专利名称：光谱分析反射式光路系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光谱分析反射式光路系统，属于光学测量领域。
背景技术：
光谱分析通常分析接收光的光谱变化。现有反射式光路系统是在发射准直器的对面设置一个平面反射镜，使光线往返穿过被测物质后返回准直器，然后再分离出接收光来研究。平面反射镜的调整很麻烦，远距离时非常困难。
发明创造内容现有反射式光路系统是在发射准直器的对面设置一个平面反射镜，使光线往返穿过被测物质后返回准直器，然后分离出接收光来研究。平面反射镜的调整很麻烦，远距离时非常困难。本发明的不同之处在于提供了一种采用角锥棱镜替代反光镜的光路系统。根据角锥棱镜的光学特性，当光线从底部进入后，会自然反射回去，而且返回方向和进入的方向平行。这样，将角锥棱镜替代反光镜后，光线就自然返回了发射准直器，不需要调整。为了加长测试路径以提高测试精度，可以在光路中加入反光镜，反光镜可以是一个也可以是多个，是平面也可以是球面，角锥棱镜按底面对应最后一个反光镜的出射光线放置，光线会自然地平行返回。具体方案为包括准直器(I)、角锥棱镜(2)、反光镜(3)。将角锥棱镜(2)按底面对应准直器(I)出射光线放置，准直器(I)出射的光线经过角锥棱镜(2)后平行返回，自然返回到准直器(I)。为了加长测试路径，在光路中加入两个平面反光镜(3)，角锥棱镜(2)按底面对应最后一个反光镜(3)的出射光线放置，光线会自然平行返回。平面反射镜(3)也可以改为球面反射镜。
附图1为本发明一个实施例的示意图。附图2为本发明另一个实施例的示意图。
具体实施方式
以下结合附图进一步详细说明本发明的实施例。具体方案为包括准直器(I)、角锥棱镜(2)、反光镜(3)。第一个实施例如附图1所示，将角锥棱镜(2)按底面对应准直器(I)出射光线放置，准直器(I)出射的光线经过角锥棱镜(2)后平行返回，自然返回到准直器(I)。第二个实施例如附图2所示，为了加长测试路径，在第一个实施例的光路中加入两个平面反光镜(3)，角锥棱镜(2)按底面对应最后一个反光镜(3)的出射光线放置，光线会自然平行返回。平面反射镜(3)也可以改为球面反射镜。
权利要求1.一种光谱分析反射式光路系统，包括准直器(I)、角锥棱镜(2)、反光镜(3),角锥棱镜(2)的底面对应出射光线设置。
2.如权利要求1所述的一种光谱分析反射式光路系统，其特征在于，角锥棱镜(2)的底面对应准直器(I)的出射光线设置。
3.如权利要求1所述的一种光谱分析反射式光路系统，其特征在于，角锥棱镜(2)的底面对应最后一面反光镜(3)的出射光线设置。
4.如权利要求1所述的一种光谱分析反射式光路系统，其特征在于反光镜(3)为球面反射镜。
专利摘要现有光谱分析反射式光路系统是在发射准直器的对面设置一个平面反射镜，使光线往返穿过被测物质后返回准直器，然后分离出接收光来研究。平面反射镜的调整很麻烦，远距离时非常困难。本实用新型的不同之处在于提供了一种采用角锥棱镜替代反光镜的光路系统。角锥棱镜按底面对应出射光线放置，出射光线经过角锥棱镜后平行返回，自然返回到准直器。
文档编号G01J3/28GK202853750SQ201220535009
公开日2013年4月3日 申请日期2012年10月18日 优先权日2012年10月18日
发明者刘康 申请人:上海伟钊光学科技有限公司