专利名称：总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于地球物理磁法勘查岩、矿石标本磁参数领域，特别涉及一种利用总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置。
背景技术：
自从我国的地面磁测仪器由自由质子磁力仪替代传统机械磁称后，地面磁法勘查的精度得到大幅度的提高。因为质子磁力仪测量的是地磁总场(T)的值，所以用它测定岩 (矿石)标本磁参数的装置与计算公式也做了相应的改变，在名为《地面高精度磁测技术规范》的附录C中给出了测量磁参数的计算公式高斯第二位置磁化率
权利要求1.一种总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，该装置包括总场磁力仪 (21)、标本盒(22)、平板和平板架(M)，所述标本盒0 中装有岩石标本或矿石标本，所述总场磁力仪包括上探头(27)、下探头0 和探头支架( )，其特征在于所述平板03)通过平板架04)进行支撑并置于平稳的正常地磁场中，并使位于平板上的与平板长轴相垂直的垂线对准磁北，所述总场磁力仪放置于平板长轴的一侧，所述平板上设有滑槽，将内置有标本的标本盒0 放在平板的滑槽上进行滑动，保持所述总场磁力仪的下探头0 中心与标本盒0 中心等高。
2.如权利要求1所述的总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，其特征在于 所述总场磁力仪放置于平板长轴中线的西侧或东侧，且与平板之间留有l_2mm的间距。
3.如权利要求1或2所述的总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，其特征在于所述标本装在立方体标本盒0 内，且标本盒0 的六个盒面分别用数字1-6标记。
专利摘要本实用新型涉及一种总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的平测装置，其包括总场磁力仪、内置有标本的标本盒、平板和平板架，总场磁力仪包括探头和探头支架，将总场磁力仪测得参数代入下式，得到标本磁参数-磁化率K和剩余磁化强度Mr我国《地面高精度磁测技术规程》附录C中给出了总场磁力仪测量岩、矿石标本磁参数的装置是斜测装置。本实用新型将斜测改为平测，该装置不仅可以免去斜测因调斜不准产生的误差，而且，岩矿石标本在斜面上不断翻转震动会产生倾斜位移，带来距离偏差的最大误差。该平测装置简单牢靠，可提高岩、矿石标本磁参数测量的精度。
文档编号G01R33/12GK202025076SQ20112009538
公开日2011年11月2日 申请日期2011年4月2日 优先权日2011年4月2日
发明者徐立忠, 王庆乙, 蒋彬 申请人:中色地科矿产勘查股份有限公司