一种影像自动测量设备及影像测量方法

文档序号:6226501阅读:91来源:国知局
一种影像自动测量设备及影像测量方法
【专利摘要】一种影像自动测量设备及影像测量方法,设备设置有水平基座、测试平台、摄像测量机构以及调整机构;摄像测量机构设置有摄像镜头、显示单元、选择单元和处理单元;处理单元设置有目标选择特征提取器、存储器及控制器。在控制器的控制下,目标选择特征提取器提取并记录所述选择单元所进行的目标选择特征,并将所提取的目标选择特征作为特征模板输送至存储器进行存储;当进行相同规格的测量样品测量时,控制器调取之前存储的特征模板作为当前目标选择特征,进行图像处理。本发明具有操作方便、测量迅速的特点。
【专利说明】 一种影像自动测量设备及影像测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及影像测量【技术领域】,特别是涉及一种影像自动测量设备及影像测量方法。
【背景技术】
[0002]随着技术的进步和发展,影像测量已经广泛应用于工业技术的各个方面。由于影像测量具有迅速、直接、准确等优点,影像自动测量仪器也随之不断改进。
[0003]现有技术中的影像测量仪通常设置有一水平基座,水平基座上设置有测试平台,与水平基座垂直的方向设置有影像测量机构,通过调整影像测量机构相对于测试平台上测量样品的相对位置,对测量样品的不同部位进行成像测量。
[0004]影像测量过程是这样的,先在影像测量机构的影像成像窗口对待测量样品绘制轮廓,并对边缘进行标注,设置公差后,影像测量机构根据相关信息对测量样品进行成像。由于每次测量,均需要进行相关轮廓绘制、边缘标注、公差设置等步骤,存在操作不便、测量效率低等缺陷。特别是对于批量同规格的测量样品,每进行一个测量均需重复上述步骤,操作非常不便而且测量效率较低。
[0005]因此,针对现有技术不足,提供一种影像自动测量设备及影像测量方法以克服现有技术不足甚为必要。

【发明内容】

[0006]本发明的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种影像自动测量设备及影像测量方法,对于批量同规格的测试样品,可以利用特征模板迅速测量,具有测量效率高的特点。
[0007]本发明的上述目的通过如下技术手段实现。
一种影像自动测量设备,设置有水平基座、测试平台、位于测试平台上方的摄像测量机构以及调整测量样品与摄像测量机构之间相对位置的调整机构;
所述摄像测量机构设置有摄像镜头、对摄像镜头的成像进行显示的显示单元、对显示单元中的图像进行目标选择的选择单元以及对显示单元的图像进行处理的处理单元;
所述摄像镜头的信号输出端与所述显示单元电连接,所述选择单元与所述显示单元电连接,所述处理单元分别与所述摄像镜头、所述显示单元和所述选择单元电连接;
所述摄像镜头拍摄的图像通过显示单元显示,选择单元根据显示单元的显示进行目标选择,在进行目标选择的过程中标注相应的目标选择特征,所述处理单元对所选择的目标进行图像处理以获得测量结果;
所述处理单元设置有目标选择特征提取器、对目标选择特征进行存储的存储器以及对所述选择特征提取器和所述存储器进行控制的控制器,在所述控制器的控制下,所述目标选择特征提取器提取并记录所述选择单元所进行的目标选择特征,并将所提取的目标选择特征作为特征模板输送至存储器进行存储;当进行相同规格的测量样品测量时,所述控制器直接从存储器中调取之前存储的特征模板作为当前目标选择特征,利用特征模板对后续的测量样品的图像直接进行测量并获得测量结果。
[0008]上述影像测量机构还设置有探针、激光测量器中的任意一种。
[0009]上述选择单元设置为鼠标,鼠标与所述显示单元电连接。
[0010]本发明提供的一种影像测量方法,采用上述的影像自动测量设备进行,对于相同规格的测量样品,在对第一测量样品检测量过程中,目标特征提取器记录所述选择单元对第一个测量样品所进行的目标选择特征,并将目标选择特征作为特征模板存储于存储器中;
对后续的测量样品进行测量时,首先通过摄像镜头进行成像,再调取存储器中预先存储的特征模板,将特征模板作为当前目标选择特征对图像直接进行测量并获得测量结果。
[0011]优选的,上述目标选择特征包括绘制测量样品的轮廓、标注测量样品的边缘及公
差设置。
