专利名称：一种日照温度概率密度的测定方法
技术领域：
本发明是一种日照温度参数的测定方法，具体来说，涉及一种日照温度概率密度的测定方法。
背景技术：
日照温度作为重要气候环境因素之一，其采集样本的概率统计特性在我国农业科学、生物科学、环境科学、建筑科学等重要领域的研究中均有所涉及，且其采集样本的概率统计特性在各学科领域中普遍采用概率密度描述[1_5]，例如，马志福等人以塔里木盆地某个气象站冬季I月的平均温度作为随机变量，并假定此随机变量的概率统计特性符合正态分布函数，建立了塔里木盆地冬季温度概率模式，并基于此预测了塔里木盆地各站冬季平均温度不同概率的设计值。因此，对于日照温度采集样本概率密度参数的测定方法研究，具有十分重要的意义。目前，各学科领域对于日照温度采集样本概率密度参数的测定，共有以下几种方法(I)假设检验和参数分析法此法需要事先假定采集样本的概率密度服从某一分布，并通过样本确定分布参数，最后借助检验方法进行分布参数验证，此方法需要一定的经验基础，可行性较差；(2)概率密度直方图法此法首先建立采集样本的概率密度直方图，并对直方图进行曲线拟合，最后借助检验方法确定最接近拟合曲线的分布参数，此方法由于不同的温度区间划分会导致不同形状的概率密度直方图，使得分布参数不具有唯一性和准确性；(3)概率统计工具箱法此法直接将采集样本导入概率统计工具箱中，利用工具箱中的分布函数对采集样本一一分析，并从中找出最佳分布参数，此法受到概率统计工具箱中分布函数的限制，适用性不强。因此，对于日照温度采集样本概率密度参数的测定，有必要研究一种可行性好、准确性高、适用性强的新方法。
发明内容
技术问题本发明所要解决的技术问题是提供一种日照温度概率密度的测定方法，该测定方法可以准确测定日照温度的概率密度。技术方案为解决上述技术问题，本发明采用一种日照温度概率密度的测定方法，该测定方法包括如下步骤步骤10):采集日照温度样本将温度传感器配接到温度采集系统中，然后利用温度传感器对测点的日照温度进行采集，温度传感器将获取的日照温度信息传递到温度采集系统中，形成日照温度样本，日照温度样本包含不同时刻对应的温度值；步骤20):确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值利用式(I)对日照温度样本的累加分布特性进行分析，确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值
权利要求
1.一种日照温度概率密度的测定方法，其特征在于，该测定方法包括如下步骤步骤10):采集日照温度样本将温度传感器配接到温度采集系统中，然后利用温度传感器对测点的日照温度进行采集，温度传感器将获取的日照温度信息传递到温度采集系统中，形成日照温度样本，日照温度样本包含不同时刻对应的温度值；步骤20):确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值利用式(I)对日照温度样本的累加分布特性进行分析，确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值
全文摘要
本发明公开了一种日照温度概率密度的测定方法，包括如下步骤步骤10)采集日照温度样本将温度传感器配接到温度采集系统中，然后利用温度传感器对测点的日照温度进行采集，形成日照温度样本；步骤20)确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值对日照温度样本的累加分布特性进行分析，确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值；步骤30)对日照温度样本的累加分布特性进行拟合；步骤40)测定日照温度样本的概率密度。该测定方法可以准确测定日照温度的概率密度。
文档编号G01K3/00GK103033274SQ201210552128
公开日2013年4月10日 申请日期2012年12月18日 优先权日2012年12月18日
发明者丁幼亮, 王高新, 宋永生 申请人:东南大学