探针短接式信号检测设备及该设备的信号发生方法
【专利摘要】探针短接式信号检测设备及该设备的信号发生方法。本发明公开了一种探针短接式信号检测设备，它的数字处理器的信号输出端连接数模转换器的信号输入端，数模转换器的信号输出端连接电流至电压变换器的信号输入端，电流至电压变换器的信号输出端连接双极性电压变换器的信号输入端，基准参考源模块的第一信号输出端连接数模转换器的基准参考电压输入端，基准参考源模块的第二信号输出端连接双极性电压变换器的基准参考电压输入端。本发明能方便的产生复杂的多阶测试波形，方便了复杂OLED面板的设计。
【专利说明】探针短接式信号检测设备及该设备的信号发生方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及OLED(Organic Light-Emitting D1de,有机发光二极管)相关设备检测【技术领域】，具体地指一种探针短接式信号检测设备及该设备的信号发生方法。
【背景技术】
[0002]现有探针短接式信号检测设备(Shortingbar)的结构及信号输出方式较为简单，它的结构如图1所述，包括两个可编程电压源，一个多路开关和功率放大器，它的工作过程为:首先使用两个可编程电压源，将需要输出的两阶设定好，此时可简单看做两个电压源，即电压Vl和电压V2，随后使用一个2进I出的多路开关在电压源Vl和电压源V2上进行切换，被切换过去的电压通过后级功率放大后，即可输出为用户信号。现有的上述探针短接式信号检测设备，只可以输出较为简单的一阶测试波形，这种简单的一阶测试波形能适用于简单小型OLED面板的设计。然而目前OLED面板技术进行了革新，大型复杂的OLED面板是设计的方向。上述现有的探针短接式信号检测设备无法制作相应的多阶测试波形，难以满足大型复杂的OLED面板设计的需要。
【发明内容】
[0003]本发明的目的就是要提供一种探针短接式信号检测设备及该设备的信号发生方法，该设备和方法能方便的产生复杂的多阶测试波形，方便了复杂OLED面板的设计。
[0004]为实现此目的，本发明所设计的探针短接式信号检测设备，其特征在于:它包括数字处理器、数模转换器、电流至电压变换器、双极性电压变换器和基准参考源模块，所述数字处理器的信号输出端连接数模转换器的信号输入端，数模转换器的信号输出端连接电流至电压变换器的信号输入端，电流至电压变换器的信号输出端连接双极性电压变换器的信号输入端，所述基准参考源模块的第一信号输出端连接数模转换器的基准参考电压输入端，基准参考源模块的第二信号输出端连接双极性电压变换器的基准参考电压输入端。
[0005]一种上述探针短接式信号检测设备的信号发生方法，它包括如下步骤:
[0006]步骤1:数字处理器根据需要生成的测试波形及该测试波形的变化次数，分别记录波形各个变化点的电压值以及各个变化点的持续时间，同时，在数字处理器中设计与上述需要生成的测试波形对应的点数据表和跳转链表，其中，点数据表用于描述与需要生成的测试波形对应的每阶电压幅值以及与之相对应的持续时间，点数据表包括各个点地址以及每个点地址下对应的电压值和电流值；
[0007]所述跳转链表用于控制需要生成的测试波形如何生成，在该跳转链表内写入不同的值，可实现任意方式的跳转与循环执行，该跳转链表中包括链表地址、跳转地址、跳转计数和点表地址，其中，链表地址为自身的地址号，线性逐一递增，固定不变，不重复；
[0008]所述跳转地址用于记录测试波形变化时，指向下一阶所对应的链表地址；
[0009]所述跳转计数用于当跳转地址小于链表地址时，记录跳转链表循环执行的次数，到达计数值后，在顺序向下执行，当跳转地址大于链表地址时，此时计数无效，当跳转地址等于链表地址时，整个跳转链表结束，最后一项数据电压不变，时间一直持续到循环执行周期的结束；
