一种利用光栅检测微电流的装置制造方法
【专利摘要】一种利用光栅检测微电流的装置，包括圆柱磁体，在圆柱磁体上与磁场方向垂直缠绕有光栅，光栅上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅的入射光一端接电流输入端子，金属导电层在光栅的出射光一端接电流输出端子，光栅的出射光一端接信号处理模块，本发明具有良好的稳定性和灵敏度，同时大幅降低了成本。
【专利说明】—种利用光栅检测微电流的装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及微电流检测【技术领域】，特别涉及一种利用光栅检测微电流的装置。
【背景技术】
[0002]在电力输送和应用过程中，经常需要对电流进行严格监控，目前对小电流的检测的一个有效途径就是是通过光纤电流传感器，但是目前的光纤电流传感器灵敏度和稳定性不可兼得，提高灵敏度要以牺牲稳定性为前提，成为该领域的难点之一。
【发明内容】
[0003]为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种利用光栅检测微电流的装置，具有结构简单使用方便的特点。
[0004]基于此，本发明采用的技术方案是:
[0005]一种利用光栅检测微电流的装置，包括圆柱磁体1，在圆柱磁体I上与磁场方向垂直缠绕有光栅2,光栅2上涂覆金属导电层,金属导电层在光栅2的入射光一端接电流输入端子4,金属导电层在光栅2的出射光一端接电流输出端子5,光栅2的出射光一端接信号处理模块3。
[0006]与现有技术相比，本发明具有良好的稳定性和灵敏度，同时大幅降低了成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]附图为本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0008]下面结合附图和实施例对本发明进行更详尽的说明。
[0009]如图所示，本发明为一种利用光栅检测微电流的装置，包括圆柱磁体1，在圆柱磁体I上与磁场方向垂直缠绕有光栅2，光栅2上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅2的入射光一端接电流输入端子4,金属导电层在光栅2的出射光一端接电流输出端子5,光栅2的出射光一端接信号处理模块3。
[0010]本发明的工作过程是:
[0011]将待测电流从电流输入端子4接入，从电流输出端子5接出，带有金属导电层的光栅2既作为光载体，又作为电导体，通电后，光栅2受到磁场作用力发生形变，该形变会使其反射波的峰值波长发生一定的位移，信号处理模块3根据该位移量即可得到相应的待测电流大小。
【权利要求】
1.一种利用光栅检测微电流的装置，其特征在于，包括圆柱磁体(I)，在圆柱磁体(I)上与磁场方向垂直缠绕有光栅(2),光栅(2)上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅(2)的入射光一端接电流输入端子(4),金属导电层在光栅(2)的出射光一端接电流输出端子(5),光栅(2)的出射光一端接信号处理模块(3)。
【文档编号】G01R19/00GK103809006SQ201210439653
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2012年11月7日 优先权日:2012年11月7日
【发明者】田边 申请人:西安交大京盛科技发展有限公司