一种组合量具的制作方法

一种组合量具的制作方法
【专利摘要】一种组合量具涉及计量检测领域，包括定位底座，量具支撑套、定位芯，零件截面所在端头置于定位曲面后，截面与定位底座的基准面重合；量具支撑套垂直于定位底座并套装在零件的外侧，量具支撑套的高度高于待测量零件高度；定位芯的侧面形状与量具支撑套相匹配，定位芯的下底面形状是曲面，曲面形状与零件测量点到零件端头的曲面形状相匹配，定位芯的曲面与侧面之间形成过渡曲面充当限位面。本实用新型可大大提高零件点与截面之间距离的测量精度，结构简单、操作方便，可广泛用于不规则零件的点与截面间距离测量中。
【专利说明】—种组合量具
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及计量检测领域，具体涉及一种不规则零件的某点与截面间尺寸的测量。
【背景技术】
[0002]一些不规则的零件也需要进行尺寸的测量和控制，如零件的一端头底面是不规则的曲面，而需检验测量的尺寸是该端头曲面上的一点与零件另一端头的截面之间的尺寸，检验测量测量点与截面间距离的尺寸不能选用常规的量具，如卡尺等，现有技术中只能采用将该点在该零件外侧面上投影，得到一个大致的投影点，再测量投影点与另一端头截面的距离。这种测量方式因投影点不是特别准确，所以导致测量误差较大，在精密加工过程中，现有的测量方式不能满足加工的精度要求。
实用新型内容
[0003]为解决现有技术中不能精确测量检验下述尺寸的技术问题:零件的一端头底面是不规则的曲面，而需检验测量的尺寸是该端头曲面上的一点与零件另一端头的截面之间的尺寸，本实用新型提供了一种可精确测量检验上述测量点与截面间距离的组合量具。
[0004]一种组合量具，其特征在于:包括定位底座、量具支撑套、定位芯，所述的定位底座的上水平面为基准面，定位底座基准面向定位底座体内加工有定位曲面，该曲面的形状与零件截面至端头处的外侧面及底面形状相匹配，则零件截面所在端头置于定位曲面后，截面与定位底座的基准面重合；量具支撑套垂直于定位底座并套装在零件的外侧，量具支撑套的高度高于待测量零件高度；定位芯的侧面形状与量具支撑套相匹配，定位芯的下底面形状是曲面，曲面形状与零件测量点到零件端头的曲面形状相匹配，定位芯的曲面与侧面之间形成过渡曲面充当限位面。
[0005]本实用新型巧妙的利用定位底座的基准面与零件的截面相重合，再利用安装在量具支撑套中的定位芯的下底面探入零件体内直到限位面作用，此时定位芯的最底端到达零件测量点处，则量具支撑套的高度减去定位芯的高度，即可得到精确的点与截面之间的尺寸。可大大提高零件点与截面之间距离的测量精度，结构简单、操作方便，可广泛用于不规则零件的点与截面间距离测量中。
[0006]【专利附图】

