一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法
【专利摘要】目前基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统中，有如下主要参数需要标定1，显微镜放大倍数；2，显微镜物距；3，光照系统的光照强度。业内尚无公开的知识来标定基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统用到的上述参数。本发明提供了一种方法，其特征在于：用一张带刻度的模板来标定放大倍数，用自动对焦算法来取得特定放大倍数下的显微镜高度，用被测摄像头模组芯片传感器表面的光照强度来标定当前光照系统的亮度。
【专利说明】一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及到基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统中，关于如何对相关参数进行标定，从而方便下次对同一种规格的摄像头模组进行有效测试，或在同型号的不同测试机台上对同一种规格的摄像头模组进行有效测试。
【背景技术】
[0002]目前基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统中，测试系统的测试效果非常依赖调机人员的经验，经验丰富的工程师可以让测试效果非常理想，而经验不够的工程师则难以取得良好的测试效果。由于测试系统对各个光学参数非常敏感，测试效果难以有效复制。本发明旨在提供一套方法，帮助调机人员方便的对显微镜相关的参数进行定标，从而更好的复制好的测试效果。
【发明内容】
[0003]目前基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统中，有如下主要参数需要标定1，显微镜放大倍数；2，显微镜物距；3，光照系统的光照强度。业内尚无公开的知识来标定基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统用到的上述参数，以方便工厂对不同的测试机台进行大规模部署同一种测试环境参数，或者对同一测试机台的不同测试时间来采用同一种测试环境参数，已取得产品质量的一致性，人员操作的可管理性。
[0004]本发明提供了一种基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统的参数标定方法，该方法涉及到可以通过旋转镜头部件来无极改变放大倍数的数字显微镜，计算机，带刻度的模板，控制显微镜高度的马达，其特征在于:用一张带刻度的模板来标定放大倍数，用自动对焦算法来取得特定放大倍数下的显微镜高度，用被测摄像头模组芯片传感器表面的光照强度来标定当前光照系统的亮度。模板的厚度和被测摄像头模组底部到被测摄像头模组芯片传感器表面厚度相仿；模板有横竖相间条纹，分布于模板的4个角和模板中间。利用自动对焦算法对数字显微镜输出的模板图像四角和中间区域进行分析，进而驱动马达调整显微镜的高度，直到显微镜输出图像到达横竖条纹和条纹背景对比度达到最高的状态，数出当前画面具有的横竖条纹根数作为放大倍数；反复调节显微镜放大倍数和高度，得到需要的放大倍数，同时显微镜的高度也被放大倍数间接标定。利用计算机程序对数字显微镜输出的被测摄像头模组芯片表面图像进行分析，找到被测摄像头模组芯片传感器表面，计算出表面的亮度，用数字的方式显示在显示器上。
【权利要求】
1.一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法，包括可以通过旋转镜头部件来无极改变放大倍数的数字显微镜，计算机，带刻度的模板，控制显微镜高度的马达，其特征在于:用一张带刻度的模板来标定放大倍数，用自动对焦算法来取得特定放大倍数下的显微镜高度，用被测摄像头模组芯片传感器表面的光照强度来标定当前光照系统的亮度。
2.按照权利要求1所述的一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法，其特征是:模板的厚度和被测摄像头模组底部到被测摄像头模组芯片传感器表面厚度相仿；模板有横竖相间条纹，分布于模板的4个角和模板中间。
3.按照权利要求1所述的一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法，其特征是:利用自动对焦算法对数字显微镜输出的模板图像四角和中间区域进行分析，进而驱动马达调整显微镜的高度，直到显微镜输出图像到达横竖条纹和条纹背景对比度达到最高的状态，数出当前画面具有的横竖条纹根数作为放大倍数；反复调节显微镜放大倍数和高度，得到需要的放大倍数，同时显微镜的高度也被放大倍数间接标定。
4.按照权利要求1所述的一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法，其特征是:利用计算机程序对数字显微镜输出的被测摄像头模组芯片表面图像进行分析，找到被测摄像头模组芯片传感器表面，计算出表面的亮度，用数字的方式显示在显示器上。
【文档编号】G01N21/93GK104406987SQ201410704308
【公开日】2015年3月11日 申请日期:2014年11月29日 优先权日:2014年11月29日
【发明者】赵盾 申请人:赵盾