专利名称：三维测距仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及光机电一体化领域，具体涉及一种工程测距装置。
背景技术：
现在的检查房建的测距仪一般是手握式测距仪，使用方法是以室内地面为基准，测其地面到顶板的垂直距离，或以一个墙面为基准，测其到另一个墙面的水平垂直距离。如果在先选取的基准面不在水平或铅垂方向，上述所得数据也就存在明显的误差。
发明内容
本发明的目的是提供一种三维测距仪，解决上述现有技术中的一个或者多个。本发明公开了一种三维测距仪，包括处理器、测距模块、输入模块、输出模块和水准装置，处理器连接输入模块、输出模块和测距模块，处理器根据输入模块的指令将测距模块的数据经处理后传送至输出模块，测距模块包括向上测距的第一测距装置。本发明结合测距装置与水准装置，使本发明能够方便地测量铅垂方向的距离，进而可以方便地测量待检测房建的顶板距离以及顶板的平整度，装置简单，结构合理。在一些实施方式中，还包括容纳上述各模块与装置的外壳和支撑外壳的底盘，外壳可在底盘上同轴旋转运动，底盘设有水平刻度盘，底盘底面中心设有对准器；测距模块还包括第二测距装置，第二测距装置测量方向与第一测距装置测量方向垂直；外壳内还设有可转动的第一射线发生器，第一射线发生器的转动平面与第二测距装置测量方向垂直。本发明还提供了一种可以精准地测量建房内墙面平整度的装置。使用简单，操作方便。在一些实施方式中，水准装置为设于外壳的水准气泡。保证第一测距装置测距的铅直方向。在一些实施方式中，对准器为光学对点器。提供了一种精准而易操作的对准方式。在一些实施方式中，夕卜壳内还固定有第二射线发生器,第二射线发生器发光方向与第一测距装置测量方向垂直。可在调整好装置的基础上，辅助工程基准线的测绘。在一些实施方式中，本发明的测距模块还包括第三测距装置，第三测距装置测距方向与第二测距装置测距方向相反。可同时测量建房内两相对墙面的平整度，进一步减轻了操作人的劳动强度。在一些实施方式中，处理器还包括存储模块，储存来自测距模块的数据，对本发明测绘的过程数据进行储存。综上，本发明提供的三维测距仪可独立测量待测房建的顶板平整度和墙面的平整度，还能配合做工程测绘。并且测量方法简单，操作容易，大大减轻了操作者的劳动强度。
图1为本发明一实施方式的三维测距仪的结构示意图2为图1所示三维测距仪的后视图；图3为图1所示三维测距仪的仰视图；图4为本发明一实施方式的三维测距仪测量墙面平整度的操作示意图。
具体实施例方式下面结合说明书附图，对本发明进行进一步详细的说明。如图1至3所示，本发明提供了一种三维测距仪，包括外壳6和支撑外壳6的底盘7，外壳6同轴可转动连接底盘7，底盘7设有水平刻度盘71，底盘7底面中心设有对准器72。对准器72为光学对点器，此外本发明还可以采用垂球对准方式。外壳6内置有处理器、测距模块、输入模块3、输出模块4和水准装置。处理器连接输入模块3、输出模块4和测距模块，处理器根据输入模块3的指令将测距模块的数据经过处理传送至输出模块4。输入模块3为设于外壳6上的按键，输出模块4包括设于外壳6上的液晶显示器。测距模块包括第一测距装置21、第二测距装置22和第三测距装置23。第一测距装置21测量方向为向上，第二测距装置22测量方向与第一测距装置21测量方向垂直，第三测距装置23测量方向与第二测距装置22测量方向相反。外壳6内还置有第一射线发生器81与第二射线发生器82。第一射线发生器81的转动平面与第二测距装置22测量方向垂直。第二射线发生器82发光方向与第一测距装置21测量方向垂直，也与第二测距装置22测量方向垂直。本发明的水准装置为设于外壳6的水准气泡51。另外，底盘7设有微动水准螺旋52和固定水准螺旋53。微动水准螺旋52可调整外壳6在底盘7上的转动角度，当转动角度到达合适的方位时，可旋紧固定水准螺旋53固定转动方位。本发明提供的三维测距仪的处理器包括存储模块，可对测绘的过程数据进行储存。本发明提供的三维测距仪可配合可伸缩三脚架在基准线(工程上一般采用500mm线或者IOOOmm线为基准线)的帮助下检测待测房建的顶板平整度，其操作包括以下步骤I)将待测房建内墙体上标注基准线；2)选择待测房建内某处架好三维测距仪与可伸缩三脚架，并调节水准装置使得三维测距仪至水平方向；3)打开第二射线发生器82，调节可伸缩三脚架的伸缩杆至第二射线发生器82发射的激光射线在墙体上的光点与基准线持平；4)启动第一测距装置21，并在输出模块4上读出数据；5)更换测量点，多次测量。