专利名称：一种三轴无磁校验台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种三轴无磁校验台。
背景技术：
对油田钻井和地质钻探领域，采用磁测量原理的测斜仪是必不可少的测量仪器。 而对该仪器精度的标定都往往采用机械式的三轴校验台。该类校验台往往都采用了机械刻度盘来读取数据，但是由于校验台的测量精度高，刻度线往往很细很密，因而很容易会造成视觉误差，此外每一个人站的位置不同，其所读取的同一点的刻度就会不同，这些都极大了影响了标定的精度。而采用传统的光电编码器的方式进行数据读取的话，则会因其轴承的材料含磁而导致无法测量。当前，磁测量领域现在已日渐普及，相关的测试设备也早已开始研制。但由于磁传感器对周围磁场环境的特殊要求，用于标定的校验台必须是无磁的，所以一般的校验台无法满足。因此需要一种及不会有磁性的影响，又能保证读数精确的编码器和的测试平台，以使得测协议能准确测量并方便精确的读取数据。
实用新型内容本实用新型提供一种三轴无磁校验台，该种校验台整体均是无磁的，避免了磁性对测试仪器的影响，而且通过其通过光电编码器读数的唯一性，又避免了机械刻度盘读数的误差，保证了测量数据读取的准确。该种校验台不仅极大的方便了调试人员的调试工作， 而且在提高仪器准确度的同时也降低了调试人员的工作量。为实现上述目的，采用以下技术方案一种三轴无磁校验台，其组成包括方位轴、井斜轴和工具面轴，所述方位轴上安装有方位光电编码器、差分刻度盘、方位锁定手轮和调平装置，并有微调机构，其台面可以围绕台体和下轴套旋转，需要锁定或微调时，拧紧台面顶部的方位锁定手轮，然后转动微调机构，进行微调，调整好后可将台面锁定，光电编码器固定在台面的轴上，随台面一起转动，可以保证安装在校验台上的测试仪方位的准确性；所述井斜轴安装在方位平台上的两根立柱上，其上安装有井斜光电编码器，并有锁紧机构、刻度盘和微调机构，两个井斜半轴与固定块可围绕两个立柱内镶的轴套旋转，保证测试需要；所述工具面轴上安装有工具面光电编码器，并配有锁紧手轮、刻度盘和微调机构，其旋转轴可以在镶在固定块内的轴套中旋转， 需要微调时，转动微调机构，进行微调，需要锁定时，调整锁紧螺钉，可实现锁定。进一步的，所述三轴无磁校验台的光电编码器为特制的无磁光电编码器，校验台整体也全部采用无磁材料制作而成，因此避免了磁性对测试仪器的干扰，保证了测试仪器的正常工作。进一步的，测试仪器安装在工具面轴的旋转轴轴孔内，调整轴孔两端的锁紧手轮可以将测试仪器固定或松开，每个轴上均装有刻度盘和差分盘，可以进行读数，同时光电编码器显示读数，避免了机械刻度盘读数的误差，保证了测试的精确，又方便了数据读取，极大减轻了测试的工作量，使得测试更简便和易于操作。
下面根据实施例和附图对本实用新型作进一步详细说明。图1是本实用新型所述一种三轴无磁校验台方位轴组成结构剖视图；图2是本实用新型所述一种三轴无磁校验台井斜轴组成结构剖视图；图3是本实用新型所述一种三轴无磁校验台工具面轴组成结构剖视图；图4是本实用新型所述的一种三轴无磁校验台整体结构示意图；图中1、方位光电编码器；2、方位锁定手轮；3、方位锁定轴；4、台面；5、台体；6、差分刻度盘；7、线路板；8、调平装置；9、台体挡块；10、下轴套；11、锁紧母；12、离合锥块；13、微调机构；14、井斜光电编码器罩；15、井斜光电编码器；16、过度套；17、半轴A ；18、轴套；19、立柱A ；20、固定块；21、半轴B ；22、立柱B ；23、轴套；24、锁紧机构；25、刻度盘；26、微调机构； 27、锁紧手轮；28、刻度盘；29、工具面光电编码器罩；30、工具面光电编码器；31、轴套；32、 微调机构；33、旋转轴；34、方位轴；35、井斜轴；36、工具面轴；37、固定螺钉；38、轴孔。
具体实施方式
