一种采用折叠光路的激光粒度仪的制作方法

文档序号:5990821阅读:328来源:国知局
专利名称:一种采用折叠光路的激光粒度仪的制作方法
技术领域
本实用新型涉及粒度测量技术,具体涉及一种采用折叠光路的激光粒度仪。
背景技术
激光粒度仪是根据光的散射原理测量粉颗粒大小的一种设备,其能够用于测量各种固体粉末、乳液颗粒、雾滴的粒度分布。如图I所示,激光粒度仪一般包括激光管、聚焦透镜、针孔装置、傅里叶透镜、测量窗口、光电探测器阵列等,其中聚焦透镜用于聚集光束,针孔装置是用于过滤激光束空间高频分量的空间滤波器,傅里叶透镜使光束聚集后通过测量窗口,光电探测器阵列则用于检测穿过测量窗口后的光射信号并将此信号送到分析系统中进行分析,得到样品的粒度分布·结果。从图中可以看出,整个测量光路整体较长,基于这种光路结构所涉及的仪器体积较长较大。这种细长的仪器对结构件的制作和装配要求很高,一旦不能满足精度要求,整个光路便会产生弯曲,造成光路调节精度降低,进而造成测量背景升高,对测量造成影响。为了克服上述缺陷,使得粒度仪的结构更加紧凑,目前部分粒度仪采用了如图2或图3所示的折叠光路结构。这种折叠光路整体长度缩短很多,减小了仪器的体积,另外还可以降低了对仪器结构件的精度要求,仪器的整体结构更加稳定可靠,对测量有好处。但图2和图3中的折叠光路都存在一个较大的缺陷,由于它们所设置的光学组件都设置在针孔装置的末端,一旦光学组件的表面出现灰尘等颗粒或者表面出现变形,那么通过针孔装置进行滤波后的光束会重新出现瑕疵,造成背景升高,对测量造成影响。综上所述,目前激光粒度仪所采用的光路都存在可以改进之处。
发明内容针对上述问题,本实用新型提供一种仪器体积较小、整体结构可靠的采用折叠光路的激光粒度仪,其采用的折叠光路不会对光束造成影响,确保测量准确可靠。本实用新型为解决其技术问题所采用的技术方案是一种采用折叠光路的激光粒度仪,包括一用于发射激光的激光管,激光管的后端依激光光路前进的方向依次设置有聚焦透镜、针孔装置、傅里叶透镜、测量窗口以及光电探测器阵列,激光管和聚焦透镜之间的激光光路上设置有用于改变激光光路方向的光学组件。其中,所述光学组件包括一对等腰直角三棱镜,等腰直角三棱镜的斜面相对垂直设置。本实用新型的有益效果是本实用新型所设置的光学组件能够改变粒度仪的激光光路方向,使得激光光路能够不按单一直线传播,光路的长度缩短,粒度仪的整体体积减小,降低了对仪器结构件的精度要求,仪器的整体结构更加稳定可靠,测量更加准确;光学组件设置在针孔装置前端,光学组件上灰尘或表面变形所产生的对光束的不良影响都会被后面针孔装置修复,光束质量等特性会变好,因此仪器背景保持良好,对测量基本无影响。以下结合附图
具体实施方式
进行进一步的说明图I为传统采用直线光路的激光粒度仪的结构示意图;图2为传统采用一种折叠光路的激光粒度仪的结构示意图;图3为传统采用另一种折叠光路的激光粒度仪的结构示意图;图4为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参照图4,本实用新型的采用折叠光路的激光粒度仪,包括一用于发射激光的激光管1,激光管I的后端依激光光路前进的方向依次设置有聚焦透镜2、针孔装置3、傅里叶透镜4、测量窗口 5以及光电探测器阵列6,激光管I和聚焦透镜2之间的激光光路上设置有用于改变激光光路方向的光学组件7。此光学组件7用于使得激光光路方向发生改变,降低光路所占的空间长度,例如光学组件可以将激光光路的角度变为90度直角。当然,优选的是,光学组件7包括一对等腰直角三棱镜71,等腰直角三棱镜71的斜面相对垂直设置,激光管发出的光射到其中一个三棱镜上斜面所成的角度为45度。这种光学组件结构能够使得光路的角度180度改变,仪器的体积减小效果最优。本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制,只要其以基本相同的手段达到本实用新型的技术效果,都应属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种采用折叠光路的激光粒度仪,包括一用于发射激光的激光管(1),激光管(I)的后端依激光光路前进的方向依次设置有聚焦透镜(2)、针孔装置(3)、傅里叶透镜(4)、测量窗口(5)以及光电探测器阵列(6),其特征在于激光管(I)和聚焦透镜(2)之间的激光光路上设置有用于改变激光光路方向的光学组件(J)。
2.根据权利要求I所述的一种采用折叠光路的激光粒度仪,其特征在于所述光学组件(7)包括一对等腰直角三棱镜(71),等腰直角三棱镜(71)的斜面相对垂直设置。
专利摘要本实用新型公开了一种采用折叠光路的激光粒度仪,包括一用于发射激光的激光管,激光管的后端依激光光路前进的方向依次设置有聚焦透镜、针孔装置、傅里叶透镜、测量窗口以及光电探测器阵列,激光管和聚焦透镜之间的激光光路上设置有用于改变激光光路方向的光学组件。本实用新型粒度仪的整体体积减小,降低了对仪器结构件的精度要求,仪器的整体结构更加稳定可靠,测量更加准确;光学组件设置在针孔装置前端,光学组件上灰尘或表面变形所产生的对光束的不良影响都会被后面针孔装置修复,光束质量等特性会变好,因此仪器背景保持良好,对测量基本无影响。
文档编号G01N15/14GK202793991SQ20122040889
公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月17日 优先权日2012年8月17日
发明者陈进, 蔡斌, 张福根 申请人:珠海欧美克仪器有限公司
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