上述测量方式，相比现有的测量操作方法更加简单精准。减小了操作者的劳动强度。需要指出，上述过程中第二射线发生器82是精确保证该装置以基准线为基准进行上述测量的步骤，如果不需要以基准线进行测量，或者具有其他方法能够保证以基准线为基准，则可以省略第二射线发生器82的相关步骤。如图4所示，本发明提供的三维测距仪还可配合可伸缩三脚架在基准线与地面十字线的帮助下测量墙面的平整度，其操作过程如下I)将待测房建内墙体上标注基准线与地面十字线；2)启动光学对点器，在光学对点器发射的光点对准地面十字线其中一条线的位置上架好三维测距仪与可伸缩三脚架，并调节水准装置使得三维测距仪至水平方向；3)启动第一射线发生器81，调节三维测距仪外壳6与底盘7的转动位置，使第一射线发生器81旋动过程中在地面所成的光点都落在上述地面十字线的一条线上；4)启动第二测距装置22和第三测距装置23，并在输出模块4上读出数据；5)更换测量点，多次测量。本发明提供的三维测距仪首先建立包含以地面十字线中其中一条线的基准平面，然后以上述基准测量两侧墙面的平整度。操作简单而精准。此外本发明提供的三维测距仪，还具有辅助基准线的绘制。操作只需要将上述三维测距仪在合适位置组装并调整水平，然后启动第二射线发生器82到合适高度，旋转外壳6即可移动光点辅助绘测。此外，本发明的对准器72也可以是测距装置，可使得本发明兼具铅垂方向向下的测距功能，能够在没有基准线的情况下，完成本发明上述的各种功能；具备基准线的情况下，可参照检测待测房建顶板平整度的方法测量地面的平整度。以上表述仅为本发明的优选方式，应当指出，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些也应视为本发明的保护范围之内。
权利要求
1.三维测距仪，其特征在于，包括:处理器、测距模块、输入模块(3)、输出模块(4)和水准装置，所述处理器连接所述输入模块(3)、输出模块(4)和测距模块，所述处理器根据所述输入模块(3)的指令将所述测距模块的数据经处理后传送至所述输出模块(4)，所述测距模块包括向上测距的第一测距装置(21)。
2.根据权利要求1所述的三维测距仪，其特征在于，还包括容纳上述各模块与装置的外壳(6)和支撑所述外壳(6)的底盘(7)，所述外壳(6)同轴可转动连接所述底盘(7)，所述底盘(7)设有水平刻度盘(71)，所述底盘(7)底面中心设有对准器(72);所述测距模块还包括第二测距装置(22)，所述第二测距装置(22)测量方向与所述第一测距装置(21)测量方向垂直；所述外壳(6)内还设有可转动的第一射线发生器(81)，所述第一射线发生器(81)的转动平面与所述第二测距装置(22)测量方向垂直。
3.根据权利要求1所述的三维测距仪，其特征在于，所述水准装置为设于所述外壳(6)的水准气泡(51)。
4.根据权利要求1所述的三维测距仪，其特征在于，所述对准器(72)为光学对点器。
5.根据权利要求1所述的三维测距仪，其特征在于，所述外壳(6)内还固定有第二射线发生器(82)，所述第二射线发生器(82)发光方向与所述第一测距装置(21)测量方向垂直。
6.根据权利要求1所述的三维测距仪，其特征在于，所述测距模块还包括第三测距装置(23)，所述第三测距装置( 23)测距方向与所述第二测距装置(22)测距方向相反。
7.根据权利要求1所述的三维测距仪，其特征在于，所述处理器还包括存储模块，储存来自所述测距模块的数据。
全文摘要
本发明公开了一种三维测距仪，包括外壳和支撑外壳的底盘，外壳可在底盘上同轴旋转运动，底盘设有水平刻度盘，底盘底面中心设有对准器，外壳内置有处理器、测距模块、输入模块、输出模块和水准装置。处理器根据输入模块的指令将测距模块的数据经过处理传送至输出模块。测距模块包括第一测距装置、第二测距装置和第三测距装置。外壳内还置有第一射线发生器与第二射线发生器。本发明提供的三维测距仪可以独立测量待测房建内顶板与墙体的平整度，操作简单而测量精准，大大减轻了操作者的劳动强度。
文档编号G01C3/10GK103076000SQ201310036688
公开日2013年5月1日 申请日期2013年1月30日 优先权日2013年1月30日
发明者陈健 申请人:陈健