专利名称：Dsp器件测试图形向量的自动生成方法
技术领域：
本发明涉及图形向量的生成方法，具体而言是一种DSP器件测试图形向量的自动生成方法。
背景技术：
DSP因在重量、体积、性能和价格等方面较之以前的大规模集成电路具有十分明显的优势而被广泛采用，DSP的测试是DSP设计流程中的重要环节。一方面，随着系统复杂度的增加，DSP中晶体管数目与器件管脚数目的比值将按指数增长，如果要测到每个电路的话，测试程序会越来越复杂，测试向量也会越来越深；另一方面，为了保护IP所有者的利益，IP使用者对其内部逻辑结构往往无从知晓，因此DSP测试的重点已从面向电路结构和故障为主转向了面向功能为主。采用功能级描述实现DSP器件测试的关键在于获取被测器件的测试图形向量。现有技术一般采用多个示波器在器件的输入输出管脚进行数据的检测，专人对每个周期的输入输出信号进行分析、修正和记录。由于DSP器件管脚数目达上百之多，系统集成度高，指令复杂，其内部的哈佛结构、流水线操作和指令的并行运行，使得每一个时钟周期的运行结果非常复杂而且难以确定，此外，因其内部模块之间通信的复杂性，使得很多指令运行的结果并不直接传输在器件的输出管脚上，信号采集十分困难。因此，设计出一种DSP器件测试图形向量的自动生成方法十分必要。
发明内容
本发明的目的是提供一种DSP器件测试图形向量的自动生成方法。为实现这一目的，本发明采用如下技术方案一种DSP器件测试图形向量的自动生成方法，包括以下步骤a.编写源程序使用DSP指令集中的汇编语言或C语言编写源程序；b.软件仿真采用CCS软件对DSP器件的各部分功能进行模拟，形成最终源程序和可执行文件以及.hex文件；C.搭建开发系统将.hex文件烧录至外部存储器，搭建由测试系统、开发板和适配器组成的开发系统，为DSP器件提供能够正常运行的电源、时钟、复位信号以及片外辅助器件和信息；d.硬件仿真由开发系统提供DSP器件正常运行的信号，用硬件仿真盒通过DSP器件上的JTAG 口将最终源程序烧录至DSP器件，通过CCS软件查看程序运行的过程和结果；e.引导加载并运行最终源程序摆脱硬件仿真盒，由外部存储器提供最终源程序，使DSP器件运行Bootloader程序，拷贝最终源程序至片内，并高速运行最终源程序，输出结果；f.形成最初测试图形向量测试系统采集并记录外部存储器的输出信息和DSP器件的输出信息，形成最初测试图形向量；g.生成测试图形向量加工转换最初测试图形向量，摆脱开发板，由测试系统模拟片外存储器，提供DSP 输入信息。合并DSP输入和输出信息，生成测试图形向量。进一步地，所述外部存储器为EEPR0M。进一步地，所述硬件仿真盒为)(DS560硬件仿真盒。采用本发明，能够实现DSP测试图形向量的自动生成，而无须专业技术人员对每个指令周期信号进行分析，信号采集不仅容易，而且方便可靠。
图1为本发明的流程示意图；图2为本发明的开发系统结构示意图；图3为测试系统工作原理图；图4为测试图形向量形成过程示意图。图中，“1”、“0”表示输入信号，“H”、“L”表示预期输出信号
具体实施例方式以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细描述，但该实施例不应理解为对本发明的限制。实施例1a.编写源程序使用DSP指令集中的汇编语言编写源程序；b.软件仿真采用CCS3. 3软件对DSP器件的各部分功能进行模拟，将最终源程序转换为可执行的.OUt文件，并将.out文件转换为.hex文件；c.搭建开发系统将.hex文件烧录至外部存储器，搭建由SP3160V大规模集成电路测试系统、开发板和适配器组成的开发系统，为DSP器件提供能够正常运行的电源、时钟、复位信号以及片外辅助器件和信息；d.硬件仿真由开发系统提供DSP器件正常运行的信号，用硬件仿真盒通过DSP器件上的JTAG 口将最终源程序烧录至DSP器件，通过CCS3. 3软件查看程序运行的过程和结果；e.引导加载并运行最终源程序摆脱硬件仿真盒，由外部存储器提供最终源程序，使DSP器件运行Bootloader程序，拷贝最终源程序至片内，并高速运行最终源程序，输出结果；f.形成最初测试图形向量
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测试系统采集并记录外部存储器的输出信息和DSP器件的输出信息，采集得来的图形向量分为两个部分，第一部分为DSP上电复位后Bootloader的过程，第二部分为代码在DSP内部运行的过程，形成最初测试图形向量；g.生成测试图形向量加工转换最初测试图形向量，摆脱开发板，将第一部分图形向量中的输出信号由测试系统模拟片外存储器，直接提供给DSP作为输入信息，第二部分图形向量不变，合并 DSP输入和输出信息，生成测试图形向量。实施例2a.编写源程序使用DSP指令集中的C语言编写源程序；b.软件仿真采用CCS3. 3软件对DSP器件的各部分功能进行模拟，将最终源程序转换为可执行的.OUt文件，并将.out文件转换为.hex文件；c.