一种连续检测射频部分中芯片电性能的检具的制作方法

1.本实用新型涉及检测射频部分中芯片电性能的技术领域，特别是一种连续检测射频部分中芯片电性能的检具。


背景技术：

2.射频部分主要负责对基带设备产生的基带数字信号进行处理，得到射频信号，通过天线对外发射，或是接收外部射频信号，进行处理后得到基带数字信号传输给基带设备。某射频部分的结构如图1所示，它包括芯片1和金属基板2，芯片1经焊接料焊接于金属基板2的顶表面上。
3.在车间内，当一批量射频部分生产出来后，质检人员需采用电性能检测设备来检测焊接后各个射频部分中芯片1的电性能，即芯片的电阻值，其具体的检测方法是：质检人员先从料筐内取出一个射频部分并平放到工作台上，同时确保芯片1朝上放置，随后质检人员将电性能检测设备的两个探头分别接触位于芯片1左右侧的支脚3，此时在电性能检测设备上显示出芯片的电阻值，若被检测的射频部分中的芯片1的电阻值在要求的范围内，则判定其为合格品，质检人员则将其放入到成品筐内，若被检测的射频部分中的芯片1的电阻值不在要求范围内，则判定其为不合格品，质检人员则将其投入到废料筐内；如此重复操作，即可连续批量的对射频部分中芯片1电性能的检测。
4.然而，这种检测方法虽然能够检测芯片的电性能，但是仍然存在以下技术缺陷：
5.i、需要人工不断的将待检测的射频部分从料筐内取出，取出后再放到工作台上进行检测，这无疑是增加了工人的工作强度，同时降低了射频部分中芯片的检测效率。
6.ii、当检测完毕一个射频部分后，需要人工将被检测的射频部分投入到废料筐或成品筐内，这无疑是进一步的增加了工人的工作强度，同时增加了射频部分的检测效率，进一步的降低了射频部分中芯片的检测效率。因此，亟需一种极大提高射频部分中芯片的检测效率、极大减轻工人工作强度的检具。


