一种表面粗糙度仪探针保护装置制造方法
【专利摘要】一种表面粗糙度仪探针保护装置，涉及表面粗糙度仪。设有支撑架结构、缓冲端帽结构、探针端部结构；支撑架结构设有支撑架、电磁铁和控位弹簧；支撑架左右两侧设有线圈，线圈和电磁铁相连接；电磁铁安装在支撑架底座上；控位弹簧安装在支撑架的上部中心位置；缓冲端帽结构设有缓冲端帽、小支架；缓冲端帽设有蝶形槽轨和小支架连接帽；缓冲端帽和支撑架之间通过控位弹簧连接；小支架上设有支撑脚，小支架安装在缓冲端帽上的小支架连接帽上，小支架与小支架连接帽之间螺接；探针端部结构设有微型滑轮、检出器、螺母、定位片、中轴、探针，中轴两端设有螺纹；中轴安装在检出器上，中轴左右两侧安装定位片、微型滑轮、螺母。方便、快捷，容易控制。
【专利说明】一种表面粗糙度仪探针保护装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及表面粗糙度仪，尤其是探针高度可调的一种表面粗糙度仪探针保护装置。
【背景技术】
[0002]在用表面粗糙度仪进行测量工件表面粗糙度时，经常会出现探针接触不到工件表面或者接触工件表面的摩擦力过大而导致测得表面粗糙度数据不准确和工件和探针一起运动的情况，如果探针与工件的摩擦力过大，甚至会损坏探针，造成仪器的损坏。
[0003]中国专利CN101710511A公开一种激光调阻机探针保护装置，也具有保护探针的能力，但其不仅结构复杂，在安装调试过程中较不稳定，激光调阻机探针保护装置中使用的光电反射式传感器易受环境干扰且价格昂贵，不适合用于表面粗糙度仪探针的保护。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于针对现有的手持式表面粗糙度仪在测量过程中会遇到探针与工件表面接触不到或者接触工件表面的摩擦力过大而导致工件和探针一起运动等问题，提供一种表面粗糙度仪探针保护装置。
[0005]本发明设有支撑架结构、缓冲端帽结构、探针端部结构；
[0006]所述支撑架结构设有支撑架、电磁铁和控位弹簧；支撑架左右两侧设有线圈，线圈和电磁铁相连接，通过控制线圈的电流来控制电磁铁磁性；电磁铁安装在支撑架底座上；所述控位弹簧安装在支撑架的上部中心位置；
[0007]所述缓冲端帽结构设有缓冲端帽、小支架；所述缓冲端帽设有蝶形槽轨和小支架连接帽；所述缓冲端帽和支撑架之间通过控位弹簧连接；所述小支架上设有支撑脚，小支架可拆卸分解，小支架安装在缓冲端帽上的小支架连接帽上，小支架与小支架连接帽之间螺纹连接；
[0008]所述探针端部结构设有微型滑轮、检出器、螺母、定位片、中轴、探针，所述中轴两端设有螺纹；中轴安装在检出器上，中轴左右两侧安装定位片、微型滑轮、螺母。
[0009]所述支撑架结构和缓冲端帽结构可以设计不同的尺寸，以适应不同的被测工件。
[0010]所述缓冲端帽可设有蝶形槽轨，探针端部结构可在蝶形导轨中径向运动。
[0011]所述支撑架可采用框架型支撑架。
[0012]本发明使用的支撑架结构中设有电磁铁，支撑脚为铁质，可通过控制电磁铁磁性吸引支撑脚，支撑脚带动缓冲端帽结构和探针端部结构上下移动，最终实现探针至合适位置。
[0013]由于本发明设有支撑架结构、缓冲端帽结构、探针端部结构，支撑架结构包括支撑架、电磁铁和控位弹簧。支撑架为框架型结构，左右两侧设有线圈，线圈和电磁铁相连接，通过控制线圈的电流来控制电磁铁磁性，电磁铁安装在支撑架底座上；缓冲端帽包括缓冲端帽、小支架，缓冲端帽设有蝶形槽轨和小支架连接帽，小支架上设有支撑脚，小支架可拆卸分解，小支架安装在缓冲端帽上的小支架连接帽上，之间通过螺纹连接，其中支撑脚为铁质。控位弹簧安装在支撑架的上部中心位置，当电磁铁不通电时控位弹簧呈原始状态，探针不接触工件；当电磁铁通电时，电磁铁会吸引小支架的支撑脚，小支架与缓冲端帽之间为螺纹连接，为刚性结构，缓冲端帽会有向下的吸引力，所述缓冲端帽和支撑架之间通过控位弹簧连接，此时控位弹簧由于缓冲端帽所受的吸引力而呈拉伸状态，可通过调节电磁铁的磁性来控制缓冲端帽的位置；探针端部结构包括微型滑轮、检出器、螺母、定位片、中轴、探针，其中中轴两端设有螺纹，中轴安装在检出器上，左右两侧安装定位片、微型滑轮、螺母，所述螺母与轴承之间使用螺纹连接。探针端部结构将安装在缓冲端帽的蝶形槽轨中，在实际的检测过程中，探针端部结构将在蝶形槽轨中做进给运动，可通过控制缓冲端帽的位置来控制探针至合适位置。因此本发明克服了现有的表面粗糙度仪在测量时出现的探针接触不到工件表面或者接触工件表面的摩擦力过大而导致测得表面粗糙度数据不准确和工件和探针一起运动的问题。另外，本发明的支撑架结构和缓冲端帽结构可以设计不同的尺寸，以适应不同的被测工件。此方法不仅方便、快捷，而且容易控制。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明实施例的结构组成示意图。