[0012]本发明的影像自动测量设备,设置有水平基座、测试平台、位于测试平台上方的摄像测量机构以及调整测量样品与摄像测量机构之间相对位置的调整机构;所述摄像测量机构设置有摄像镜头、对摄像镜头的成像进行显示的显示单元、对显示单元中的图像进行目标选择的选择单元以及对显示单元的图像进行处理的处理单元;所述摄像镜头的信号输出端与所述显示单元电连接,所述选择单元与所述显示单元电连接,所述处理单元分别与所述摄像镜头、所述显示单元和所述选择单元电连接;所述摄像镜头拍摄的图像通过显示单元显示,选择单元根据显示单元的显示进行目标选择,在进行目标选择的过程中标注相应的目标选择特征,所述处理单元对所选择的目标进行图像处理以获得测量结果;
所述处理单元设置有目标选择特征提取器、对目标选择特征进行存储的存储器以及对所述选择特征提取器和所述存储器进行控制的控制器,在所述控制器的控制下,所述目标选择特征提取器提取并记录所述选择单元所进行的目标选择特征,并将所提取的目标选择特征作为特征模板输送至存储器进行存储;当进行相同规格的测量样品测量时,所述控制器直接从存储器中调取之前存储的特征模板作为当前目标选择特征,利用特征模板对后续的测量样品的图像直接进行测量并获得测量结果。该摄像设备通过选择单元对成像的图像进行选择,通过目标选择特征提取器记录在先的目标选择特征作为特征模板,在后续同规格的测量样品进行测量的过程中,直接利用之前的特征模板对当前成像进行标注,具有操作方便、测量迅速的特点。
[0013]本发明的影像测量方法,采用上述的影像自动测量设备进行,对于相同规格的测量样品,在对第一测量样品检测量过程中,目标特征提取器记录所述选择单元对第一个测量样品所进行的目标选择特征,并将目标选择特征作为特征模板存储于存储器中;对后续的测量样品进行测量时,首先通过摄像镜头进行成像,再调取存储器中预先存储的特征模板,将特征模板作为当前目标选择特征对图像直接进行测量并获得测量结果。具有操作方便、测量迅速的特点。
【专利附图】

【附图说明】
[0014]利用附图对本发明作进一步的说明,但附图中的内容不构成对本发明的任何限制。[0015]图1是本发明一种影像自动测量设备的部分结构示意图。
[0016]架体100、水平基座200、测试平台300、
摄像测量机构400、摄像镜头410、激光测量器420、
调整机构500、水平调整机构510、纵向调整机构520。
【具体实施方式】
[0017]结合以下实施例对本发明作进一步描述。
[0018]实施例1。
[0019]一种影像自动测量设备,设置有架体100、水平基座200、测试平台300、位于测试平台300上方的摄像测量机构400以及调整测量样品与摄像测量机构400之间相对位置的调整机构500。
[0020]调整机构500包括水平调整机构510和纵向调整机构520,通过水平调整机构510调整测试平台300上测量样品的具体坐标,通过纵向调整机构520调整摄像测量机构400距离测量样品之间的纵向距离。调整机构500可以通过马达带动螺杆旋转,通过螺杆带动测试平台300或者摄像测量机构400进行相应方向的移动,从而调整测量样品与摄像测量机构400之间的相对位置。本发明的影像自动测量设备的调整机构通过程序控制自动进行调整。
[0021]摄像测量机构400设置有摄像镜头410、对摄像镜头410的成像进行显示的显示单元、对显示单元中的图像进行目标选择的选择单元以及对显示单元的图像进行处理的处理单元。当测量样品与摄像测量机构400之间的相对位置确定后,摄像测量机构400的摄像镜头410对测量样品的目标部位进行成像并通过显示单元进行显示,在显示单元显示下选择单元进行可视化目标选择,处理单元对所选择的区域图像进行处理。
[0022]具体的,摄像镜头410的信号输出端与显示单元电连接,选择单元与显示单元电连接,处理单元分别与摄像镜头410、显示单元和选择单元电连接。
[0023]摄像镜头410拍摄的图像通过显示单元显示,选择单元根据显示单元的显示进行目标选择,在进行目标选择的过程中标注相应的目标选择特征,处理单元对所选择的目标进行图像处理以获得测量结果。
[0024]处理单元设置有目标选择特征提取器、对目标选择特征进行存储的存储器以及对选择特征提取器和存储器进行控制的控制器,在控制器的控制下,目标选择特征提取器提取并记录选择单元所进行的目标选择特征,并将所提取的目标选择特征作为特征模板输送至存储器进行存储;当进行相同规格的测量样品测量时,控制器直接从存储器中调取之前存储的特征模板作为当前目标选择特征,利用特征模板对后续的测量样品的图像直接进行测量并获得测量结果。
[0025]影像测量机构还设置有探针和激光测量器420中的任意一种或者两种,可利用探针和激光测量器420同时进行其它特征的测量。
