专利名称：Cpu底座专用测试针的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电子产品测试装置用的测试针，具体是一种用于测试CPU底座端子的专用测试针。
背景技术：
随着集成电路制造技术的发展，CPU、存贮器等的集成度不断提高，与它们配套的插座的端子数也在大幅增加，端子之间的间距在不断减小，使插座的制造、测试难度增加。特别是CPU底座，其端子数已经增加到462～1300针，端子之间的间距减小到1.20mm～0.4mm，目前的测试探针多采用弹性结构，探针较粗，不能适应高密度的CPU底座端子的测试要求。
已有的弹性结构探针的针体较粗，探针的头部多为杯形或尖形，杯形头探针较粗，无法插入CPU底座端子孔内，接触不到端子，无法进行测试。尖形头探针虽可插入CPU底座端子孔内，但其尖形头会划伤CPU底座端子，且无设计限制部，插入CPU底座端子时会插入过深碰坏端子，或将端子压出CPU底座，导致CPU底座的损坏。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有测试探针的上述不足，提供一种CPU底座专用测试针，以满足高密度CPU底座端子测试需求。
本实用新型的CPU底座专用测试针，具有针体，针体一头依次设有限制部以及与待测物接触的触头部，另一头设有接线部，触头部的端部呈球面。
本CPU底座专用测试针具有限制部和端部呈球面的触头部，直径小，触头部的球面端部设置，可以保证触头部与CPU底座端子的可靠电接触，避免划伤CPU底座端子表面，限制部可以避免测试针过多的插入CPU底座端子中。
将若干该测试针固定于针盘上，配合CPU底座下面的带弹性探针的下针盘，通过测试仪器可完成CPU底座上端子的导通测试、耐压测试等。
图1为本实用新型一实施例示意图；图2为图1的左视图；图3为图1的右视图。
具体实施方式
以下结合实施例附图对本实用新型进一步说明。
如图1～图3所示，CPU底座专用测试针具有针体1，针体1一头依次设有限制部3、以及与待测物接触的触头部4，另一头设有接线部2，触头部4的端部呈球面，这样可以保证触头部4的端部与CPU底座插孔的可靠电接触，避免划伤CPU底座插孔表面。
测试针用钢材切削而成，测试针表面镀有金层、或镍层等。
测试针针体1部分的直径通常为0.5～1.5mm，长度为6～10mm。若干测试针插入针盘上安装孔中固定，针体1部分为其固定段，针体1与针盘上的安装孔紧配合。
触头部4的长度不小于CPU底座插孔的深度，触头部4的长度为1.0～4.5mm，触头部的直径为0.10～0.50mm。
限制部3位于触头部4与针体1之间，限制部3的直径不小于触头部4的直径，不大于针体1的直径，限制部3的直径为0.40～0.75mm，限制部3的长度为1.0～4.5mm，限制部3可以避免测试针过多的插入CPU底座插孔中。
接线部2用来连接导线，将信号传递至测试仪器处理。接线部2的直径为0.40～0.75mm，接线部2的长度为2～20mm。
一实例中，测试针的总长度可为16mm。其中，针体1的直径为0.9mm，长度为8mm；触头部4的直径为0.28mm，长度为2mm；限制部3的直径为0.5mm，长度为2mm；接线部2的直径为0.5mm，长度为4mm。
使用时，将若干上述测试针固定于针盘安装孔内，针盘的安装孔位和CPU底座的端子一一对应，配合CPU底座下面的带弹性探针的下针盘，使针盘上的所有测试针的触头部均插入CPU底座的端子且可靠接触，通过测试仪器完成CPU端子的导通测试、耐压测试等。
权利要求1.一种CPU底座专用测试针，具有针体(1)，其特征是针体一头依次设有限制部以及与待测物接触的触头部，另一头设有接线部，触头部的端部呈球面。
2.根据权利要求1的CPU底座专用测试针，其特征是所述触头部的长度不小于CPU底座插孔的深度，触头部的长度为1.0～4.5mm，触头部的直径为0.10～0.50mm。
3.根据权利要求1或2的CPU底座专用测试针，其特征是限制部的直径不小于触头部的直径，不大于针体的直径，限制部的直径为0.40～0.75mm，限制部的长度为1.0～4.5mm。
4.根据权利要求1的CPU底座专用测试针，其特征是接线部的直径为0.40～0.75mm，接线部的长度为2～20mm。
5.根据权利要求1的CPU底座专用测试针，其特征是测试针表面镀有金层、或镍层。
6.根据权利要求1的CPU底座专用测试针，其特征是测试针之针体的直径为0.9mm，长度为8mm；触头部的直径为0.28mm，长度为2mm；限制部的直径为0.5mm，长度为2mm；接线部的直径为0.5mm，长度为4mm。
专利摘要本实用新型涉及CPU底座专用测试针，它具有针体，针体一头依次设有限制部以及与待测物接触的触头部，另一头设有接线部，触头部的端部呈球面。其触头部的直径为0.10～0.50mm，触头部的长度为1.0～4.5mm，触头部的球面端部设置，可以保证触头部与CPU底座端子的可靠电接触，避免划伤CPU底座端子表面，限制部可以避免测试针过多的插入CPU底座端子中。将若干该测试针固定于针盘上，配合CPU底座下面的带弹性探针的下针盘，通过测试仪器可方便完成CPU底座上端子的导通测试、耐压测试等。
文档编号G01R1/06GK2684199SQ20032011927
公开日2005年3月9日 申请日期2003年12月17日 优先权日2003年12月17日
发明者谢天豪 申请人:谢天豪