[0015]图2为本发明实施例的探针端部结构示意图。
[0016]图3为本发明实施例的探针接触工件部分局部放大图。
[0017]图4为本发明实施例的缓冲端帽结构示意图。
[0018]图5为本发明实施例的小支架结构示意图。
[0019]在图1?5中，各标记为:
[0020]1.探针，2.检出器，3.微型滑轮，4.定位片，5.螺钉，6.表面粗糙度数据处理器，
7.连接杆，8.螺母，9.中轴，10.工件，11.支撑脚，12.连接套，13.蝶形槽轨，14.缓冲端帽，15.小支架连接帽，16.转向套，17.支撑架，18.控位弹簧，19.电磁铁，20.工作台，21.小支架，22.电源线，23.线圈，24.杆。
【具体实施方式】
[0021]下面结合附图对本发明的技术方案作进一步阐述。
[0022]如图1?5所示，本发明实施例设有支撑架结构、缓冲端帽结构、探针端部结构、小支架结构。
[0023]所述探针端部结构设有微型滑轮3、检出器2、螺母8、定位片4、中轴9、探针1，其中中轴9两端设有螺纹，中轴9安装在检出器2上，中轴9左右两侧安装定位片4、微型滑轮
3、螺母8，所述螺母8与中轴9之间螺纹连接；探针I测量工件10得到测量数据，数据经由连接杆7传送至表面粗糙度数据处理器6，连接杆7和表面粗糙度数据处理器6之间由螺钉5连接；
[0024]所述缓冲端帽结构设有缓冲端帽14、小支架21 ;所述缓冲端帽14设有蝶形槽轨13和小支架连接帽15 ;所述缓冲端帽14和支撑架17之间通过控位弹簧18连接；所述小支架21上由支撑脚11、转向套16、连接套12和杆24构成，小支架21可拆卸分解，小支架各零件之间使用螺纹连接；小支架21安装在缓冲端帽14上的小支架连接帽15上，之间使用螺纹连接；所述支撑脚11为铁质支撑脚。
[0025]所述支撑架结构设有支撑架17、电磁铁19和控位弹簧18 ;支撑架17为框架型结构，支撑架17左右两侧设有线圈23，线圈23和电磁铁19相连接，通过控制线圈23的电流来控制电磁铁19的磁性；电磁铁19安装在支撑架17底座上；所述控位弹簧18安装在支撑架17的上部中心位置；整个支撑架17安放在工作台20上，线圈23与电源线22连接。
[0026]本发明通过控制线圈23的电流来控制电磁铁19磁性，电磁铁19安装在支撑架17底座上；控位弹簧18安装在支撑架17的上部中心位置，当电磁铁19不通电时，控位弹簧18呈原始状态，探针I不接触工件10。当电磁铁19通电时，电磁铁19会吸引小支架21的支撑脚11，小支架21与缓冲端帽14之间为螺纹连接，为刚性结构，缓冲端帽14会有向下的吸引力，所述缓冲端帽14和支撑架17之间通过控位弹簧连接，此时控位弹簧18由于缓冲端帽14所受的吸引力而呈拉伸状态，可通过调节电磁铁19的磁性来控制缓冲端帽14的位置。探针端部结构将安装在缓冲端帽14的蝶形槽轨13中，可通过控制缓冲端帽14的位置来带动探针I至合适接触位置。在实际的检测过程中，探针端部结构将在蝶形槽轨13中做进给运动，以完成检测过程。
【权利要求】
1.一种表面粗糙度仪探针保护装置，其特征在于设有支撑架结构、缓冲端帽结构、探针端部结构； 所述支撑架结构设有支撑架、电磁铁和控位弹簧；支撑架左右两侧设有线圈，线圈和电磁铁相连接，通过控制线圈的电流来控制电磁铁磁性；电磁铁安装在支撑架底座上；所述控位弹簧安装在支撑架的上部中心位置； 所述缓冲端帽结构设有缓冲端帽、小支架；所述缓冲端帽设有蝶形槽轨和小支架连接帽；所述缓冲端帽和支撑架之间通过控位弹簧连接；所述小支架上设有支撑脚，小支架可拆卸分解，小支架安装在缓冲端帽上的小支架连接帽上，小支架与小支架连接帽之间螺纹连接； 所述探针端部结构设有微型滑轮、检出器、螺母、定位片、中轴、探针，所述中轴两端设有螺纹；中轴安装在检出器上，中轴左右两侧安装定位片、微型滑轮、螺母。
2.如权利要求1所述一种表面粗糙度仪探针保护装置，其特征在于所述缓冲端帽设有蝶形槽轨，探针端部结构在蝶形导轨中径向运动。
3.如权利要求1所述一种表面粗糙度仪探针保护装置，其特征在于所述支撑架采用框架型支撑架。
4.如权利要求1所述一种表面粗糙度仪探针保护装置，其特征在于支撑脚为铁质支撑脚。
【文档编号】G01B21/30GK103616008SQ201310616664
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年11月28日 优先权日:2013年11月28日
【发明者】毕果, 胡陈林, 郭隐彪, 叶卉, 林桂丹, 张东旭, 吴海韵 申请人:厦门大学