基于偏光技术的工业用数码检测仪的制作方法

文档序号:6208797阅读:251来源:国知局
基于偏光技术的工业用数码检测仪的制作方法
【专利摘要】基于偏光技术的工业用数码检测仪,其中,立柱固定于底座,且在立柱上端设置有管套,管套内安装有支杆,支杆一端安装有连接架,调焦机构安装在连接架一侧,连接架上端安装有照明固定部件,连续变倍检测仪设置在照明固定部件上方,照明调节部件设置在连续变倍检测仪一侧,同时在连续变倍检测仪尾端设置有落射偏光照明系统;另外,连续变倍检测仪内设置有物镜,物镜的镜头上安装有圆偏振片。本实用新型可根据不同物体照明需要,调整线偏振片和圆偏振片的相对角度,有效控制杂散光进入连续变倍检测仪,使得照明背景衬度和镜头有效分辨率大幅度提高,同时为后期图像滤波和分析提供更有效的数据资源,大大提高了检测效率和检测精度。
【专利说明】基于偏光技术的工业用数码检测仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及数码检测装置【技术领域】,具体为一种基于偏光技术的工业用数码检测仪。
【背景技术】
[0002]目前工业微观检测已得到广泛普及,但是由于大部分工业产品如电路板、金属零件等属于不透光物体,为了能够更好的满足镜头照明的需要,需要有更多的反射光进入镜头,然而用于检测不透光物体的照明均采用落射照明(即反射照明),在带来更多反射光的同时也带来了不少的反射杂光等有害光线,并且照明的能量也需要加强,这对于图像采集和观察是大为不利的,通过检测仪器观察的目标是要使物体上的有效光线加强而反射杂散光降低,但这两点按照传统的同轴照射原理是矛盾的,这样在传统的同轴落射照明系统中对于观察高反射物体或被观察物与背景反射率接近时,矛盾就更加突出,导致反射物体或被观察物不能清晰分辨,即使采用图像滤波技术也很难完全去除杂散光,分辨出反射物体或被观察物的细节,由于杂散光的影响,大大降低了检测仪器自身的鉴别率,这一直成为反射照明工业检测的缺陷。
实用新型内容
[0003]本实用新型所解决的技术问题在于提供一种基于偏光技术的工业用数码检测仪,以解决上述【背景技术】中的缺点。
[0004]本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现:
[0005]基于偏光技术的工业用数码检测仪,包括连续变倍检测仪、底座、立柱、照明固定部件、照明调节部件、调焦机构及落射偏光照明系统;其中,立柱固定于底座,且在立柱上端设置有管套,管套内安装有支杆,支杆一端安装有连接架,调焦机构安装在连接架一侧,连接架上端安装有照明固定部件,连续变倍检测仪设置在照明固定部件上方,照明调节部件设置在连续变倍检测仪一侧,同时在连续变倍检测仪尾端设置有落射偏光照明系统;另外,连续变倍检测仪内设置有物镜,物镜的镜头上安装有圆偏振片。
[0006]在本实用新型中,连续变倍检测仪内置LED光源,不仅节能效果明显、安全,而且准确投射照明于目标物,便于捕捉清晰、实时、动态的图像。
[0007]在本实用新型中,落射偏光照明系统包括滤色片转换装置,滤色片转换装置包括滤色片与转换器,其能够根据光源照度和大气中的浑浊程度,选择光学滤色片并进行智能透雾,便于物镜清楚观测到目标物的细节部位,以提高工业检测的精度。
[0008]在本实用新型中,照明固定部件出光处安装有线偏振片,可以将光源发射的类自然光转换为线偏振光,光线照射到目标物上之后,被目标物反射,若目标物材质差异较大,则反射光偏振程度存在重大差异,在物镜镜头上安装有圆偏振片,当旋转物镜时,目标物的图像中不同材质亮度对比将发生变化,根据不同目标物材质的区别特征可有效防止无用光线进入镜头,从而最大程度减少杂光,提高衬度,改善成像质量。[0009]在本实用新型中,调焦机构粗微动进行同轴调焦,并具有锁紧和限位功能。
[0010]在本实用新型中,立柱上设置有同轴升降机构,通过同轴升降机构对立柱进行同轴粗调或微调。
[0011]在本实用新型中,使用时,首先通过同轴升降机构调整立柱的高度,而后开启LED光源,照明固定部件出光处安装的线偏振片将光源发射的类自然光转换为线偏振光,光线照射到目标物上之后,被目标物反射,通过物镜观测目标物的有效光线加强而反射杂散光降低状态,若目标物材质差异较大,则反射光偏振程度存在重大差异,此时旋转物镜并调整圆偏振片,目标物的图像中不同材质亮度对比将发生变化,根据不同目标物材质的区别特征可有效防止无用光线进入镜头,在最大程度减少杂光,提高衬度,改善成像质量;同时滤色片转换装置能够根据光源照度和大气中的浑浊程度,选择光学滤色片并进行智能透雾,便于物镜清楚观测到目标物的细节部位,以提高工业检测的精度。