[0010]所述点表地址用于记录点数据表内的点地址；
[0011]所述跳转链表中的链表地址与点数据表内的点地址相互对应；
[0012]在数字处理器中通过上述点数据表和跳转链表将上述需要生成的测试波形量化为数字值，并将该数字值转换为对应的二进制编码，然后将上述二进制编码存储至数字处理器的内部寄存器中；
[0013]步骤2:数字处理器将存储在内部寄存器中的二进制编码传输给数模转换器，同时数模转换器接收基准参考源模块发送的基准参考电压，数模转换器将二进制编码在基准参考电压的作用下，转换为模拟电流波形信号；
[0014]步骤3:数模转换器将上述模拟电流波形信号发送给电流至电压变换器，电流至电压变换器将接收到的模拟电流波形信号转换成模拟电压波形信号；
[0015]步骤4:所述电流至电压变换器将模拟电压波形信号传输给双极性电压变换器，同时双极性电压变换器接收基准参考源模块发送的基准参考电压，双极性电压变换器将模拟电压波形信号在基准参考电压的作用下，转换为双极性电压信号后进行2倍放大并输出，即可得到需要生成的测试波形。
[0016]本发明的有益效果:
[0017]本发明通过设计由数字处理器、数模转换器、电流至电压变换器、双极性电压变换器和基准参考源模块组成的探针短接式信号检测设备，并在数字处理器内设计与需要生成的测试波形对应的点数据表和跳转链表，使得本发明能输出任意阶数的双极性电压测试信号波形。同时，本发明可灵活应对不同的应用环境，可灵活调整输出电压的极性。另外，本发明采用上述数字处理技术，可生成大型复杂OLED面板设计所需要的各种测试波形。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]图1为现有探针短接式信号检测设备的结构示意图；
[0019]图2为本发明的结构示意图；
[0020]图3为本发明的波形生成机制逻辑图。
[0021]其中，I一数字处理器、2—数模转换器、3 —电流至电压变换器、4一双极性电压变换器、5—基准参考源模块。
【具体实施方式】
[0022]以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明:
[0023]如图1所示探针短接式信号检测设备，它包括数字处理器1、数模转换器2、电流至电压变换器3、双极性电压变换器4和基准参考源模块5，所述数字处理器I的信号输出端连接数模转换器2的信号输入端，数模转换器2的信号输出端连接电流至电压变换器3的信号输入端，电流至电压变换器3的信号输出端连接双极性电压变换器4的信号输入端，所述基准参考源模块5的第一信号输出端连接数模转换器2的基准参考电压输入端，基准参考源模块5的第二信号输出端连接双极性电压变换器4的基准参考电压输入端，上述数字处理器I具有内部寄存器。
[0024]一种上述探针短接式信号检测设备的信号发生方法，它包括如下步骤:
[0025]步骤1:数字处理器I根据需要生成的测试波形及该测试波形的变化次数，分别记录波形各个变化点的电压值以及各个变化点的持续时间，同时，在数字处理器I中设计与上述需要生成的测试波形对应的点数据表(具体见表I)和跳转链表(具体见表2)，其中，点数据表用于描述与需要生成的测试波形对应的每阶电压幅值以及与之相对应的持续时间，点数据表包括各个点地址以及每个点地址下对应的电压值和电流值；
[0026]所述跳转链表用于控制需要生成的测试波形如何生成，在该跳转链表内写入不同的值，可实现任意方式的跳转与循环执行，该跳转链表中包括链表地址、跳转地址、跳转计数和点表地址，其中，链表地址为自身的地址号，线性逐一递增，固定不变，不重复，作为ID (身份标识号码)号使用；
[0027]所述跳转地址用于记录测试波形变化时，指向下一阶所对应的链表地址，可实现跳转功能；