【附图说明】:
[0007]本实用新型的【专利附图】

【附图说明】如下:
[0008]图1.组合量具装配及使用示意图；
[0009]图2.组合量具测量零件点与面距离示意图；
[0010]图3.组合量具可测量的零件结构示意图；
[0011]图中:1.定位曲面 2.零件 3.正公差检测面 4.负公差检测面 5.定位芯
6.量具支撑套7.限位面8.定位底座。
[0012]【具体实施方式】:[0013]下面结合附图，对本实用新型的具体结构说明如下:
[0014]一种组合量具，其特征在于:包括定位底座8、量具支撑套6、定位芯5，所述的定位底座8的上水平面为基准面，定位底座基准面向定位底座体内加工有定位曲面1，该曲面的形状与零件2截面至端头处的外侧面及底面形状相匹配，则零件2截面所在端头置于定位曲面后，截面与定位底座8的基准面重合；量具支撑套6垂直于定位底座8并套装在零件2的外侧，量具支撑套6的高度高于待测量零件2高度；定位芯5的侧面形状与量具支撑套6相匹配，定位芯5的下底面是曲面，曲面形状与零件2测量点到零件端头的曲面形状相匹配，定位芯5的曲面与侧面之间形成过渡曲面充当限位面7。使用时，只需要将零件2截面所在的端头置于定位底座8上，零件2截面与定位底座8的基准面相重合，再将量具支撑套6套装在零件上，把定位芯5放入量具支撑套6中，推动定位芯5的，使其曲面形底面滑入零件体中，直到限位面7工作、定位芯5最底端到达零件测量点处。
[0015]本实用新型中的量具还可应用于检验零件测量点与截面之间的距离是否符合标准，其具体结构为在定位芯不与零件接触的另一端头底面处，将端头底面分为两部分，这两部分分别加工成负公差检测面(4)和正公差检测面(3);负公差检测面4即为零件公差为负时定位芯最底端的距负公差检测面4的长度，具体数值为:量具支撑套6长度减去零件2长度L再加上负公差最小值的绝对值；正公差检测面3即为零件公差为正时，定位芯5最底端距正公差检测面3的长度，具体数值为量具支撑套6长度减去零件长度L再减去正公差最大值。如此设计的结构，则当零件安装好、定位芯到位、限位面工作后，负公差检测面4高于或等于量具支撑筒6的最高点处且正公差检测面3低于量具支撑筒6的最高点处时，此时的零件尺寸符合公差要求。当正公差检测面3高于量具支撑套6的最高点或负公差检测面4低于量具支撑套6的最高点时，则表示零件2的尺寸超出了允许的公差范围，不符合尺寸要求。
[0016]为使测量更加方便，读数更方便，本实用新型还在定位芯5上和量具支撑套6上分别刻画有长度标记，则零件2的长度L=量具支撑套高度-定位芯探入量具支撑套长度。
[0017]本实用新型的保护范围不仅限于【具体实施方式】部分所公开的技术方案，凡利用了定位芯、定位底座和量具支撑套配合使用，用于测量或检验零件上的测量点与截面的距离的技术方案，均落入本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种组合量具，其特征在于:包括定位底座(8)、量具支撑套(6)、定位芯(5)，所述的定位底座(8)的上水平面为基准面，定位底座基准面向定位底座体内加工有定位曲面(1)，该曲面的形状与零件(2)截面至端头处的外侧面及底面形状相匹配，则零件(2)截面所在端头置于定位曲面后，截面与定位底座(8)的基准面重合；量具支撑套(6)垂直于定位底座(8 )并套装在零件(2 )的外侧，量具支撑套(6 )的高度高于待测量零件(2 )高度；定位芯(5 )的侧面形状与量具支撑套(6)相匹配，定位芯(5)的下底面是曲面，曲面形状与零件(2)测量点到零件端头的曲面形状相匹配，定位芯(5)的曲面与侧面之间形成过渡曲面充当限位面(7)。
2.根据权利要求1所述的一种组合量具，其特征在于:在定位芯不与零件接触的另一端头底面处，将端头底面分为两部分，这两部分分别加工成负公差检测面(4)和正公差检测面(3);负公差检测面(4)即为零件公差为负时定位芯最底端的距负公差检测面(4)的长度，具体数值为:量具支撑套(6)长度减去零件(2)长度L再加上负公差最小值的绝对值；正公差检测面(3)即为零件公差为正时，定位芯(5)最底端距正公差检测面(3)的长度，具体数值为量具支撑套(6)长度减去零件长度L再减去正公差最大值。
3.根据权利要求1所述的一种组合量具，其特征在于:在定位芯(5)上和量具支撑套(6)上分别刻画有长度标记，则零件(2)的长度L=量具支撑套高度-定位芯长度。
【文档编号】G01B5/14GK203501954SQ201320476397
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年8月6日 优先权日:2013年8月6日
【发明者】杨盛强 申请人:遵义市节庆机电有限责任公司