述固定底板顶面中部左侧设有收集箱，所述u形滑套左端与收集箱上端面右侧连接固定，所述收集箱内壁底面设有海绵块。
9.优选地，所述u形滑套上端面左侧设有安装板，所述安装板下端面密布有刷毛。
10.优选地，所述转动盘底面与固定套内壁底面转动连接，所述限位盘圆周外壁与半圆形限位槽圆周内壁滑动配合，所述拨动杆与半圆形限位槽滑动配合，所述活动板与右侧的所述通孔滑动连接，所述支撑腿底面与固定底板顶面连接固定。
11.3.有益效果
12.相比于现有技术，本实用新型的优点在于：
13.1、本实用新型通过设置在固定底板顶面左部后侧的电动机，主动轴上端的限位盘，转动板顶面前侧的拨动杆，固定套底面中部下方的槽轮，从动轴上端的转动盘，转动盘顶面的四个承接槽，承载块前端的放置套以及固定套底面中部左右两侧的通孔之间的配合，使得转动盘能够间歇性的将待测ic芯片送至视觉传感器下侧，给予视觉传感器足够充分的时间对ic芯片进行识别，降低了漏检、错检的概率，提高了对ic芯片不良品的识别率，保障了产品的质量水平。
14.2、本实用新型通过设置在安装板下端面的刷毛以及收集箱内壁底面的海绵块之间的配合，能够对下滑至收集箱内部的ic芯片合格品继续减速及缓冲，防止这些合格的ic芯片在下落过程中因撞击受损，提高了本装置的实用性，进一步保证了产品的质量水平。
附图说明
15.图1为本实用新型的整体结构示意图；
16.图2为本实用新型中固定底板顶面上方部分结构的仰视示意图；
17.图3为本实用新型中转动盘的结构示意图；
18.图4为本实用新型中收集箱及u形滑套的结构剖视示意图；
19.图中标号说明：1、固定底板；2、固定套；201、通孔；3、转动盘；301、承接槽；4、支撑腿；5、收集箱；6、槽轮；601、半圆形限位槽；602、拨动槽；7、限位盘；701、弧形通槽；8、转动板；9、拨动杆；10、活动板；11、电动机；12、电动推杆；13、主动轴；14、承载块；15、放置套；16、回收桶；17、视觉传感器；18、l形支撑板；19、安装板；20、刷毛；21、海绵块；22、从动轴；23、u形滑套。
具体实施方式
20.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
21.在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
22.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以
是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
23.请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：
24.一种ic芯片不良品自动筛选机，包括固定底板1，固定底板1顶面中部右侧设有l形支撑板18，l形支撑板18内壁顶面左侧设有视觉传感器17，l形支撑板18内壁左端面中部设有电动推杆12，电动推杆12输出端端部连接有活动板10，设置电动推杆12及活动板10的目的是便于使ic芯片不良品落至下方的回收桶16内，固定底板1顶面中部上方设有固定套2，固定套2底面呈对称结构设有四个支撑腿4，固定套2底面中部左右两侧均开设有贯穿固定套2底面的通孔201，固定底板1顶面左部后侧设有电动机11，电动机11输出端端部连接有主动轴13，主动轴13上端设有限位盘7，主动轴13圆周外壁中部前侧设有转动板8，转动板8顶面前侧设有拨动杆9，固定套2底面中部下方设有槽轮6，设置槽轮6及拨动杆9的目的是便于间隙性的将待测ic芯片送至视觉传感器17下侧，便于视觉传感器17对待测ic芯片进行充分检测，降低漏检、错检的概率，槽轮6圆周外壁呈环形等间距开设有四个与限位盘7圆周外壁相适配的半圆形限位槽601，槽轮6四个凸起处中部均开设有拨动槽602，限位盘7圆周外壁前侧开设有与槽轮6相适配的弧形通槽701，槽轮6顶面中部设有从动轴22，从动轴22上端穿过固定套2底面延伸至固定套2内腔并连接有转动盘3，转动盘3顶面呈环形等间距开设有四个承接槽301，设置承接槽301的目的是便于对待测ic芯片进行推动，固定套2上端面中部后侧设有承载块14，承载块14前端设有放置套15，设置放置套15的目的是便于对待测ic芯片进行防止。
25.具体的，右侧的通孔201下方设有回收桶16，设置回收桶16的目的是便于对ic芯片不良品进行收集，回收桶16底面与固定底板1顶面连接固定。
26.进一步的，左侧的通孔201下方设有u形滑套23，固定底板1顶面中部左侧设有收集箱5，u形滑套23左端与收集箱5上端面右侧连接固定，收集箱5内壁底面设有海绵块21。
27.再进一步的，u形滑套23上端面左侧设有安装板19，安装板19下端面密布有刷毛20，设置刷毛20及海绵块21的目的是便于对下滑至收集箱5内部的ic芯片合格品继续减速及缓冲，防止这些合格的ic芯片在下落过程中因撞击受损，保障芯片的质量水平。
28.更进一步的，转动盘3底面与固定套2内壁底面转动连接，限位盘7圆周外壁与半圆形限位槽601圆周内壁滑动配合，拨动杆9与半圆形限位槽601滑动配合，活动板10与右侧的通孔201滑动连接，支撑腿4底面与固定底板1顶面连接固定。
29.工作原理：当工作人员需要对ic芯片不良品进行筛选时，首先将待测的ic芯片依次放置于放置套15内侧，随后在电动机11的作用下，主动轴13带动限位盘7、转动板8及拨动杆9转动，当拨动杆9外壁与拨动槽602内壁接触时，在拨动杆9的推动下，槽轮6带动从动轴22及转动盘3绕从动轴22轴心位置进行顺时针转动，放置套15内的ic芯片在承接槽301的推动下，逐渐移动至视觉传感器17下侧，此时拨动杆9与拨动槽602脱离，从动轴22及转动盘3停止转动，视觉传感器17对待测ic芯片进行检测，若待测ic芯片为不良品，在电动推杆12的作用下，活动板10向右侧移动，ic芯片不良品向下掉落至回收桶16内，随后在电动推杆12的作用下，活动板10向左侧复位，若待测ic芯片合格，则电动推杆12不运行，如此重复，当合格的ic芯片移动至左侧的通孔201处时，合格的ic芯片向下滑落至u形滑套23内壁底面并向左
侧滑动，经刷毛20减速后下落至收集箱5内的海绵块21上。如此往复，即可完成对ic芯片不良品进行筛选的工作。
30.以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。