[0028]所述跳转计数用于当跳转地址小于链表地址时，记录跳转链表循环执行的次数，到达计数值后，在顺序向下执行，当跳转地址大于链表地址时，此时计数无效，当跳转地址等于链表地址时，整个跳转链表结束，最后一项数据电压不变，时间一直持续到循环执行周期的结束；
[0029]所述点表地址用于记录点数据表内的点地址，相当于变址寻址；
[0030]所述跳转链表中的链表地址与点数据表内的点地址相互对应；
[0031]在数字处理器I中通过上述点数据表和跳转链表将上述需要生成的测试波形量化为数字值，并将该数字值转换为对应的二进制编码，然后将上述二进制编码存储至数字处理器I的内部寄存器中；
[0032]步骤2:数字处理器I将存储在内部寄存器中的二进制编码传输给数模转换器2，同时数模转换器2接收基准参考源模块5发送的基准参考电压，数模转换器2将二进制编码在基准参考电压的作用下，转换为模拟电流波形信号；数模转换器2收到数字量后，通过内部的开关网络，配合内部的时钟节拍，可产生对应的变化电流量，此时波形是以电流量的形式存在于数模转换器2 ；
[0033]步骤3:数模转换器2将上述模拟电流波形信号发送给电流至电压变换器3，电流至电压变换器3将接收到的模拟电流波形信号转换成模拟电压波形信号；
[0034]步骤4:所述电流至电压变换器3将模拟电压波形信号传输给双极性电压变换器4，同时双极性电压变换器4接收基准参考源模块5发送的基准参考电压，双极性电压变换器4将模拟电压波形信号在基准参考电压的作用下，(与基准参考源电压进行分割，即与基准参考电压做减法运算)，转换为双极性电压信号后进行2倍放大并输出，即可得到需要生成的测试波形。
[0035]上述技术方案中，所述电流至电压变换器3将接收到的O?20mA的模拟电流波形信号转换成O?3.3V的模拟电压波形信号。
[0036]上述技术方案中，所述双极性电压变换器4将O?3.3V的模拟电压波形信号在基准参考电压的作用下，转换为-3.3V?+3.3V的双极性电压信号输出。
[0037]上述技术方案中，所述跳转链表中的链表地址为在I?256范围内从I开始线性逐一递增至256。
[0038]上述技术方案的步骤I中，根据需要生成的任意测试波形，采用时间、电压的方式，来生成一个点的数据，通过链表跳转控制，来达到任意测试波形的输出。可生成多阶电压波形，同时支持跳转、循环。
[0039]上述方法用于OLED面板检测设备中，大幅度的提升了系统规格指标，及波形输出方法与灵活度。
[0040]上述步骤I中，数字处理器I内的波形生成机制如图3所述，首先设置一个执行周期时间的长短，然后，执行周期开始，取出跳转链表第一条链表数据(即表2中第一行的数据，包括链表地址、跳转地址、跳转计数和点地址)，此时当该条数据的跳转地址等于链表地址时，维持该条数据所指向的点数据表中的电压值至当前周期结束；当跳转地址大于链表地址时，在跳转链表中顺序取出一条链表数据；
[0041]然后比较当前链表数据中跳转地址与链表地址之间的关系，当跳转地址等于链表地址时，维持该条数据所指向的点数据表中的电压值至当前执行周期结束；当跳转地址大于链表地址时，取出该条数据所指向的点数据表中的电压值和时间值，并向下顺序执行每条链表数据，直到跳转链表最后一条数据被执行完，即当前执行周期结束；当跳转地址小于链表地址时，跳转计数开始，执行跳转计数所指向的一条链表数据；
[0042]当前执行周期结束后进入下一个执行周期，各个周期的逻辑流程均相同。
[0043]表1:点数据表
[0044]
【权利要求】