[0012]有益效果:本实用新型可根据不同物体照明需要,调整线偏振片和圆偏振片的相对角度,有效控制杂散光进入连续变倍检测仪,使得照明背景衬度和镜头有效分辨率大幅度提高,同时为后期图像滤波和分析提供更有效的数据资源,大大提高了检测效率和检测精度。
【专利附图】

【附图说明】
[0013]图1为本实用新型较佳实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本实用新型。
[0015]参见图1的基于偏光技术的工业用数码检测仪,包括连续变倍检测仪1、底座2、立柱3、照明固定部件4、照明调节部件5、调焦机构6、落射偏光照明系统7、管套8、支杆9、连接架10、同轴升降机构11。
[0016]在本实施例中,立柱3固定于底座2,且在立柱3上端设置有管套8,管套8内横向安装有一支杆9,支杆9 一端安装有连接架10,调焦机构6安装在连接架10 —侧,连接架10上端安装有照明固定部件4,照明固定部件4出光处安装有线偏振片,连续变倍检测仪I设置在照明固定部件4上方,连续变倍检测仪I内置LED光源,照明调节部件5设置在连续变倍检测仪I 一侧,同时在连续变倍检测仪I尾端设置有落射偏光照明系统7 ;另外,连续变倍检测仪I内设置有物镜,物镜的镜头上安装有圆偏振片。
[0017]在本实施例中,落射偏光照明系统7包括滤色片转换装置,滤色片转换装置能够根据光源照度和大气中的浑浊程度,选择光学滤色片并进行智能透雾,便于物镜清楚观测到目标物的细节部位,以提局工业检测的精度。
[0018]在本实施例中,使用时,首先通过同轴升降机构11调整立柱的高度,而后开启LED光源,照明固定部件4出光处安装的线偏振片将光源发射的类自然光转换为线偏振光,光线照射到目标物上之后,被目标物反射,通过物镜观测目标物的有效光线加强而反射杂散光降低状态,若目标物材质差异较大,则反射光偏振程度存在重大差异,此时旋转物镜并调整圆偏振片,目标物的图像中不同材质亮度对比将发生变化,根据不同目标物材质的区别特征可有效防止无用光线进入镜头,在最大程度减少杂光,提高衬度,改善成像质量;同时滤色片转换装置能够根据光源照度和大气中的浑浊程度,选择光学滤色片并进行智能透雾,便于物镜清楚观测到目标物的细节部位,以提高工业检测的精度。
[0019]以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
【权利要求】
1.基于偏光技术的工业用数码检测仪,包括连续变倍检测仪、底座、立柱、照明固定部件、照明调节部件、调焦机构及落射偏光照明系统;其特征在于,立柱固定于底座,且在立柱上端设置有管套,管套内安装有支杆,支杆一端安装有连接架,调焦机构安装在连接架一侧,连接架上端安装有照明固定部件,连续变倍检测仪设置在照明固定部件上方,照明调节部件设置在连续变倍检测仪一侧,同时在连续变倍检测仪尾端设置有落射偏光照明系统;另外,连续变倍检测仪内设置有物镜,物镜的镜头上安装有圆偏振片。
2.根据权利要求1所述的基于偏光技术的工业用数码检测仪,其特征在于,连续变倍检测仪内置LED光源。
3.根据权利要求1所述的基于偏光技术的工业用数码检测仪,其特征在于,落射偏光照明系统包括滤色片转换装置。
4.根据权利要求1所述的基于偏光技术的工业用数码检测仪,其特征在于,照明固定部件出光处安装有线偏振片。
5.根据权利要求1所述的基于偏光技术的工业用数码检测仪,其特征在于,立柱上设置有同轴升降机构。
【文档编号】G01D21/00GK203605969SQ201320794935
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年12月6日 优先权日:2013年12月6日
【发明者】刘礼, 吉小军, 劳正红, 陈声浩 申请人:江西枫林光学仪器有限公司
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