如图1至4所示，给出了本实用新型所述的一种三轴无磁校验台的具体实施例，图中，三轴分别为方位轴34、井斜轴35、和工具面轴36，所述方位轴34底端有固定螺钉37，可以固定安装在地面上，其台体5内安装有方位光电编码器1、线路板7，所述台体5的周围是差分刻度盘6，台体5中心装有方位锁定轴3，其顶端有方位锁定手轮2，在台体5内的方位锁定轴3下端安装有下轴套10，通过离合锥块12与方位锁定轴3连接，所述的下轴套10上端还套装有微调结构13，所述方位锁定轴3底端有锁紧螺母11和台体挡块9用于台体5的定位，因此方位轴34的台面4可以围绕台体5和下轴套10旋转，需要锁定或微调时，拧紧台面顶部的方位锁定手轮2，然后转动微调机构13，进行微调，不动微调机构13，可以将台面4锁定，光电编码器1固定在台面4的方位锁定轴3上，随台面4 一起转动；；所述井斜轴35安装在固定在方位轴34台面4上的立柱A19和立柱B22上，其两端的半轴A17和半轴B21分别插入在装在所述立柱A19和立柱B22上端的轴套A18和轴套B23内，半轴A17 末端的过度套16外端一侧端面上安装有井斜光电编码器15，其外罩有井斜光电编码器罩 14，所述两根半轴的中间安装有固定块20，所述半轴B21的末端装有刻度盘25，并套装有锁紧机构对，所述锁紧机构M和刻度盘25之间安装有微调机构沈，其一端连接半轴B21，另一端连接在立柱B22上，井斜轴35的旋转实现方案是半轴A17和半轴B21与固定块20围绕立柱A19和立柱B22内镶的轴套A18和轴套B23旋转，需要微调时，转动微调机构沈，进行微调，需要锁定时，调整锁紧机构M的调整螺钉，可实现锁定；所述工具面轴36的旋转轴 33套装在井斜轴35的轴套31内，上端套装有刻度盘观，在所述旋转轴33上的刻度盘观下端套装有工具面光电编码器30，并外罩有工具面光电编码器罩四。所述工具面轴36的轴孔38用于安装测试仪器，其两端各装有一个锁紧手轮27，调整轴孔38两端的锁紧手轮27可以将测试仪器固定或松开，所述方位轴34、井斜轴35和工具面轴36上均装有刻度盘和差分盘，可以进行读数，同时均有光电编码器显示读数，避免了机械刻度盘读数的误差，保证了测试的精确，又方便了数据读取，极大减轻了测试的工作量，使得测试更简便和易于操作；所述三轴无磁校验的所有光电编码器均为特制的无磁光电编码器，校验台整体也全部采用无磁材料制作而成，因此避免了磁性对测试仪器的干扰， 保证了测试仪器的正常工作。
权利要求1.一种三轴无磁校验台，其组成包括方位轴(34)、井斜轴(35)、工具面轴(36)，其特点在于，所述方位轴(34)底端有固定螺钉(37)，其台体(5)内安装有方位光电编码器(1)、线路板(7)，所述台体(5)的周围是差分刻度盘(6)，台体(5)中心装有方位锁定轴(3)，其顶端有方位锁定手轮0)，在台体(5)内的方位锁定轴C3)下端安装有下轴套(10)，通过离合锥块(1 与方位锁定轴( 连接，所述方位锁定轴( 上的下轴套(10)上端还套装有微调结构(13)，所述方位锁定轴(3)底端有锁紧螺母(11)和台体挡块(9)；所述井斜轴(35)安装在固定在方位轴(34)台面上的立柱A (19)和立柱^2 上，其半轴(17)和半轴Ql)分别插入在所述立柱A(19)和立柱W22)的轴套A(18)和轴套W23)内，半轴A(17)的末端的过度套(16)外端安装有井斜光电编码器(15)，其外罩有井斜光电编码器罩(14)，所述两根半轴的中间安装有固定块(20)，所述半轴^21)的末端装有刻度盘(25)，并套装有锁紧机构(M)，锁紧机构(24)和刻度盘(25)之间安装有微调机构( )，其一端连接半轴B (21)， 另一端连接在立柱^2 上；所述工具面轴(36)的旋转轴(3 套装在井斜轴(3 的轴套 (31)内，上端套装有刻度盘(观)，在所述旋转轴(3 上的刻度盘08)下端套装有工具面光电编码器(30)，并外罩有工具面光电编码器罩09)；所述的一种三轴无磁校验台，其全部构件均由无磁材料制成。
2.根据权利要求1所述的一种三轴无磁校验台，其特征在于，所述工具面轴(36)的轴孔(38)用于安装测试仪器，其两端各装有一个锁紧手轮⑵)。
专利摘要一种三轴无磁校验台，其组成包括方位轴、井斜轴和工具面轴，方位轴台面上有两根立柱，井斜轴的两个半轴插入在立柱上端的轴套内，工具面轴的旋转轴套装在井斜轴的轴套内，测试仪器安装在工具面轴的旋转轴轴孔内，调整轴孔两端的锁紧手轮可以将测试仪器固定或松开，每个轴上均装有刻度盘和差分盘，可以进行读数，同时光电编码器显示读数，避免了机械刻度盘读数的误差，保证了测试的精确，又方便了数据读取，极大减轻了测试的工作量，使得测试更简便和易于操作。进一步的，所述的光电编码器均为特制的无磁光电编码器，校验台整体也全部采用无磁材料制成，因此避免了磁性对测试仪器的干扰，保证了测试仪器的正常工作。
文档编号E21B47/02GK202017484SQ20102065244
公开日2011年10月26日 申请日期2010年12月10日 优先权日2010年12月10日
发明者余磊 申请人:北京深度科技有限责任公司