1.一种探针短接式信号检测设备，其特征在于:它包括数字处理器(I)、数模转换器(2)、电流至电压变换器(3)、双极性电压变换器(4)和基准参考源模块(5)，所述数字处理器(I)的信号输出端连接数模转换器(2)的信号输入端，数模转换器(2)的信号输出端连接电流至电压变换器(3)的信号输入端，电流至电压变换器(3)的信号输出端连接双极性电压变换器(4)的信号输入端，所述基准参考源模块(5)的第一信号输出端连接数模转换器(2)的基准参考电压输入端，基准参考源模块(5)的第二信号输出端连接双极性电压变换器(4)的基准参考电压输入端。
2.—种权利要求1所述探针短接式信号检测设备的信号发生方法，其特征在于，它包括如下步骤: 步骤1:数字处理器(I)根据需要生成的测试波形及该测试波形的变化次数，分别记录波形各个变化点的电压值以及各个变化点的持续时间，同时，在数字处理器(I)中设计与上述需要生成的测试波形对应的点数据表和跳转链表，其中，点数据表用于描述与需要生成的测试波形对应的每阶电压幅值以及与之相对应的持续时间，点数据表包括各个点地址以及每个点地址下对应的电压值和电流值； 所述跳转链表用于控制需要生成的测试波形如何生成，在该跳转链表内写入不同的值，可实现任意方式的跳转与循环执行，该跳转链表中包括链表地址、跳转地址、跳转计数和点表地址，其中，链表地址为自身的地址号，线性逐一递增，固定不变，不重复； 所述跳转地址用于记录测试波形变化时，指向下一阶所对应的链表地址； 所述跳转计数用于当跳转地址小于链表地址时，记录跳转链表循环执行的次数，到达计数值后，在顺序向下执行，当跳转地址大于链表地址时，此时计数无效，当跳转地址等于链表地址时，整个跳转链表结束，最后一项数据电压不变，时间一直持续到循环执行周期的结束； 所述点表地址用于记录点数据表内的点地址； 所述跳转链表中的链表地址与点数据表内的点地址相互对应； 在数字处理器(I)中通过上述点数据表和跳转链表将需要生成的测试波形量化为数字值，并将该数字值转换为对应的二进制编码，然后将上述二进制编码存储至数字处理器(I)的内部寄存器中； 步骤2:数字处理器(I)将存储在内部寄存器中的二进制编码传输给数模转换器(2)，同时数模转换器(2)接收基准参考源模块(5)发送的基准参考电压，数模转换器(2)将二进制编码在基准参考电压的作用下，转换为模拟电流波形信号； 步骤3:数模转换器(2)将上述模拟电流波形信号发送给电流至电压变换器(3)，电流至电压变换器(3)将接收到的模拟电流波形信号转换成模拟电压波形信号； 步骤4:所述电流至电压变换器(3)将模拟电压波形信号传输给双极性电压变换器(4)，同时双极性电压变换器(4)接收基准参考源模块(5)发送的基准参考电压，双极性电压变换器(4)将模拟电压波形信号在基准参考电压的作用下，转换为双极性电压信号并输出，即可得到需要生成的测试波形。
3.根据权利要求2所述的探针短接式信号检测设备的信号发生方法，其特征在于:所述电流至电压变换器⑶将接收到的O?20mA的模拟电流波形信号转换成O?3.3V的模拟电压波形信号。
4.根据权利要求3所述的探针短接式信号检测设备的信号发生方法，其特征在于:所述双极性电压变换器(4)将O?3.3V的模拟电压波形信号在基准参考电压的作用下，转换为-3.3V?+3.3V的双极性电压信号输出。
5.根据权利要求2所述的探针短接式信号检测设备的信号发生方法，其特征在于:所述跳转链表中的链表地址为在I?256范围内从I开始线性逐一递增至256。
6.根据权利要求2所述的探针短接式信号检测设备的信号发生方法，其特征在于:所述步骤4中，双极性电压变换器(4)将双极性电压信号进行2倍放大后再输出。
【文档编号】G01R1/28GK104198779SQ201410398789
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年8月13日 优先权日:2014年8月13日
【发明者】彭骞, 白静, 陈凯, 沈亚非 申请人:武汉精测电子技术股份有限公司