[0026]具体的,选择单元设置为鼠标,鼠标与显示单元电连接。
[0027]该影像自动测量设备,由于处理单元设置有目标选择特征提取器、对目标选择特征进行存储的存储器以及对选择特征提取器和存储器进行控制的控制器。因此,可以通过目标选择特征提取器记录在先的目标选择特征作为特征模板,在后续同规格的测量样品进行测量的过程中,直接利用之前的特征模板对当前成像进行标注,不需像现有技术中每次测量均需要标注目标选择特征才能进行图像处理,具有操作方便、测量迅速的特点。
[0028]实施例2。
[0029]一种影像自动测量设备,其他结构与实施例1相同,不同之处在于:该影像自动测量设备的调整机构通过手动进行调整,行业中常称为手动半自动测量设备。
[0030]实施例3。
[0031]用本发明实施例1的影像自动测量设备进行的影像测量方法,其方法是:
对于相同规格的测量样品,在对第一测量样品检测量过程中,目标特征提取器记录所
述选择单元对第一个测量样品所进行的目标选择特征,并将目标选择特征作为特征模板存储于存储器中;
对后续的测量样品进行测量时,首先通过摄像镜头进行成像,再调取存储器中预先存储的特征模板,将特征模板作为当前目标选择特征对图像直接进行测量并获得测量结果。
[0032]其中,目标选择特征包括绘制测量样品的轮廓、标注测量样品的边缘及公差设置
坐寸ο
[0033]本发明的方法通过对在先目标选择特征进行提取,并存储为特征模板,故对同等规格的测量样品进行测量时可以直接调取特征模板直接进行图像处理,具有操作方便、测量迅速的特点。
[0034]最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本发明作了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
【权利要求】
1.一种影像自动测量设备,其特征在于:设置有水平基座、测试平台、位于测试平台上方的摄像测量机构以及调整测量样品与摄像测量机构之间相对位置的调整机构; 所述摄像测量机构设置有摄像镜头、对摄像镜头的成像进行显示的显示单元、对显示单元中的图像进行目标选择的选择单元以及对显示单元的图像进行处理的处理单元; 所述摄像镜头的信号输出端与所述显示单元电连接,所述选择单元与所述显示单元电连接,所述处理单元分别与所述摄像镜头、所述显示单元和所述选择单元电连接; 所述摄像镜头拍摄的图像通过显示单元显示,选择单元根据显示单元的显示进行目标选择,在进行目标选择的过程中标注相应的目标选择特征,所述处理单元对所选择的目标进行图像处理以获得测量结果; 所述处理单元设置有目标选择特征提取器、对目标选择特征进行存储的存储器以及对所述选择特征提取器和所述存储器进行控制的控制器,在所述控制器的控制下,所述目标选择特征提取器提取并记录所述选择单元所进行的目标选择特征,并将所提取的目标选择特征作为特征模板输送至存储器进行存储;当进行相同规格的测量样品测量时,所述控制器直接从存储器中调取之前存储的特征模板作为当前目标选择特征,利用特征模板对后续的测量样品的图像直接进行测量并获得测量结果。
2.根据权利要求1所述的影像自动测量设备,其特征在于:所述影像测量机构还设置有探针、激光测量器中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的影像自动测量设备,其特征在于:所述选择单元设置为鼠标,鼠标与所述显示单元电连接。
4.一种影像测量方法,采用如权利要求1至3中任意一项所述的影像自动测量设备进行,其特征在于: 对于相同规格的测量样品,在对第一测量样品检测量过程中,目标特征提取器记录所述选择单元对第一个测量样品所进行的目标选择特征,并将目标选择特征作为特征模板存储于存储器中; 对后续的测量样品进行测量时,首先通过摄像镜头进行成像,再调取存储器中预先存储的特征模板,将特征模板作为当前目标选择特征对图像直接进行测量并获得测量结果。
5.根据权利要求4所述的影像测量方法,其特征在于:所述目标选择特征包括绘制测量样品的轮廓、标注测量样品的边缘及公差设置。
【文档编号】G01B11/00GK103940340SQ201410192429
【公开日】2014年7月23日 申请日期:2014年5月8日 优先权日:2014年5月8日
【发明者】洪金龙 申请人:东莞市天勤仪器有限公司
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