技术实现要素：

7.本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种结构紧凑、极大提高射频部分中芯片的检测效率、极大减轻工人工作强度、操作简单的连续检测射频部分中芯片电性能的检具。
8.本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：一种连续检测射频部分中芯片电性能的检具，它包括固设于工作台台面上的龙门架，所述工作台的台面上且从左往右顺次设置有废料筐、顶料机构和平带输送装置，所述顶料机构包括固设于工作台台面上的料筒、固设于工作台底表面上的顶料气缸，顶料气缸的活塞杆贯穿工作台且延伸于料筒内，顶料气缸活塞杆的作用端上固设有顶料板，顶料板的顶表面上由下往上顺次堆叠有多个待检测的射频部分，射频部分的金属基板与料筒的内壁滑动配合；
9.所述龙门架横梁的底部固设有水平气缸，水平气缸活塞杆的作用端上固设有连接
板，连接板的左侧壁上焊接有真空盘，真空盘的左侧壁上焊接有与其内腔连通的真空管，真空盘与真空泵连接；
10.所述龙门架横梁的顶部固设有升降气缸和电性能检测设备，升降气缸的活塞杆贯穿横梁设置，且延伸端上固设有升降板，电性能检测设备的两个接触头均固设于升降板上，且两个接触头均贯穿升降板设置。
11.所述废料筐设置于龙门架的左侧，所述顶料机构和平带输送装置均设置于龙门架横梁的下方。
12.所述升降板为塑料板，升降板的左右端部均开设有通孔，两个接触头分别与两个通孔过盈配合。
13.所述真空泵固设于连接板的右侧壁上，所述真空盘的右侧壁上设置有与其内腔连通的接头，接头与真空泵的工作端口连接。
14.所述工作台的底部固设有多根支撑于地面上的支撑腿。
15.该检具还包括控制器，所述控制器与水平气缸的电磁阀、顶料气缸的电磁阀以及真空泵电连接。
16.本实用新型具有以下优点：结构紧凑、极大提高射频部分中芯片的检测效率、极大减轻工人工作强度、操作简单。
附图说明
17.图1 为射频部分的结构示意图；
18.图2 为本实用新型的结构示意图；
19.图3 为图2的i部局部放大示意图；
20.图4 为将最顶层待检测射频部分从料筒内顶出的示意图；
21.图5 为测试射频部分中芯片电性能的示意图；
22.图6 为向右输送合格射频部分的示意图；
23.图7 为向左剔除不合格射频部分的示意图；
24.图中，1-芯片，2-金属基板，3-支脚，4-工作台，5-龙门架，6-废料筐，7-顶料机构，8-平带输送装置，9-料筒，10-顶料气缸，11-顶料板，12-水平气缸，13-连接板，14-真空盘，15-真空管，16-升降气缸，17-电性能检测设备，18-升降板，19-接触头，20-真空泵，21-平带。
具体实施方式
25.下面结合附图对本实用新型做进一步的描述，本实用新型的保护范围不局限于以下所述：
26.如图2~3所示，一种连续检测射频部分中芯片电性能的检具，它包括固设于工作台4台面上的龙门架5，所述工作台4的底部固设有多根支撑于地面上的支撑腿，所述工作台4的台面上且从左往右顺次设置有废料筐6、顶料机构7和平带输送装置8，所述顶料机构7包括固设于工作台4台面上的料筒9、固设于工作台4底表面上的顶料气缸10，顶料气缸10的活塞杆贯穿工作台4且延伸于料筒9内，顶料气缸10活塞杆的作用端上固设有顶料板11，顶料板11的顶表面上由下往上顺次堆叠有多个待检测的射频部分，射频部分的金属基板2与料
筒9的内壁滑动配合；所述龙门架5横梁的底部固设有水平气缸12，水平气缸12活塞杆的作用端上固设有连接板13，连接板13的左侧壁上焊接有真空盘14，真空盘14的左侧壁上焊接有与其内腔连通的真空管15，真空盘14与真空泵20连接。
27.所述龙门架5横梁的顶部固设有升降气缸16和电性能检测设备17，升降气缸16的活塞杆贯穿横梁设置，且延伸端上固设有升降板18，电性能检测设备17的两个接触头19均固设于升降板18上，且两个接触头19均贯穿升降板18设置，所述升降板18为塑料板，升降板18的左右端部均开设有通孔，两个接触头19分别与两个通孔过盈配合。
28.所述废料筐6设置于龙门架5的左侧，所述顶料机构7和平带输送装置8均设置于龙门架5横梁的下方。所述真空泵20固设于连接板13的右侧壁上，所述真空盘14的右侧壁上设置有与其内腔连通的接头，接头与真空泵20的工作端口连接。该检具还包括控制器，所述控制器与水平气缸12的电磁阀、顶料气缸10的电磁阀以及真空泵20电连接，工人可通过控制器控制水平气缸12和顶料气缸10活塞杆的伸出或缩回，同时还能控制真空泵20的启动或关闭，方便了工人的操作，具有自动化程度高的特点。
29.本实用新型的工作过程如下：
30.s1、工人打开平带输送装置8，平带输送装置8的平带21做顺时针转动；
31.s2、工人控制顶料气缸10的活塞杆向上伸出，活塞杆带动顶料板11向上运动，顶料板11带动料筒9内待检测的射频部分向上运动，当工人观察到最顶层的射频部分被顶到料筒9的上方时如图4所示，工人控制顶料气缸10关闭，此时该射频部分的芯片1的右侧壁刚好与真空管15左右相对立，且该射频部分的芯片1的左右支脚3分别位于两个接触头19的正下方；
32.s3、工人控制升降气缸16的活塞杆向下运动，活塞杆带动升降板18向下运动，升降板18带动两个接触头19向下运动，当观察到两个接触头19分别接触到芯片1的支脚3时如图5所示，工人控制升降气缸16关闭，此时在电性能检测设备17的显示屏上显示出被测试的芯片1的电阻值，若观察到被检测的射频部分中的芯片1的电阻值在要求的范围内，则判定其为合格品，此时工人控制水平气缸12的活塞杆向左伸出，活塞杆带动连接板13、真空泵20和真空管15同步向左运动，当观察到真空管15的左端口与芯片1的右端面接触时，工人控制水平气缸12关闭，而后工人控制真空泵20启动，真空泵20对真空盘14和真空管15抽真空，在负压下，最顶层的射频部分的芯片1被吸附在真空管15上，吸附后，工人控制水平气缸12的活塞杆向右缩回，真空管15带动芯片1向右运动如图6所示，输送方向如图6中箭头所示，合格的射频部分运动到平带输送装置8的平带21的正上方时，工人控制真空泵20关闭，此时合格射频部分掉落在平带21的上边带上，平带21将合格射频部分输送到下一道工序中；
33.若被检测的射频部分中的芯片1的电阻值不在要求范围内，则判定其为不合格品，此时工人控制水平气缸12的活塞杆向左运动，活塞杆带动连接板13和真空管15同步向左运动，真空管15推动不合格射频部分的芯片1向左运动如图7所示，推动方向如图7中箭头所示，当活塞杆完全伸出后，不合格射频部分即可被推送到废料筐6内；在该步骤s3中，无需人工拿取并分开合格射频部分或不合格射频，而是通过水平气缸12和真空管15实现不合格射频部分的在线剔除，以及合格射频部分的在线输送到下一个工序，相比传统的方法，极大的减轻了工人的工作强度，同时提高了射频部分的检测效率。
34.s4、重复步骤s2~s3的操作，即可连续的对料筒9内的射频部分中的芯片依次进行
检测。其中，在步骤s2中，通过顶料气缸10将待检测射频部分顶升到检测工位，以进行电性能检测，无需人工一个接一个的从料筐内拿取射频部分，因此该检具实现了射频部分的连续检测，不仅减轻了工人的工作强度，同时进一步的提高了射频部分的检测效率。
35.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。