一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置，其中，所述方法包括：将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪；调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽，并获取所述光谱成像仪的输出信号，对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值，当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时，确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽dλ；根据得到理想单色光的最小分辨的波长间隔Δ。对分辨率进行直接检测，实现对不同类型成像光谱仪、不同分辨率进行检测。
【专利说明】一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及光学【技术领域】，尤其涉及一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置。
【背景技术】
[0002]成像光谱仪能够同时获取目标的二维空间图像和一维光谱信息，既能直观反映被测目标的几何形貌，又能提供目标的理化属性，是一种图谱结合的探测手段。上个世纪八十年代以来，光谱成像技术开始被广泛应用于航天航空遥感成像，通过飞行器搭载，在矿产与石油资源探测、水质及大气污染监测、精准农业和林业等领域取得了瞩目成就。目前，这项技术已经逐步渗透到生物医学、艺术品防伪鉴定、食品安全监测、疾病的控制与治疗等民用领域，获得了越来越广泛的研究与运用。
[0003]成像光谱仪装调完成后，其系统性能与设计指标之间存在一定的差异，通常会对其进行各种测试，如空间分辨率、光谱定标、辐射定标等。而对于光谱分辨率一般认为光谱定标结果中的光谱相应带宽估计光谱分辨率，但没有像空间分辨率检测那样成熟的方法对光谱分辨率进行检测。
[0004]光谱分辨率决定了光谱曲线的采样间隔，影响光谱信号恢复的准确度，对仪器能否达到识别目标的目的至关重要，因此需要提出一种方法对成像光谱仪的光谱分辨率进行检测。
【发明内容】
[0005]本发明实施例的目的是提供一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置，实现对成像光谱仪的光谱分辨率进行检测。
[0006]本发明实施例的目的是通过以下技术方案实现的:
[0007]—种光谱成像仪光谱分辨率检测方法，包括:
[0008]将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪；
[0009]调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽，并获取所述光谱成像仪的输出信号，对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值，当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时，确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Λλ以及半高宽CU ；
[0010]根据
【权利要求】
1.一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法，其特征在于，包括: 将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪； 调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽，并获取所述光谱成像仪的输出信号，对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值，当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时，确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Λλ以及半高宽cU ； 根据
2.根据权利要求1所述的光谱成像仪光谱分辨率检测方法，其特征在于，所述方法还包括: 通过两个单色光发生装置生成两束波长不同、带宽相同的单色光，且通过所述两个单色光发生装置调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽； 所述单色光发生装置包括可调谐激光器或者单色仪。
3.根据权利要求1或2所述的光谱成像仪光谱分辨率检测方法，其特征在于，所述对所述输出信号拟合处理，包括: 对所述输出信号进行双高斯拟合。
4.根据权利要求1或2所述的光谱成像仪光谱分辨率检测方法，其特征在于，满足瑞利判据为所述极大值与所述极小值的比值为0.735。
5.一种光谱成像仪光谱分辨率检测装置，其特征在于，包括两个单色光发生装置、光耦合装置、光谱成像仪以及处理装置: 所述两个单色光发生装置分别生成两束波长不同、带宽相同的单色光，并输入所述光耦合装置； 所述光耦合装置将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪； 调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽，所述处理装置获取所述光谱成像仪的输出信号，对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值，当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时，确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽CU，所述处理装置根据
6.根据权利要求5所述的光谱成像仪光谱分辨率检测装置，其特征在于，所述单色光发生装置包括可调谐激光器或者单色仪。
7.根据权利要求6或7所述的光谱成像仪光谱分辨率检测装置，其特征在于，所述处理装置还用于对所述输出信号进行双高斯拟合。
8.根据权利要求6或7所述的光谱成像仪光谱分辨率检测装置，其特征在于，所述处理装置还用于确定所述极大值与所述极小值的比值为0.735时满足瑞利判据。
【文档编号】G01J3/28GK103822713SQ201410078836
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2014年3月5日 优先权日:2014年3月5日
【发明者】王建威, 吕群波, 裴琳琳, 刘扬阳, 张丹丹, 钱路路, 马原 申请人:中国科学院光电研究院