专利名称：一种快速测试pin-tia灵敏度的方法
技术领域：
本发明涉及一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法。
技术背景在光纤通信中，有一种大量使用的光电探测器叫做PIN-TIA，它是将一个 光电探测器芯片(PIN)和一个跨阻抗前置放大器芯片(TIA)封装在一个带 透镜的管壳内组成的。这种器件的功能是，将光纤传来的数字光信号接收下 来转变为电信号。 -PIN-TIA最主要的性能参数是接收灵敏度，其定义是在输入信号为伪随机 码情况下，误码率为1X10—9时所对应的接收光功率数值，单位一般为dBm。 实践上准确测量一个PIN-TIA的灵敏度是比较费时的，它首先需要用一个耦 合夹具将光纤传来的误码仪产生的伪随机光信号全部耦合到PIN-TIA的光敏 面上，然后逐渐衰减光信号的强度，观察误码产生情况，直到找到刚刚产生 误码时的光功率数值为止。这个过程一般需要数分钟。一个PIN-TIA生产企业每天的生产量少则几千只，多则几万只，甚至几 十万只。如果每一只PIN-TIA的灵敏度都用上面的办法进行测试的话，需要 占用大量的测试仪器，同时需要耗费很多劳动力，这会使生产出来的PIN-TIA 的测试成本非常高。如果只采用抽测的办法，则无法保证销售到市场上的每 一只产品的灵敏度指标都合格。 发明内容为了克服上述缺陷，本发明的目的是提供一种快速测试PIN-TIA灵敏度 的方法。为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，其测试过程如下1) 、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件。
比如选出灵敏度值分别为
-36dB， -36. 5dBm， -37dBm， -37. 5dBm, -38dBm， -38. 5dBm， -39dBm， -39. 5dBm， -40 dBm;
2) 、先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器的 衰减值调到0dB,同时将耦合台上的陶瓷插芯位置太高到合适的高度，使 PIN-TIA的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生；然后增大光衰 减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；
3) 、'将待测PIN-TIA插到耦合台上，观察误码产生情况，误码率大时， 表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵 敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相 等；
4) 、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到耦合台上，然后将3)中 测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA插到耦合台上，采用与3)中一样的 方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器件；
5) 、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度 为±0. 25dBm。
对于PIN-TIA生产企业来说，往往不需要精确测出每一个PIN-TIA的灵 敏度数值，只需要保证出厂的每一个PIN-T工A,的灵敏度数值高于给用户的承 诺值即可。因此，PIN-T工A生产企业，往往只需要选出承诺给用户的最低灵敏 度器件，然后采用上面的2)或者3)中的方法， 一步就可完成产品的出厂检 验，确保每一只出厂销售的器件的灵敏度指标合格。
本发明专利将提供一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，将测试效率由 原来的几分钟一个提高到几秒钟一个，能快速、准确地测试PIN-TIA灵敏度。
图1是本发明专利方法的测试系统框图；图2是图1中耦合台的局部放大图。
具体实施例方式
下面通过实施例，并结合附图1、 2，对本发明的技术方案作进一步具体
的说明。图1是本发明专利方法的测试系统框图，它的工作原理是光模块 误码测试仪1驱动光收发合一模块的发射部分发出的伪随机光信号经过光衰
减器2和光分路器3后，分为均匀的两路， 一路连接到光功率计4，另一路连 接光耦合台5的耦合夹具，示波器7与光耦合台5的耦合夹具。由于采用的 是光模块发出的信号为800uW以上的大功率光模块6，所以经光分路器后形成 的两路光信仍然在400uW以上。并采用的是l: l的光分路器3，经光分路器 3后，传到光耦合台5和光功率计的光功率是相等的
图2是光耦合台5的局部放大图，是本发明的核心部分。本发明利用经 光纤传输射出光纤9的光是高斯光束10，高斯光束10传输的距离越远，形成 的光束直径越大，且光束中心的光强分布越均匀，这样插到光耦合台5上， 处于高斯光束10中心部位的PIN-TIA 8，即使几何位置没有严格一致，光敏 面仍然可以在很高的精度上接收到相同强度的光功率。从而在免去耦合步骤 的情况下，使下面的灵敏度测试方法可以实现
PIN-TIA灵敏度测试过程如下
1) 、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件。 比如选出灵敏度值分别为
-36dB， -36. 5dBm， -37dBm， —37. 5dBm， -38dBm， -38. 5dBm， -39dBm， —39.5dBm， -40 dBm;
2) 、先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器2 的衰减值调到OdB，同时将光耦合台5上的陶瓷插芯位置太高到合适的高度， 使PIN-TIA 8的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生。然后增 大光衰减器2的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；
3) 、将待测PIN-TIA 8插到光耦合台5上，观察误码产生情况，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器 件的灵敏度高于标准器件。产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准 器件相等；
4) 、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到光耦合台5上，然后将3) 中测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA 8插到光耦合台5上，采用与3) 中一样的方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器 件；
5) 、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度 为±0. 25dBm。
对于PIN-TIA生产企业来说，往往不需要精确测出每一个PIN-TIA的灵 敏度数值，只需要保证出厂的每一个PIN-TIA的灵敏度数值高于给用户的承 诺值即可。因此，PIN-TIA生产企业，往往只需要选出承诺给用户的最低灵敏 度器件，然后采用上面的2)或者3)中的方法， 一步就可完成产品的出厂检 验，确保每一只出厂销售的器件的灵敏度指标合格。
本发明极大的提高了 PIN-TIA灵敏的测试效率，降低了测试成本。尤其 使PIN-TIA生产企业的产品灵敏度出厂检验效率成倍提高，由原来的几分钟 一个提高到几秒钟一个。
最后，应当指出，以上实施例仅是本发明较有代表性的例子。显然，本 发明的技术方案并不限于上述实施例，还可W有许多变形。本领域的普通技 术人员能从本发明公开的内容直接导出或联想到的所有变形，均应认为是本 发明的保护范围。
权利要求
1、一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，其特征在于其是PIN-TIA灵敏度测试过程如下1)、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，比如选出灵敏度值分别为-36dB，-36.5dBm，-37dBm，-37.5dBm，-38dBm，-38.5dBm，-39dBm，-39.5dBm，-40dBm；2)、.先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置抬高到合适的高度，使PIN-TIA的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生；然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；3)、将待测PIN-TIA插到耦合台上，观察误码产生情况，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；4)、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到耦合台上，然后将3)中测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA插到耦合台上，采用与3)中一样的方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器件；5)、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。
全文摘要
本发明涉及一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，其特征在于其是PIN-TIA灵敏度测试过程如下1)精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，2)先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置调整到合适的高度，然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；3)将待测PIN-TIA插到耦合台上，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；4)重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。
文档编号G01M11/02GK101294865SQ20071006831
公开日2008年10月29日 申请日期2007年4月25日 优先权日2007年4月25日
发明者高彦锟 申请人:高彦锟