搭建开发系统将.hex文件烧录至EEPR0M，搭建由SP3160V大规模集成电路测试系统、开发板和适配器组成的开发系统，为DSP器件提供能够正常运行的电源、时钟、复位信号以及片外辅助器件和信息；d.硬件仿真由开发系统提供DSP器件正常运行的信号，用硬件仿真盒通过DSP器件上的JTAG 口将最终源程序烧录至DSP器件，通过CCS3. 3软件查看程序运行的过程和结果；e.引导加载并运行最终源程序摆脱硬件仿真盒，由外部存储器提供最终源程序，使DSP器件运行Bootloader程序，拷贝最终源程序至片内，并高速运行最终源程序，输出结果；f.形成最初测试图形向量测试系统采集并记录外部存储器的输出信息和DSP器件的输出信息，采集得来的图形向量分为两个部分，第一部分为DSP上电复位后Bootloader的过程，第二部分为代码在DSP内部运行的过程，形成最初测试图形向量；g.生成测试图形向量加工转换最初测试图形向量，摆脱开发板，将第一部分图形向量中的输出信号由测试系统模拟片外存储器，直接提供给DSP作为输入信息，第二部分图形向量不变，合并 DSP输入和输出信息，生成测试图形向量。实施例3a.编写源程序使用DSP指令集中的C语言编写源程序；b.软件仿真采用CCS3. 3软件对DSP器件的各部分功能进行模拟，将最终源程序转换为可执行的.OUt文件，并将.out文件转换为.hex文件；c.搭建开发系统将.hex文件烧录至EEPR0M，搭建由SP3160V大规模集成电路测试系统、开发板和适配器组成的开发系统，为DSP器件提供能够正常运行的电源、时钟、复位信号以及片外辅助器件和信息；d.硬件仿真由开发系统提供DSP器件正常运行的信号，用)(DS560硬件仿真盒通过DSP器件上的JTAG 口将最终源程序烧录至DSP器件，通过CCS3. 3软件查看程序运行的过程和结果；e.引导加载并运行最终源程序摆脱硬件仿真盒，由外部存储器提供最终源程序，使DSP器件运行Bootloader程序，拷贝最终源程序至片内，并高速运行最终源程序，输出结果；f.形成最初测试图形向量测试系统采集并记录外部存储器的输出信息和DSP器件的输出信息，采集得来的图形向量分为两个部分，第一部分为DSP上电复位后Bootloader的过程，第二部分为代码在DSP内部运行的过程，形成最初测试图形向量；g.生成测试图形向量加工转换最初测试图形向量，摆脱开发板，将第一部分图形向量中的输出信号由测试系统模拟片外存储器，直接提供给DSP作为输入信息，第二部分图形向量不变，合并 DSP输入和输出信息，生成测试图形向量。本说明书中未作详细描述的内容，属于本专业技术人员公知的现有技术。
权利要求
1.一种DSP器件测试图形向量的自动生成方法，包括以下步骤a.编写源程序使用DSP指令集中的汇编语言或C语言编写源程序；b.软件仿真采用CCS软件对DSP器件的各部分功能进行模拟，形成最终源程序和可执行文件以及.hex文件；c.搭建开发系统将.hex文件烧录至外部存储器，搭建由测试系统、开发板和适配器组成的开发系统， 为DSP器件提供能够正常运行的电源、时钟、复位信号以及片外辅助器件和信息；d.硬件仿真由开发系统提供DSP器件正常运行的信号，用硬件仿真盒通过DSP器件上的JTAG 口将最终源程序烧录至DSP器件，通过CCS软件查看程序运行的过程和结果；e.引导加载并运行最终源程序摆脱硬件仿真盒，由外部存储器提供最终源程序，使DSP器件运行Boot loader程序， 拷贝最终源程序至片内，并高速运行最终源程序，输出结果；f.形成最初测试图形向量测试系统采集并记录外部存储器的输出信息和DSP器件的输出信息，形成最初测试图形向量；g.生成测试图形向量加工转换最初测试图形向量，摆脱开发板，由测试系统模拟片外存储器，提供DSP输入信息。合并DSP输入和输出信息，生成测试图形向量。
2.根据权利要求1所述的DSP器件测试图形向量的自动生成方法，其特征在于所述外部存储器为EEPR0M。
3.根据权利要求1或2所述的DSP器件测试图形向量的自动生成方法，其特征在于 所述硬件仿真盒为》)S560硬件仿真盒。
全文摘要
本发明涉及DSP器件测试图形向量的自动生成方法，它包括以下步骤编写源程序；软件仿真；搭建开发系统；硬件仿真；引导加载并运行最终源程序；采集并记录外部存储器的输出信息和DSP器件的输出信息，第一部分为DSP上电复位后Bootloader的过程，第二部分为代码在DSP内部运行的过程，形成最初测试图形向量；加工转换最初测试图形向量，摆脱开发板，将第一部分图形向量中的输出信号由测试系统模拟片外存储器，直接提供给DSP作为输入信息，第二部分图形向量不变，合并DSP输入和输出信息，生成测试图形向量。本发明能够实现DSP测试图形向量的自动生成，而无须专业技术人员对每个指令周期信号进行分析，信号采集不仅容易，而且方便可靠。
文档编号G01R31/3183GK102426335SQ20111024307
公开日2012年4月25日 申请日期2011年8月24日 优先权日2011年8月24日
发明者宋芳, 常辉, 张文安, 怯新现, 李永梅, 罗向阳, 邓念平 申请人:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所